「loop testing」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

ONU LOOP-BACK TESTING METHOD IN EPON SYSTEM, AND ONU WITH LOOP-BACK TESTING FUNCTION例文帳に追加

ＥＰＯＮシステムにおけるＯＮＵループバック試験方法、およびループバック試験機能を有するＯＮＵ - 特許庁

VIBRATION TESTING DEVICE FOR CARRYING OUT MULTIPLE LOOP CONTROLS例文帳に追加

複数のループ制御を行う振動試験装置 - 特許庁

LOOP TESTING METHOD OF MEDIA CONVERTER, AND TRANSMISSION SYSTEM例文帳に追加

メディアコンバータのループ試験方法、および伝送システム - 特許庁

To provide a loop-back testing apparatus, a loop-back testing method, and a program therefor in which accuracy in the examination of a data error in an Etherframe(R) to facilitate an execution.例文帳に追加

イーサフレームにおけるデータ誤りの検査の精度を向上させ、容易に実行するループバック試験装置、ループバック試験方法、およびそのプログラムを提供する。 - 特許庁

The mobile phone testing system comprises a loop-back device connected to a telephone line network, and a mobile phone testing device.例文帳に追加

電話回線網に接続されたループバック装置と、携帯電話試験装置と、からなる携帯電話試験システムを提供する。 - 特許庁

To provide a media converter, a loop testing method and a loop testing program with which transmission normality can be confirmed in two ways in a loop test using the media converter for converting media between different transmission media.例文帳に追加

異なる伝送媒体間の媒体変換を行うメディアコンバータを用いたループ試験の際に、双方向にて伝送正常性を確認させることが可能なメディアコンバータ、ループ試験方法及びループ試験プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a DDR-SDRAM interface circuit in which the loop-back test can be more exactly performed, and its testing method and its testing system.例文帳に追加

ループバック試験をより正確に行うことが可能なＤＤＲ−ＳＤＲＡＭインターフェース回路、その試験方法、その試験システムを提供すること。 - 特許庁

Just as Fortran-77 introduced the zero-trip loop in order to remove the need to test on a zero iteration loop, so Fortran 90 removes the need for further testing on zero. 例文帳に追加

Fortran-77がゼロ繰り返しループをテストする必要をなくすためにゼロトリップループを導入したのと同様に、Fortran 90はゼロのさらなるテストの必要をなくしている。 - コンピューター用語辞典

This dynamo-electric vibration testing device 1 executes double loop control using feedback control (closed loop control) based on external force calculation processing and external force compensation processing as an inner loop, and further using target following control (open loop control) based on drive waveform generation processing as an outer loop.例文帳に追加

動電式振動試験装置１では、外力算出処理及び外力補償処理に基づくフィードバック制御（閉ループ制御）をインナーループとし、さらに、ドライブ波形生成処理に基づく目標追従制御（開ループ制御）をアウターループとする二重ループ制御を行っている。 - 特許庁

To reduce the number of testing members required for a test in conducting an instrumentation loop test of a digital controller or the like.例文帳に追加

デジタル制御装置等の計装ループ試験を行なう場合に、その試験に必要な試験員の人数を減らす。 - 特許庁

To conduct a loop-back test including the intermediate testing device as an intermediate element even for an exchange where an intermediate element can not be specified as the address of the device conducting the loop-back test.例文帳に追加

ループバック試験を行う装置のアドレスとして中間要素を指定できない交換機であっても、中間試験装置を中間要素としたループバック試験を実施する。 - 特許庁

A test frame (a) is transmitted from a testing apparatus 6 to the MAC bridge network, and when the test frame (a) is returned to the testing apparatus 6, a loop generating direction judgment apparatus is started.例文帳に追加

試験装置６から試験フレームａをMACブリッジングネットワークに送信し、該試験フレームａが試験装置６に戻ってきた時にループ発生方向判定装置を起動する。 - 特許庁

Exact and efficient data dependence testing is a key to success of loop-parallelizing compiler for computationally intensive programs. 例文帳に追加

