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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > potential defectに関連した英語例文

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potential defectの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 97



例文

POTENTIAL-DIFFERENCE-METHOD TERMINAL FOR DEFECT DETECTION AND DEFECT DETECTING APPARATUS例文帳に追加

欠陥検出用電位差法端子並びに欠陥検出装置 - 特許庁

The method for handling the defect of the hard disk drive comprises a process of detecting a potential defect which can develop to a defect in the future and a process of alternating the potential defect to an alternate area.例文帳に追加

将来に欠陥に発展できる潜在的欠陥を検出する過程,及び潜在的欠陥を代替領域に代替する過程を含む欠陥処理方法である。 - 特許庁

By detecting the potential defect which possibly develops to the defect and reassigning the potential defect, availability and reliability of the hard disk drive are improved.例文帳に追加

欠陥に発展するおそれのある潜在的欠陥を検出し,潜在的欠陥の再割り当てを行うことによって,ハードディスクドライブの実行性及び信頼性が向上する。 - 特許庁

To quickly detect a potential secondary defect of a catalyst when a primary defect of the catalyst which may cause the secondary defect occurs.例文帳に追加

触媒の二次異常の要因となるような一次異常が発生した場合に、その後速やかに、触媒の潜在的な二次異常を検出する。 - 特許庁

例文

To avoid a holding potential deficiency defect in a display device with a built-in power supply circuit.例文帳に追加

電源回路内蔵の表示装置で保持電位不足不良を回避する。 - 特許庁


例文

Thereby, potential difference between the potential of the pixel electrode having the adjacent defect and the potential of the normal pixel electrode is made high and the detection of the short circuit defect between the pixel electrodes adjacent across the source line is made easy.例文帳に追加

これによって、隣接欠陥を有する画素電極の電位と正常な画素電極の電位との電位差を大きくし、ソースラインを挟んで隣接する画素電極間の短絡欠陥の検出を容易とする。 - 特許庁

To prevent an image defect caused by potential irregularity by extending the control range of the surface potential of a photoreceptor drum by a scorotron electrifier.例文帳に追加

スコロトロン帯電器による感光ドラムの表面電位の制御範囲を広げて、電位ムラに起因する画像不良を防止する。 - 特許庁

The potential difference measuring terminal 112 for the defect in the circumferential direction and the potential difference measuring terminal 114 for the defect in the axial direction are installed so that each direction of the two terminals forms 90° mutually.例文帳に追加

周方向欠陥用電位差測定端子112と軸方向欠陥用電位差測定端子114は、2本の端子の向きが互いに90°となるように設置されている。 - 特許庁

In Fig. (a), a potential difference measuring terminal 112 for a defect in the circumferential direction is installed on a terminal holder 122, and a potential difference measuring terminal 114 for a defect in the axial direction is installed on a terminal holder 124.例文帳に追加

(a)端子ホルダ122に周方向欠陥用電位差測定端子112を設置しており,端子ホルダ124に軸方向欠陥用電位差測定端子114を設置している。 - 特許庁

例文

To prevent film deposition defect due to plating by controlling the surface potential of a seed film.例文帳に追加

シード膜の表面電位を高精度に制御してメッキ処理による成膜不良を防止する。 - 特許庁

例文

To provide a method of selecting a suitable process liquid that allows suppression of occurrence of a potential mask blank defect that results in a micro-black defect in a mask.例文帳に追加

マスクの微小黒欠陥の発生要因となる潜在化したマスクブランク欠陥の発生を抑制できる、最適な処理液を選定する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of selecting a process liquid suitable for suppressing occurrence of a potential defect in a mask blank that results in a micro-black defect in a mask.例文帳に追加

マスクの微小黒欠陥の発生要因となるマスクブランクの潜在化した欠陥の発生を抑制する最適な処理液を選定する方法を提供する。 - 特許庁

If any defect occurs in the driver 31, the detector 43 can not detect the potential vs.例文帳に追加

もし、ドライバ31に何等かの不良があると検知器43は電位vs を検出することができない。 - 特許庁

Then, by comparing the composited potential contrast image with a reference image, the defect is extracted.例文帳に追加

そして、前記合成された電位コントラスト画像を参照画像と比較することによって欠陥を抽出する。 - 特許庁

To provide a test method of semiconductor device which reflects possibility of having potential defect in test result of a bit line pair which can be a defect, and the semiconductor device.例文帳に追加

