「back test」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

Next, the functional test is performed for applying the potential higher than the GND potential to the back gate and for reading out the data.例文帳に追加

次に、バックゲートにＧＮＤ電位より高い電位を印加しデータを読出す機能テストを行なう。 - 特許庁

To feed back data and a data timing signal of a memory controller to perform a fast test of the memory controller.例文帳に追加

メモリコントローラのデータ及びデータタイミング信号をフィードバックして短時間内にメモリコントローラをテストする。 - 特許庁

To perform a loop back test precisely in which a jitter proof strength of a device to be tested is tested with a sufficient accuracy and a simple constitution.例文帳に追加

簡易な構成で、被試験デバイスのジッタ耐力を試験するループバック試験を精度よく行う。 - 特許庁

To enable a subscriber terminal to start a loopback test that an ISDN exchange loops back a signal to a subscriber.例文帳に追加

ISDN交換機で信号を加入者に折り返すループバックテストを、加入者端末から起動可能とする。 - 特許庁

When the test chart for the surface and the test chart for the back surface are respectively outputted on the front surface and the back surface of the same printing medium, by using the test charts whose patch arrangements for the front surface and the back surface are not overlapped, an influence caused by setoff is eliminated so as to enable the practice of the calibration with high precision.例文帳に追加

同一の印刷媒体の表面と裏面に表面用のテストチャートと裏面用のテストチャートとをそれぞれ出力する場合、表面と裏面のパッチの配列が重ならないテストチャートを用いるようにして、裏写りによる影響を排除し高精度のキャリブレーションを実行できるようにする。 - 特許庁

To provide a loop back test circuit which has a band sufficient for testing a Bluetooth(R) element and is capable of setting an attenuation quantity suited to a loop back test thereof to set a great amplification gain while suppressing oscillation.例文帳に追加

ブルートゥース素子の試験に十分な帯域を持ち、そのループバック試験に適した減衰量を設定でき、それにより発振を抑えながら大きな増幅利得を設定できるループバック試験装置を提供する。 - 特許庁

Test signal transmitting power in accordance with the call connection number for radio terminals which are connected to a radio base station unit upon the loop back test is obtained at a control circuit 1, and the transmitting power TSTP is output to channel circuits used for the transmission of the loop back test signal.例文帳に追加

制御回路１で、折り返し試験の際に当該装置に呼接続されている無線端末の呼接続数に応じた試験信号の送信電力を求め、その送信電力ＴＳＴＰを、折り返し試験信号の送信に用いているチャネル回路へ出力する。 - 特許庁

Can't be sure until test results come back, but it's possible that some brain damage has occurred.例文帳に追加

詳しい検査結果を待たなければ なんとも言えませんが 脳に損傷を受けている 可能性も考えられます - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書

When the magneto-optical disk device 200 is forcibly stopped by some or other reason, the controller 114 restarts the test by returning back to the top of the band whereon the test is performed.例文帳に追加

また、コントローラ１１４は、何らかの原因によって光磁気ディスク装置２００が強制停止されたとき、テストを行なっていたバンドの先頭に戻ってテストを再開する。 - 特許庁

When the repeater A receives the packet for test, which is turned back and transmitted from the repeater B, the repeater A detects presence/absence of a data error of the packet for test.例文帳に追加

中継装置Ａが、中継装置Ｂから折り返されて送信されたテスト用のパケットを受信すると、当該テスト用のパケットのデータエラーの有無を検出する。 - 特許庁

Further, the 2nd circuit 22 detects the test data inserted into the preamble and sends them back in the idle time of the general interface MII to conduct the loopback test.例文帳に追加

また、第２の回路２２がプリアンブルに挿入された試験データを検出し、汎用インタフェースＭＩＩのアイドル時間に折り返すことにより、ループバック試験が実行される。 - 特許庁

To provide a communication equipment by which an abnormality detection test of a receiver and a transmitter at a communication state close to an actual operation is possible by a loop back operation with low test costs.例文帳に追加

