「回路試験」に関連した英語例文の一覧と使い方(35ページ目) - Weblio英語例文検索

ＳＩＰ回路構成でＤＤＲメモリの試験を行う場合、データストローブ信号をＤＱＳピンにセットアップ／ホールドマージンを確保して入力しなければならない。例文帳に追加

To solve such a problem that when a test of a DDR memory is performed with SIP circuit constitution, a data strobe signal must be input to a DOQ pin while securing setup/hold margin. - 特許庁

プリント回路基板の配線の故障を最小限のコストと時間で特定する埋め込み型時間領域反射率試験の方法及び装置を提供する。例文帳に追加

To provide a method and an apparatus for testing embedded-type time domain reflectivity that specify faults in the wirings in a printed circuit substrate with minimum cost, and in minimum time. - 特許庁

広範囲の測定可能な電流計を用いることなく、充電ケーブルの間に地絡検出回路が形成された電気自動車用急速充電器の充電ケーブルの絶縁試験を可能とすることである。例文帳に追加

To enable insulation tests of a charge cable of a quick charger for electric vehicles, where a grounding detection circuit is formed between charge cables, without using any ammeters capable of measuring a wide range. - 特許庁

シミュレーション部５は、解析部４の解析結果に基づいて、記憶部１に記憶されたネットリストが示す試験対象回路の過渡解析を行う。例文帳に追加

A simulation part 5 executes transient analysis of the test target circuit shown by the net list stored in the storage part 1 based on the analysis result of the analysis part 4. - 特許庁

ライブ・トリガ回路１２０が第１トリガ条件に基づいて被試験信号内のライブ・イベントを検出して、ライブ・トリガ・イベントに適合するように波形を自動調整する。例文帳に追加

A live trigger circuit 120 detects a live event in the signal under the test based on a first trigger condition and automatically adjusts a waveform so that the waveform is adapted to the live trigger event. - 特許庁

第２電圧生成回路は、電源電圧より高く、第１高レベル電圧より低い第２高レベル電圧を生成し、バーンイン試験時に停止する。例文帳に追加

A second voltage generation circuit generates a second high level voltage higher than the power supply voltage and lower than the first high level voltage and stops in a case of a burn-in test. - 特許庁

組込み自己試験法によるテスト機構を備えた半導体集積回路において、診断テストパターン数を増加させずに故障検出率を向上させることができるプログラムを提供する。例文帳に追加

To provide a program of improving a failure detection rate without increasing the number of diagnostic test patterns in a semiconductor integrated circuit having a test mechanism by an incorporated self-test method. - 特許庁

テストパターンや期待値パターンを蓄えておくメモリを半導体集積回路に増設することなく、ＳＳＣＧ、ＰＬＬ、又は、ＤＬＬ等のクロック生成モジュールの単体試験を容易に可能とする。例文帳に追加

To facilitate a unit test of a clock generating module such as an SSCG, PLL, or DLL, without expanding memory for storing test patterns and expected-value patterns in a semiconductor integrated circuit. - 特許庁

電子部品の電気的特性の試験を繰り返す中で増大した、接触子と回路基板上の接続端子との間の電気抵抗を低減することのできるプローブカードを提供する。例文帳に追加

To provide a probe card reducing electric resistance between a contact and a connection terminal on a circuit board, the electric resistance having increased while repeating tests on the electric characteristics of electronic components. - 特許庁

集積回路の試験時に、複数のフリップフロップを含むスキャンシフトを動作させたときの消費電力が許容値を超える場合、スキャンチェーンに含まれる複数のフリップフロップを複数のグループに分割する。例文帳に追加

If a power consumption when operating a scan shift including a plurality of flip-flops exceeds an allowable value during the test of the integrated circuit, the plurality of flip-flops included in the scan chain are divided into a plurality of groups. - 特許庁

特典は追加の端子の犠牲なしに集積回路の試験、トリミング・パラメータ、または他の目的で代替動作モードを選択することができることである。例文帳に追加

The benefit is that alternative modes of operation can be selected for testing, trimming parameters of the integrated circuit, or any other purpose without the cost of an additional terminal. - 特許庁

コイル定数演算回路６６は、フィルタ６４から出力される検出信号Ｓ_ＣＳ’と試験信号Ｓ_ＴＥＳＴの振幅および位相差にもとづいて、モータ６の抵抗値Ｒおよびインダクタンス値Ｌを算出する。例文帳に追加

