「At testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

(2) In areas other than (1), all livestock farms are going to be subject to testing, in which at least one head of cattle is going to be tested in each farm in the first shipment. Only those farmers whose tested cattle show the levels of radioactive cesium sufficiently below the maximum limits are going to be approved to ship and slaughter their cattle. These farmers are going to continue to be subject to regular testing following such approval.例文帳に追加

（２） （１）以外の区域においては、全戸検査（農家ごとに初回出荷牛のうち１頭以上検査）し、基準値を十分下回った農家については、牛の出荷・と畜を認めることとし、その後も定期的な検査の対象とする。 - 厚生労働省

The shutoff valve testing device for testing each normally opened or normally closed shutoff valve arranged in a pipeline executes an operation test by sending a valve control signal of a degree not fully closing or fully opening the valve to the valve at the time of receiving a test command.例文帳に追加

パイプラインに設置される常時開または常時閉の遮断弁をテストする遮断弁テスト装置において、テスト指令を受けて全閉または全開にならない程度の弁制御信号を前記遮断弁に送出して動作テストを行う遮断弁テスト装置。 - 特許庁

A method for generating, by an electronic circuit, at least one prime number by testing the primality of successive candidate numbers for asymmetric encrypted algorithm of RSA type includes a step (43) of testing, for each candidate number, primality with respect to prime numbers of at least one set of consecutive prime numbers, wherein the order of application of the tests is modified at least from one prime number generation to another.例文帳に追加

RSA タイプの非対称暗号化アルゴリズムのために連続した候補数の素数性を判定することにより少なくとも１つの素数を電子回路により生成する方法は、候補数毎に、少なくとも一組の連続した素数に対して素であるか否かを判定するステップ(43)を備えており、判定する順番を、少なくとも一の素数生成で変更する。 - 特許庁

In the testing apparatus, a frequency counter 20 is provided at respective measurement units 13A-13N to measure the frequency of a response signal S2 by the respective measurement units 13A-13N.例文帳に追加

本発明は、各測定ユニット１３Ａ〜１３Ｎに周波数カウンタ２０を設け、各測定ユニット１３Ａ〜１３Ｎで応答信号Ｓ２の周波数を測定可能とする。 - 特許庁

Further, the sensor element is put between at least two reference element D3 and D3', and the reference element is used for testing whether the intensity of radiation is within an allowable range or not.例文帳に追加

さらに、センサ要素は少なくとも２つの基準要素Ｄ３、Ｄ３’で挟まれ、基準要素は放射線の強度が許容範囲内か否かのテストに使用される。 - 特許庁

To obtain a logic LSI which is shortened in testing time by making the preparation of an input pattern for test extremely easier and, at the same time, is improved in measurement accuracy by making measurement extremely easier.例文帳に追加

テスト用入力パターンの作成を極めて容易にし、試験時間を短縮すると共に、測定を極めて容易にし、測定効率を改善した論理ＬＳＩを得る。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device capable of performing testing at an actually operating speed of the semiconductor memory device, and capable of reducing the number of input/output terminals of a tester required for connection.例文帳に追加

半導体記憶装置の実動作速度でテストを行い、且つ接続に要するテスターの入出力端子数を削減できる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a burn-in device capable of unifying the internal temperature of a thermostatic bath while evading the complicated operation at the time of inserting the testing device into the burn-in board.例文帳に追加

被試験デバイスをバーンインボードに挿入する際の作業の煩雑化を回避しつつ、恒温槽内部の温度の均一化を図ることのできる、バーンイン装置を提供する。 - 特許庁

The code (d) is allocated to a testing base station D and the codes (a) to (c) are not allocated to the base station D at all.例文帳に追加

試験基地局Ｄには長周期拡散符号ｄが割り当てられ、このような試験基地局Ｄには長周期拡散符号ａ，ｂ，ｃは決して割り当てられない。 - 特許庁

The test circuit chip 21 for testing the electric characteristics of at least part of an LSI chip on a wafer to be inspected is mounted to the surface of a card main body 11.例文帳に追加