不良となり得るビット線対のテスト結果に、潜在的な不良を有する可能性を反映する半導体装置のテスト方法および半導体装置を提供する。 - 特許庁

The method for detecting membrane defect comprises continuously measuring a potential difference between a reference electrode and a detecting electrode set on the permeating liquid side of the membrane, and detecting a defect of the membrane by fluctuation of the potential difference.例文帳に追加

基準電極と、前記膜の透過液側に設置される検知電極との間の電位差を連続的に測定し、当該電位差の変動により前記膜の欠陥を検出することを特徴とする膜欠陥検出方法である。 - 特許庁

For example, when the potential for generation of reload defects is low, a low speed is selected to promote the preservation and prolongation of the toner lifetime; and when the potential for generation of reload defects is high, a high speed is selected and the potential for generation of the reload defect is reduced.例文帳に追加

例えば、リロード欠陥発生蓋然性が低い場合は低速を選定してトナー寿命の確保乃至延長を促進し、高い場合は高速を選定してリロード欠陥発生蓋然性を抑える。 - 特許庁

The control section 800 controls the DEV output, based on the input voltage so that its potential reaches a desired potential and decides that there is abnormality, such as contact defect, when the potential is less than a specified value.例文帳に追加

制御部800は、上記電位に基づき、その電位が所望の電位となるようにDEV出力を制御し、上記電位が所定値未満のときは接触不良などの異常があると判断する。 - 特許庁

The control unit then determines defect according to a change in information of the relevant equal potential plane in the composite image for decision.例文帳に追加

そして、制御部が、判定用の合成画像における該当等電位面の情報の変化から欠陥を判定する。 - 特許庁

After that, magnetization inversion in a potential defect part is promoted by performing heating processing S20 for the medium.例文帳に追加

さらにその後、加熱処理S20を媒体に施すことで、潜在的な欠陥部分における磁化反転を促進させる。 - 特許庁

In this defect inspecting method for the color filter, a surface potential of the color filter is measured by an atomic force microscope, and a defect in the surface is inspected based on a difference between the maximum value and the minimum value in the surface potential.例文帳に追加

カラーフィルターの欠陥検査方法であって、カラーフィルターの表面電位を原子間力顕微鏡で測定し、表面電位の最大値と最小値の差から表面の欠陥を検査することを特徴とするカラーフィルターの欠陥検査方法。 - 特許庁

To prevent the sticking of magnetic carriers and an image defect caused by abnormal remaining potential by surely removing the abnormal remaining potential by simple control even if an emergency shutdown causes the abnormal remaining potential in a photoreceptor drum.例文帳に追加

緊急停止により感光体ドラムに異常な残電位が発生しても、その異常な残電位を簡単な制御で、かつ確実に取り除き、異常な残電位に起因する磁性キャリアの付着や画像不良を防止すること。 - 特許庁

To provide a display device capable of detecting a defect in which the potential of the output line of a first or a second scanning driver is fixed and capable of restoring the defect.例文帳に追加

第1又は第2の走査ドライバの出力線の電位が固定される欠陥を検出し、その欠陥を修復することができる表示装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To heighten potential difference between a pixel electrode having an adjacent defect and a normal pixel electrode and to heighten detection sensitivity of an adjacent defect of pixel electrodes across a source line, in TFT array inspection.例文帳に追加

TFTアレイ検査において、隣接欠陥を有する画素電極と正常な画素電極との電位差を高め、ソースラインを挟む画素電極の隣接欠陥の検出感度を高める。 - 特許庁

The statistical value of the potential contrast of a pattern part is calculated from a sampled picture, and the defect occurrence situation of the whole wafer is estimated.例文帳に追加

サンプリングされた画像から、パターン部分の電位コントラストの統計量を算出し、ウェハ全体の欠陥発生状況を推定する。 - 特許庁

Successively, a control unit included in the defect correction device generates a composite image for decision by compositing the defect region image with an image including information of a relevant equal potential plane of the repeated pattern.例文帳に追加

続いて、欠陥修正装置が備える制御部が、その欠陥領域画像と繰り返しパターンの該当する等電位面の情報を含む画像とを合成して判定用の合成画像を生成する。 - 特許庁

To provide a solid-state imaging apparatus suppressing an image defect caused by lacking a capability for resetting a potential of a capacitance element to a reference potential, and to provide a driving method of the solid-state imaging apparatus.例文帳に追加

容量素子の電位を基準電位にリセットする能力が不足することで生じる画像不良を抑制する固体撮像装置およびその駆動方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display device capable of suppressing an occurrence of a display defect even if the configuration includes a difference between a potential connected to the outside and an average potential of a drive waveform of a liquid crystal.例文帳に追加