A coil constant calculating circuit 66 calculates the resistance value R and the inductance value L of the motor 6, based on the amplitudes of the detection signal S_CS' output from the filter 64 and the test signal S_TEST and the phase difference between them. - 特許庁

ビット線にキーパー回路を接続しても、読み出し動作に関するマージンを短いテスト時間で検査することのできる半導体記憶装置およびその試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor memory testing a margin concerning a read operation in a short testing period of time even when a keeper circuit is connected to a bit line, and also to provide a testing method thereof. - 特許庁

被検体の無破壊試験で被検体の構造の欠陥の超音波によって生じる信号の処理のための回路装置において、被検体の構造の欠陥を高速度で、かつ改善された信号雑音比で検出すること。例文帳に追加

To detect defects on the structure of a test object speedily and with an improved signal noise ratio in a circuit device for processing signals which are generated from the defects on the structure of the test object by ultrasonic waves during the nondestructive test of the test object. - 特許庁

マルチセレクション回路３２０，３３０は、ディスターブ試験時には、マルチセレクション信号ＭＳＬａ，ＭＳＬｂに応答して、通常のデータ書込時よりも多い本数のライトディジット線ＷＤＬを並列に活性化する。例文帳に追加

A multi-election circuits 320 and 330 activate more write digit lines WDL in parallel than in the case of normal data writing, by responding to the multi selection signals MSLa and MSLb when a disturbing test is carried out. - 特許庁

レート発生回路４は、所定の周期のレート信号ＲＡＴＥを発生するとともに、所定の試験パターンの完了を契機としてアサートされるエンドレート信号ＥＮＤ＿ＲＡＴＥを発生する。例文帳に追加

A rate generation circuit 4 generates a rate signal RATE having a predetermined cycle, and also generates an end rate signal END_RATE which is asserted with the completion of a predetermined test pattern as a trigger. - 特許庁

メッセージ送受信部１２は、試験用プログラム１３３に基づいて回路構成を書き換え、複数台分の子局の動作を行えるようにメモリテーブルの構成を書き換える。例文帳に追加

The message transmitting/receiving part 12 rewrites a circuit configuration based on the testing program 133 to rewrite a configuration of a memory table so as to be able to perform operations of a plurality of slave stations. - 特許庁

チョッパ回路の半導体スイッチング素子に逆並列接続したダイオードの逆方向回復損失とそれに伴う電磁ノイズを抑制する電気回生式充放電試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a power supply regeneration type charge/discharge test device which suppresses recovery losses in reverse directions of diodes which are connected to semiconductor switching elements of a chopper circuit in reversely parallel therewith, and electromagnetic noise accompanied by the recovery losses. - 特許庁

デジタル信号による制御を可能とし、出荷試験の費用削減および特性評価の期間を短縮することができるアナログＢＩＳＴ回路およびそれを用いた電子システムを提供する。例文帳に追加

To provide an analog BIST (Built in self-test) circuit capable of controlling by a digital signal, reducing cost for a shipping test, and shortening a period for characteristic evaluation, and to provide an electronic system using the circuit. - 特許庁

ＣＰＵ１０１は、判定された判定結果に基づいて、第１の記憶部１０３に記憶されている複数の動作条件の中から、試験対象回路１０２を動作させるための動作条件を選択する。例文帳に追加

The CPU 101 selects an operating condition for operating a circuit 102 to be tested from a plurality of operating conditions stored in a first storage section 103 based on a determined determination result. - 特許庁

組電池や放電回路の異常の有無を簡易に判定することが可能で、しかも試験終了直後の停電に対する信頼性を損なわない二次電池システムおよび管理方法を提供する。例文帳に追加

To provide a secondary battery system and a method of managing the same, wherein it is possible to easily determine the presence or absence of an anomaly in a battery pack or a discharge circuit and reliability is not impaired even in a case of service interruption immediately after the completion of a test. - 特許庁

本発明は、試験装置に関し、例えば集積回路に係る微小抵抗の測定に適用して、簡易な構成により微小抵抗値を測定することができるようにする。例文帳に追加

To measure a fine resistance value with simple configuration, concerning a testing device applied to measurement of a fine resistance related to, for example, an integrated circuit. - 特許庁

本発明の課題は、被測定試料に印加する電源電圧が設定値に達するまでの時間を短縮し、被測定試料の試験時間を短縮することができる電流制限回路を提供することである。例文帳に追加