正確で効率的なデータ依存性テストは、計算集約的プログラムのためのループ並列化コンパイラを成功させる鍵である。 - コンピューター用語辞典

Effect of reaction force between a testing object 11 and a testing object mounting part 21 and a modeling error are eliminated by compensating an effect by an external force value onto a motion of the testing object 11 in the inner loop, by this manner.例文帳に追加

このように、インナーループにおいて試験体１１の運動に対する外力値による影響を補償することによって、試験体１１と試験体載置部２１との間の反力及びモデル化誤差の影響を排除することができる。 - 特許庁

To provide a loop back test circuit which has a band sufficient for testing a Bluetooth(R) element and is capable of setting an attenuation quantity suited to a loop back test thereof to set a great amplification gain while suppressing oscillation.例文帳に追加

ブルートゥース素子の試験に十分な帯域を持ち、そのループバック試験に適した減衰量を設定でき、それにより発振を抑えながら大きな増幅利得を設定できるループバック試験装置を提供する。 - 特許庁

When the Etherframe(R) is received, the loop-back testing apparatus 2 sends the received Etherframe(R) onto the network after mutually switching the destination MAC address and the source MAC address thereof.例文帳に追加

ループバック試験装置２は、イーサフレームを受信すると、受信したイーサフレームの宛先ＭＡＣアドレスと送信元ＭＡＣアドレスとを互いに付け替えてネットワーク上に送出する。 - 特許庁

To provide a control device for material testing machine capable of inserting an integration control element to a feedback loop system to eliminate a steady deviation without causing an abnormal operation.例文帳に追加

異常動作を起こすことなく、フィードバックループ系に積分制御要素を挿入して定常偏差をなくすことができる材料試験機用制御装置を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and method for testing a phase locked loop (PLL) that can solve a task of conducting an enhanced test including verification and/or stop sequence of a frequency dynamic revision.例文帳に追加

位相同期ループ（ＰＬＬ）のテストにおいて、周波数の動的変更の検証および／またはストップシーケンス・チェックを含む、改良されたテストを行うことが課題である。 - 特許庁

This center provides the training facilities for BWR operation simulators (PC simulators), non-destructive test training equipment,eddy current test (ECT) equipments for steam generator tubing, 3-Dimentional cut models of NPP major components, electrical and instrumentation training facilities, the e-learning system (to study the PWR system), loop test devices (incident simulating loop and process instrumentation loop), condition monitoring testing facility and classrooms for lecture.例文帳に追加

この研修センターには、研修設備として、BWR運転シミュレータ（PCシミュレータ）、非破壊検査実習機器、蒸気発生器伝熱管体積検査（ECT）装置、主要機器モデル、電気設備モデル、e-ラーニング（PWR系統の学習）、ループ試験装置（異常事象模擬ロープ、プロセス計装ループ）、状態監視試験設備及び座学用教室が設けられている。 - 経済産業省

A test terminal 4 sends the Etherframe(R), in which a destination MAC address is a MAC address of the present terminal and a source MAC address of a MAC address of a loop-back testing apparatus 2, onto a network.例文帳に追加

試験用端末４は、宛先ＭＡＣアドレスが自端末のＭＡＣアドレス、送信元ＭＡＣアドレスがループバック試験装置２のＭＡＣアドレスであるイーサフレームをネットワーク上に送出する。 - 特許庁

This testing device of the PLL circuit having a phase comparator 1, a loop filter 2, a VCO 3 and a prescaler 4 is equipped with the first switch 11 and the second switch 12.例文帳に追加

この発明は、位相比較器１、ループフィルタ２、ＶＣＯ３、およびプリスケーラ４を有するＰＬＬ回路のテスト装置であって、第１スイッチ１１と、第２スイッチ１２とを備えている。 - 特許庁

Thus, the present invention enables to perform self-inspection before wafer testing as to whether the open loop or short state of each electric channel is normal or whether or not a short has occurred.例文帳に追加