外部接続する電位と、液晶の駆動波形の平均電位との間に相違がある構成であっても、表示不良の発生を抑制することのできる液晶表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide an electrophotographic photoreceptor which can be improved in image defect level without lowering potential characteristics, and its manufacturing method.例文帳に追加

電位特性を低下させずに画像欠陥レベルを向上させることができる電子写真感光体とその製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a photoreceptor and a photoreceptor excellent in sensitivity and potential stability and causing no image defect even after printing on many sheets.例文帳に追加

感度や電位安定性に優れ、多数枚プリントしても画像欠陥が生じない感光体の製造方法及び感光体も提供。 - 特許庁

Thus, when a defect pixel due to the potential gap of a vertical transferring portion is generated in a transfer stop period (timings T102-T103), a defect pixel location is prevented from being changed according to the magnification N.例文帳に追加

これにより、転送停止期間(タイミングT102〜T103)において、垂直転送部のポテンシャルギャップに起因する欠陥画素が発生した場合に、その欠陥画素位置が倍率Nに応じて変化することがなくなる。 - 特許庁

To alleviate the defect that the states of the potential of signal lines vary between the boundaries and peripheries of blocks when the signal lines on the boundary lines of the blocks receive rocking of the potential in transmitting data for each of the blocks.例文帳に追加

ブロックごとにデータを伝送する際に、ブロックの境界線上の信号線が電位の揺動を受けることで、ブロックの境目と周辺とで信号線の電位の状態が異なる不具合を軽減する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing an electrophotographic photoreceptor particularly excellent in the wear resistance and causing little deterioration in sensitivity and increase in residual potential and no image defect.例文帳に追加

特に耐摩耗性にすぐれ、感度劣化や残留電位の上昇が少なく、画像欠陥の生じない電子写真感光体の製造方法を提供する。 - 特許庁

In this way, defect discovery rate of the product can be improved, and many potential defects in the product can be found in a time as short as possible.例文帳に追加

このようにして、製品の不具合の発見率を向上し、製品に潜在する不具合をできるだけ短時間に多く発見することができる。 - 特許庁

Thus, potential variations of a semiconductor substrate whereon the electric charge storage means LM is formed are suppressed and a defect such as the formation of the longitudinal lines can be avoided.例文帳に追加

これにより、電荷保持手段LMが形成された半導体基板の電位変動が抑制され、縦線発生などの不具合が回避される。 - 特許庁

To provide a method of inspecting an array substrate and an inspection device thereof, which allow a disconnection defect of a gate line to be detected even when potential is applied from both ends of the gate line.例文帳に追加

ゲート線の両端から電位を印加してもゲート線の断線不良を検知できるアレイ基板の検査方法及び検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection device for liquid crystal device that can easily observe right under a pressing member that is difficult to observe by the conventional one and reduce missing of detection of potential short-circuit defect, and to provide an inspection method and a method of manufacturing a liquid crystal device by which missing of detection of potential short-circuit defect is suppressed.例文帳に追加

従来、観察が困難であった押圧部材の直下を容易に観察することができ、潜在的な短絡欠陥の検出漏れを低減することができる液晶表示装置の検査装置、検査方法および潜在的な短絡欠陥の検出漏れが少ない液晶表示装置の製造方法を提供する - 特許庁

The accumulator battery 15 applies a voltage having a prescribed potential difference with respect to the potential of the steel tower member 200 to the copper plate 300B from voltage application points 300a to c via a rainfall detection part 40, a switch 18, and a device defect detection part 50.例文帳に追加

蓄電池15は、降雨検出部40、スイッチ18、装置不良検出部50を介して、電圧印加点300a〜cから銅板300Bに、鉄塔部材200の電位に対して所定電位差の電圧を印加する。 - 特許庁

To provide an image forming device which eliminates potential fall, the image unevenness or the like due to electrifying defect by means of preventing transfer residual toner from sticking to an electrifying member.例文帳に追加

帯電部材に転写残りのトナーが付着するのを防止して、帯電不良による電位低下、画像ムラなどが生じないようにした画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method of preemptively revealing a potential crystalline defect in a bulk silicon substrate used in manufacturing an SOI substrate using a layer transfer process.例文帳に追加

