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test pointsの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 132件
To provide a method for correcting mask data for an LSI, the method capable of reducing the number of measurement points on a test pattern transferred onto a wafer and reducing the measuring time while carrying out optical proximity correction and process proximity correction with high accuracy.例文帳に追加
光近接効果補正とプロセス近接効果補正を高精度に行いながら、ウエハー上に転写したテストパターンの測定点数の削減および測定時間の短縮を行えるLSI用マスクデータ補正方法を実現する。 - 特許庁
A matching degree is calculated by photometric data in the same cuvette and the same wavelength with photometric waveforms of different photometric points in the same test and the photometric waveform of a water blank of a referential photometric waveform as photometric data of a comparison target.例文帳に追加
同一テスト内の異なる測光ポイントの測光波形や、基準の測光波形となる水ブランクの測光波形を比較元の測光データとして、同一キュベット、同一波長の測光データで、マッチング度合いの計算を行う。 - 特許庁
To make a plurality of tests mutually different in the setting of meas uring conditions (especially measuring points) performable, without changing measuring equipments, in an electromagnetic wave measuring test for measuring an electromagnetic wave emitted from a substance to be tested in an anechoic chamber.例文帳に追加
電波暗室内で被試験体から放射される電磁波を測定する電磁波測定試験において、測定条件(特に測定点)の設定の異なる複数の試験を、測定装置を入れ替えることなく行えるようにする。 - 特許庁
In a test method for a semiconductor device in which measurement is performed for a plurality of cells varying measurement conditions and a plurality of measuring points deciding success or failure of the semiconductor device from obtained data of each cell are set, difference data of data of each cell between continuous measuring points of the plurality of measuring point are obtained, and the difference data are stored.例文帳に追加
複数のセルに対して測定条件を変えて測定を行ない、得られた各セルのデータから半導体装置の合否を判定する測定ポイントが複数設定されている半導体装置の試験方法において、前記複数の測定ポイントの連続した測定ポイント間の各セルのデータの差分データを求め、その差分データを保存する。 - 特許庁
A fault detection rate calculation part 7 computes data indicating fault detectability in each combined circuit block with the input values input and determines external detectability of fault points included in the fault detectability data to calculate a fault detection rate 5 of a test pattern 3 for the test object logic circuit 2.例文帳に追加
故障検出率算出部7では、その入力値が入力される各組合せ回路ブロックにおける故障検出性を示すデータを求め、その故障検出性データに含まれる故障個所についての外部検出可能性を判断することにより、テスト対象論理回路2に対するテストパターン3の故障検出率5を算出する。 - 特許庁
The density values are determined by setting a plurality of pixels corresponding to measurement points P1, P2, P3 and P3 set on a test exposure dot line TL formed by determining the relative angle θ of inclination of attitude of the test exposure dot line TL and a scanning direction and fetching the image by scanning based on the angle θ of inclination and fetching the density values of respective pixels.例文帳に追加
テスト露光ドットラインTLの姿勢とスキャニング方向との相対的な傾斜角度θを求め、この傾斜角度θに基づいてスキャニングで取り込んだテスト露光ドットラインTLの上に設定された計測ポイントP1、P2、P3、P3に対応する複数のピクセルを設定し、夫々のピクセルの濃度値を取り込んで濃度値を決定する。 - 特許庁
Multiple light receiving elements Pd_1-Pd_n are allocated at prescribed intervals on a light receiving element holding member 20 disposed along an arc formed by an aggregation of points positioned at the equal distance from a light receiving position of a test object, and the intensities of reflected light of a laser beam irradiated onto the test object 24 are measured simultaneously by each light receiving element Pd_1-Pd_n.例文帳に追加
試験対象の受光位置から等距離に位置する点の集合によって形成される円弧に沿って配設された受光素子保持部材20に所定の間隔で複数の受光素子Pd_1〜Pd_nを配備し、受光素子Pd_1〜Pd_nの各々により、試験対象24に照射されたレーザー光の反射光の強度を同時に測定する。 - 特許庁
This paper-shape carbon electrode material composed of carbon short fibers and carbon resin has 50 MPa or more of bending strength at least in one direction with a three-point bending test, and it is not broken till a deflection exceeds 0.08 times or more of a distance between support points.例文帳に追加
