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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > At testingの意味・解説 > At testingに関連した英語例文

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At testingの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 872



例文

To provide a transmitter, a receiver, and a testing circuit for performing input/output with a tester at a low speed and operating the inside of the circuit at a high speed.例文帳に追加

テスタとの入出力は低い速度で行いながら、回路内部を高速で動作させる送信装置、受信装置、テスト回路およびテスト回路を提供する。 - 特許庁

To provide a system which enables a person for a medical examination to simply, easily use a testing service on a specimen such as blood, urine or the like at any place and at any time.例文帳に追加

受診者がいつでもどこでも簡単に且つ容易に血液、尿等の検体サンプルの検査サービスを利用することができるシステムを提供することにある。 - 特許庁

To provide a testing method for an A/D converting circuit that conducts a test of a high-resolution (multi-bit) A/D converting circuit in a short time at a low cost, and the A/D converting circuit suitable to implementation of the testing method.例文帳に追加

高分解能(多ビット)A/D変換回路の試験を短時間且つ低コストで実現するA/D変換回路の試験方法、及びその試験方法の実施に適したA/D変換回路の提供。 - 特許庁

The region 200 for testing accuracy of landing is placed in a region other than the pixel region 100 and contains a second light shielding layer 122 and a layer 26 for testing accuracy of landing disposed so as to cover at least the second light shielding layer 122.例文帳に追加

着弾精度試験用領域200は、画素領域20以外に位置し、第2の遮光層122と、少なくとも第2の遮光層122を覆うように設けられる着弾精度試験用層26とを含む。 - 特許庁

例文

To provide a TFT array and its testing device capable of measuring an amount of current of a transistor for driving and testing presence/absence of defects of pixels at a state close to an actual use state in current copy type pixels.例文帳に追加

カレントコピー型の画素において、実使用状態に近い状態で、駆動用トランジスタの電流量を測定し、画素の欠陥の有無を試験することが可能なTFTアレイおよびその試験装置を提供する。 - 特許庁


例文

Does the institution regularly conduct stress testing for the purpose of evaluating the level of its capital buildup and useful and adequately conservative credit risk stress testing that takes account of a scenario of at least a moderate economic recession? 例文帳に追加

自己資本の充実度を評価するためのストレス・テスト及び少なくとも緩やかな景気後退のシナリオの効果を考慮した有意義かつ適度に保守的な信用リスクのストレス・テストを定期的に実施しているか。 - 金融庁

Control results at that time are outputted to the communication equipment through the communication controller and the installation type testing device, and the test result state of the communication path to be tested is also decoded and displayed by a portable testing device.例文帳に追加

そのときの制御結果は、通信制御装置,設置型試験装置を介して、通信機に出力され、またその当該被試験通信路の試験結果状態は携帯形試験装置で解読され表示される。 - 特許庁

The area 20 for sticking precision testing is positioned not in the pixel area 20 and includes a 2nd shading layer 122 and the layer 26 for sticking precision testing which is provided to cover at least the 2nd shading layer 122.例文帳に追加

着弾精度試験用領域200は、画素領域20以外に位置し、第2の遮光層122と、少なくとも第2の遮光層122を覆うように設けられる着弾精度試験用層26とを含む。 - 特許庁

To obtain a testing method of radar proper for a testing method for radar during mass production, by making target detection performance of an FM-CW radar, capable of inspecting easily and in a short time, and to provide its device at low cost.例文帳に追加

FM−CWレーダのターゲット検出性能を安価な設備で容易かつ短時間で検査できるようにして、レーダの大量生産時の試験方式として好適なレーダ試験方法および装置を得ること。 - 特許庁

例文

To provide a direct-current testing device capable of measuring highly accurately at high speed, a current changing rate or a ripple component without great cost increase, and a semiconductor testing device equipped with the device.例文帳に追加

大幅なコスト上昇を招かずに電流変化率やリップル成分を高精度且つ高速に測定することとができる直流試験装置、及び当該装置を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

例文

To output required analogue characteristics for testing without supplying a control signal for the analogue characteristics from outside, at testing of a semiconductor integrated circuit wherein the analogue characteristics is controlled by an external control signal.例文帳に追加

外部制御信号によりアナログ特性を制御する半導体集積回路の試験時に外部からアナログ特性の制御用信号を供給することなく所要の試験用のアナログ特性の出力を可能とする。 - 特許庁

The second and third testing circuits may have respectively a plurality of testing elements provided electrically in parallel, a selection part for controlling each testing element in the on-state successively at the test time of the electronic device, and a discrimination information output part for outputting each terminal voltage of the testing element controlled in the on-state successively by the selection part as discrimination information of the electronic device.例文帳に追加

