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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > shape defectsの意味・解説 > shape defectsに関連した英語例文

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shape defectsの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 266



例文

Accordingly, the composite casting article free of the internal structural defects and shape defects can be obtained.例文帳に追加

従って、内部の構造的欠陥や形状不良がない複合鋳造品を得ることができる。 - 特許庁

To provide an inspecting apparatus of paper cups for accurately determining defects according to a relation in a level in the area of the defects regardless of the shape of the defects.例文帳に追加

欠陥の形状に関係なく欠陥の面積の大小による欠陥判定を正しく行うことができる紙カップの検査装置を提供する。 - 特許庁

The generated shape group is compared with an actual pattern to detect defects.例文帳に追加

作成された形状群と実パターンの比較により欠陥を検出する。 - 特許庁

When they are within the allowable areas 5b and 5c, the shape mismatches are considered as false defects.例文帳に追加

許容エリア5b,5c内であれば、その形状不一致を擬似欠陥とする。 - 特許庁

例文

To securely detect pattern-formed scabby defects without having remarkable projection and recession shape.例文帳に追加

顕著な凹凸性を持たない模様状ヘゲ欠陥を確実に検出する。 - 特許庁


例文

To suppress the shape defects of a pattern that is formed with a resist pattern as a mask.例文帳に追加

レジストパターンをマスクにして形成されるパターンの形状不良を抑制すること。 - 特許庁

To make a good surface shape by suppressing the generation of scale defects in hot rolling.例文帳に追加

熱間圧延時におけるスケール疵の発生を抑制して表面形状を良好にする。 - 特許庁

In this case, defects detected in the similar shape at a common position in any differential image data can be determined to be defects (defects at the lower left end of the chip) of the reference chip A401.例文帳に追加

ここで、どの差画像データにおいても共通の位置に同様の形状で検出された欠陥は、基準チップA401の欠陥(チップ左下端の欠陥)と判断できる。 - 特許庁

To provide a method and system for diagnosis of defects, capable of accurately detecting the shape and depth of the defects of a structure in a short period of time.例文帳に追加

構造物の欠陥の形状および深さを短時間で正確に検知できる欠陥診断方法および欠陥診断システムを実現する。 - 特許庁

例文

To provide a means which can manufacture an extra thick H shape steel by minimizing its defects or by suppressing the defects to the minimum limit.例文帳に追加

極厚H形鋼の欠陥を極力なくす、あるいは欠陥を矯正可能な最小限度に留めて製造することのできる手段を提供する。 - 特許庁

例文

To provide a substrate treating device capable of preventing contamination in an aligner and preventing dimensional defects and shape defects from occurring in an exposure pattern.例文帳に追加

露光装置内の汚染を防止でき、露光パターンの寸法不良および形状不良の発生を防止することができる基板処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide a plasma display panel and its manufacturing method capable of preventing generation of display defects caused by defects and a shape failure of a barrier rib.例文帳に追加

隔壁の欠損及び形状不良に起因する表示不良の発生を防止できるプラズマディスプレイパネル及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a visual inspection apparatus capable of properly detecting defects in appearance of shape, such as, irregular shape and concave shape formed on the outer circumference surface of a tube.例文帳に追加

管の外周面に形成された凹凸形状や凹み形状などの形状的な外観不良を適切に検出できる外観検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device of shape control in a cold-rolling mill by which defects in shape of local elongation and compound shape are suppressed and shape control is carried out with high accuracy.例文帳に追加

本発明の目的は、局部伸びや複合形状の形状不良を抑制し高精度の形状制御を行える冷間圧延機の形状制御方法及び装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a method of forming an embedded metal wiring which has no shape defects, such as dishing, recess, etc.例文帳に追加

ディッシング、リセス等の形状欠陥を有しない埋め込み金属配線を形成する方法を提供する。 - 特許庁

To prevent the occurrence of defects in shape such as dents on a ring-shaped material to be rolled.例文帳に追加