炭素短繊維と炭化樹脂からなり、3点曲げ試験における曲げ強度が少なくとも一方向で50MPa以上でかつ、破断時のたわみが支点間距離の0.08倍以上である紙形状の炭素電極基材。 - 特許庁
In this system, an achromatic point W (D65) of a chromaticity diagram is defined as a central intersection, a plurality of straight lines 43, 45, and 47 are drawn, and a measurement display showing the W and two points each on the lines are shown to the test subject to obtain an answer whether or not he can identify them.例文帳に追加
色度図の無彩色点W(D65)を中心交点とし、複数の直線43,45,47を描き、Wと各直線上の点を2つ表示した測定画面を被験者に見せ、識別できるか否かの回答を取得する。 - 特許庁
When the vertical load action means 22, 23 apply the vertical loads PM_1, PM_2 having the same magnitude onto the points of action A_1, A_2 in the mutually reverse directions, only a moment MV around the point of action A_0 having a vertical plane as the surface of revolution acts on the test structure F.例文帳に追加
鉛直荷重作用手段22,23が作用点A_1 ,A_2 に同一の大きさの鉛直荷重P_M1,P_M2を互いに逆方向に作用させると、試験構造物Fには鉛直面を回転面とする作用点A_0 回りのモーメントM_V のみが作用する。 - 特許庁
This method includes inserting test points into a circuit for reducing the number of specified bits required for transition fault testing of the circuit by reducing the dependency of a second time-frame pattern of the circuit on a first time-frame pattern of the circuit.例文帳に追加
方法は、回路の第1時間フレームパターンに対する回路の第2時間フレームパターンの依存性を減らすことによって回路の遷移故障試験に必要な指定されるビットの個数を減らすために回路に試験点を挿入することを含む。 - 特許庁
On one surface of cloth, a thermoplastic resin layer containing at least a thermoplastic resin is laminated to have surficial water repellency of 80 points or over as measured according to the spray test that is specified in JIS L 10925.2.例文帳に追加
布帛のいずれか一方の面に少なくとも熱可塑性樹脂を含む熱可塑性樹脂層が積層されており、該熱可塑性樹脂層表面の撥水度がJIS L 1092 5.2 で規定するスプレー試験に基づいて測定した値が80点以上である。 - 特許庁
The holder 7 is U-shaped in cross-section which is attached, by inserting sideways, to a peripheral part where the wafer tray on which a wafer 2 is placed is fitted tightly to the test card (or the card holder) by a means such as vacuum-chucking at several points.例文帳に追加
この保持具は断面コ字状をしており、真空吸着等の手段によってウェハ2を載置したウェハトレイとテストカード(又はカード保持体)とを密着した周縁部に数個所、該保持具を横から挿入することによって装着する。 - 特許庁
To provide a probing apparatus for sufficiently and automatically performing probing even when the pitch between measuring points on an measurement object is narrow with an inexpensive constitution and easy control, in an electric characteristic test of an electronic component requiring multiple point waveform measurement.例文帳に追加
多点波形測定を必要とする電子部品の電気特性試験において、安価な構成で、かつ簡易な制御によって、被測定物測定点間が狭ピッチであっても、問題なく自動的にプロービングが可能なプロービング装置を得ること。 - 特許庁
A loss line 150, is mapped which shows the aggregate of working points in each loss power, that is, the correspondence between the rotational speed Nm and the output torque Tq of a motor, using the loss power in the motor as a parameter, based on test results.例文帳に追加
実験結果に基づき、電動機での損失電力をパラメータとして、各損失電力における動作点の集合、すなわち、電動機回転速度Nmおよび出力トルクTqの対応関係を示す損失特性線150を予めマップ化される。 - 特許庁
This useful substance for the prevention and/or treatment of the ADHD can be screened by administering a test substance to an animal deficient in the function of the subunit p85α of PI3K and analyzing its action pattern by neuroscientific view points.例文帳に追加
PI3Kのサブユニットp85αの機能を欠損させた動物に被験物質を投与し、その行動パターンを神経科学的な観点で解析することで、注意欠陥多動性障害の予防および/または治療剤として有用な物質をスクリーニングすることができる。 - 特許庁
Based on the read data of a test pattern 200, the output density corresponding to an input pixel value at a measurement point is measured and plotted in the coordinate system of the input pixel value-output density, and then the output density is complemented between the measurement points thus obtaining a measured density curve 204.例文帳に追加
テストパターン200の読取データに基づいて、入力画素値に対応した測定点における出力濃度を測定し、入力画素値−出力濃度の座標系にプロットし、各測定点間の出力濃度を補完して測定濃度曲線204を得る。 - 特許庁