第2および第3のテスト用回路は、電気的に並列に設けられた複数のテスト用素子と、電子デバイスの試験時において、それぞれのテスト用素子を順次オン状態に制御する選択部と、選択部が順次オン状態に制御したテスト用素子のそれぞれの端子電圧を、電子デバイスの識別情報として出力する識別情報出力部とを有してよい。 - 特許庁

To provide a handrail strength testing machine capable of verifying that a handrail installed at the site has previously-set set strength.例文帳に追加

現場に設置した手摺が予め設定された設定強度を有することを確認することのできる手摺強度試験機の提供。 - 特許庁

To provide a sugar urine testing device suitably used in estimating and displaying a specific instantaneous sugar urine value, even when the sugar urine is measured at an indefinite time after eating.例文帳に追加

食後不定時に測定しても、所定の瞬間尿糖値を推測表示するに好適な尿糖検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device for a signal protection system which can improve a test efficiency at a test of the signal protection system.例文帳に追加

信号保安システムの試験において試験効率を向上させることができる信号保安システムの試験装置を得ることである。 - 特許庁

At the time of testing, write driver decoders WDC1 and WDC2 are driven in response to inputs to test decoding lines TL1 to TL4.例文帳に追加

テスト時において、テスト用のデコード線TL1〜TL4の入力に応答してライトドライバデコーダWDC1,WDC2が駆動される。 - 特許庁

To provide a weather resistance-testing device that can be used without using any commercial power supplies and at the same time, can improve reliability in evaluation.例文帳に追加

商用電源を用いることなく使用できるとともに評価の信頼性を向上できる耐候性試験装置を得ることにある。 - 特許庁

To solve the problem wherein a chassis dynamometer, provided with an electrical inertia compensation function is incapable of high precision of performance evaluation of the load condition at testing.例文帳に追加

電気慣性補償機能を有するシャシダイナモメータにおいては、試験時における負荷状態の精度の高い性能評価ができない。 - 特許庁

To quickly make alignment of a lens under testing while capable of under standing the moving direction of the lens at the time of making the alignment of the point marking etc.例文帳に追加

被検レンズへ印点等のアライメントに際し、レンズの移動方向を一目で判断でき、アライメントを迅速に行えるようにする。 - 特許庁

To provide a semiconductor device having a laminated layer CSP, which is capable of testing for every semiconductor chip at a low cost and has no restriction in a chip size.例文帳に追加

低コストで半導体チップ毎にテスト可能でチップサイズの制約のない積層CSPを有する半導体装置を提供する。 - 特許庁

The reference voltage SE is the voltage of the DC motor when rotated at a testing rotating speed TR by idling the circulating pump.例文帳に追加

基準電圧SEは、循環ポンプを空回転させて試験回転数TRで回転させる際の直流モータの電圧である。 - 特許庁

In the testing device, at least a part of a support for the device has a reflectivity which does not obstruct an error detection means in a measuring device.例文帳に追加

この試験器具において、装置の支持材の少なくとも一部は計測器のエラー検出手段を妨害しない反射性を有する。 - 特許庁

To provide a food and a masticatory function test method capable of simply testing the masticatory function at a sufficiently high accuracy.例文帳に追加

十分に高い精度で且つ簡便に咀嚼機能を検査することが出来る食品及び咀嚼機能検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a covered electric wire abrasion testing method for maximally reproducing an environment, at an automobile mounting time in conducting abrasion test.例文帳に追加

自動車搭載時の環境を限りなく再現して摩耗試験を行うことの可能な被覆電線の摩耗試験方法を提供する。 - 特許庁

(2) The standards related to the organization, facilities, etc., to be provided at the testing laboratory set forth in the item (ii) of the preceding paragraph shall be provided by the Minister of Health, Labour and Welfare. 例文帳に追加

2 前項第二号の試験施設等が具備すべき組織、設備等に関する基準は、厚生労働大臣が定める。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide a semiconductor device capable of testing its own circuit operating at a high speed by using a general low speed LSI tester.例文帳に追加

一般的な低速LSIテスターを用いて、高速動作する自己の回路を試験できるようにした半導体装置を提供する。 - 特許庁

To stably dispense a liquid such as a reagent or the like at a uniform discharge amount in a dispensing operation in a specimen testing device.例文帳に追加

検体試験装置における分注作業において、試薬等の液体を均一な吐出量にて安定して分注すること - 特許庁

An Ethernet-OAM testing apparatus stores structural information for artificially generating a network structure at each of a plurality of testings.例文帳に追加

