「shape measuring method」に関連した英語例文の一覧と使い方(21ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a simple method for measuring the disconnection of an optical fiber, in which Fresnel reflection light at a terminal part is not generated in performing the measurement of an ODTR (optical time domain reflectometer), with a jig having a simple shape, even when the jig is used.例文帳に追加

簡単な方法で、また、治具を用いる場合も簡単な形状のもので、ＯＴＤＲの測定時における、終端部のフレネル反射光を生じさせない光ファイバの断線測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for accurately measuring and displaying the shape of X-ray spectrum waveforms as a whole, starting from the background level and going over the peaks, and until reaching the background level again, with a single measurement, in the required minimum length of time.例文帳に追加

バックグランドレベルからピークを越えてまたバックグランドレベルまで至るＸ線スペクトル波形の全体の形状を、必要最小時間の1回の測定で正確に測定し、表示するための方法を提供する。 - 特許庁

To shorten time required for measurement when a three-dimensional shape of a measuring object is measured using a phase shift method.例文帳に追加

計測対象物の三次元形状を位相シフト法を用いて計測するに際し、計測に要する時間の短縮を図ることの可能な三次元計測装置を提供する。 - 特許庁

This method is used for calibrating a tool comprising the touch probe used for a contact-type measuring instrument, in order to take into consideration its dynamic shape characteristics.例文帳に追加

本発明は、動的形状特性を考慮するために接触型測定機械に使用されるタッチ式プローブからなる工具を校正するための方法に関する。 - 特許庁

To provide a precision shape measuring method using a laser beam in which the laser beam can be irradiated precisely and easily at a prescribed part to be measured in an extremely small region so as to enhance its measurement accuracy.例文帳に追加

レーザ光を用いた精密形状測定方法において、レーザ光を所定の被測定部位に極小さな範囲で正確に、しかも容易に照射することを可能として、測定精度のより一層の向上を図ることを目的としている。 - 特許庁

To enable measurement accuracy reliability and on-line self-diagnostics of a width and length measuring instrument that measure the width and the length dimensional shape of a hot steel sheet with a thick plate, for there is no measurement method with high performance available.例文帳に追加

他に高性能測定の方法が無い厚板熱間鋼板の幅寸法形状と長さ寸法形状を測定する幅計と長さ計の測定精度確性、及び、オンライン自己診断を可能とする。 - 特許庁

To provide a three-dimensional measuring apparatus which can shorten a time required to measure when a three-dimensional shape of an object to be measured is measured by using a phase shifting method.例文帳に追加

計測対象物の三次元形状を位相シフト法を用いて計測するに際し、計測に要する時間の短縮を図ることの可能な三次元計測装置を提供する。 - 特許庁

To provide a measurement method of punch shape capable of measuring the distance between the central axis of the tip part of the punch and the central axis of a main body (concentricity) with high precision.例文帳に追加

ポンチの先端部の中心軸と本体の中心軸との距離（同芯度）を高精度に計測することが可能なポンチ形状の計測方法を提供すること。 - 特許庁

The method for drying a coating film comprises steps of observing the surface of the film, measuring the shape of the film surface or the in-plane deviation distribution of the film thickness, and controlling drying processes based on the result of the previous step.例文帳に追加

塗布膜乾燥プロセスにおいて、膜表面を観察、膜表面形状あるいは膜厚の面内偏差分布を計測し、その結果に基づいて、乾燥プロセスを制御する。 - 特許庁

To provide an electron beam measuring technique for inspecting the shape, dimensions, presence of an defect, and the like in regard to a pattern formed on a sample through a multiple exposure method.例文帳に追加

多重露光法により試料上に形成されたパターンの形状、寸法、または欠陥の有無等の検査を行う電子ビーム測定技術を提供する。 - 特許庁

To provide a bio-signal measurement system capable of measuring and providing bio-signals using a necklace shape measurement device, and a method of providing a health care service using the system.例文帳に追加

ネックレス状の測定装置を用いて生体信号を測定及び提供することができる生体信号測定システム及びこれを用いた健康管理サービス方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for measuring and determining by using an image processing technology the shape of an object to be processed, which is a forged ring shaped material with surface irregularities.例文帳に追加

画像処理技術を利用して鍛造品であるリング状素材である被加工品の表面の凹凸を含む形状を測定して判定する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a non-contact shape measuring method capable of reducing a projection range of a require lattice image, and utilizing highly efficiently light irradiated from a projection device.例文帳に追加

