「length test」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

To reduce a test series length and an area of an additional circuit when facilitating a test of a controller for a PTL circuit.例文帳に追加

ＲＴＬ回路のコントローラのテスト容易化にあたり、テスト系列長および付加回路の面積を削減する。 - 特許庁

The disk access system, the length of test data and the data pattern are set as parameters at the time of performing the operation test.例文帳に追加

動作テストを行う際のパラメータとして、ディスクアクセス方式、テストデータ長及びデータパターンを設定させる。 - 特許庁

HYDRAULIC TESTER OF STEEL PIPE AND METHOD FOR MEASURING PIPE LENGTH AFTER STEEL PIPE HYDRAULIC TEST例文帳に追加

鋼管の水圧試験機及び鋼管水圧試験後の管長計測方法 - 特許庁

The constant load tensile test is a test applying 9.8N constant load to the length direction of a test piece having 20mm width for 24 hours under a 23°C-50% RH condition.例文帳に追加

定荷重引張試験：２３℃−５０％ＲＨの条件下で２０ｍｍ幅の試験片の長さ方向に９．８Ｎの定荷重を２４時間付加 - 特許庁

The excitation coil 71 generates a magnetic field perpendicular to the test object in the length direction within the test object 13.例文帳に追加

励磁コイル７１は、被検体１３の内部に、被検体の長さ方向に対して略垂直の磁界を生じさせる。 - 特許庁

To reduce the scale of a circuit to be added for a test by reducing a test series length in a strong possibility inspection DFT method.例文帳に追加

強可検査ＤＦＴ法において、テスト系列長を短縮し、テストのために付加される回路の規模を削減する。 - 特許庁

The propagation stopping performance to the long brittle fracture having a fracture propagation length of ≥1 m is evaluated using a test piece having a width of ≥2 m with a test piece length or a distance between the tips of a tab plate in a test apparatus on which the test piece is placed, of 2.8 times or more of the test piece width.例文帳に追加

試験片幅２ｍ以上の試験片を用いて、き裂伝播長１ｍ以上の長大脆性き裂に対する伝播停止性能を、試験片長さもしくは試験片を取り付ける試験装置のタブ板先端間距離を試験片幅の２．８倍以上として評価する。 - 特許庁

To attain a higher trouble coverage with a shorter test length by reducing the number of necessary hardwares.例文帳に追加

必要なハードウェアが少なく、短いテスト長で高い故障カバレージを達成する。 - 特許庁

To provide a macro test circuit that can reduce test cost by reducing a test pattern length, shortening a test time and effectively using scan flip-flop circuits in a SCAN test including a high function macro.例文帳に追加

高機能マクロを含むＳＣＡＮテストにおいて、テストパターン長を削減し且つテスト時間を短縮し、然もスキャンフリップフロップ回路を有効に利用し、その結果としてテストコストを下げることが可能なマクロテスト回路を提供すること。 - 特許庁

The reference pin and each test pin are connected by a first switch and the electrical length between the reference pin and each test pin is measured by using the comparator in the test pin.例文帳に追加

第１のスイッチによって基準ピンと各テストピンを接続し、テストピン内のコンパレータを用いて基準ピンと各テストピン間の電気長を測定するようにした。 - 特許庁

In the read/write test, test lengths having the specified lengths for all of the laps are set, and a test pattern is written into the part of the test length, and further, the same pattern is read out to verify the existence of the trouble to the device or the tape.例文帳に追加

リード・ライト試験ではすべてのラップについて所定の長さの試験長を設定し、当該試験長部分に対してテスト・パターンを書き込み、さらに同パターンを読み取って装置またはテープへのトラブルの有無を検証する。 - 特許庁

The rotation angle of the test bar 30 corresponds to the direction of bringing down a stick, and the length of the test bar 30 corresponds to the angle of the stick brought down from a neutral position.例文帳に追加

テストバー３０の回転角は、スティックを倒した方向に対応し、テストバー３０の長さは、スティックを中立位置から倒した角度に対応する。 - 特許庁

The bone head for test reset is fitted into the test cup 21 with the test cup 21 attached to the sliding surface 8S of the inner wall 8, thereby the length or others of a cervical part is selected by applying joint movement.例文帳に追加

