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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > defect measuresの意味・解説 > defect measuresに関連した英語例文

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defect measuresの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 45



例文

A defect size calculation part 18f measures the size of the defect on the basis of the defect structure point.例文帳に追加

欠損サイズ算出部18fは、欠損構成点に基づいて欠損のサイズを計測する。 - 特許庁

A defect-full-length measuring means 10 measures the entire length of the defect based on the defect position information and the area of the defect.例文帳に追加

欠陥全長測定手段10は欠陥位置情報及び欠陥の面積から欠陥の全長を測定する。 - 特許庁

A measurement part 62 measures the number of pixels in the defect candidate land.例文帳に追加

計測部62は、欠陥候補ランドの画素数を計測する。 - 特許庁

You found the cause of the defect and were you able to take preventative measures against its recurrence?例文帳に追加

あなたはその不良の原因を見つけて、再発防止対策を取ることができましたか? - Weblio Email例文集

例文

You found the cause of the defect and were you able to take measures to prevent its recurrence?例文帳に追加

あなたはその不良の原因を見つけて、再発防止のための対策を取ることができましたか? - Weblio Email例文集


例文

The two measures are then compared to determine whether the defect region corresponds to TA or MD.例文帳に追加

次に、2つの基準を比較して、欠陥領域がTAまたはMDに対応するかが判断される。 - 特許庁

The measuring mechanism 40 measures the intensity of the laser beam L2 for measurement that is reflected by a luminance spot defect 21.例文帳に追加

計測機構40は、輝点欠陥21で反射された計測用レーザL2の強度を計測する。 - 特許庁

When a defect (for example, operational defect of a starter 2 or the defect of a belt 5 leading to the breakage of the belt) is detected in this system, an economical running ECU performs the measures against these defects as follows.例文帳に追加

エコランECUは、本システムに異常(例えばスタータ2の作動異常、あるいはベルト切れに至る様なベルト5の異常等)が検出されると、その異常発生に対する以下の処置を実行する。 - 特許庁

The measurement part 48 measures and detects the current and voltage of the coil of the disconnection defect detection sensor 24.例文帳に追加

計測部48は、断線不良検出センサ24のコイルの電流及び電圧を計測して検出する。 - 特許庁

例文

The frequency-based measures are used to detect defect regions on the hard disc and/or classify defect regions as being due to either thermal asperity (TA) or drop-out medium defect (MD).例文帳に追加

この周波数に基づく評価量は、ハードディスク上の欠陥領域を検出し、かつ/または、欠陥領域を熱凹凸(TA)もしくはドロップアウト・媒体欠陥(MD)のいずれかの原因に分類するのに使用される。 - 特許庁

例文

The processing device is automatically controlled based on the defect prevention measures to improve the factors prior to production.例文帳に追加

不良発生未然防止策に基づいて加工装置を自動的に制御して要因を改善してから生産をする。 - 特許庁

In a hard-disc drive, a defect region on the hard disc is classified as corresponding to either thermal asperity (TA) or media defect (MD) by generating two statistical measures.例文帳に追加

ハードディスクドライブにおいて、2つの統計的基準を生成することによって、ハードディスク上の欠陥領域がサーマル・アスペリティ(TA)または媒体欠陥(MD)のどちらに対応するかを分類する。 - 特許庁

The defect inspection apparatus scans a local region of a defect detected on the surface of the inspected structure, measures the quantity of a characteristic property corresponding to a type of the defect such as the coincidence with a crystal grain boundary of the crack, compares a measured detection signal with a database data and determines a type of the defect.例文帳に追加

検査対象構造物の表面に検出された欠陥の局部的範囲を走査し、欠陥の種別に応じた例えば亀裂の結晶粒界との一致度のような特徴的な特性量を計測し、この計測された検出信号をデータベースのデータと比較し欠陥種別を判定する。 - 特許庁

The processing device is manually processed based on the defect prevention measures to improve the factors causing failures prior to production.例文帳に追加

不良発生未然防止策に基づいて加工装置を人為的に処理して不良発生の原因となる要因を改善してから生産をする。 - 特許庁

The inspection device for the solar cell includes an IV measurement unit which measures current-voltage characteristics of the solar cell as a body to be measured and a defect inspection unit which inspects a defect of the solar cell.例文帳に追加

本発明の太陽電池セルの検査装置は、被測定物となる太陽電池セルの電流電圧特性を測定するIV測定部と、前記太陽電池セルの欠陥を検査する欠陥検査部を有する構成とした。 - 特許庁

To provide a coating defect analyzing system by which the clarification of causes of coating defects and the presentation of the preventive measures are efficiently carried out, an analyzing method and a computer program.例文帳に追加