Preferably, the step of inserting the test points includes controlling directly scan flip-flops of the circuit in the second time-frame requiring a number of scan flip-flops to be specified in the first time-frame for reducing the number of specified bits to detect transition faults.例文帳に追加
好ましくは、試験点を挿入するステップは、遷移故障を検出するために指定されるビットの個数を減らすために、複数のスキャンフリップフロップが第1時間フレームで指定されることを必要とする回路のスキャンフリップフロップを第2時間フレームに直接に制御することを含む。 - 特許庁
A computer 4 divides test data of (N+M) bits into A bit data for a step and B bit data for an offset and sends them to an input buffer 5, receives an output from an output buffer 6 to search all change points of digital outputs with respect to analog inputs, thereby measuring the nonlinearity.例文帳に追加
計算機4は、N+Mビットのテストデータをステップ用のAビットとオフセット用のBビットに分割して入力バッファ5に送るとともに、出力バッファ6の出力を取り込んで、アナログ入力に対するデジタル出力の変化点を全点サーチすることで非直線性を測定する。 - 特許庁
To provide an image-measuring-machine calibration scale capable of obtaining image data, having uniform and full brightness and enabling clear reading of the coordinate values of a plurality of points on the calibration scale in an oblique test, using a vision measuring machine, in a three-dimensional length measurement system and an incident-light illumination.例文帳に追加
三次元測長系および落射照明を有する画像測定機の斜め検査において、一様かつ十分な明るさの画像データを得ることができ、校正スケールの複数点の座標値を明確に読み取ることができる画像測定機用校正スケールを提供する。 - 特許庁
Consequently, heat generated by the heat-generating electronic component 22a is efficiently dissipated from a heat sink 40 via TP wiring 34, the test points 32, and a silicon adhesive 48, thereby suppressing rises in the temperature of the heat-generating electronic component 22a and low-heat-generating electronic component 22b.例文帳に追加
これにより、発熱性電子部品22aで発生した熱をTP配線34,テストポイント32,シリコン接着剤48を介してヒートシンク40から効率良く放熱することができ、発熱性電子部品22aや低発熱性電子部品22bの昇温を抑制することができる。 - 特許庁
The test piece observation method includes a process to set a contour line or a plurality of points located on the contour line on an image of an electron microscope and a process to arrange a plurality of fields of vision of the electron microscope along the contour line, and a device to achieve the observation method is provided.例文帳に追加
上記目的を達成するために、以下に電子顕微鏡像上にて輪郭線、或いは当該輪郭上に位置する複数の点を設定する行程と、当該輪郭線に沿って電子顕微鏡の複数の視野を配列する行程を備えた試料観察方法、及び当該方法を実現するための装置を提案する。 - 特許庁
The degree of freedom of a characteristic matrix to be identified is made to be larger than the measuring degree of freedom to be actually measured at measuring points in an oscillating test, and thus, the number of values of mode characteristic computed based on the measuring data is made to be smaller than the number of values of mode characteristic computed based on the characteristic matrix.例文帳に追加
加振試験で測定点において実際に測定される測定自由度よりも同定する特性行列の自由度を大きくし、これにより測定データに基づいて算出されるモード特性の値の数を特性行列に基づいて算出されるモード特性の値の数よりも少なくする。 - 特許庁
To automatically set an optimum operating frequency channel by evaluating a reception state actually made among access points by using a radio wave available for ordinary data communication as a test radio wave in the case of setting the operating frequency channel for each radio access point placed at a plurality of places.例文帳に追加
複数箇所に配置されている各無線アクセスポイント毎に、その使用周波数チャンネルを設定する場合に、テスト用電波として通常のデータ通信で使用可能な電波を用いて各アクセスポイント間で実際に行った受信状況を評価することによって、最適な使用周波数チャンネルを自動設定できるようにする。 - 特許庁
In this structure, an alternating voltage is impressed to the Schering bridge circuit D from an alternating voltage applying device 9, and a potential difference between the conjunctive points a, b is minimized by regulating the first and second variable resistors 2, 10, and then, deterioration of insulation is diagnosed by detecting a harmonic constituent (imbalance constituent) from the test capacitor 1.例文帳に追加
以上の構成のもとで交流課電圧装置9よりシエーリングブリッジ回路Dに交流電圧を印加し、第1および第2の可変抵抗2と10を調整することによって中点a、b間の電位差を最小にし、供試コンデンサ1からの高調波成分(不平衡成分)を検出することにより絶縁劣化診断を行う。 - 特許庁