内壁８の摺動面８Ｓに試験用カップ２１を取り付けた状態で、試験用カップ２１に試験整腹用骨頭を嵌め、関節運動を負荷することにより頚部の長さなどを選定する。 - 特許庁

The frequency band converting circuit 30 limits the frequency band of the input signal of the frame length from the unit length dividing circuit 20 to a frequency band testable by a test circuit 40 and passes it to the test circuit 40.例文帳に追加

帯域変換回路３０は単位長分割回路２０からのフレーム長の入力信号が持つ周波数帯域を、検定回路４０が検定可能な周波数帯域に制限し検定回路４０に渡す。 - 特許庁

Furthermore, the image forming apparatus provides a scale pattern of an interval corresponding to the circumferential length of a developing roller on the side part of each test pattern.例文帳に追加

さらに、各テストパターンの側部には、現像ローラ周長に相当する間隔の目盛パターンが設けられる。 - 特許庁

To provide a scanning test circuit capable of easily improving a failure detection rate of a combinational circuit, and reducing the pattern length, while suppressing increase of a test circuit scale.例文帳に追加

テスト回路規模の増大を抑えながら、組合せ回路の故障検出率を容易に向上させ、かつパタン長を削減することができるスキャンテスト回路を提供する。 - 特許庁

Therefore, the clamp plates 14, 15 for clamping the test piece TP press the side regions of the test piece TP over the total length thereof and repeated clamping also becomes easy.例文帳に追加

したがって試験片ＴＰをクランプするクランプ板１４、１５は試験片ＴＰの側辺全長域を均一に押圧することになり、かつ繰り返しクランプも容易となる。 - 特許庁

The first test tube T1 having a prescribed outer diameter and a prescribed length among each inserted test tube T is pressed and clamped by the facing first projection 31b.例文帳に追加

挿入された各試験管Ｔのうち、所定外径および所定長を有する第１の試験管Ｔ１を対向する第１の突起３１ｂにより押圧して挟持する。 - 特許庁

To shorten the processing time required for the processing of verifying a circuit to be tested on the basis of test patterns of a number larger than that of the memory maximum length of a memory for storing the test patterns without increasing load on a test apparatus.例文帳に追加

テストパターン格納用メモリのメモリ最大長よりもパターン数の大きなテストパターンに基づく被テスト回路に対する検証処理に要する処理時間の短縮を、テスト装置の負荷増大を伴うことなく行う。 - 特許庁

Both ends of a test piece TP are gripped by gripping devices 31, 32, and the gripping devices 31, 32 are moved in the length direction of the test piece TP by lifting cylinders 33, 34, to thereby apply a tension to the test piece TP.例文帳に追加

試験片ＴＰの両端部を把持装置３１，３２により把持するとともに、昇降シリンダ３３、３４により試験片ＴＰの長さ方向に把持装置３１，３２を移動して試験片ＴＰに張力を付与する。 - 特許庁

To count up a counter, without having to input clocks as many as the expected count number, and greatly reduce the test pattern length.例文帳に追加

期待したカウント数分のクロックを入力すること無くカウンタをカウントアップでき、テストパターン長を大幅に削減する。 - 特許庁

Furthermore, the image forming apparatus provides a scale pattern 452 of an interval corresponding to the circumferential length of a developing roller on the side part of each test pattern.例文帳に追加

さらに、各テストパターンの側部には、現像ローラ周長に相当する間隔の目盛パターン４５２が設けられる。 - 特許庁

This steel product end automatic flaw detection device is characterized by enabling flaw guarantee of the whole length by rotating once a test material or a sensor, moving the test material or the sensor as much as the inspectable width of the sensor in the axis direction of the test material, and rotating once again the test material or the sensor.例文帳に追加

被検材またはセンサーが１回転した後に、被検材またはセンサーを被検材の軸方向にセンサーの探傷可能な幅分だけ移動させ、再度１回転させることにより全長の疵保証を可能としたことを特徴とする鋼材端部自動探傷装置。 - 特許庁