To provide a current limiting circuit which can shorten the test time of a measured sample by shortening the time needed to raise a source voltage applied to the measured sample up to a set value. - 特許庁

雷サージ発生器２のサージ出力は被試験機器１の機器アースに接続され、雷サージ発生器２のグランドはインピーダンス回路３の他方の端に接続されている。例文帳に追加

The surge output of a lightning surge generator 2 is connected to the equipment ground of the equipment 1 to be tested and the ground of the lightning surge generator 2 is connected to the other end of the impedance circuit 3. - 特許庁

バーンイン試験時においても構成要素であるトランジスタが過電圧によって破壊されることなく、トランジスタの接合部にリーク電流が流れることがないチャージポンプ回路を提供する。例文帳に追加

To provide a charge pump circuit in which a transistor being a constitutional element is not destroyed by over voltage even at the time of a burn-in test a leakage current never be made to flow in a junction part of a transistor. - 特許庁

環境試験槽９に入れた状態における半導体デバイス１の各接続端子部と、抵抗回路網４を介して２本の配線（１本は接地線である）で定電流源装置５および電圧モニタ装置６とが接続される。例文帳に追加

Each of the connection terminal parts of the semiconductor device under the condition put into an environment test vessel 9 is connected to the constant current device 5 and the voltage monitoring device 6 by two wires (one thereof is a grounding wire) via the resistance circuit network 4. - 特許庁

試験中にコンパレータ１１ｄ、１２ｄ，・・・により電源回路１１ａ、１２ａ，・・・から電源の電流値を検出して各リミット値と比較しリミット値を超えているか否かを判定する。例文帳に追加

A current value of each power source is detected from each power source circuit 11a, 12a, etc., from comparators 11d, 12d, etc., during the test, and compared with each limit value, and it is determined whether the current value exceeds a limit value or not. - 特許庁

遊技領域の背面には遊技の主要な制御を司る主基板が配置されており、該主基板には、バッファ回路ＩＣや試験出力用コネクタを搭載するための非搭載領域が形成されている。例文帳に追加

On the back surface of the game region, a main board which manages major controls of the game is arranged, and on the main board, a non-installation region for installing a buffer circuit IC or a connector for test outputs is formed. - 特許庁

電源１１〜１３から降圧変圧器３１〜３３を介して供試遮断器に電流を供給する短絡試験回路で、電流調整用のリアクトル４１〜４３を変圧器３１〜３３の二次側にのみ接続する。例文帳に追加

In the short circuit test circuit for supplying the current from power sources 11-13 to the supply test breaker through step-down transformers 31-33 current control reactors 41-43 are connected to the only secondary side of the transformers 31-33. - 特許庁

評価ブロック１１は、その内部の被試験回路の特性の変化量が所定値に到達したと判断したときに、スイッチＳＷ２及びＳＷ３に接続先の切り替えを指示する信号を出力する。例文帳に追加

When the determining that the changing amounts of the characteristics of an internal circuit to be tested reach a prescribed value, the evaluation block 11 outputs a signal, to instruct switching of the destination of connection to the switches SW2 and SW3. - 特許庁

これにより、実際に動作させた時に近い状況でバーンイン試験が行なえ、また、回路内の電流、電圧にリンギングが発生しないようにできる。例文帳に追加

The burn-in test is thereby carried out under the condition near to the actual operation time, and ringing is prevented from being generated in a current and a voltage in the circuit. - 特許庁

交換可能な複数の遮断器モジュールを含むプラグをヒューズ端子に差し込む形式とし、各種定格電流の回路に対して使用できる試験器に設計することができる。例文帳に追加

This can be designed as a tester which can be used for a circuit of various types of rated current as a format in which a plug having a plurality of breaker modules capable of exchange is inserted in a fuse terminal. - 特許庁

短時間でパイプラインＡ／Ｄ変換器の各構成要素の特性を直接測定することが可能なパイプラインＡ／Ｄ変換器の試験回路及びこれを備えたパイプラインＡ／Ｄ変換器を実現する。例文帳に追加

To provide a pipeline analog-to-digital converter testing circuit, and a pipeline analog-to-digital converter equipped with this, which directly measures the characteristics of each component of the pipeline analog-to-digital converter in a short period of time. - 特許庁