塗装欠陥の原因解明と防止対策の提示を効率的に行うことができる塗装欠陥解析システム、解析方法及びコンピュータプログラムを提供すること。 - 特許庁

To provide a maintenance system for a combine harvester that compares a normal past state with abnormity at present so as to troubleshoot a defect of the combine harvester thereby allowing a user to take quick measures.例文帳に追加

正常な過去と異常な現在とを対比させてコンバインの不具合の原因を解明し、ユーザーに対して迅速な対応ができるコンバインのメンテナンスシステムを提供する。 - 特許庁

To efficiently retrieve a database by making an engineer select and combine keywords for retrieving information about foreign matter and defect counter measures.例文帳に追加

異物・欠陥対策に関する情報を検索するためのキーワードの選択、組み合わせをエンジニアに行わせることにより、効率よくデータベースを検索可能とすること。 - 特許庁

A temperature-measuring device 19 measures the surface temperature of the specimen in a time series manner and outputs the measured data to a data-recording means 13 of a defect inspection controller 10.例文帳に追加

温度計測器19は、被検査体の表面温度を時系列で計測し、計測データを欠陥検査制御装置10のデータ記録手段13に出力する。 - 特許庁

In addition, a function that expresses yield, which measures defect density depending on the value of wiring intervals, is also used to calculate wiring balance that improves yield.例文帳に追加

また、配線間隔の大きさによって欠陥密度の大きさを計る歩留まりを表現する関数も有し、これによって歩留まりが向上する配線バランスも行う。 - 特許庁

A temperature measuring instrument 19 measures the temperature on a surface of the inspected object in time sequence and outputs measurement data to a data recording means 13 of a defect inspection controlling apparatus 10.例文帳に追加

温度計測器19は、被検査体の表面温度を時系列で計測し、計測データを欠陥検査制御装置10のデータ記録手段13に出力する。 - 特許庁

A defect region size measuring circuit 4 retrieves defect management information before re-initialization when re-initializing the optical disk 10, divides a whole user data region into a plurality of segments, measures defect region size for each segment, then, an alternative region size setting circuit 5 decides alternative region size which is allocated to each user data region after re-initialization based on the defect region size for each segment.例文帳に追加

欠陥領域サイズ計測回路4は光ディスク10の再初期化時に、再初期化前の欠陥管理情報を検索し、ユーザデータ領域全体を複数のセグメントに分割して、各セグメント毎の欠陥領域サイズを計測し、代替領域サイズ設定回路5は各セグメント毎の欠陥領域サイズに基づき、再初期化後の前記各ユーザデータ領域に割当てる代替領域サイズを決定する。 - 特許庁

Using the soft-decision values reduces fluctuations in a ratio of the statistical measures compared to a ratio formed from statistical measures that are not based on soft-decision values, resulting in a more reliable test for detecting defect regions.例文帳に追加

これらのソフト決定値を使用することは、ソフト決定値に基づかない統計的測度から形成される比率と比較して、それらの統計的測度の比率内の変動を減らし、結果として、欠陥領域を検出するためのより確実なテストをもたらす。 - 特許庁

(iv) the measures taken to prepare for compensating victims in cases where the lives or bodies of general consumers are damaged due to a defect in said specified products. 例文帳に追加

四 当該特定製品の欠陥により一般消費者の生命又は身体について損害が生じ、その被害者に対してその損害の賠償を行う場合に備えてとるべき措置 - 日本法令外国語訳データベースシステム

Further, a second sensor truck 200, mounted with a vertical tire type ultrasonic sensor, is connected to the pipe inspection truck 100 mounted with the oblique sensor 10 to detect a defect, and the vertical sensor measures the property of a detected defect, while the second sensor truck is decelerated and moved at a low speed.例文帳に追加

さらに、斜角センサ10を搭載して欠陥を検出する管内検査台車100に、垂直タイヤ型超音波センサを搭載した第2センサ台車200を連結し、減速して低速で移動しながら検出された欠陥の性状を、垂直センサが測定する。 - 特許庁

Disclosed is the stencil mask defect inspecting method and device which irradiates the stencil mask obliquely with linear parallel light and measures the shape of the opening 8 using a non-reflection image of an image obtained by imaging surface reflected light, so as to inspect a defect of the opening 8.例文帳に追加

ステンシルマスクに対して斜め方向から線状平行光を照射し、表面反射光を撮像した撮像画像における非反射像により開口部の形状を測定することにより開口部の欠陥を検査するステンシルマスク欠陥検査方法および装置を提供する。 - 特許庁

To provide a fingerprint input device, with which a cause is specified and the contents of that cause and/or measures to that cause are announced to a user when a fingerprint reading defect occurs.例文帳に追加

本発明は、指紋読み取り不良が発生した場合、その原因を特定し、利用者にその原因の内容及び/又はその原因に対する対策を告知する指紋入力装置を提供する。 - 特許庁

Since a larger junction area compared to conventional junction can be taken, measures against the contact defect is realized and the BOF package having more sufficient electric junction can be supplied.例文帳に追加