Ethernet−OAM試験装置は、複数の試験ごとにネットワーク構成を擬似的に生成するための構成情報を記憶する。 - 特許庁

A plurality of bit lines are simultaneously precharged at testing and the determination circuit determines the level of the bit lines adjacent to the bit lines.例文帳に追加

検査時に同時に複数のビット線をプリチャージすると共に、そのビット線と隣接するビット線のレベルを判定回路で判定する。 - 特許庁

To provide a vibration testing machine capable of oscillating objects to be tested at a high frequency by the drive of linearly extending and contracting fluid actuators.例文帳に追加

直線的に伸縮する流体アクチュエータの駆動により被試験物を高周波で加振可能な振動試験機を提供する。 - 特許庁

Although the index scores at a site are not distributed normally, the usage of a two-sample t-test and ANOVA model could be cautiously applied for hypothesis testing.例文帳に追加

ある地点での指数評点は正規分布でないが,2サンプルのt検定およびANOVAモデルの利用が仮説の検討に適用可能である。 - 英語論文検索例文集

To provide a vehicle for testing a soil condition by which soil at the predetermined position in a field can be easily tested.例文帳に追加

圃場内の所定位置の土壌を容易に測定することができる土壌状態測定車両を提供することを課題としている。 - 特許庁

To provide a method by which DMA information of an optical disk is confirmed at the time of initialization which is not verified, and a testing device for performing the method.例文帳に追加

検証しない初期化時の光ディスクのDMA情報を確認する方法及びこれを行うためのテスト装置を提供する。 - 特許庁

To provide a performance testing method for an HGA at the time of a low driving voltage, which can be actualized in a short time through a simple process.例文帳に追加

簡易なプロセス、及び、短時間にて実現可能な、低駆動電圧時におけるHGAの性能試験方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a voice quality testing system, in which an ordinary user at any time can inexpensively, conveniently and speedily determine the quality of the line used.例文帳に追加

通常のユーザが、使用中の回線の品質をいつでも安価、便利、迅速に判定できる音声品質テストシステムの提供 - 特許庁

To provide a spot welding strength testing tool which can simply and quickly evaluate the strength of a spot-welded part of spot welding at a welding site.例文帳に追加

溶接現場で簡便且つ迅速にスポット溶接の溶接部の強度評価を行えるスポット溶接強度試験具を提供する。 - 特許庁

To enable a person having no chemical expert knowledge to prepare a testing reagent for the purity of oxygen used for investigating the presence of an acidic substance or an alkaline substance in medical oxygen, to dispense with the preparation of the testing reagent at every purity test and to make it unnecessary to require a long time in the preparation of the testing reagent.例文帳に追加

医療用酸素中の酸性物質またはアルカリ性物質の含有の有無を調べる酸素純度のための試験用試薬を調製する際、化学の専門知識を有する人でなくとも行うことができ、純度試験の都度試験用試薬を準備する必要をなくし、その調製に長時間を要しないようにする - 特許庁

To provide a specific testing method and device capable of performing testing without any influence of bending moment generated by applying forced displacement to the edge of a specimen having a crack at one side in a crack development testing method and device for making a crack to develop while maintaining a stress intensity factor fixedly.例文帳に追加

応力拡大係数を一定に維持しつつき裂を進展させるき裂進展試験方法及び装置において、片側にき裂を有する試験片の端部に強制変位を加えることにより発生する曲げモーメントの影響なく試験を行うことができる具体的な試験方法及び装置を提供する。 - 特許庁

This method includes a first step of conducting ultrasound testing by an angle beam method to the turbine generator end ring, a second step of conducting ultrasound testing by at least either a method of focusing straight beam method, and an SPOD method, to a portion where an instruction echo is detected by the first step ultrasound testing.例文帳に追加

タービン発電機エンドリングを斜角法によって超音波探傷する第1のステップと、前記第1のステップの超音波探傷にて指示エコーが検出された部位に、集束垂直法およびSPOD法の少なくともいずれかの方法で超音波探傷を適用する第2のステップと、からなることを特徴とする。 - 特許庁

This device is prepared for each testing module, and has a module memory unit which stores at least either diagnostic data or correction data, performs at least one of diagnosis and correction of the testing module, and stores the diagnostic data or correction data in the module memory unit.例文帳に追加

本装置は、試験モジュールごとに設けられ、診断データまたは校正データの少なくとも一方を格納するモジュール記憶部を設け、試験モジュールの診断または校正の少なくとも一方を行い、診断データまたは校正データをモジュール記憶部に格納することを特徴とする装置である。 - 特許庁

