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Defectを含む例文一覧と使い方

該当件数 : 18303件



例文

For example, although a PDP sustain circuit requires a high element breakdown voltage, because the IGBT can reduce the voltage drop at the time of conduction with little dependence of the element breakdown voltage, the defect of the IGBT can be compensated by combining the sustain circuit with the AC-type PDP.例文帳に追加

例えば、素子耐圧が高いことが要求されるPDPのサステイン回路に、素子耐圧にあまり依存せずに導通時の電圧降下を小さくできるIGBTの欠点を、AC型PDPと組み合わせることで補うことができる。 - 特許庁

To solve a problem about a temporal and spatial coherence generated by using a laser as a light source for lighting to inspect a defect of a pattern quickly at high sensitivity, using the laser of high luminous energy.例文帳に追加

照明の光源にレーザを用いることによって発生する時間的・空間的コヒーレンスの問題、を解決して、光量の大きいレーザを用いて高速に高感度でパターンの欠陥を検査することを可能にする。 - 特許庁

Since a defect of the tantalum oxide film disappeares by bonding to the tantalum having a reduced incomplete bonding hand by the heat treatment of the reducing atmosphere, the leakage current of the capacity insulating film is reduced.例文帳に追加

この還元性雰囲気の熱処理により、タンタル酸化膜の欠陥が、還元された不完全な結合手を持つタンタルと結合することにより消滅するため、容量絶縁膜のリーク電流が減少する。 - 特許庁

This recording medium stores information, showing whether linear replacement defect management for replacing defects on the recording medium with data in a margin area so as to record real-time data in a recording area.例文帳に追加

本発明の記録媒体は記録領域にリアルタイムデータを記録するために、記録媒体上の欠陥を余裕領域のデータに置換する線形置換欠陥管理を使用するかどうかを示す情報を貯蔵する。 - 特許庁

例文

To provide a method and an apparatus for detecting a mechanical defect of an ingot block made of a semiconductor material, which are applicable to all kinds of semiconductor material and enable a semiconductor wafer having a void to be separated at an early stage.例文帳に追加

半導体材料から成るインゴットブロックの機械的欠陥を検出にあたり、あらゆる種類の半導体材料に適用可能であり、空隙を有する半導体ウェハを早期に分別可能にする。 - 特許庁


例文

To provide an inexpensive mold device which prevents the defect from being caused at a mouth part of a glass vessel by improving the cooling efficiency of a mouth mold and a guide ring and attains improvement in productivity.例文帳に追加

口型およびガイドリングの冷却効率を高め、それによって、ガラス容器の口部に欠陥を生じさせることがないうえ、生産性の向上を実現できる安価な金型装置を提供するものである。 - 特許庁

To suppress defects such as breakage of an electronic device, a defect in electric conduction, and insufficient sealing, in an electronic component package formed by electrically connecting and sealing a large number of electronic devices at the same time on a wafer level and then dividing them into individual pieces.例文帳に追加

電子装置をウエハレベルで大量に同時に電気接続およびシールした後に個片化して形成する電子部品パッケージにおいて、前記電子装置の破壊、導通不良、シール不十分などの不良を抑える。 - 特許庁

Based on a signal waveform representing the change in leakage magnetic flux detected over a predetermined area with a highly-sensitive magnetic resistant device, the presence or absence of such a fine defect in the target to be inspected is determined.例文帳に追加

そして上記所定領域に亘って前記高感度磁気抵抗素子により検出される漏洩磁束の変化を示す信号波形から前記被検査対象物における微小欠陥の有無を判定する。 - 特許庁

Reflected light from the transparent surface layer of the photoreceptor 1 is received by one-dimensional CCD sensor 10 through a polarizer 11 transmitting only an S-polarized light, and it is image-processed to detect a defect in the surface of the photoreceptor 1.例文帳に追加

感光体1の透明表面層からの反射光をS偏光のみを透過する偏光子11を通して1次元CCDセンサ10で受光して画像処理し感光体1の表面の欠陥を検出する。 - 特許庁

例文

When there is some unbalance, e.g. a defect of such as a drill hole, on the surface of a coin 1 passing the carrier 1 oppositely to the right and left coils A1, A2 and B1, B2, unbalance voltage ΔV is generated.例文帳に追加