このため、従来の接合より多くの接合面積をとることが可能となるため、接触不良に対する対策が可能となり、より良好な電気的接合を持つBOFパッケージの提供が可能となる。 - 特許庁

Since the substrate warp state in component mounting processes can be obtained from the substrate ID information and its approximate curved surface data when a substrate defect occurs as the years pass, it is possible to analyze the causal relationship of the defect and the substrate warp and take appropriate measures to meet the situation such as review of production conditions.例文帳に追加

経年的に基板に不具合が発生した場合に、基板のID情報に基づいて近似曲面データから実装過程における基板の反り状態を把握することができるので、不具合と基板の反りとの因果関係を解析し、生産条件の見直し等の有効な対策を講じることができる。 - 特許庁

To provide an ultrasonic probe which has simple and inexpensive constitution, efficiently extracts a signal associated with a harmonic component, and measures a microscopic defect with high precision; and to provide a method of manufacturing the same.例文帳に追加

簡単かつ安価な構成で実現でき、高調波成分に係る信号を効率よく抽出することができ、微視欠陥を高精度に計測できる超音波探触子およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device and a method for grasping a variation in a plurality of casts with regard to a site where a defect occurs in an interior of casts, clarifying a part to be addressed, and identifying effects of measures taken.例文帳に追加

鋳造品の内部欠陥の発生部位について複数の鋳造品におけるバラツキを把握して、対策部位を明確にするとともに対策の効果を的確に確認できる装置と方法とを提供する。 - 特許庁

To provide a method for non-contact and non-destructive evaluation of a multilayer coating film that measures and analyzes an internal structure and an internal defect of a multilayer coating film, non-destructively and easily without contacting, and a device using the same.例文帳に追加

複層塗膜の内部構造及び内部欠陥を、非接触非破壊且つ簡便に測定、解析することができる複層塗膜の非接触非破壊評価方法及びそれを用いた装置を提供すること。 - 特許庁

This cutter defect detecting method for the numerical control machine tool is characterized in that a distance detecting means measures a distance d to the cutter 3, while rotating the cutter 3 having multiple blade parts 3a, compares the measured data with similar measured data obtained from the blade 3 having no defect, and detects presence/absence of the defect of the blade 3 by difference from the both measured data.例文帳に追加

数値制御工作機械の刃物欠損検出方法において、複数の刃部3aを有する刃物3を回転させながら、距離検出手段により前記刃物3までの距離dを測定し、その測定データと欠損の無い刃物3に対して得られた同様な測定データと比較して、両測定データの相違の有無により刃物3の欠損の有無を検出することを特徴とするものである。 - 特許庁

To provide a dynamic type semiconductor memory device which is small in layout area, high in redundancy relieving rate and can secure a redundancy relieving while devising measures for a standby current defect caused by a short circuit of a bit line and a word line.例文帳に追加

ビット線とワード線のショート欠陥によるスタンバイ電流不良を対策しながら、小さなレイアウト面積で、高い冗長救済率、かつ確実な冗長救済可能にするダイナミック型半導体記憶装置の提供。 - 特許庁

To provide an inspection device that measures power generating performance and defect of a solar cell as a member of a solar battery at a high speed with high precision so as to improve the production efficiency and yield of manufacture of the solar battery.例文帳に追加

太陽電池を製造する際の生産効率および歩留まりを向上さるために、太陽電池の構成部材である太陽電池セルの発電性能や欠陥の有無を高速および高精度で測定する検査装置を提供する。 - 特許庁

In the hard disc drive, the defect regions on the hard disc are detected by generating two statistical measures (ex, β_1 (K) and β_2 (K)) based on signal values (ex, x[n] or y[n]) and soft-decision values (ex, L[n]) corresponding to the signal values.例文帳に追加

ハードディスクドライブ内で、ハードディスク上の欠陥領域は、信号値(例えば、x[n]またはy[n])と、それらの信号値に対応するソフト決定値(例えば、L[n])とに基づいて、2つの統計的測度(例えば、β_1(k)およびβ_2(k))を生成することによって検出される。 - 特許庁

Only a component which varies in cycles longer than the size of a circuit pattern and repetition cycles in a potential contrast image obtained with the reflected electrons is imaged through lenses 8, 12, and 13 and an image signal is compared with a previously set value to find whether there is a defect and measures its position.例文帳に追加

反射電子により得られる電位コントラスト像のうち、回路パターンのサイズや繰り返し周期より長い周期で変化する成分のみを、レンズ8、12、13により結像し、画像信号をあらかじめ設定した値と比較することにより、欠陥の有無および位置を計測する。 - 特許庁

