| 例文 |
semiconductor processingの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 4100件
To provide a waste gas processing method for a semiconductor manufacturing device so as to inexpensively and easily remove harmful polyfluoride compound gas used for a cleaning or etching processing inside a processing chamber in a plasma CVD device and a plasma etching device.例文帳に追加
プラズマCVD装置、プラズマエッチング装置における処理チャンバー内のクリーニングまたエッチング処理に使用される多フッ化化合物ガスに対し安価で容易な除害ができるように半導体製造装置の排ガス処理方法を提供する。 - 特許庁
A semiconductor integrated circuit device 1 for a sensor comprises, as main constituents, a signal processing circuit 8 at an input stage and a signal processing circuit 10 at an output stage for signal processing an output of the circuit 8.例文帳に追加
センサ用半導体集積回路装置1は、入力段の信号処理回路8と、この入力段の信号処理回路8の出力を信号処理する出力段の信号処理回路10とを主体として構成されている。 - 特許庁
The vibration sensor 10 is made up by using a semiconductor substrate 11 and a base substrate 12 to be joined thereto, to which a fine processing technology is applied.例文帳に追加
振動センサ10は、半導体基板11とこれ接合されるベース基板12とを用いて、微細加工にて作成される。 - 特許庁
To provide a method for mounting a semiconductor element having high quality and high productivity, and to provide a method for manufacturing an optical information processing unit.例文帳に追加
高品、高生産性な半導体素子の実装方法及び光情報処理装置を製造する方法を提供する。 - 特許庁
To prevent a second insulating film from being abnormally etched in the vicinities of the edges of a second metal wiring layer at the time of a processing using an ion milling in the manufacturing method of a semiconductor device.例文帳に追加
イオンミリングによる加工時に、金属配線のエッジ近傍で絶縁膜が異常にエッチングされることを防止する。 - 特許庁
To provide a nonvolatile semiconductor memory device which regulates increase of chip area and enables nonselective processing of a defective block.例文帳に追加
チップ面積の増大を抑制しつつ、不良ブロックの非選択処理が可能な不揮発性半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁
To improve processing performance by preventing an abnormal state of cache coherence control in a semiconductor integrated circuit of an SMP (symmetric multiple processor) configuration.例文帳に追加
SMP構成の半導体集積回路装置におけるキャッシュコヒーレンシ制御の異常を防止し、処理性能を向上させる。 - 特許庁
To provide a panel processing device which stably holds deviation in accordance with pressure bonding of a semiconductor circuit device to a predetermined position of a panel within a predetermined range.例文帳に追加
パネルの所定位置への半導体回路装置の圧着に伴う偏移を、所定範囲内に安定して保持する。 - 特許庁
The device is used for flowing the fluid in a semiconductor processing tool and/or for compounding a plurality of fluids.例文帳に追加
本装置は、流体を半導体処理工具に流入させるため及び/又は複数の流体を配合するために使用される。 - 特許庁
An area camera 40 acquires an image of the surface of the semiconductor chip, and outputs an image signal to an image processing/controlling device 100.例文帳に追加
エリアカメラ40は、半導体チップの表面の画像を取得し、画像信号を画像処理/制御装置100へ出力する。 - 特許庁
To provide a method of manufacturing a semiconductor device which is capable of shortening the unit processing time.例文帳に追加
この発明はタクトタイムの短縮化を図ることができるようにした半導体装置の製造方法を提供することにある。 - 特許庁
A central processing unit, hereinafter referred to as CPU, 101 of a semiconductor integrated circuit 100 receives a reset signal RST from a reset control circuit 106.例文帳に追加
半導体集積回路100のCPU101は、リセット制御回路106からリセット信号RSTを受け付ける。 - 特許庁
To improve conversion efficiency of a photoelectric conversion element without using KCN for surface processing on a photoelectric conversion semiconductor layer.例文帳に追加
光電変換半導体層の表面処理にKCNを用いることなく、光電変換素子の変換効率を向上させる。 - 特許庁
To provide a semiconductor device manufacturing method that can surely suppress characteristic deterioration caused by processing dispersion of gate length.例文帳に追加
ゲート長の加工ばらつきに起因する特性劣化を確実に抑制できる半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor device having stable temperature characteristics without increasing arithmetic processing and power consumption.例文帳に追加