硬貨1が通過して、検出コイルA1、A2(又はB1、B2)の左右のコイルと対向する硬貨1の表面に何らかのアンバランス、例えばキリ穴等の欠陥があると、アンバランス電圧ΔVが発生する。 - 特許庁

例文

To enable detection of damage to a material such as peeling defect to be performed in a nondestructive manner and to realize a repair which is more effective in terms of time and cost than a conventional technology when repairing the detected damage to the material.例文帳に追加

材料中の剥離欠陥等の損傷を非破壊で検出でき、検出した材料中の損傷を補修するにあたり、時間及びコスト面で従来よりも効率的な補修を実現する。 - 特許庁

To provide a developing device for suppressing image defect, such as developing ghosts, and also reducing the device in size, thereby reducing in size an image forming apparatus using the developing device, and to provide the image forming apparatus equipped with the developing device.例文帳に追加

現像ゴースト等の画像不良を抑制しつつ、現像装置の小型化、ひいては現像装置を用いる画像形成装置の小型化が可能な現像装置、およびそれを備えた画像形成装置を提供する。 - 特許庁

Therefore, even when the integrated circuit module is made thin, there is no influence of the electric connection between the USB metal contact point and the USB metal female connector of the computer, so that there is not problems of ineffective connection and a connection defect.例文帳に追加

従って、集積回路モジュールの厚みを薄くしても、USB金属コンタクトポイントとコンピューターのUSBポートメスコネクタとの電気的接続に対して影響を受けないのて、接続無効や接続不良による問題がない。 - 特許庁

To output a high-quality printed matter without wasting by preventing smeared paper, an image defect and wasting paper or printing materials due to jamming after recovery processing of the printer which is relatively highly likely to cause a print failure.例文帳に追加

比較的印刷不良の可能性が高い、印刷装置のリカバリ動作後における、用紙の汚れや画像不良、ジャム等による用紙や印刷剤の無駄を抑制し、高品質な印刷物を無駄なく出力すること。 - 特許庁

To suppress the release of reaction gas to the working environment, further, to suppress the retainment of reaction gas in a gap flow channel between the cylinder inner wall surface and an electrode, and to prevent failures such as a defect in conducting.例文帳に追加

作業環境への反応ガスの放出を抑制できると共に、シリンダ内周面と電極間の隙間流路に反応ガスが滞留することを抑制して通電不良等の不具合を防止できること。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a multilayered electronic component element assembly which can prevent poor adhesion between insulating layers and can also prevent a internal defect at the time of burning even if the individual insulating layers are made thin and the number of layers is increased.例文帳に追加

絶縁層を薄層化して積層数を増加した場合にも、絶縁層間の密着不良並びに焼成時の内部欠陥を防止できる積層電子部品素体の製造方法を提供する。 - 特許庁

In addition to an examining processing part 5 for pattern for examining the propriety by applying mask processing at the position of through hole or photo via/laser via, an examining processing part 6 for via is provided for recognizing a defect peculiar for the position of photo via/laser via.例文帳に追加

スルホールやフォトビア・レーザビアの位置にマスク処理を施して良否検査を行うパターン用検査処理部5に加えて,フォトビア・レーザビアの位置に特有な欠陥を認識するためのビア用検査処理部6を設けた。 - 特許庁

To provide an electrophotographic photoreceptor having high contamination resistance against a developer, a discharge product or the like, sufficiently high durability against a contact type charger, a cleaning blade or the like, and preventing generation of a coating defect during manufacturing.例文帳に追加

現像剤、放電生成物等に対する耐汚性、接触型帯電器、クリーニングブレード等に対する耐久性が十分に高く、製造中のコーティング欠陥の発生を防止できる電子写真受光体の提供。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a stacked electronic component capable of obtaining desired quality and desired electric characteristics by avoiding occurrence of a defect in a metallic layer at baking processing even when the thickness of a metallic layer is thinned.例文帳に追加

金属層の厚さが薄くなった場合でも焼成処理時に金属層に欠陥を生じることを回避して、所期の品質及び電気特性が得られる積層型電子部品の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a frictional agitation joining device capable of excellently controlling the generation of a joining defect and the generation of distortion in a formed body after joining even in the case of joining many materials to be joined by frictional agitation.例文帳に追加