A learning test region about one parameter of a disk is made length integral multiple of wobble beat period width caused in a reproduced wobble signal of wobble, test recording about one parameter value is performed for the learning test region, reproduction of test recording, reproduction evaluation, and preservation of a reproduction evaluation result are performed.例文帳に追加

ディスクの１つのパラメータに関する学習テスト領域をウォブルの再生ウォブル信号に生じるウォブルビート周期幅の整数倍の長さとし、学習テスト領域に対し１つのパラメータ値に関するテスト記録を行い、テスト記録の再生、再生評価、及び再生評価結果の保存を行う。 - 特許庁

On an optical disc, a test pattern including a first test mark longer than the shortest mark in the modulation code by one recording unit length and a second test mark longer than the shortest mark by two recording unit lengthes or more is recorded with plural of recording conditions (step S2).例文帳に追加

光ディスクに、変調符号における最短マークより１記録単位長い第１テストマークと、最短マーク長より２記録単位長以上長い第２テストマークとを含むテストパターンを複数の記録条件で記録する（ステップＳ２）。 - 特許庁

Here, the latent image of the test pattern is formed so that test patterns for all the colors divided into a plurality of rows and formed along the transport direction of the transport belt lie within the periphery length of the transport belt.例文帳に追加

ここで、搬送ベルトの搬送方向に沿って複数列に分けて形成された全色のテストパターンが搬送ベルトの周長以内に収まるように、テストパターンの潜像を形成する。 - 特許庁

To provide a bar code reading apparatus for a test tube by which a bar code printed on a label is precisely read by a bar code reader even when the length of the test tube is short.例文帳に追加

長さが短い試験管であっても、バーコードリーダによってラベルに印刷されたバーコードを正確に読み取ることができる試験管のバーコード読取り装置を提供することにある。 - 特許庁

A traffic estimation part 145 calculates a ratio between a time length and the sum of the packet intervals from the first test packet to the last test packet and outputs it as the traffic estimation result.例文帳に追加

トラヒック推定部１４５は、最初の試験用パケットから最後の試験用パケットまでの時間長とパケット間隔の和との比を算出し、トラヒック推定結果として出力する。 - 特許庁

To collect a series of test data from the start to the end of a test at a fixed sampling rate irrespective of length of testing time.例文帳に追加

試験時間の長さに関係なく、試験開始から終了までの試験データを、一定のサンプリングレートで収集することが可能な試験装置及び試験データの収集方法を提供する。 - 特許庁

To reduce test time and test vector length, when examining access between all the logics (using a register, in the example following) which have storage functions inside a semiconductor integrated circuit device.例文帳に追加

半導体集積回路装置内の全ての記憶機能を持つロジック（以下例としてレジスタを用いる）間のアクセス検査を行うに際し、テスト時間及びテストベクタ長の削減を図る。 - 特許庁

In a suitable form, the test data are formatted to the transaction of a length preliminarily decided on a screen basis, and the EPG data are formatted to the transaction of the same length on a program basis.例文帳に追加

好適な態様では、このテキストデータをスクリーンベーシスで前以て決めた長さのトランザクションにフォーマットしそして該ＥＰＧデータをプログラムベーシスで同じ長さのトランザクションにフォーマットする。 - 特許庁

Tests for faults such as leak between cells and low voltage between cells can be performed by a logical test of the memory by varying length of the data holding period signal S102 to various length.例文帳に追加

データ保持期間信号Ｓ１０２を様々な長さに変えることにより、メモリ１０７の論理的検査からセル間リーク故障やセル間の低電圧故障の検出まで行なうことができる。 - 特許庁

The test pattern for linearity inspection which is composed of a plurality of rectangular patterns 1 to 6 having the same length and different widths, is used.例文帳に追加

長さが同じで幅が異なる複数の矩形パターン１〜６により構成されるリニアリティ検査用テストパターンを使用する。 - 特許庁

To provide a test facilitation circuit designing method with which a scan chain having an equalized length can be easily constructed.例文帳に追加

長さが均等化されたスキャンチェインを容易に構築することができるテスト容易化回路の設計方法を提供すること。 - 特許庁

The operation mode is selected from a burst length mode, a DLL set mode, a test mode, a CAS latency mode, and a burst type mode.例文帳に追加