テストコストの低いループバック動作によって、実動作に近い通信状態での受信機および送信機の異常検出テストが可能な通信装置を提供する。 - 特許庁

After correction, the lens shape measuring device 1 scans the surface and the back of the test lens 20 with laser light, and measures the external shape of the test lens 20.例文帳に追加

そして、レンズ形状測定装置１は、この補正の後、被検レンズ２０の表面、および裏面をレーザ光で走査し、この被検レンズ２０の外形形状を測定する。 - 特許庁

When the quality test is started, a PN pattern generating section 13 generates a signal-pattern P, the pattern P is looped back by the loopback loop and a PN pattern synchronization section 15 receives the looped back pattern.例文帳に追加

品質試験の開始されると、ＰＮパターン発生部１３が信号パターンＰを発生し、それが折り返しループで折り返されてＰＮパターン同期部１５に受信される。 - 特許庁

The test packet is looped back at the electric physical layer termination section 510 of the optical conversion repeater 50 and looped back to the optical conversion bridge 40 via the optical fiber transmission line 20.例文帳に追加

試験パケットは光変換リピータの電気物理層終端部５１０において折り返されて光ファイバ伝送路２０を介して光変換ブリッジ４０にループバックされる。 - 特許庁

In the transparent film 10, the break starting load of the back layer 14 in a scratch test is at least 50 mN, and the friction coefficient of the back layer 14 is 0.4 or below.例文帳に追加

透明フィルム１０は、スクラッチ試験における背面層１４の破壊開始荷重が５０ｍＮ以上であり、かつ背面層１４の摩擦係数が０．４以下である。 - 特許庁

To enable an efficient and automatic test using an optical tester even if a back is subjected to mirror finishing.例文帳に追加

裏面が鏡面化処理された場合であっても、光学式検査装置による効率的な自動検査を可能とすること。 - 特許庁

To provide an image processor for matching front and back image qualities to each other without using a test chart with a simple structure.例文帳に追加

簡単な構成で、テストチャートを使用することなく表裏画質の合わせ込みを行う画像処理装置を提供する。 - 特許庁

When no fault takes place on a path from the host to the demarcation switch, the test data are looped back as they are.例文帳に追加

ホストから分界スイッチ１０までの間で障害が起こっていなければ試験用データは、そのまま折り返してくる。 - 特許庁

The digital signal generating/analyzing section 11 performs loop-back test, only during the transmission period or only during the reception period.例文帳に追加

デジタル信号生成・解析部１１は、送信期間においてのみ、または、受信期間においてのみ、ループバック試験を行う。 - 特許庁

To a flip-flop FF2, the internal clock signal 2CLK is input by a clock selector CS for a loop-back test.例文帳に追加

またフリップフロップＦＦ２には、ループバック試験には、クロックセレクタＣＳによって内部クロック信号２ＣＬＫが入力される。 - 特許庁

To shorten a down time generated when performing control preventing back copying of a test pattern occurring in a system reading a positioning test pattern on an intermediate transfer body.例文帳に追加

位置合わせ用等のテストパターンを中間転写体上で読取る方式において起きるテストパターンの裏写りを防止する制御を行う際に生じるダウンタイムを短縮化する。 - 特許庁

Which test data are in use and at which loopback point the data are looped back are instructed by a control section 3 to the test section 1, a time division switch 2 and the high efficiency code CODEC 4.例文帳に追加

いずれの試験データを使用し、また、いずれの折り返しポイントで折り返すかは、制御部３が試験部１，時分割スイッチ２および高能率符号ＣＯＤＥＣ４に指示する。 - 特許庁

To provide an endurance test device for seat back fully making possible endurance test performance even if such a strong load that reclines side section from outside into inside is applied.例文帳に追加

サイド部を外側から内側へ倒し込むような強い負荷が加わったような場合にも、十分な耐久試験をすることができるシートバックの耐久試験装置を提供する。 - 特許庁

Thus, the optical disk can be provided with heat resistance and is deformed little even after the high temperature load test, and can be played back on the player.例文帳に追加