必要とされる格子画像の投影範囲を縮小し、投影装置から照射される光を高効率で利用することができる非接触形状計測方法を提供する。 - 特許庁

To provide a library preparing method used in cross-section shape measurement for measuring, with high throughput and high accuracy, the cross-section shape of a pattern of a structure having a cyclic recess-and-projection shape (such as lines and spaces) without destroying the pattern or without being affected by changes in optical constants of a substance constituting the pattern.例文帳に追加

周期的な凹凸形状（例えば、ライン＆スペース等）を有する構造のパターンの断面形状を、そのパターンを破壊することなくかつパターンを構成する物質の光学定数の変化に影響されることなく、高スループットかつ高精度に測定する断面形状測定に用いられるライブラリ作成方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for measuring a shape in which the shape of an observation object can be correctly measured by a simple configuration of apparatus without reversing bumps and dents of the observation object or the like manner even when the object includes both high step parts and minute shape change parts and without a complicate operation.例文帳に追加

観察物体に高段差の部分と微小な形状変化部分の両方が存在する場合でも、観察物体の凹凸の反転等を伴うことなく正確に形状を計測することができ、煩雑な操作を伴わず、簡素な装置構成で計測可能な形状計測装置及び形状計測方法を提供する。 - 特許庁

To provide a measuring method, a photolithography method, a manufacturing method for base material, and an electron beam lithography system which can grasp the influence of a shape after resist development and eliminate the limit of writing precision while accurately grasping an error generated at a border part between writing fields and an error in writing position.例文帳に追加

本発明は、各描画フィールドの境界部分に生じる誤差や描画位置の誤差を正確に測定しながらも、レジスト現像後の形状の影響を把握して描画精度の限界を解消することの可能な測定方法、描画方法、基材の製造方法、および電子ビーム描画装置を提供する。 - 特許庁

To provide a probe scanning control device, scanning probe microscope by the same, probe scanning control method, and measuring method by the scanning control method, capable of detecting a solid-shaped sample where the angle of inclination changes, with fixed resolution in the direction of the shape of the sample.例文帳に追加

傾斜角の変化する立体形状試料に対して、試料形状方向の分解能を一定として検出できるプローブの走査制御装置、該走査制御装置による走査型プローブ顕微鏡、及びプローブの走査制御方法、該走査制御方法による測定方法を提供する。 - 特許庁

To provide a reference height aligning method of a simple spherometer and a device thereof making possible reference height alignment of the simple spherometer without using individual spherical face primary standards corresponding to various curvatures and capable of measuring a spherical face shape and curvature in the same way as a conventional method.例文帳に追加

多種多様な曲率に対応した個々の球面原器を用いることなく簡易球面計の基準高さ合わせを可能にし、従来と同様に球面形状や曲率の測定を行うことを可能にする簡易球面計の基準高さ合わせ方法およびその装置を提供する。 - 特許庁

To provide a coordinate system calibrating method for a three-dimensional shape measuring instrument for highly accurately bringing, using a simple method, positional data detected in a local coordinate system of a non-contact type three-dimensional position sensor to coincide with the global coordinate system of an automated machine.例文帳に追加

簡単な方法で高精度に非接触式三次元位置センサのローカル座標系の検知位置データを自動機のグローバル座標系に一致させるための三次元形状計測機の座標系のキャリブレーション方法を提供する。 - 特許庁

To provide a lens decentration measuring method for speedily and precisely acquiring information on decentration of the center of an optical surface with respect to the center of the outer shape of a lens, and to provide a lens assembly method for attaining desired optical performance by reducing the influence of the decentration of the center of the optical surface.例文帳に追加

レンズの外形中心に対する光学面中心の偏芯情報が迅速かつ高精度で取得できるレンズ偏芯測定方法と、光学面中心の偏芯による影響を低減でき、所望の光学性能を達成できるレンズ組立方法を提供する - 特許庁

To provide a method for deciding normal/defective condition, a method capable of measuring an indentation shape and a depression quantity based on the indentation of a horn projection, even if an upper plate is of a softer material than a lower plate, and capable of properly controlling joining strength, and also to provide welding equipment.例文帳に追加

上板が下板よりも柔らかい材料である場合にも、ホーンの突起の圧痕に基づいて圧痕形状や沈み込み量を測定でき、接合強度を適切に管理することができる接合良否判定方法及び接合装置を提供する。 - 特許庁

To provide a controllability evaluation method for a control system, an aligner, and planarity measuring method, which can discriminate influence on controllability from the surface shape of an object and accurately comprehend the controllability of the control system.例文帳に追加