カード本体１１表面には、検査対象ウエハ上のＬＳＩチップの少なくとも一部の電気的特性をテストするためのテスト回路チップ２１が実装される。 - 特許庁

To provide a method for testing a collision of a vehicle which can further simulate by data at the time of the collision of real vehicles by using an MDB(moving deformable barrier).例文帳に追加

ＭＤＢ（ムービング・デフォーマブル・バリア）を用いた上で実車同士の衝突時のデータにより一層近似させることができる車両衝突試験方法を提供する。 - 特許庁

To enhance an efficiency of analyzing a fault in a test/evaluating environment or a market in developing and product guaranteeing or testing at debugging or fault occurring time.例文帳に追加

開発および製品保証におけるテスト・評価環境、あるいは市場における不具合解析や、デバッグまたは障害発生時のテストの効率化を図ること。 - 特許庁

To ensure power supply to a load, without fail, even at testing or maintenance operation by simultaneously displaying the turn-on/turn-off condition and the taken-out position of the circuit breaker.例文帳に追加

遮断器の入・切状態の表示とともに引出位置をも同時に表示するようにすることにより、試験や保守時においても確実に負荷への給電を保証する。 - 特許庁

A test strip 10 for testing the blood sample is provided with a fluid transport path 30 terminating at the mouth 21 of the capillary channel 20, defined on the major face of the strip.例文帳に追加

血液サンプルを試験する試験片１０は、毛細管流路２０の口部２１で終端する流体搬送経路３０が、細片の主面上に画定されている。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for testing the picture quality of a liquid crystal display which can measure at least any one of gray inversion and color shift.例文帳に追加

グレー反転現象及び色反転現象のうち少なくともいずれか一つを測定することができる液晶表示装置の画質検査装置及び方法を提供する。 - 特許庁

In the hub bearing (product) 1 after hardening, nondestructive testing is applied to the hardened depth at the position which has to be subjected to suitable hardening, with a hardened layer inspector.例文帳に追加

その焼入れ後のハブベアリング（製品）１は、硬化層検査機により必ず適正な焼入れがなされていなければならない箇所の硬化層深さを非破壊検査する。 - 特許庁

In a 1T1C type ferroelectric memory, a reference level is adjusted by a potential generating circuit 1 at the testing time, so that the read-out margin of a memory cell is reduced intentionally.例文帳に追加

１Ｔ１Ｃ型強誘電体メモリーでは、テスト時にリファレンスレベルを電位発生回路１により調整し、メモリーセルの読み出しマージンを意図的に少なくする。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of easily performing timing correction at the leading end of the socket, which is electrically connected to an IC to be tested, with high accuracy.例文帳に追加

被試験ＩＣと電気的に接続するソケット先端におけるタイミング補正を高精度に且つ容易に行えるようにした半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To obtain a remote supervisory system that can quickly conduct supervision of general information processing terminals and supervision of a fault state for reliability testing or the like at a low cost.例文帳に追加

一般的な情報処理端末の監視や信頼性試験の異常状況監視等を、早急にローコストで行うことが可能な遠隔監視方式を得る - 特許庁

A method of testing a braking device 31 in a drivetrain 10 of the vehicle V which includes at least one tractive element 23 coupled to a traction motor 22 is provided.例文帳に追加

トラクションモータ（２２）に連結された少なくとも１つの牽引要素（２３）を備える、車両（Ｖ）の駆動系（１０）内のブレーキ装置（３１）を検査する方法を提供する。 - 特許庁

At testing, the tristate buffers 7A and 7B are in an off-state, the input and output terminals 1A and 1B are connected to the scan passes 3_1-3_m and 3_m+1-3_n respectively to input test data.例文帳に追加

テスト時、３ステートバッファ７Ａ，７Ｂをオフ状態にし、入出力端子１Ａ，１Ｂをそれぞれスキャンパス３_1 〜３_m ，３_m+1 〜３_n に接続してテストデータを入力する。 - 特許庁