多数の被接合材を摩擦撹拌接合する場合でも、接合不良の発生や接合後の成形体における歪みの発生を良好に抑制することのできる摩擦撹拌接合装置の提供。 - 特許庁

To provide a manufacturing method and a manufacturing apparatus of a welded tube, capable of automatically adjusting the deviation of longitudinal direction butting parts of a tubular body due to twisting of a welding tube and preventing generation of a welding defect.例文帳に追加

溶接管のねじれによる管状体の縦方向突き合わせ部のずれを自動的に調整可能とし、溶接不良の発生を防ぐことのできる溶接管の製造方法及び製造装置の提供。 - 特許庁

To provide an inspection method wherein a non-inspection domain does not exist, capable of performing accurately defect inspection of an inspection object on which a repetitive pattern is formed, such as a liquid crystal panel, a plasma display or a semiconductor wafer.例文帳に追加

液晶パネル、プラズマディスプレイ、半導体ウェハ等などの繰返しパターンが形成されている検査対象物の欠陥検査を精度良く、しかも、非検査領域が存在しない検査方法を提供すること。 - 特許庁

This entails that the concentrations of p-type semiconductors in defect restraining layers 116a, 116b are mutually different in the peripehry of the charge storage part 110 and in the periphery of the charge transfer part.例文帳に追加

これに伴い、固体撮像装置1では、電荷蓄積部110の周囲と電荷転送部の周囲とで、欠陥抑制層116a、116bのp型半導体の濃度が互いに異なるように形成されている。 - 特許庁

To provide mold powder for use in continuous casting of steel which produces a surface defect-free slab of sound quality without incurring operational troubles such as breakout even when the slab is a round slab with a small cross-sectional size.例文帳に追加

小断面サイズの丸鋳片においても、ブレークアウト等の操業トラブルが発生せず、表面欠陥のない健全な品質の鋳片を得ることができる鋼の連続鋳造に用いるモールドパウダーを提供すること。 - 特許庁

To provide a plasm treating apparatus that achieves large-area, uniform plasma enabling high-speed film formation having a small amount of defect while feeding a large amount of material gas and can perform more satisfactory plasma treatment.例文帳に追加

プラズマ処理装置において、大量の材料ガスを供給しながら、欠陥の少ない高速成膜を可能とする大面積均一プラズマを実現し、より良好なプラズマ処理が可能なプラズマ処理装置を提供する。 - 特許庁

When a signal-treating circuit substrate 21 containing a defect presence or absence-judging means outputs a malfunction detection signal in a weaving state, an output circuit 39 outputs a loom-stopping signal to a loon control computer Co.例文帳に追加

製織状態において、欠点有無判定手段を含む信号処理回路基板21が異常検出信号を出力すると、出力回路39は、製織停止信号を織機制御コンピュータCoに出力する。 - 特許庁

When entering is not permitted, as an operation history inside the system, collation NG factor analysis information ('out of validity of card', 'no coincidence of password number' and 'read defect of personal ID') is written on the IC card 1.例文帳に追加

入室の許可を与えない場合、システム内での動作履歴として、照合NG原因分析情報(「カード有効期限切れ」、「暗証番号の不一致」、「個人IDの読み取り不良」など)をICカード1へ書き込む。 - 特許庁

To provide a vapor phase growth equipment and a vapor phase growth method with the equipment, which enable to control defect caused at a particle surface and to grow a thin film having a uniform composition.例文帳に追加

パーティクル等の表面欠陥の発生を有効に抑制することができ、均一な組成の薄膜を成長させることのできる気相成長装置およびその装置を適用した気相成長方法を提供する。 - 特許庁

To provide an antimony-doped single silicon crystal wafer having a small crystal defect density on the surface of the wafer and having a high gettering ability, and to provide an epitaxial wafer made to grow using the antimony-doped silicon wafer as a substrate wafer.例文帳に追加

アンチモンドープシリコンウエーハであって、ウエーハ表面の結晶欠陥密度が少なく、ゲッタリング能力が高いアンチモンドープシリコンウエーハ及び該ウエーハを基板ウエーハに用いて成長されたエピタキシャルウエーハを提供する。 - 特許庁

To form no development defect after a resist pattern as an upper layer is formed even when the percentage content of silicon (Si) of an intermediate film is made high in a multi-layer resist process, and thereby to improve the yield.例文帳に追加