演算処理や電力消費を増大させることなく、温度特性が安定する半導体装置を提供することを課題とする。 - 特許庁
MEASURING METHOD OF SILICIDE ABUNDANCE RATIO AND HEAT PROCESSING TEMPERATURE, MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND X-RAY RECEIVING ELEMENT例文帳に追加
シリサイド存在比率の測定方法、熱処理温度の測定方法、半導体装置の製造方法およびX線受光素子 - 特許庁
To lower a failure rate of a semiconductor testing device by reducing the number of central processing units necessary for control of a test.例文帳に追加
試験の制御に必要な中央処理装置の数を減少させることで、半導体試験装置の故障率を低下させる。 - 特許庁
To provide a nonvolatile semiconductor memory device capable of arbitrarily specifying data, which is read following specific processing.例文帳に追加
特定の処理に続けて読み出されるデータを任意に指定することを可能とする不揮発性半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁
To provide a method of manufacturing a semiconductor device that modifies a thin film having a high dielectric constant and to provide a substrate processing apparatus.例文帳に追加
高誘電率を有する薄膜を改質する半導体装置の製造方法及び基板処理装置を提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor device high in reliability by reducing external loads such as heat and stress, and simplifying a processing process.例文帳に追加
熱、応力等の外的負荷を低減し、加工工程の簡略化を図り、信頼性の高い半導体装置を提供する。 - 特許庁
To provide an adhesive tape for processing semiconductor wafers which involves only a small transfer of an adhesive (remaining adhesive) to the tip at the time of pickup.例文帳に追加
ピックアップ時にチップへの粘着剤の転写(糊残り)の少ない半導体ウエハ加工用粘着テープを提供すること。 - 特許庁
A semiconductor memory device comprises plural memory chips, plural parameter store units, an error correction encoding unit, and a parameter processing unit.例文帳に追加
半導体記憶装置は、複数のメモリチップと、複数のパラメータ記憶部と、誤り訂正符号化部と、パラメータ処理部とを備える。 - 特許庁
To provide the manufacturing method of a semiconductor device capable of improving the processing size precision and film quality of a passivation film.例文帳に追加
パッシベーション膜の加工寸法精度と膜質を向上させることができる半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁
To improve processing efficiency of a logic circuit by extending a refresh period of a DRAM, with respect to a DRAM mixed type semiconductor device.例文帳に追加
DRAM混載型半導体装置においてDRAMのリフレッシュ周期を伸ばし、以てロジック回路の処理効率を向上させる。 - 特許庁
To provide a semiconductor package module which is reduced in volume while improved in data storage capacity and data processing speed.例文帳に追加
データ蓄積容量及びデータ処理速度を向上させながら、体積を減少させた半導体パッケージモジュールを提供する。 - 特許庁
Basically, the method comprises a processing that a partial region of the semiconductor wafer 10 becomes a state where it goes within and without a face of chemical 16.例文帳に追加
基本的には、半導体ウェハ10の一部領域が薬液16面内外に出入りする状態となる処理を含む。 - 特許庁
To provide a high-security semiconductor device whose power consumption can be hardly analyzed without imparting randomness to a processing time.例文帳に追加
処理時間にランダム性を持たせることなく消費電力解析が困難なセキュリティ性の高い半導体装置を提供する。 - 特許庁
A process of an ink mark of the semiconductor wafer can be performed by batch processing, and working is conducted in half or less of conventional man-hour.例文帳に追加
半導体ウエハのインクマークの工程がバッチ処理で行うことができ、従来の工数の半分以下で作業が可能となる。 - 特許庁
To provide a method of manufacturing a semiconductor device provided with processes capable of processing a substrate by suppressing of roughness of the surface of the substrate.例文帳に追加
基板表面の荒れを抑制して基板を処理できる工程を備える半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁
To accelerate AD conversion processing in a CMOS (Complementary Metal-oxide Semiconductor) image sensor adopting a single slope integrated AD conversion system.例文帳に追加
シングルスロープ積分型のAD変換方式を採用したCMOSイメージセンサにおいて、AD変換処理の高速化を図る。 - 特許庁
To provide an antireflective hardmask composition and a method for using the antireflective hardmask composition for processing a semiconductor device.例文帳に追加
反射防止ハードマスク組成物および半導体デバイスの加工に反射防止ハードマスク組成物を使用する方法が提供される。 - 特許庁