リング状被圧延材にへこみ等の形状不良が発生するのを未然に防止し得るようにする。 - 特許庁

The recess portion and/or protruding portion has a shape that precludes crystal defects from being produced in semiconductor layers (11 and 13).例文帳に追加

凹部及/又は凸部は半導体層(11、13) に結晶欠陥を発生させない形状とする。 - 特許庁

The recessed portion and/or protruding portion includes a shape that prevents crystal defects from occurring in semiconductor layers 11 and 13.例文帳に追加

凹部及び/又は凸部は半導体層11、13に結晶欠陥を発生させない形状とする。 - 特許庁

To form a resist pattern having few defects, an excellent shape, and excellent line edge roughness.例文帳に追加

欠陥が少なく、かつ優れた形状及びラインエッジラフネスを有するレジストパターンを得ることを目的とする。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a cup shape formed body of a bearing race, which method can suppress forging defects.例文帳に追加

鍛造欠陥不良が抑制されたベアリングレース用のカップ成形体の製造方法を提供する。 - 特許庁

For solving the defects, a net 3 is sewn on the periphery with a belt-shape cloth band 2 and a belt-shape rubber band 4, and a belt-shape cloth band 1 is fixed to the end part.例文帳に追加

本発明は、上記欠点を解決するために、網状ネット(3)を、帯状布バンド(2)と、帯状ゴムバンド(4)で周囲を縫い付けて、その端部に、帯状布バンド(1)を固定した。 - 特許庁

To provide a composite casting article which is substantially free of internal structural defects and shape defects and a method for manufacturing such composite casting article of high quality.例文帳に追加

内部の構造的欠陥や形状不良がほとんどない高品質の複合鋳造品と、そのような高品質の複合鋳造品の製造方法とを提供する。 - 特許庁

To provide an image inspection device that easily collects limit samples of luminance non-uniformity defects and can remove defects or the like of specific shape before image inspection.例文帳に追加

輝度ムラ欠陥の限度サンプルの収集が容易であり、特定形状の欠陥等を画像検査前に除去することが可能な画像検査装置を実現する。 - 特許庁

To provide a composition for injection molding capable of suppressing the generation of molding defects at the time of injection molding even in a product shape having a complicated shape.例文帳に追加

複雑な形状を有する製品形状においても、射出成形時の成形欠陥発生を抑制できる射出成形用組成物を提供する。 - 特許庁

To prevent shape defects of a pattern by improving the adhesiveness of a resist pattern with a film to be treated.例文帳に追加

レジストパターンの被処理膜との密着性を向上して、パターンの形状不良を防止できるようにする。 - 特許庁

To provide a reliable and high-quality pedestal which does not have outer shape defects or deterioration in the mechanical strength.例文帳に追加

外観の欠陥、および、機械的強度の低下のない高信頼度および高品質の台座を提供する。 - 特許庁

To provide a press-forming apparatus and a press-forming method which are excellent in shape fixability and by which a press-formed article is obtained by preventing two-dimensional defects in shape such as angular variation caused by springback and three-dimensional defects in shape such as a ridge-line warpage (surface camber).例文帳に追加

スプリングバックによる角度変化といった2次元的な形状不良や稜線そり(面そり)などの3次元的な形状不良を防止してプレス成形品を得ることができる形状凍結性に優れたプレス成形装置及びプレス成形方法を提供すること。 - 特許庁

To prevent pattern defects from occurring in extreme ultraviolet light exposure and to form a fine pattern having a good shape.例文帳に追加

極紫外線露光におけるパターン不良を防止して、良好な形状を有する微細パターンを形成できるようにする。 - 特許庁

To set semiconductor process conditions which avoid the generation of crystal defects and a mask pattern shape on a simulation basis.例文帳に追加

結晶欠陥発生を回避した半導体プロセス条件およびマスクパターン形状の設定をシミュレーションベースで行う。 - 特許庁

To stabilize the quality of an annealed wafer by reliably decreasing SSDs (surface shallow defects which are recessed defects of an extremely wide and shallow shape on the surface), while ensuring generation of void defects other than the SSDs and generation of BMDs (bulk micro defects) indispensable as a gettering source in the bulk.例文帳に追加