多層レジストプロセスにおいて、中間層膜のシリコン(Si)の含有率を高くした場合でも、上層のレジストパターンを形成した後の現像欠陥が発生せず、従って、歩留まりを向上できるようにする。 - 特許庁

To provide a method for selling cosmetics, by which a customer can purchase cosmetics suited to the skin of the customer while receiving counseling at home by eliminating the defect of a conventional method for selling cosmetics.例文帳に追加

従来の化粧品販売方法の欠点を解消し、顧客が自宅にいながらも、カウンセリングを受け、顧客の肌に適合した化粧品を購入することができる化粧品販売方法を提供する。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display device, capable of easily restoring the disconnection defect generated in a manufacturing stage to a quality product with high success rate.例文帳に追加

製造工程において発生した断線欠陥を従来よりも高い成功率で容易に修復して良品化することができる液晶表示装置及びその欠陥修復方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a safe pinhole inspection machine of a low voltage application system, having a simple structure, capable of inspecting a pinhole or a seal defect by applying a voltage to a top seal of a cup package surely, directly all at once.例文帳に追加

簡単な構造であり、カップ包装品のトップシールに確実、直接、一挙に電圧を印加し、ピンホール又はシール不良の検査を可能とした低電圧印加方式の安全なピンホール検査機を提供する。 - 特許庁

Using that, since the thermal defect of the fuel cell 1 is prevented and heat of burning exhaust is given to the fuel cell 1 with good efficiently, the fuel cell 1 can be rapidly heated and increased in its temperature.例文帳に追加

これにより、燃料電池1の熱損傷を防止しつつ、燃焼排気の熱を効率良く燃料電池1に与えることができるので、燃料電池1を速やかに加熱昇温させることができる。 - 特許庁

When the methylpolysiloxane composed of hydrophobic groups of Si-CH_3 bonds is used as the interlayer dielectric, the surface of the interlayer dielectric is damaged in an etching process and the carbon concentration is decreased due to defect of methyl group.例文帳に追加

Si−CH_3結合たる疎水基からなるメチルポリシロキサンを層間絶縁膜に用いた場合、エッチング工程等において前記層間絶縁膜表面がダメージを受け、メチル基の欠陥により炭素濃度が減少する。 - 特許庁

To provide a caulking device and its using method capable of preventing generation of a working defect and improving a yield of a caulked part by improving mounting precision of a member to be caulked to a mounting jig.例文帳に追加

取付治具への被カシメ部材の取付け精度を向上させることにより、加工不良が生じるのを防止してカシメ加工品の歩留りを改善することができるカシメ装置及びその使用方法を提供する。 - 特許庁

In the image forming wherein an inputted image is subjected to image treatment, and outputted, analyzing information to analyze a defect of an image in association with the outputted image is recorded.例文帳に追加

入力された画像に画像処理を施して出力する画像形成において、前記出力する画像に対応付けして、画像の不具合を解析できる解析情報を記録することにより、前記課題を解決する。 - 特許庁

(a) the omission of an entry from the Register; or (b) an entry made in the Register without sufficient cause; or (c) an entry wrongly existing in the Register; or (d) an error or defect in an entry in the Register; may apply to a prescribed court for an order to rectify the Register. 例文帳に追加

(a) 登録簿への記入の遺漏,又は (b) 十分な理由なしにされた登録簿への記入,又は (c) 登録簿に誤って存在している記入,又は (d) 登録簿上の記入における過誤又は欠陥 - 特許庁

To provide a biaxially oriented polyester film achieving high luminance without unevenness or any defect, and providing a high-quality image, when used as a prism sheet member to be used in a liquid crystal display.例文帳に追加

液晶ディスプレイにおいて使用されるプリズムシートの部材として用いた際に、ムラや欠陥がなく、高度な輝度を実現することができ、高品質な画像を与えることができる二軸配向ポリエステルフィルムを提供する。 - 特許庁

To provide a laminated piezoelectric element capable of preventing an external electrode from peeling or a connection defect from occurring further surely in comparison with the prior art, and to provide a manufacturing method of the laminated piezoelectric element.例文帳に追加