前記動作モードは、バースト長さモード、ＤＬＬセットモード、テストモード、ＣＡＳレイテンシモードおよびバースト型モードのうちの一つである。 - 特許庁

To provide an intermediate transfer belt superior in peripheral length uniformity, eliminating film thickness irregularity, resistance irregularity and color drift, and superior in density uniformity and durable test.例文帳に追加

周長均一性、膜厚ムラ、抵抗ムラ、色ずれ、濃度均一性、耐久試験に優れた中間転写ベルトを提供する。 - 特許庁

Where the test is carried out on demand by the importer, the fee levied for carrying out the test shall be returned if the test fails to support the original determination of count and length by the customs officers.例文帳に追加

当該検査が輸入業者の申請により実施される場合において，検査実施に賦課する手数料については，当該検査が税関係官による番手及び長さの最初の決定を支持しないときは，これを還付しなければならない。 - 特許庁

The plurality of test terminals Ta to Tf in each group are arranged so as to be aligned along a length direction of the wiring patterns 12a to 12f.例文帳に追加

各グループの複数のテスト端子Ｔａ〜Ｔｆは、配線パターン１２ａ〜１２ｆの長さ方向に沿って並ぶように配列される。 - 特許庁

To obtain a device capable of detecting a fault in a function for controlling traffic without using a test packet in a fixed length packet network.例文帳に追加

固定長パケット網において、テストパケットを用いることなくトラヒックを制御する機能の故障を検出できる装置を提供する。 - 特許庁

The expandable composition for packing showing a heat droop length of ≤14 mm in a heat drooping test and no break in an impact test is molded into an expandable member 1 for packing having a predetermined shape.例文帳に追加

熱タレ性試験における熱タレ長さが１４ｍｍ以下であり、衝撃性試験における破損がない充填用発泡組成物を、所定形状の充填用発泡部材１に成形する。 - 特許庁

To reduce a storage capacity for information about a test of a reception state of a data frame and the test time and to obtain distribution frequencies of information such as a transmission interval between frames and a frame length.例文帳に追加

データフレームの受信状態の試験に関する情報の記憶容量削減と試験時間短縮を図るとともに、フレーム間の送信間隔やフレーム長などの情報の分布頻度を知得する。 - 特許庁

Until entirely covered with a test pattern with effective test patterns mapped to the state transition (step 5), the operation of determining a state transition series having a predetermined length for covering the test patterns according to a predetermined standard, and of adding them to the test series (step 7) and performing X-extraction (step) is repeated.例文帳に追加

状態遷移にマッピングされた有効テストパターンが生成されたテスト系列にすべて被覆されるまで（ｓｔｅｐ５）、所定の基準に従ってテストパターンを被覆する所定長の状態遷移系列を決定してテスト系列に追加し（ｓｔｅｐ７）Ｘ抽出する操作（ｓｔｅｐ）を繰り返す。 - 特許庁

The test circuit 40 decides whether the input signal of a frame unit from the unit length dividing circuit 20 is a voiced section or an unvoiced section, and forwards the result of the decision to a unit length converting circuit 50.例文帳に追加

検定回路４０は単位長分割回路２０からのフレーム単位の入力信号に対して音声区間か無音声区間かを判定し、判定結果を単位長変換回路５０に渡す。 - 特許庁

Meanwhile, in the case of a RAM disk or a hybrid disk, the length of the recording information is decided by a data amount decision part 78 and when it is not the required length, a test pattern generated in a test pattern generator 62 of a media side EN/D and servo circuit 60 is written into a RAM area of the disk.例文帳に追加

しかし、ＲＡＭディスクやハイブリッドディスクの場合は、データ量判定部７８によって記録情報の長さが判定され、これが必要な長さでない場合は、メディア側ＥＮ／Ｄ＆サーボ回路６０のテストパターン発生器６２で発生したテストパターンをディスクのＲＡＭ領域に書き込む。 - 特許庁

The load test device has a caterpillar structure provided with a shape capable of gripping the fixing part of steps and has length equal to a plurality of steps.例文帳に追加

負荷試験装置は、踏段の固定部分を把持可能な形状を備えたキャタピラ構造であって、複数の踏段分の長さを有する。 - 特許庁