これにより、耐熱性を有させ、高温負荷試験後においてもディスクの変形が小さく、プレーヤで再生可能にできる。 - 特許庁

A test frequency f_0 is selected in a block 102 along with a specific scan (e.g., a surface wave or back scattering).例文帳に追加

ブロック１０２で始まり、そこでは特定のスキャンタイプ（例えば、表面波、後方散乱）と共にテスト周波数ｆ_０が選定される。 - 特許庁

To implement clamp fixation of IC test-pieces simply and surely, which have geometries in size from small to large, regardless of front-back both directions.例文帳に追加

形状が大小様々にＩＣ供試体を、その表裏の方向を問わず簡単かつ確実にクランプ固定できるようにする。 - 特許庁

A response signal in response to the test signal is fed back from the measurement electrode 11 to the transducer 20 through a return line RL.例文帳に追加

測定電極１１は、この試験信号に対する応答信号をリターン線ＲＬを介して変換器２０に帰還する。 - 特許庁

To provide a data replication system by roll back utilizable in various applications, such as data mining, data sharing, data backup, a software test, batch processing, etc.例文帳に追加

データの多重アクセスに於ける現行システムでのデータの再ロード、その他の不便を回避するシステムと方法が必要である。 - 特許庁

The color image forming apparatus has an arrangement of developing stations, a recording-paper inverting means that turns recording paper front to back, a patch forming means that forms a specific test patch onto recording paper, and a patch control means that forms test patches that differ between the front and back of the recording paper.例文帳に追加

複数個配置された現像ステーションと、記録紙の表裏を反転する記録紙反転手段と、記録紙に所定のテストパッチを形成するパッチ形成手段と、記録紙の表と裏で異なるテストパッチの形成を行うパッチ制御手段とを有する。 - 特許庁

To provide an endurance test device for seat back fully providing endurance test performance even if such a strong load that compresses the top of a side section lengthwise along the side section is applied.例文帳に追加

サイド部の長手方向に沿ってサイド部の頂部を押し込むような強い負荷が加わったような場合にも、十分な耐久試験をすることができるシートバックの耐久試験装置を提供する。 - 特許庁

An optical coupler 4 emits the test light to a measured optical fiber 9 and receives back scattered light from the measured optical fiber 9.例文帳に追加

光カプラ４は、試験光を被測定光ファイバ９へ出射し、被測定光ファイバ９からの後方散乱光を受信する。 - 特許庁

When the ATM terminating apparatus 2 receives that LP2 release cell, the turn back test mode is released and normal mode is reset.例文帳に追加

ＡＴＭ終端装置２において、このＬＰ２解除セルが受信されると、折り返し試験モードは解除され、通常モードに戻る。 - 特許庁

x11perf moves the cursor out of the test window; you should be careful not to bump the mouse and move it back into the window.例文帳に追加

x11perfはカーソルをテストウィンドウの外へ移動させる。 マウスに触ってしまい、カーソルをこのウィンドウに戻してしまわないように注意すること。 - XFree86

This system detects the existence of the hindrance of the path that the above optical signal for a test has passed, by receiving this looped-back optical signal for a test with the network node device 10a at the root of transmission and determining the quality of the optical signal for a test with a determining device 11a.例文帳に追加

このループバックされた試験用光信号を送信元のネットワークノード装置１０ａが受信し、判定装置１１ａで試験用光信号の信号品質を測定することにより、試験用光信号が通過した経路の障害の有無を検出する。 - 特許庁

Based on a first analyzing image formed with measurement light that is reflected in a retroreflective manner from the first test surface 71 back to the interferometer 30 via the reflection deflector 10B and on a second analyzing image formed with measurement light that is reflected in a retroreflective manner from the second test surface 72 back to the interferometer 30, a relative tilt of the first test surface 71 and the second test surface 72 is analyzed.例文帳に追加