The frequency characteristic measuring device includes a heating furtherance 1 and a waveguide bar 2 having a vibration sensor S1 for fixing at one end and a vibration sensor S2 for testing at the other end, wherein the vibration sensor S2 for testing is disposed in the heating furtherance 1 and the vibration sensor for fixing is opened to the outside of the heating furnace.例文帳に追加

加熱炉1と、一方端に固定用の振動センサS1を且つ他方端に試験用の振動センサS2を有する導波棒2とを備え、試験用の振動センサS2が加熱炉1内に配置され、固定用の振動センサが加熱炉外に開放されてなる周波数特性測定装置。 - 特許庁

If the insulation testing piece 10 is detached and its insulating property and dielectric property are measured at periodic injection or the like, the testing result can be served as an index to decide the insulating performance of the insulating member of the high voltage equipment 30.例文帳に追加

定期点検時などにこの絶縁試験片10を機器から取り外して、その絶縁特性や誘電特性を測定すれば、高電圧機器30の絶縁部材の絶縁性能を判定するための指標とすることができる。 - 特許庁

Respective tests such as a DC parameter, an AC parameter, and a thermal resistance are switchingly performed by one contact device having movable contact portions with the AC testing machine 16 and the DC testing machine 17 respectively at the electrode part on the intermediate electrode plate 20.例文帳に追加

中間電極板20上の電極部分にAC試験機16、DC試験機17各々との可動接触部を設けた一台のコンタクト装置で、DCパラメータ、ACパラメータ、および熱抵抗の各試験を切替えて行う。 - 特許庁

To provide an information acquiring method and device for quickly and precisely testing identification information by satisfactorily evading radio waves from a transmitter mounted on an adjacent vehicle at the time of testing identification information.例文帳に追加

識別情報を検査するときに、隣接する車両に搭載されている送信装置からの電波を良好に回避し、短時間で精度良く識別情報を検査できる情報取得方法及び情報取得装置を得る。 - 特許庁

To provide a quality determination system capable of testing a lead acid battery and determination of quality safely and simply as mounting the battery in the vehicle by placing the system at the store front or in the site of a gas station, and moving it to the vehicle side when testing the battery.例文帳に追加

ガソリンスタンドの店頭や敷地内に置き、使用時に移動させて自動車に近づけ、安全かつ簡単に自動車に搭載したままの鉛蓄電池を点検して、その状態の良否を判定する判定装置を提供する。 - 特許庁

The second spring part 56 generates a load pressing a spring lower part 36 onto the board side 48 of an apparatus testing device, to thereby enable superior electrical contact, by pressing the housing and the board of the apparatus testing device onto the board with a constant load at all times.例文帳に追加

第二バネ部56は、機器試験装置のボード側48にスプリング下部36を押し付ける荷重を発生させ、ハウジングと機器試験装置のボードとを常に一定の荷重でボードに押し付け良好な電気的接触が可能となる。 - 特許庁

To provide a testing device for semiconductor device capable of maintaining the temperature of a probe card with a simple structure via a probe needle during a lot standby and preventing the probe needle from being easily damaged at that time, and to provide a testing method of semiconductor device.例文帳に追加

簡単な構造でロット待機中にプローブ針を介してプローブカードの温度を保持することができ、そのときプローブ針を損傷しにくい、半導体素子の試験装置および半導体素子の試験方法を提供する。 - 特許庁

The fatigue testing instrument includes the first roller 1010 and the second roller 1020 wound with the ring of a fatigue testing object, and for imparting a prescribed tensile stress and bending stress to the ring to be rotated at a prescribed speed.例文帳に追加

疲労試験装置は、疲労試験対象のリングが巻き掛けられ、そのリングに所定の引張り応力および曲げ応力を付与して所定の速度で回転させる第1ローラ1010および第2ローラ1020を含む。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for testing semiconductor integrated circuits capable of easily tracking down, at low cost and in a short time, the causes of malfunction which occurs in a wave-shaping part provided for the apparatus for testing the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路試験装置が備える波形整形部において生ずる不具合の原因究明を短時間で容易に且つ低コストで行うことができる半導体集積回路試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

例文

To provide a low-cost and reliable sensor which achieves not only high precision, but also the diagnostic capability of testing error problems at resolution higher than at conventional systems.例文帳に追加

高精度を有するだけでなく、上記従来のシステムよりも誤差の問題をより高い分解度で診断できる能力を有する、低コストの信頼性のあるセンサを提供すること - 特許庁




  
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※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。
  
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