To keep sufficiently water tight at a fitting part in a formwork frame for a testing sample of a solidifier such as concrete composed of compressively fitting a bottom plate to a bottom part of a cylindrical body.例文帳に追加

筒状体の底部に底板を圧嵌したコンクリート等の固結材供試体用型枠において、その嵌合部分で十分水密が保たれるようにする。 - 特許庁

To provide an apparatus and method for ultrasonic non-destructive testing which includes an elongate strip of ultrasound transmissive material coupled at a proximal end to an object under test.例文帳に追加

近位端で試験対象物に結合される細長い超音波伝達材料のストリップを備える、超音波非破壊検査のための装置及び方法を提供する。 - 特許庁

In this grip structure, the grip is held by first and second chucks which are attached to a golf club testing machine and arranged at two points in the longitudinal direction of a cylindrical body.例文帳に追加

ゴルフ試打装置に取付けられ、円筒状本体の長さ方向２カ所に設けた第１および第２のチャック部で前記グリップを保持するグリップ構造である。 - 特許庁

To provide a dynamic balance testing machine capable of chucking a propeller shaft at its end part constructed of either of flange yoke and a sleeve yoke by a simple level change.例文帳に追加

プロペラシャフトの端部がフランジヨークであっても、スリーブヨークであっても、簡単な段取り替えによって、チャッキングすることのできる動釣合い試験機を提供すること。 - 特許庁

At least one test connections is directed into the units of testing side loaded with the new piece of software in order to be able to test the new piece of software.例文帳に追加

当該ソフトウェアの新たな断片をテストできるようにするために、ソフトウェアの新たな断片がロードされたテスト側のユニットに向けられる１つ以上のテスト接続を備える。 - 特許庁

A monitor electrode for testing of the predetermined area is provided at the area guided from the adjacent area of the natural circuit wires in the circuit structure for propagating high-frequency signals.例文帳に追加

高周波信号が伝搬する回路構成の、本来の回路配線から近接して引き出したところに所定面積の検査用のモニタ電極を備える。 - 特許庁

In this method and this system, multi-ported memory is separated into at least two parts used for testing one or a plurality of ports which is not directly accessible.例文帳に追加

この方法およびシステムでは、直接アクセス可能ではない１つまたは複数のポートをテストするために使用する少なくとも２つの部分にマルチポート化メモリを分離する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus capable of running even at a high test cycle and being compatible with conventional systems.例文帳に追加

テスト周期が高速になった場合でも動作可能であって、かつ従来のシステムと互換性を保つことが可能な半導体試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a sorting machine of an acoustic input product for testing a lot of acoustic input products at high speed and performing sorting work based on the test results.例文帳に追加

高速に多量の音響入力製品をテストして、検査結果による分類作業を行うことができる音響入力製品の選別装置に提供すること。 - 特許庁

To provide a signal wiring system of an electronic circuit, which is easy in a remodeling work, superior in terms of economy, reduces induced noise between signals and easily monitors signal at testing.例文帳に追加

改造工事が容易で、経済性に優れ、信号間誘導ノイズが削減され、試験時の信号モニタが容易な電子回路の信号配線方式を提供する。 - 特許庁

To provide a parts testing device capable of effectively preventing the generation of dewing in a chamber at generating a temperature alarm and a continuous operation for a long period.例文帳に追加

温度アラームの発生や長期間の連続運転に際しても、チャンバの内部に結露が発生することを有効に防止することができる部品試験装置を提供すること。 - 特許庁

To provide system and method which can generate signals for testing optical device at a time in a plurality of remote test stations to simultaneously test a plurality of optical devices.例文帳に追加

遠く離れた複数の試験局において光学装置を試験するための信号を同時に生成し得て、複数の光学装置を同時に試験することができるようにする。 - 特許庁

(2) When the change of the holder results from merging, the application for recording the assignment of a trademark shall be attended by the copy, certified for compliance, of the document at testing the merging.例文帳に追加