対象物の表面形状による制御性への影響を判別することができ、制御系の制御性をより正確に把握することができる制御系の制御系評価方法及び露光装置、並びにフラットネス計測方法を提供する。 - 特許庁

This dynamic shape measuring method includes steps of superimposing carriers by two light sources with different wavelengths orthogonally on the image of an object surface, obtaining an interference image by one time imaging, demodulating the interference image along each direction of the carriers, determining phases for each wavelength at each point in the interference image, and determining the shape of the object surface according to the principle of the two-wavelength method.例文帳に追加

本発明は、波長の異なる２つの光源によるキャリアを直交して対象表面の像に重畳し、１回の撮像で干渉像を得、それぞれのキャリア方向に沿って干渉画像を復調して、干渉画像中の各点におけるそれぞれの波長に対する位相を求め、２波長法の原理にしたがって物体表面の形状を求めることを特徴とする動的形状計測方法に関する。 - 特許庁

To provide a drilled cavity bending degree measuring apparatus and drilled cavity bending degree measuring method using it which can measure the bending degree of a drilled cavity having an out-of-sight shape because of its relatively small diameter and the presence of bend without being affected by the internal environment of the drilled cavity, without requiring time and effort, simply, and accurately.例文帳に追加

口径が比較的小径で、曲がりがあるために見通しができない形状の掘削孔の曲がり度を、掘削孔の内部環境による影響を受けることなく、しかも、手間を要することなく、簡便に正確な測定ができる掘削孔の曲がり度測定装置及びそれを用いた掘削孔の曲がり度測定方法を提供する。 - 特許庁

The error compensation method includes steps of: providing the measuring device equipped with a probe and a guide; measuring and compensating a straightness error of the guide; carrying out a fitting of mounting tilt angle of the probe, a step which calculates a shape error of the probe; and forming a systematic error compensation program.例文帳に追加

前記誤差補正方法は、プローブ及びガイドを備える測定装置を提供するステップと、ガイドの真直度誤差を測定して補正するステップと、プローブの取付傾斜角をフィッティングするステップと、プローブの形状誤差を計算するステップと、系統誤差補正プログラムを生成するステップと、を含む。 - 特許庁

To provide a device and a method for measuring permeability of magnetic substance capable of measuring permeability of magnetic substance with any size and shape, directly evaluating permeability without applying cutting or processing to a wafer and the like on a production process line, and significantly improving productivity on-sites of a production line or material development.例文帳に追加

任意のサイズ、形状の磁性体の透磁率を計測でき、生産プロセスライン上のウエハ等において、切断や加工を施すことなく、透磁率を直接評価可能であり、生産ラインや材料開発の現場において、大きく生産性を向上させうる磁性体の透磁率計測装置および磁性体の透磁率計測方法を提供する。 - 特許庁

To provide an image measuring apparatus, an image measuring method and a computer program that can execute accurate calibration to accurately measure a desired physical quantity even if a measurement object has a complex shape which makes it difficult to select or track notable points or even if the measurement object shifts in position over time.例文帳に追加

注目点の選定や注目点を追尾することが困難な複雑な形状の計測対象物であっても、また時間の経過とともに移動する計測対象物であっても、正確なキャリブレーションを実行することができ、所望の物理量を正確に計測することができる画像計測装置、画像計測方法、及びコンピュータプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for measuring a mask pattern shape which enables the quick, correct and highly accurate quantitative measurement of the pattern shape of a photomask including a fine pattern by performing 1-dimensional numeric data conversion processing and to provide a recording medium.例文帳に追加

マスク画像のマスクパターン形状を計測する装置において、１次元数値データ変換処理を行い、微細なパターンを含むフォトマスクのパターン形状の定量的な計測を、迅速かつ正確・高精度に可能にするマスクパターン形状計測装置及びマスクパターン形状計測方法並びに記録媒体を提供する。 - 特許庁

A determination method for determining a replacement timing of a focus ring disposed around a substrate to improve in-plane uniformity of a pattern when the pattern is formed by etching a film on the substrate comprises a measurement step of measuring a shape or dimension of the pattern and a determination step of determining a replacement timing of the focus ring based on the shape or dimension of the measured pattern.例文帳に追加

基板上の膜をエッチングしてパターンを形成する際に、該パターンの面内均一性を高めるために該基板の周囲に配置されるフォーカスリングの交換時期を判定する判定方法において、前記パターンの形状又は寸法を測定する測定工程と、測定した前記パターンの形状又は寸法に基づいて、前記フォーカスリングの交換時期を判定する判定工程とを備える。 - 特許庁