内蔵メモリを半導体メモリ装置の代わりに使用することで、半導体装置単体でインタフェース部およびそれに関連する回路を試験できる。例文帳に追加

By using the built-in memory instead of the semiconductor memory device it is possible to test the interface part and circuits related to the same with the semiconductor device as a single body. - 特許庁

一致すると判定された場合には、制御回路２３は、ベクタメモリ２２から読み出したランダムパターン４０を、被試験半導体装置（ロジック製品）に向けて送信する。例文帳に追加

When determined to be coincident, the control circuit 23 transmits a random pattern 40 read out from a vector memory 22 toward the semiconductor device (logic product) to be tested. - 特許庁

ゴルフクラブ耐久試験装置１０は測定手段１１、記憶部１５、入力装置１７、表示装置１９、エアキャノン２０、打撃回数測定手段２８および停止回路３２を有する。例文帳に追加

This golf club endurance apparatus 10 comprises a measuring means 11, a memory 15, an input device 17, a display device 19, an air cannon 20, a means 28 for measuring the number of strikes and a stop circuit 32. - 特許庁

被試験集積回路デバイスと所要の諸点でできるだけ近似するように作った規準ブロック１１０をテストヘッド１０３のフィクスチャ１０７に挿入する。例文帳に追加

A reference block 110 which is formed so as to be closely resembled to an integrated-circuit device, to be tested, in required various points is inserted into the fixture 107 of a test head 103. - 特許庁

使用素子数を増大させることなく、論理ゲートの遅延が小さい場合でもセレクタの機能試験が行えるようにした可変遅延回路を提供する。例文帳に追加

To provide a variable delay circuit that can conduct a function test of a selector even when a delay by a logic gate is small without increasing number of components of the circuit. - 特許庁

内部バスＩＢが自己診断回路に接続されており、メモリセルアレイ１１の物理空間における基本領域である物理領域ごとに自己診断試験が行われる。例文帳に追加

An internal bus IB is connected with a self diagnostic circuit, to perform a self diagnostic test by each physical area which is a basic area being in the physical space of a memory cell array 11. - 特許庁

大型の部品を用いることなく、試験や保守時に電源装置に蓄積された電荷の放電を可能にして、作業の安全性を向上させることができる電源装置及びそれを備えた高周波回路システムを提供する。例文帳に追加

To provide a power supply capable of discharging charges stored in the power supply during testing and maintenance without using large components, and a high-frequency circuit system equipped with the power supply. - 特許庁

Ｄ／Ａコンバータ側に特別な付加回路を必要とせず、高価な高速アナライザを用いずに実施できる低コストな、Ｄ／Ａコンバータの出力特性試験方法を提供する。例文帳に追加

To provide an output characteristic test method at a low cost for a D/A converter capable of executing the test without the need for using an expensive fast analyzer and without the need for the D/A converter to use a special addition circuit. - 特許庁

被測定デバイスの端子数の増加、並列測定数の増加に伴う回路規模の増大を防ぎ、小型かつ低消費電力な半導体試験装置を実現する。例文帳に追加

To prevent a circuit scale accompanied to increase of the number of terminals of a measured device and the number of parallel measurement from increasing, to miniturize a size, and to attain a low electric power consumption. - 特許庁

受信回路部２の性能による影響を受けることなく、且つ、外部に“００１”パターン発生器２０を用意しなくともＤＳ３送信パルスマスク試験を行なうことができるディジタル伝送装置を提供する。例文帳に追加

To provide a digital transmission that is not susceptible to the effect of the performance of a reception circuit section 2 and can conduct a DS3 transmission pulse mask test without the need for a '001' pattern generator 20 at the outside of the transmission apparatus. - 特許庁

被試験デバイスにテストパタンを印加したときに流れる電源電流の全ての情報を余すことなく取得する集積回路の電源電流値のサンプリング装置及び方法の提供。例文帳に追加

To provide a sampling method for current value of power source of an integrated circuit and the device thereof capable of obtaining all information on current of power source when a test pattern is applied to a tested device. - 特許庁

バイアス安定化スイッチング素子のオン，オフによって該電圧蓄積回路の端子間電圧を一定に保持してゼロ電圧被試験体を通電する。例文帳に追加

The voltage between the terminals of the voltage accumulation circuit is kept constant, by turning on and off the bias-stabilizing switching elements, and thereby electricity is applied to the zero-volt object to be tested. - 特許庁