(2) 商標権者の変更が合併に由来する場合は，商標譲渡の掲載請求は，合併を証明する書類の認証写を伴うものとする。 - 特許庁

To provide a torsion testing device capable of applying torsional stresses to a test piece, using a servo motor and applying a torsional load to the test piece at high frequency.例文帳に追加

サーボモータを用いて試験片にねじり応力を加え、且つ、高い繰り返し速度でねじり荷重を試験片に加えることができるねじり試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a combination test method capable of testing easily a receiver for inputting a signal including a desired amount of jitter, even when an output signal from a transmitter is at a high speed.例文帳に追加

送信装置の出力信号が高速でも所望量のジッタを含む信号を入力する受信装置のテストを簡易に行える組合せ試験方法の提供。 - 特許庁

To provide a testing system for branch light ray line or the like capable of ensuring the dynamic range of a test at a low system cost and dis pensing with the temperature regulation of light branching and coupling unit.例文帳に追加

システムコストが安く、試験のダイナミックレンジを確保することが可能で、光分岐結合器の温度調節が不要な分岐光線路試験システム等を提供する。 - 特許庁

To provide an easy-to-operate, compact, simple tensile testing machine that can execute a strength test of a spot welding test piece even at a machining site, and does not require any installation space.例文帳に追加

スポット溶接試験片の強度試験を加工現場でも実施できるような、操作が容易にでき、小型で設置のスペースを要しない簡便な強度試験機を提供する。 - 特許庁

To improve the versatility of a sub-control board while avoiding a possibility that a design change could be carried out from the performance once approved by the testing organization to a different performance efficiency and at the same time preventing the fraudulent utilization.例文帳に追加

試験機関で適合した性能と異なる性能に設計変更される恐れおよび不正利用の恐れを回避しつつ、サブ制御基板の汎用性を高める。 - 特許庁

At this contacting moment, the contacting thrust and a thrust consisting of an inertia force of the piston itself and an inertia force of the testing probe are eased from becoming excessive.例文帳に追加

これにより当接される瞬間、当接押圧力とピストン自身の慣性力と検査用プローブの慣性力からなる押圧力が過大になることが緩和される。 - 特許庁

A data comparing processing part 7 compares the data read out of the memory 9 with original testing data, and displays a noncoincidence address on a display part 10 at noncoincidence time.例文帳に追加

データ比較処理部７は、メモリ９から読み出したデータと元の試験用データとを比較し、不一致の場合に不一致を生じたアドレスを表示部１０に表示させる。 - 特許庁

To provide a method and a device for cold criticality tests which make it possible to shorten testing time at lower costs and to find a highly accurate reactor cycle efficiently.例文帳に追加

低コストで試験時間を短縮することができるとともに、高精度の炉周期を効率よく求めることができる冷温臨界試験方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

To improve withstand voltage in a multilayer positive characteristic thermistor by hardly causing breakdown at the center of ceramic raw material when testing withstand voltage.例文帳に追加

積層型正特性サーミスタにおいて、耐電圧試験を行なった場合に生じ得るセラミック素体中央部での破壊を生じさせにくくし、耐電圧性能を向上させる。 - 特許庁

To develop an evaluation apparatus for displaying a heat insulating paint film, for testing rapidly at any location and so that the consumer can easily understand intuitively.例文帳に追加

試験用遮熱塗膜を、いかなる場所においても迅速に、かつ需要者に対して直感的に判り易く展示することができる評価装置を開発すること。 - 特許庁

Since a plurality of smart card chips respond to stimulus at random times in some cases, the system is well adapted for testing of such the plurality of smart card chips.例文帳に追加

複数のスマートカードチップがランダムな時間に刺激に対して応答する場合があるので、そのシステムはそのような複数のスマートカードチップを検査するのに適応する。 - 特許庁