The three-dimensional shape measuring apparatus 10 comprises: a line sensor 16 for reading the measurement object, onto which the optical pattern is projected as an image; and an image analysis section for calculating three-dimensional shape information of the measurement object, by analyzing the optical pattern in the image read by the line sensor 16, on the basis of a spatial fringe analysis method.例文帳に追加

ここで、三次元形状測定装置１０は、光パタンが投影された計測対象を画像として読み取るためのラインセンサ１６と、ラインセンサ１６により読み取られた画像における光パタンを空間縞解析法に基づいて解析して、計測対象の三次元形状の情報を算出する画像解析部とを備えている。 - 特許庁

This testing method comprises calculating the shape characteristic of the solder paste from the image data of the fillet forming spot by use of the above testing device, and measuring the time required until the shape characteristic is laid in a prescribed stable state from the time of starting the melting of the solder paste or the time of reaching substantially the same temperature as the liquid phase line temperature for the solder paste.例文帳に追加

試験方法は、上記試験装置を用い、フィレット形成個所の画像データよりはんだペーストの形状特性を算出し、はんだペーストが溶融し始めた時点、または前記はんだペーストについての液相線温度と実質的に同一の温度に到達した時点から、前記形状特性が所定の安定状態に至るまでに要する時間を測定する。 - 特許庁

The light source substrate manufacturing method including a wiring substrate and a plurality of chip shape light emitting diodes has a mounting process for directly mounting on the wiring substrate the light emitting diodes corresponding to data, which meet an extracting condition, based on optical characteristic data obtained by measuring each optical characteristic in the plurality of chip shape light emitting diodes arrayed on a wafer.例文帳に追加

配線基板とチップ状の複数の発光ダイオードとを備えた光源基板の製造方法であって、ウェハ上に配列されたチップ状の複数の発光ダイオードの個々の光学特性を計測して得られた光学特性データを元にして、抽出条件に合致するデータに対応する発光ダイオードを配線基板上に直接マウントするマウント工程を含む。 - 特許庁

The manufacturing method includes a forming process of winding a softened straight glass tube along an outer periphery of a molding jig and forming the arc tube main body 60 of the double-helical shape swivelling around the same pivot from a center part to each end part of the glass tube, and the measurement process of measuring a length of the arc tube main body 60 of the double-helical shape.例文帳に追加

本製造方法は、軟化した直管状のガラス管を、成形冶具の外周に沿って巻きつけて、前記ガラス管の中央部から各端部までが同じ旋回軸の廻りを旋回する２重螺旋形状の発光管本体６０を形成する形成工程と、２重螺旋形状の発光管本体６０の長さを測定する測定工程とを含む。 - 特許庁

In the permittivity measuring method, an electromagnetic field simulation is executed from each shape data of the sample 1 and a cavity resonator 2 and the waveform data of an input signal 3 to create the permittivity conversion curve in a step S1.例文帳に追加

本発明の誘電率測定方法では、ステップＳ１において、試料１と空洞共振器２の各々の形状データ、及び入力信号３の波形データを基に、電磁界シミュレーションを実行して誘電率換算曲線を作成する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for measuring the height of a substrate space adjusting spacer of a liquid crystal panel, which can accurately measure the height of the substrate space adjusting spacer over a comparatively wide range, without regard to the shape of the spacer.例文帳に追加

スペーサの形状にかかわらず、比較的広範囲にわたって、しかも高精度に基板間隔調整用スペーサの高さを測定することが可能な液晶パネルの基板間隔調整用スペーサの高さ測定方法及びその測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide an analyzing device promoting the reaction of a sample with a reagent to perform a measurement with good reproducibility in an antigen-antibody reaction or gene detection method using a flat plate-like reaction measuring vessel having a large bottom area, compared with the height of a chip shape.例文帳に追加

チップ形状の高さに比して底面積の大きい平板状の反応測定容器を用いる抗原，抗体反応あるいは遺伝子検出法において、試薬と試料の反応を促進させ再現性の良好な測定を可能とする分析装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a method of determining surface tension by observing the interface shape of a small amount of liquid placed on a solid sample that vibrates vertically and comparing the observed surface tension with surface tension calculated by numerical analysis, and to provide a measuring apparatus.例文帳に追加