To provide a chip division method for a semiconductor wafer, which is excellent in yield and efficiency, and can reduce the device and processing cost.例文帳に追加
歩留まりが良く、効率が高く、装置コスト及び加工コストを低減できる半導体ウエハーのチップ分割方法を提供する。 - 特許庁
PHOTOSENSITIVE GLASS, METHOD OF PROCESSING THE SAME, METHOD OF MANUFACTURING MEMBER FOR INK JET PRINTER, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR SUBSTRATE例文帳に追加
感光性ガラス及びその加工方法並びにインクジェットプリンタ用部品の製造方法及び半導体基板の製造方法 - 特許庁
To manufacture a high quality semiconductor device by promoting mixing of a plurality of processing gases to process a silicon wafer or the like.例文帳に追加
複数の処理用ガスの混合を促進してシリコンウェハ等を処理し、もって高品質な半導体装置(デバイス)を製造する。 - 特許庁
To provide a semiconductor substrate processing method, capable of controlling the lifetime of minority carriers which are positioned locally.例文帳に追加
局所的に位置する少数キャリアのライフタイムを制御することができる、半導体基板の処理方法を提供すること。 - 特許庁
SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE FOR IMPROVING DATA PROCESSING SPEED AND DATA INPUT/OUTPUT PIN EFFICIENCY, AND METHOD FOR CONTROLLING READ AND WRITE OPERATION THEREOF例文帳に追加
データ処理速度及びデータ入出力ピンの効率を向上させうる半導体メモリ装置及びその読出/書込制御方法 - 特許庁
The surface Mo electrode can secure the Schottky junction with the semiconductor substrate even when subjected to the sintering processing at 900°C or higher.例文帳に追加
表面Mo電極は、900℃以上のシンター処理を行っても、半導体基板とのショットキー接合を確保できる。 - 特許庁
The semiconductor processor carries out the end processing by itself, before the supply of the power is interrupted completely.例文帳に追加
上記より、電源供給が完全に遮断される前に半導体処理装置は自らで終了処理を行うことができる。 - 特許庁
To provide a semiconductor nano structural body having no processing damage, high quality and various structural configurations, and to provide its manufacturing method.例文帳に追加
加工損傷がなく高品質で多様な構造形態の半導体ナノ構造体及びその製造方法を提供する。 - 特許庁
To reduce the gate scale of a semiconductor circuit in an image processing circuit for inputting raster data to a two-beam engine.例文帳に追加
入力されたラスターデータを2ビームエンジンへ出力する画像処理回路における半導体回路のゲート規模を削減する。 - 特許庁
To provide a wafer dividing method capable of carrying out a wafer from a chuck table of a semiconductor wafer laser processing device without rupturing the wafer.例文帳に追加
半導体ウエーハレーザー加工装置のチャックテーブルから破断することなく搬出することができるウエーハの分割方法。 - 特許庁
To provide an improved method of processing a thin flat plate type semiconductor substrate of a solar cell in a known furnace.例文帳に追加
太陽電池などの薄型の平板状半導体基板を公知の炉で処理するための改良された方法を提供する。 - 特許庁
A preferred embodiment includes a method for monitoring the performance of a filter positioned in an airstream in a semiconductor processing system.例文帳に追加
好ましい態様には半導体処理システム中の空気流中に配置されたフィルターの性能を監視する方法が含まれる。 - 特許庁
To provide a method of manufacturing a semiconductor device wherein an accuracy of a processing position can be enhanced without greatly increasing cost.例文帳に追加
コストの大幅な上昇なしに、加工位置の精度を高めることができる半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a substrate processing apparatus and a method of manufacturing a semiconductor device, capable of shortening a time required for conveying a substrate.例文帳に追加
基板搬送に要する時間を短縮することができる基板処理装置及び半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁
To obtain a method for designing the layout of a semiconductor integrated circuit in which the processing time for correcting optical proximity effect can be shortened.例文帳に追加
光近接効果補正の処理時間を短縮することができる半導体集積回路のレイアウト設計方法を得る。 - 特許庁
To reduce a time for processing an image data and quickly inspect defects on surfaces of semiconductor chips accommodated in a tray.例文帳に追加
画像データの処理時間を短くして、トレーに収納された半導体チップの表面の異常を短い時間で検査する。 - 特許庁
To provide a nonvolatile semiconductor memory in which a non-selection processing of a defective block can be performed, while suppressing increase in chip areas.例文帳に追加
チップ面積の増大を抑制しつつ、不良ブロックの非選択処理が可能な不揮発性半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁
| 例文 |
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|