The gage carrier is provided with an advantage of a metal carrier handled and attached easily without worsening performance of the gage, and at least one part thereof is elastic related to expansion, compression or the both, along a longitudinal direction thereof, to change a distance between two points with the gage carrier attached to a test piece.例文帳に追加
ゲージキャリアは、ゲージの性能を低下させず、取扱いと取り付けとを容易にする金属キャリアの利益を備え、その少なくとも一部は、その長手方向軸に沿って、拡張、圧縮、又はこの両方に関連して弾性であることで、ゲージキャリアが試験片に取り付けられている2つの地点の間の距離が変化することが可能である。 - 特許庁
To calculate a rate of adaptation that a staff has evaluated as a non-success is at least partially adapted to a success model and to lead conditions necessary for completely adapting the staff to the success model by mathematically connecting staff's evaluation information and objective data such as the determination result (points) of a staff's aptitude test.例文帳に追加
社員の評価情報と、社員の適性検査の判定結果(得点)などの客観的なデータとを数学的に結びつけることにより、成功者でないと評価された人材が、成功モデルにその時点で部分的にでも適合している割合を算出し、さらに成功モデルに完全に適合するために必要な条件まで導き出す。 - 特許庁
On the basis of only envelope-detected samples of a signal at two test points and perturbation of a stop operation point by the properly selected voltage patterns of other constitution elements, such as an amplifier and/or a vector modulator, these operations are all performed at a base-band frequency, which enables a simple digital circuit to perform adaptive control over this device.例文帳に追加
2つのテスト・ポイントにおける信号の包絡線検出されたサンプルと、増幅器および/またはベクトル変調器など他の構成要素の適切に選択された電圧パターンによる休止動作点の摂動のみ基づいていて、これら全ての動作は、簡単なデジタル回路でこの装置の適合制御を実施可能にするベースバンド周波数で行われる。 - 特許庁
This optical disk device performs focus search at two or more measuring points in the radial direction on each of the signal recording layers L0, L1, and detects amplitudes A0, A1 of focus error signal FE at each measuring point, and also detects in advance optimal writing power PM0, PM1 of a laser beam α in each test zone of the signal recording layers L0, L1.例文帳に追加
この光ディスク装置では、信号記録層L0,L1の各々において、半径方向の複数の測定点でフォーカスサーチを行ない、各測定点におけるフォーカスエラー信号FEの振幅A0,A1を検出するとともに、信号記録層L0,L1の各々のテストゾーンにおいてレーザビームαの最適書込パワーPM0,PM1を検出しておく。 - 特許庁
Furthermore, the review meeting agreed on an exchange of views on the necessity of conformity assessment procedures as well as on matters for consideration in deciding types of such procedures, and on the continuation of discussions on such matters as the benefits of and points of caution in suppliers' declaration of conformity (such as establishing test screenings) and the orientation of the accreditation as a means of ascertaining the technical capabilities of conformity assessment bodies.例文帳に追加
さらに、適合性評価手続の必要性や手続のタイプを決定する際の考慮事項について意見交換を行うことや自己適合宣言の利点及び注意点(試買検査などの確立)、適合性評価機関の技術的能力を証明する手段としての認定の位置づけについても、議論を続けることが合意された。 - 経済産業省
To provide an internal short circuit evaluation method for more accurately evaluating safety at the time of internal short circuiting due to mixing-in of conductive foreign matters that can happen in the market, without bringing about a plurality of short-circuiting points as in a conventional nailing test method, and without intentionally causing large-scale physical deformation or damage on an electrode group structure such as electrodes and separators.例文帳に追加
従来の釘刺し試験法のように複数の短絡箇所を発生させることがなく、また物理的な電極、セパレータなどの電極群構成物を意図的に大きく変形もしくは損傷を発生させることもなく、市場にて起こりうる導電性異物混入などの内部短絡時の安全性をより正確に評価する電池の内部短絡評価方法の提供。 - 特許庁
and reports of the result on relevant items before performing the evaluation of 3. (1) below, with noticing relevant points to be improved to the test facilities, etc. and with full consideration of giving enough time for the applicants to respond to it, with designated deadline less than 30 days, provided that items are found that are deviated from or can be deviated from the Industrial Safety and Health Law GLP例文帳に追加
また、これらが認められた場合は、3の(1)の評価を行う前に、試験施設等に対し、当該事項を通知の上、当該事項について申請者がこれに対応するために十分な期間を確保できるよう配慮した上で、30 日を超えない範囲内で期間を定めて、当該事項について、弁明書若しくは物件の提出を求め、又は改善の措置及びその結果の報告を求めるものとする - 厚生労働省
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