アニールウェーハにとって必要不可欠なウェーハ表面におけるSSD(表面の非常に幅広く、浅い形状の凹状欠陥;Surface Shallow Defect)以外のボイド欠陥の低減や、バルク内のゲッタリング源としてのBMD(バルク微細欠陥;Bulk micro defect)の生成を保証しつつ、SSDを確実に低減させるようにして、アニールウェーハの品質を安定させる。 - 特許庁

The method inspects the surface of a single-crystal substrate for use as a semiconductor substrate for manufacturing a semiconductor device for defects which are strip-shape or groove-shape defects ≥0.3 μm in length with the width ≥3 times the length, or shallow pit-shape defects or mound-shape defects ≥0.5 μm in diameter with the depth or height10 times the diameter.例文帳に追加

半導体デバイスを作製するための半導体基板として使用する単結晶基板表面において、長さ0.3μm以上でありかつ長さが幅の3倍以上であるライン状の凹凸欠陥あるいは短冊状の形状を有した凹形状欠陥、あるいは直径が0.5μm以上でありかつ直径が深さあるいは高さの10倍以上であるシャローピットあるいはマウンド状欠陥を検査することを特徴とする検査方法およびこれらの欠陥のない半導体基板の製造方法。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for distinguishing bacteria, which determines fluorescent-labeled bacteria, even in shape defects.例文帳に追加

蛍光標識された細菌が形状不良でも判別出来る細菌判別装置および細菌判別方法を提供する。 - 特許庁

To reduce defects in shape of a partition wall 2 and to realize high brightness and low power consumption of a panel in a substrate for PALC.例文帳に追加

PALC用基板において、隔壁2の形状欠陥を少なく、且つパネルの高輝度化、低消費電力化を可能とする。 - 特許庁

To provide a method for inspecting defects in formation of a spacer for liquid crystal cell, wherein the decision of the defects can be automatically and accurately performed and the decision of the defects of the shape can be promptly and accurately performed about the spacer for the liquid crystal cell formed on the surface of a substrate.例文帳に追加

基板表面に形成された液晶セル用スペーサについて、その欠落の判定を自動的に精度よく行い、かつ、形状不良の判定を迅速に精度よく行うことのできる液晶セル用スペーサの形成不良の検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a biaxially oriented film reduced in the occurrence of surface defects due to wrinkles, gel particles and the like, particularly surface defects in the longitudinal direction of the film, and free from a change in the shape of a winding roll.例文帳に追加

しわやゲル状粒子等による表面欠陥、特にフィルムの長手方向の表面欠陥の発生を減少させ、巻取りロールの形状が変化することの無い二軸延伸フィルムを提供する。 - 特許庁

The two dot-shaped defects demultiplex light, having a resonance frequency determined by the shape of the defects from the input waveguide 23 through which rays of light having various wavelengths, is made to propagate and introduces the light to the output waveguide 24.例文帳に追加

2個の点状欠陥は、その形状により定まる共振波長の光を、様々な波長の光が伝播する入力導波路23から分波して出力導波路24に導入する。 - 特許庁

Accordingly, scattered light caused by an inner defect can be made intense, and the scattered light image of the internal defects can clearly be captured, regardless of the shape, size, kind and the like of the internal defects.例文帳に追加

これにより、内部欠陥の形状や大きさ、種類等によらず、内部欠陥による散乱光を強くすることができ、その内部欠陥の散乱光像を明確に捉えることが可能となる。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing recording medium capable of decreasing the shape defects of a recording medium and an apparatus for manufacturing the same, a taking up method of the recording medium capable of taking up the recording medium by decreasing the shape defects and an apparatus for taking up the same.例文帳に追加

記録媒体の形状不良を軽減させることができる記録媒体の製造方法及び製造装置、形状不良を軽減させて記録媒体を巻き取ることができる記録媒体の巻き取り方法及び巻き取り装置を提供する。 - 特許庁