層転写プロセスに用いてSOI基板を作製するのに用いられるバルクシリコン基板中の潜在的結晶欠陥を予防的に顕在化させる方法の提供。 - 特許庁

This causes no potential difference due to electrostatic charge on the electrode layers 11a to 11h, which prevents a defect between the lead layers due to an electric discharge.例文帳に追加

そのため、電極層11aないし11hに静電気の帯電による電位差が発生しなくなり、リード層間に放電による欠陥が生じるのを防止できる。 - 特許庁

To provide a defect inspecting technology capable of observing or inspecting a sample by distinguishing a contrast resulting from a shape from another contrast resulting from a potential condition.例文帳に追加

形状に起因するコントラストと電位状態に起因するコントラストとを区別して観察あるいは検査することが可能となる欠陥検査技術を提供する。 - 特許庁

When a defect is incurred on the TFT 1, the picture element defect is corrected by irradiating an intersectional part of a current-carrying part 6 for correction and a picture element electrode 4 with laser light for destroying a lying gate insulating film and short-circuiting the picture element electrode 4 and the reference potential line 3.例文帳に追加

TFT1の不良時、レーザ光を修正用導電部6の画素電極4と交差する部位に照射することで、介在するゲート絶縁膜を破壊し、画素電極4と基準電位線3とを短絡させ、画素欠陥を修正する。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display wherein a display defect such as color unevenness and a conduction defect are eliminated, generated by expansion and contraction of a conductive resin provided between a substrate on which a counter electrode is formed and a circuit substrate supplying potential to the counter electrode.例文帳に追加

対向電極が形成された基板と該対向電極に電位を供給する回路基板間に設けられた導電性樹脂の伸縮によって発生する色ムラ等の表示不良及び導通不良を無くした液晶表示装置を提供する。 - 特許庁

In this constitution, the unit 107 and the defect detection means 108 are moved to different positions in the generatrix direction of the photoreceptor 101 to be able to simultaneously operate the surface potential measuring means 106 and the defect detection means 108.例文帳に追加

この構成により、ユニット107及び欠陥検出手段108を感光体101の母線方向において互いに異なる位置に移動させ、表面電位測定手段106及び欠陥検出手段108を同時に動作させることが可能になる。 - 特許庁

Even if a short-circuit defect between the pixel electrode and auxiliary capacity line occurs, no bright point is displayed nearly throughout a period wherein the potential of the auxiliary capacity line is equal to the common potential Vcom to improve the display quality of the display device.例文帳に追加

よって、画素電極と補助容量線との短絡不良が生じる場合であっても、補助容量線の電位が共通電位Vcomと同一であるほとんどの期間において輝点が表示されず、表示装置の表示品位を高めることができる。 - 特許庁

In this constitution, a potential of one pixel electrode line and a potential of another adjacent pixel electrode line cancel each other, so variation in effective value of liquid crystal is suppressed to prevent a display defect in stripped pattern.例文帳に追加

このような構成により、1つの画素電極行の電位と、隣接する他の画素電極行の電位とが互いに相殺し合うことになるため、液晶の実効値の変動が抑制され、縞模様状の表示不良が発生するのを防止することができる。 - 特許庁

In judging the normal/defective state of cells, all cells are set in the high resistance state, the reference voltage generator 62 outputs voltage of 105% of the average value, the discriminator 61 discriminates the cell as defect when the bit line potential at the time of read is higher than this potential.例文帳に追加

セルの良否判別時には、全セルを高抵抗状態にセットし、参照電圧発生器62は前記平均値の105%の電圧を出力し、判別器61は、読み出し時のビット線電位がこの電位より高い場合はそのセルを不良と判定する。 - 特許庁

To provide a defect inspection apparatus and a defect inspection method, which enable potential failures and signs of abnormality to be discovered in order to prevent any defect from occurring in its market, by referring to history information in the inspection process, even in the case of an object to be inspected whose apparent operation is normal or whose characteristic meets a specification.例文帳に追加

検査時に履歴情報も参照することにより、見かけ上正常動作しているまたは規格値に入っている検査対象であっても、潜在的な故障や異常の兆候を発見できるようにして市場での不良発生を未然に防止することができる不良検査装置および不良検査方法を提供する。 - 特許庁

例文

To provide a display device capable of deterring a transistor from operating unstably owing to variation in potential of a light shield film and also suppressing a defect in operation.例文帳に追加

遮光膜の電位の変動に起因してトランジスタの動作が不安定になるのを抑制し、かつ、動作不良が発生するのを抑制することが可能な表示装置を提供する。 - 特許庁




  
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