外部電極がはく離したり接続不良を生じたりするのを、従来に比べて、さらに確実に防止することができる積層型圧電体と、前記積層型圧電体の製造方法とを提供する。 - 特許庁

To provide a welding method using a welding steel wire for CO_2 gas shielded arc welding, the welding steel wire composed of steel wire and capable of obtaining a joint free from a weld defect, in performing multilayer CO_2 gas shielded arc welding for a steel plate.例文帳に追加

厚鋼板の多層炭酸ガスシールドアーク溶接を行なうにあたって、溶接欠陥のない継手を得ることが可能な、鋼素線からなる炭酸ガスシールドアーク溶接用鋼ワイヤを用いた溶接方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and a device for manufacturing marked metallic bands by which marking which is suitable to the working method, design or the like on the side of users to the defect of a metallic band is performed.例文帳に追加

本発明の目的は、金属帯の欠陥に対して、ユーザ側の加工方法、デザイン等に適したマーキングを施すことが可能なマーキング金属帯の製造方法および製造装置を提供することにある。 - 特許庁

To constitute a data transmission device so as to automatically guarantee safe operation of particularly an automobile by avoiding a defect of a conventional technology in a transmission method and the device of program data in the automobile by a control device.例文帳に追加

制御装置による自動車でのプログラムデータの伝送方法および装置において、従来技術の欠点を回避し、とりわけ自動車の安全な動作が自動的に保証されるように構成することである。 - 特許庁

To prevent the occurrence of leakage current due to a crystal defect, in a semiconductor device having a plurality of second-conductivity-type regions that are selectively formed in a surface portion of a first-conductivity-type semiconductor layer.例文帳に追加

第1導電型の半導体層の表面部分に選択的に形成された複数の第2導電型領域を備える半導体装置において、結晶欠陥に起因するリーク電流の発生を抑える。 - 特許庁

Processing for smoothness failure inspection is executed, by using an image generated by imaging under the spot illumination, and a processing for irregularity defect inspection is executed, by using an image generated through imaging under entire illumination.例文帳に追加

そして、スポット照明下の撮像で生成された画像を用いて平滑性不良検査用の処理を実行し、全体照明下の撮像で生成された画像を用いて凹凸欠陥検査用の処理を実行する。 - 特許庁

To provide a signal processing apparatus such as an audio signal processing apparatus capable of efficient processing even on the occurrence of a defect or a biased operating rate or load in part of signal processing processors such as a part of DSPs.例文帳に追加

一部のDSP等の信号処理プロセッサに不具合や稼働率あるいは負荷の偏りが発生したような場合にも、効率的な処理を維持できる音声信号処理装置等の信号処理装置を得ること。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a semiconductor device capable of reducing the occurrence of a via-defect such as high resistance in a plasma etching step for forming a hole conducting to floating lower-layer metal wiring.例文帳に追加

フローティングしている下層金属配線に通じるホール形成のためのプラズマエッチング工程において、高抵抗などのビア不良の発生を低減させることのできる半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a tetraalkyldialkoxydistannoxane which is used in the production of a dialkyl tin alkoxide or as a reaction catalyst, supplements a defect of the by-production of a trialkyl tin compound, and is hardly thermally degenerated.例文帳に追加

ジアルキルスズアルコキシド製造の際あるいはテトラアルキルジアルコキシジスタンオキサンを反応触媒として使用する際にトリアルキルスズ化合物が副生する欠点を補った、熱変性しにくいテトラアルキルジアルコキシジスタンオキサンの提供。 - 特許庁

Therefore, erroneous discrimination in the relative moving direction between an information reading beam and a recording medium caused by defect is previously prevented, and braking operation can be surely performed at the time of pulling in a tracing loop.例文帳に追加

したがって、欠陥に起因する情報読取ビームと記録媒体との相対的な移動方向の誤判別を未然に防止することとなり、トラッキングループへ引き込む際の制動動作を確実に行うことができる。 - 特許庁

例文

To provide a semiconductor device with a structure of including a space between an electrode pattern and an electrode film on a substrate that prevents storage of static electricity to the space so as to avoid a defect due to sticking of the electrode film.例文帳に追加

基板上の電極パターンと電極膜との間に空間部を有する構造の半導体装置において、空間部への静電気蓄積を防止して電極膜のスティッキングによる不良を防止する。 - 特許庁




  
Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
  
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