To reduce the generation of defects in shape such as dents on a ring- like material to be rolled and to perform forming by ring rolling while keeping the ring-like material to be rolled in the circular shape.例文帳に追加

リング状被圧延材にへこみ等の形状不良が発生するのを低減させ、かつリング状被圧延材を円形状を保ちながらリングローリング成形できるようにする。 - 特許庁

Thus, shape defects in longitudinal direction of a plate not to be repaired at a subsequent stage are not caused at stands on the upper stream side.例文帳に追加

上流側スタンドにおいて、後段で修復できないような板長手方向の形状不良発生を発生させることがない。 - 特許庁

The luminance distribution varies in accordance with kinds of defects, so the defect is classified from points of view of the shape and luminance distribution of the defect image.例文帳に追加

欠陥の種類に応じて、輝度分布が相違するので、欠陥画像の形状及び輝度分布の観点より欠陥を分類する。 - 特許庁

To provide a method for processing eddy current flaw detection signal, capable of automatically identifying defective sections and accurately restoring the shape of defects.例文帳に追加

欠陥部の自動識別や欠陥形状の正確な復元をおこない得る渦電流探傷信号処理方法を提供する。 - 特許庁

To rapidly inspect shape defects in a minute pattern on a magnetic recording medium, formed from patterned media, that is an object of inspection.例文帳に追加

被検査対象であるパターンドメディアからなる磁気記録媒体の微細なパターンの形状欠陥を高速で検査できるようにする。 - 特許庁

To obtain a laminating apparatus which prevents lack and transfer of a conductor when a green sheet is outer-shape-punched and laminated, and which can form a laminate of the green sheet, without disconnection defects or short-circuit defects.例文帳に追加

グリーンシートの外形打抜き及び積層時の導体の欠落及び転写を防止し、断線不良及びショート不良のないグリーンシートの積層体を形成することのできるグリーンシート積層装置を提供することにある。 - 特許庁

No defects such as cracks and shrinkage causing problems in an unreasonable die bending in a conventional practice are generated, and the variance in strength and accuracy in shape attributable to the defects can be eliminated.例文帳に追加

これにより、従来例で提示した無理な型曲げ処理において問題となっていたひび割れやひけなどの欠陥が発生せずに済むなど、欠陥に起因する強度や形状精度のばらつきを無くせるようになる。 - 特許庁

To provide an organic EL (electroluminescent) display device and its manufacturing method capable of restraining increase of defects accompanying shape inspection of barrier ribs.例文帳に追加

隔壁の形状検査に伴う不良の増加を抑制することが可能な有機EL表示装置及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a thin sheet of a low thermal expansion alloy with a superior etching property, and an electronic component with few defects of shape.例文帳に追加

優れたエッチング性を有する低熱膨張性合金薄板を提供すること、および、形状不良の少ない電子部品を提供すること。 - 特許庁

To provide a cooling method for preventing a thin or high-temperature metal strip from generating defects of shape, even when cooling the strip with water.例文帳に追加

金属帯が薄板である場合や高温である場合に、冷却水を用いても形状不良の発生しない冷却方法を提供する。 - 特許庁

To provide a system for inspecting defects of a pattern shape and positional deviation of a servo pattern at high speed in inspection of a patterned medium for a hard disk.例文帳に追加

ハードディスク用のパターンドメディアの検査において、パターン形状及びサーボパターンの位置ずれの欠陥を高速に検査する方式を提供する。 - 特許庁

例文

To very accurately and surely supply a belt shape workpiece material to a press working position by preventing the inaccurate supply and the defects of the belt shape workpiece material caused by carrying the belt shape workpiece material at a speed and acceleration higher than a necessary speed and acceleration.例文帳に追加

帯状ワーク素材を必要以上の高速度及び高加速度で移送ることによる供給不良や帯状ワーク素材に対する傷付きを防止し、プレス加工位置に対して帯状ワーク素材を高い精度で、かつ確実に供給する。 - 特許庁




  
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