これにより本発明はウエハ試験の前に、各電気チャネルのオープンループ或いは短絡状態が正常であるか、或いは漏電が発生しているか否かを自己検査できる。 - 特許庁

In a semiconductor inspection apparatus having a loop counter counting a loop count of loop instructions for generating a pattern address to be given to pin electronics for DUT testing and the fail memory for storing information related to DUT pass/fail, the fail memory stores necessary information only when count output data of the loop counter change in an all trace mode which captures respective data in all inspection cycles.例文帳に追加

ＤＵＴのテストのためにピンエレクトロニクスに与えるパターンアドレスを発生するためのループ命令のループ回数をカウントするループ回数カウンタと、ＤＵＴのパス／フェイルに関する情報を格納するフェイルメモリを有する半導体検査装置において、前記フェイルメモリは、全ての検査サイクルで各データを取り込むオールトレースモード設定状態では、前記ループ回数カウンタのカウント出力データが変化した時にだけ必要な情報を格納することを特徴とするもの。 - 特許庁

To inexpensively detect a loop including an orderwire communication system for testing an orderwire line, which occurs in an orderwire system, without mounting special means on the other orderwire communication systems.例文帳に追加

オーダワイヤ回線のテストを行うオーダワイヤ通信装置に関し、オーダワイヤシステム内において発生した自装置を含むループを、他のオーダワイヤ通信装置に特別な手段を実装することなく、安価に検出する。 - 特許庁

When a transmission source MAC address of the test frame (a) in each of learning tables T1 to T4 of respective MAC bridging apparatuses is learned by a port which is not a port direction nearest to the testing apparatus 6 logically from a MAC bridging apparatus, the loop generating direction judgment apparatus judges the loop exists in the direction.例文帳に追加

該ループ発生方向判定装置は、各MACブリッジング装置の学習テーブルＴ１〜Ｔ４における試験フレームの送信元MACアドレスが、そのMACブリッジング装置から見て論理的に試験装置６に最も近いポート方向ではないポートに学習されている場合に、その方向にループがあると判定する。 - 特許庁

A testing sever sends a test pattern that a voice signal is encoded into a signal loop-back means installed at an exchange interface side in the TGW through a voice encoding section and a packet assembling section in the TGW, and receives the test pattern sent from the signal loop-back means through the voice encoding section and the packet assembling section, again.例文帳に追加

試験サーバより、ＴＧＷの音声符号化部とパケット化部を介して、ＴＧＷ内の交換機インタフェース側に設けた折り返し手段へ、音声信号を符号化して得た試験パターンを送り、その信号折り返し手段からの試験パターンを、再度、音声符号化部とパケット化部を介して試験サーバで受信する。 - 特許庁

The radio base station device 4 of the present invention sends a monitor/control signal to a monitor device 1 loop back to the radio-side interface in the radio base station device 4 and uses a testing call for the monitor/control signal set in the radio base station device 4 to has a function capable of monitoring and control from a testing monitor device 7.例文帳に追加

本発明の無線基地局装置４は、監視装置１への監視・制御信号を無線基地局装置４内部で無線側インタフェースに折り返し、無線基地局装置４内に設定した監視・制御信号用の試験用呼を使って、試験用監視装置７から監視、制御ができる機能を保有する。 - 特許庁

The loop-back device includes an incoming data receiving section for receiving incoming data transmitted from the mobile phone testing device side, and a outgoing data transmitting section for transmitting, to a mobile phone, all or a part of received incoming data as outgoing data.例文帳に追加

ループバック装置は、携帯電話試験装置側から送信される上りデータを受信するための上りデータ受信部と、受信した上りデータの全部又は一部を下りデータとして携帯電話に対して送信する。 - 特許庁

To provide a loop testing device of a LAN system for preventing a frame from being aborted even if the frame outputted from an own device is returned.例文帳に追加

本発明はＬＡＮシステムのループ試験装置に関し、自装置から出力したフレームが折り返されて戻ってきた場合でも、フレームの破棄が起きないようにしたＬＡＮシステムのループ試験装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

To carry out the compensation of a resonance mode of an object to be controlled such as a moving head and the adjustment of the loop gain of a control system without using a testing signal anew nor impairing convenience on the product user side.例文帳に追加