In a process of bonding a substrate 8 with a plurality of electrodes and an IC 7 with a plurality of electrodes by heat and pressure, a thermometer which measures substrate lower surface temperatures at a plurality of arbitrary positions is provided, so that a bonding defect during bonding can be precisely detected.例文帳に追加

複数電極を有する基板8と複数電極を有するIC7を加熱加圧接合する過程において、任意の複数位置の基板下面温度を測定する温度計を備えることにより、接合中の接合不良を精度良く検知することが可能である。 - 特許庁

This inspection method measures a reflection coefficient, a space distribution of the reflection coefficient or a frequency characteristic of the reflection coefficient when bringing an electromagnetic field probe or an optical fiber close to the semiconductor that is an inspected target, and compares it with one of the good product to decide whether the semiconductor is the good product or the defect product.例文帳に追加

被検査対象である半導体の近傍に電磁界プローブもしくは光ファイバを近づけたときの反射係数または反射係数の空間分布または反射係数の周波数特性を測定し、良品と比較することで良品/不良品の判別を行う。 - 特許庁

To provide a high homogeneous porous structure which is estimated by high resolution (high estimation measures) of at most of several nm or several 10s nm, and to provide an SOI substrate which has little defect in an SOI layer by applying such a porous structure to manufacture the SOI substrate.例文帳に追加

数nm又は数10nm以下の高い分解能(高い評価尺度)で評価された場合においても均一性の高い多孔質構造を提供し、更に、このような多孔質構造をSOI基板の製造に適用することにより、SOI層に欠陥の少ないSOI基板を提供する。 - 特許庁

It has implemented preventative measures which can detect a small defect, such as over 80 operating data points collected from inside its own boilers and sent online to its information center 24 hours a day/365 days a year. This company is putting effort into maintenance work on its boilers with more and better service engineers.例文帳に追加

同社は、自社のボイラー内部より得られる80 以上の運転情報をオンラインで365日24 時間同社の情報センターに収集するなど、細かな異常も察知する予防的対処を実施しており、メンテナンスのためのサービス・エンジニアを拡充するなど、自社製品のメンテナンス業務に力を入れている。 - 経済産業省

Importantly, if a panel’s finding with regard to Article 21.5 is a strict prerequisite for imposing unilateral measures, a procedural defect in the form of anendless loop” would exist. That is, if the losing Member does not implement the DSB’s recommendation in good faith, the matter would be referred to the original panel, repeating eternally the Article 21.5 procedure.例文帳に追加

一方、DSU 第21条5項によるパネルの判断を第22条の制裁措置の発動のための要件として厳格に位置づけると、敗訴国が勧告実施案の改善が不十分な場合、再度原パネルへの付託を繰り返すことになり、第21条5項の手続が永遠に繰り返されるという手続上の問題は残る。 - 経済産業省

To provide a method for measuring defects in a polymer film which can correctly reflect the planarity required for the quality, if the polymer film is used as a product, can permanently and frequently maintain the accuracy, prevents the planarity from being altered, even if an area of a to-be-inspected surface is large, and conveniently and efficiently measures the defect.例文帳に追加

ポリマーフィルムを製品として使用する場合の品質として求められる平面性を正しく反映することができ、恒常的に高頻度で精度を保つことができ、大面積の検査面であっても、その平面性を変質させずに簡便に効率良く測定することができるポリマーフィルムの欠陥の測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide sick house measures which avoid restriction on use of building materials etc. using phenol foam due to a defect that the phenol foam diffuses formaldehyde into the environment, and are effective to formaldehyde generated from furniture, building materials etc., and provide an effectively functioning formaldehyde decomposing and detoxifying means in a form of a practical building material panel.例文帳に追加

フェノールフォームがホルムアルデヒドを環境へ放散する欠点のため、これを用いた建材等が使用を制限される事態を回避すると共に、家具・建材等を発生源とするホルムアルデヒドに対して有効なシックハウス対策を提供すること、及びそのために、有効に機能するホルムアルデヒド分解無害化手段を実用的建材パネルの形で提供すること。 - 特許庁

例文

This bearing vibration measurement device 10 measures the vibration of the bearing 30, relatively rotates the other of the inner ring 31 and the outer ring 32 with one of the inner ring 31 and the outer ring 32 of the bearing 30 axially pressurized, detects a vibration component generated from the bearing 30, and detects a defect of the bearing 30 on the basis of the vibration component.例文帳に追加

軸受振動測定装置10は、軸受30の振動を測定する装置であり、軸受30の内輪31および外輪32の一方を軸方向に加圧した状態で、内輪31および外輪32の他方を相対回転させ、軸受30から発生する振動成分を検出し、そして当該振動成分に基づいて軸受30の欠陥を検出する。 - 特許庁




  
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※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。
  
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