上下振動をする固体試料上に設置した小量の液体の界面形状を観測し、数値解析により求められる界面形状との比較により表面張力を決定する方法と測定装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

In the surface shape measuring method, an error distribution contained in fringe order computation is estimated in the determination of fringe order of each position in two-wavelength phase-shifting interferometry (Step S21-S24), and the fringe order is determined by subtracting specified errors from the error distribution (Step S25 and S26).例文帳に追加

本発明の表面形状測定方法によれば、２波長位相シフト干渉法における各位置の縞次数の決定において、縞次数の計算に含まれる誤差分布が推定され（ステップＳ２１〜Ｓ２４）、その誤差分布から特定した誤差を差し引いて縞次数が求められる（ステップＳ２５，Ｓ２６）。 - 特許庁

To provide a method of measuring a three-dimensional shape of a sample including a sharp tip part, in particular, a portion with two faces constituting a ridge line where the angle formed by the faces is 120° or less, or a sample having a conical part or a pyramid part with 120° or less of apex angle, using a confocal microscope.例文帳に追加

鋭利な先端部、特に稜線を構成する２面のなす角度が１２０度以下の部分を含む試料もしくは頂点の角度が１２０度以下の円錐部や角錐部を有する試料の三次元形状を、コンフォーカル顕微鏡を用いて計測する方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a chemical sensing capacity sensor device formed into a chipped shape in its sensor part and using a chipped chemical sensing capacity sensor in order to provide an inexpensive small-sized a chemical sensing capacity sensor device simple to operate and possible to carry, and its measuring method.例文帳に追加

本発明は、操作が簡便で携帯が可能であり、また低廉な小型化学感覚能センサ装置を提供するために、センサ部分をチップ化し、さらに当該チップ化した化学感覚能センサを用いた化学感覚能センサ装置とその測定方法の提供を課題とする。 - 特許庁

A method for measuring the surface shape of a semiconductor thin film like a poly-silicon film 13 formed on a semiconductor substrate 11 includes measurement with a spectro-ellipsometer or IPA quantitative analyze with GC/MS after having exposed the semiconductor thin film in IPA vapor and having dried it.例文帳に追加

半導体基板１１上に形成されたポリシリコン膜１３の如き半導体薄膜の表面形状を，分光エリプソメトリを用いて測定するか，もしくは，半導体薄膜をＩＰＡＶａｐｏｒにさらして乾燥させた後，ＧＣ．ＭａｓｓによりＩＰＡを定量分析して測定する。 - 特許庁

To provide a method of inspecting a bonding wire for quickly determining the shape of the bonding wire speedily from data by measuring height by optical scan when inspecting the bonding wire, and by imaging and extracting a wire section by an imaging apparatus obliquely from an upper portion.例文帳に追加

ボンディングワイヤー検査を光走査による高さ測定と、斜め上からの撮像装置によりワイヤー部を撮像抽出して、これらのデータからボンディングワイヤーの形状判定を高速で短時間に行なうボンディングワイヤー検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for accurately measuring the trial of the cuff of a fine pattern, and also to provide a semiconductor device manufacturing control system for deciding the processing accuracy on the basis of shape information, such as the height of pattern, tapering angle, amount of trail, and roughness.例文帳に追加

微細パターンのボトム部の裾引き形状を正確に計測する方法および計測装置を提供するとともに、パターン高さ、テーパー角、裾引き量およびラフネス等の形状情報に基づいて加工精度を判定する半導体デバイスの製造管理システムを提供する。 - 特許庁

To provide a surface measuring apparatus in which the parallelism of both surfaces of a sample and its relative surface shape are measured simultaneously and in which an optical system is constituted and aligned easily, by a method wherein both surfaces of the sample are irradiated with parallel light and reflected light is made to interfere by the irradiated parallel light.例文帳に追加

試料の両表面に平行光を照射し、照射された平行光によって反射された光が干渉を起こすようにし、試料の両面の平行度及び相対的な表面形状を同時に測定し、光学系の構成及び整列が容易な表面測定装置を提供する。 - 特許庁

To provide a measuring method/means which can measure a shape of an arbitrary pattern such as surrounded by non parallel lines when a pattern length is to be measured with the use of display image information of a scanning microscope or the like and which prevents personal differences and errors for each measurement.例文帳に追加

走査型顕微鏡等のディスプレイ画像情報を用いたパターン測長において非平行線で囲まれたような任意パターンの形状測定が可能で、個人差や測定毎の誤差が出にくい測定手法／手段を提供する。 - 特許庁