移動ヘッドなどの被制御対象の共振モードの補償や制御系のループゲインの調整を、テスト用信号を新たに用いることなしに、また製品使用者側の利便性をそこなうことなしに実行することを目的とする。 - 特許庁

A control system 10 of a feedback control type material-testing machine is provided with signal-processing parts 134, 234, and 334 for generating an actuator drive signal according to an error signal Ee0 in its control loop, and the signal-processing parts include integral elements.例文帳に追加

フィードバック制御式材料試験機の制御系１０は、その制御ループ中に、誤差信号Ｅｅ０に従ってアクチュエータ駆動信号を発生する信号処理部１３４、２３４、３３４を有し、それら信号処理部は、積分要素を含んでいる。 - 特許庁

To provide a material testing device and an external output method for a measured load therein, capable of generating a sufficient processing time in a servo loop as far as possible, and of outputting a detected signal proportional to the load as far as possible.例文帳に追加

サーボループにおける処理時間に余裕を極力生じさせるとともに、負荷に極力比例した検出信号を出力することができる材料試験装置における計測負荷の外部出力方法および材料試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit in which an influence of phase noise of a sampling clock on transfer characteristics of a DAC and an ADC can be detected and the quality of a loop-back test can be improved, and to provide a method of testing the same.例文帳に追加

サンプリングクロックの位相ノイズがＤＡＣおよびＡＤＣの変換特性に与える影響を検出することができ、ループバックテストのテスト品質を向上させることができる半導体集積回路およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device provided with a pattern generator capable of bringing a pattern storage capacity stored in the pattern generator equivalently into phase number times of an interleave, in a sequential pattern generation mode wherein a pattern generation mode is not accompanied with a repeating loop and the like.例文帳に追加

パターンの発生形態が繰り返しループ等を伴わないシーケンシャルなパターン発生形態の場合において、パターン発生器に格納できるパターン格納容量を等価的にインタリーブの相数倍にすることができるパターン発生器を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The gain Kact of the material testing machine 12 becomes very large under test conditions and in this case, an amplification factor for an analog sensor signal SSa inputted to an A/D converter 32 of the digital signal processor 16 is adjusted to adjust a loop gain Klp to an optimum value.例文帳に追加

試験条件によって材料試験機１２のゲインＫact が非常に大きくなることがあり、その場合に、ディジタル信号処理装置１６のＡ／Ｄコンバータ３２へ入力するアナログセンサ信号ＳＳａの増幅率を調節することで、ループゲインＫlpを最適値に調整する。 - 特許庁

The present invention relates to the manufacturing process, the system and the method, which senses closed loop pressure, and easily assembles and tests the feedback integrated fluid manifold, and the system for testing the fluid manifold of the present invention includes: reservoir for storing a fluid; a pump for moving selectively the fluid toward the manifold; and a testing mechanism communicated with the manifold, and accessing a specified test data.例文帳に追加

本発明は、クローズドループ圧力感知及びフィードバック一体型流体マニホールドの組み立て及び試験を容易とすることができる製造プロセス、システム、及び方法に関するものであり、本発明に係るマニホールド試験システムは、流体を貯蔵するリザーバと、流体をマニホールドエリアに向けて選択的に移動させるポンプと、マニホールドに連通され、規定の試験データにアクセスする試験機構と、を含んでいる。 - 特許庁

The testing device carrying out charge- or discharge testing for a sample includes first memory for sequentially overwriting oldest data with state information to execute loop recording if the state information acquired at given sampling time does not exceed a preset threshold value, and a second memory for sequentially recording state information if the state information exceeds a preset threshold value.例文帳に追加

試料に対して充電試験または放電試験を遂行する試験装置において、一定のサンプリングタイムで取得した状態情報が予め設定された閾値を超えない場合に、最も古いデータに対して状態情報を順次上書きしてループ記録する第一メモリと、状態情報が予め設定された閾値を超えた場合に、状態情報を順次記録する第二メモリとを備える試験装置とする。 - 特許庁