第１被検面７１から再帰反射され、反射偏向素子１０Ｂを介して干渉計３０に戻る測定光により形成される第１解析用画像と、第２被検面７１から再帰反射されて干渉計３０に戻る測定光により形成される第２解析用画像とに基づき、第１被検面７１および第２被検面７２の相対的な傾きが解析される。 - 特許庁

To provide a DDR-SDRAM interface circuit in which the loop-back test can be more exactly performed, and its testing method and its testing system.例文帳に追加

ループバック試験をより正確に行うことが可能なＤＤＲ−ＳＤＲＡＭインターフェース回路、その試験方法、その試験システムを提供すること。 - 特許庁

An inlet node 10 sets a path according to path setting protocol, specifies the set path after the path setting completes to send a test signal to an outlet node, receives the test signal sent back by the outlet node and analyze the test signal to determine whether it is normal or not.例文帳に追加

入口ノード１０は、パス設定プロトコルに従って、パスを設定し、パスの設定が行われた後に、設定されたパスを指定して、試験信号を出口ノードに送信するし、出口ノードによって折り返し送信された試験信号を受信して、試験信号を解析して正常であるか判定する。 - 特許庁

When a repeater B receives a packet for test, which is transmitted from a repeater A, the repeater B replaces a MAC (media access control) address of a destination MAC address part with a MAC address of a transmitting origin MAC address part of the packet for test and transmits the replaced packet for test by turning back to the repeater A.例文帳に追加

中継装置Ｂが、中継装置Ａから送信されたテスト用のパケットを受信すると、当該テスト用のパケットの宛先ＭＡＣアドレス部のＭＡＣアドレスと送信元ＭＡＣアドレス部のＭＡＣアドレスとを入れ替え、入れ替えたテスト用パケットを中継装置Ａに折り返して送信する。 - 特許庁

To provide a testing device and a test method of a semiconductor device capable of performing a test, while optional one of a plurality of semiconductor devices is pressed onto a contactor from the back side.例文帳に追加

本発明は、複数の半導体装置のうち任意の一つを背面側からコンタクタに対して押圧しながら試験を施すことができる半導体装置の試験装置及び試験方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a back pressure resistance test method for filter cartridge applicable to an actual plant by applying a back pressure to a filter cartridge in the same condition as the back pressure such as water hammer or the like generated in the filtering process of the actual plant, and measuring the back pressure resistance value when laminating the filter cartridge in one layer or a plurality thereof.例文帳に追加

実際のプラントの濾過工程で発生するウォーターハンマー等の逆圧と同じ条件でフィルタカートリッジに逆圧をかけ、そのフィルタカートリッジが一段、或いは複数積層したときの逆圧耐性値を測定し、実際のプラントに活用できるフィルタカートリッジの逆圧耐性試験方法を提供する。 - 特許庁

In an image forming apparatus, based on arrangement positions of respective patches measured, whether the test chart read-in is for the back surface or for the front surface is automatically judged.例文帳に追加

画像形成装置では、測定された各パッチの配置位置に基づいて、読み込んだテストチャートが裏面用なのか表面用なのかを自動的に判定する。 - 特許庁

To provide a TDMA communication device having one DSP which has a technique capable of executing a loop back test.例文帳に追加

一つのＤＳＰを有するＴＤＭＡ方式の通信装置において、折り返し試験を実施することが可能な技術を提供することを目的とする。 - 特許庁

The Hayabusa asteroid probe's main mission was to test new technologies that may be used to bring back samples from celestial bodies. 例文帳に追加

小惑星探査機｢はやぶさ｣のおもな任務は，天体から試料を持ち帰るために使用される可能性のある新しい技術を検証することだ。 - 浜島書店 Catch a Wave

After purchasing, the examinee tears a perforation 6 to stripp off a surface substrate 4, and remove a test paper 14 from a back-surface substrate 3 to take it out from a space 13.例文帳に追加

購入後、被験者はミシン目６を破断して、表面基材４をめくり、試験紙１４を裏面基材３から離脱させて、空間部１３から取り出す。 - 特許庁