「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(268ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a diode with reverse recovery characteristics is excellent, and breakdown voltage never deteriorates since no defect is generated on the upper main surface of a Si substrate even when wires are bonded onto an anode electrode and a manufacturing method of the same.例文帳に追加

逆回復特性が良好で、また、アノード電極上にワイヤがボンディングされる際にもＳｉ基板の上主面内に欠陥が生じないため耐圧が低下しない、ダイオードおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To suppress defects such as breakage of an electronic device, a defect in electric conduction, and insufficient sealing, in an electronic component package formed by electrically connecting and sealing a large number of electronic devices at the same time on a wafer level and then dividing them into individual pieces.例文帳に追加

電子装置をウエハレベルで大量に同時に電気接続およびシールした後に個片化して形成する電子部品パッケージにおいて、前記電子装置の破壊、導通不良、シール不十分などの不良を抑える。 - 特許庁

Based on a signal waveform representing the change in leakage magnetic flux detected over a predetermined area with a highly-sensitive magnetic resistant device, the presence or absence of such a fine defect in the target to be inspected is determined.例文帳に追加

そして上記所定領域に亘って前記高感度磁気抵抗素子により検出される漏洩磁束の変化を示す信号波形から前記被検査対象物における微小欠陥の有無を判定する。 - 特許庁

Reflected light from the transparent surface layer of the photoreceptor 1 is received by one-dimensional CCD sensor 10 through a polarizer 11 transmitting only an S-polarized light, and it is image-processed to detect a defect in the surface of the photoreceptor 1.例文帳に追加

感光体１の透明表面層からの反射光をＳ偏光のみを透過する偏光子１１を通して１次元ＣＣＤセンサ１０で受光して画像処理し感光体１の表面の欠陥を検出する。 - 特許庁

When there is some unbalance, e.g. a defect of such as a drill hole, on the surface of a coin 1 passing the carrier 1 oppositely to the right and left coils A1, A2 and B1, B2, unbalance voltage ΔV is generated.例文帳に追加

硬貨１が通過して、検出コイルＡ１、Ａ２（又はＢ１、Ｂ２）の左右のコイルと対向する硬貨１の表面に何らかのアンバランス、例えばキリ穴等の欠陥があると、アンバランス電圧ΔＶが発生する。 - 特許庁

To enable detection of damage to a material such as peeling defect to be performed in a nondestructive manner and to realize a repair which is more effective in terms of time and cost than a conventional technology when repairing the detected damage to the material.例文帳に追加

材料中の剥離欠陥等の損傷を非破壊で検出でき、検出した材料中の損傷を補修するにあたり、時間及びコスト面で従来よりも効率的な補修を実現する。 - 特許庁

To provide a developing device for suppressing image defect, such as developing ghosts, and also reducing the device in size, thereby reducing in size an image forming apparatus using the developing device, and to provide the image forming apparatus equipped with the developing device.例文帳に追加

現像ゴースト等の画像不良を抑制しつつ、現像装置の小型化、ひいては現像装置を用いる画像形成装置の小型化が可能な現像装置、およびそれを備えた画像形成装置を提供する。 - 特許庁

Therefore, even when the integrated circuit module is made thin, there is no influence of the electric connection between the USB metal contact point and the USB metal female connector of the computer, so that there is not problems of ineffective connection and a connection defect.例文帳に追加

従って、集積回路モジュールの厚みを薄くしても、USB金属コンタクトポイントとコンピューターのUSBポートメスコネクタとの電気的接続に対して影響を受けないのて、接続無効や接続不良による問題がない。 - 特許庁

To output a high-quality printed matter without wasting by preventing smeared paper, an image defect and wasting paper or printing materials due to jamming after recovery processing of the printer which is relatively highly likely to cause a print failure.例文帳に追加

比較的印刷不良の可能性が高い、印刷装置のリカバリ動作後における、用紙の汚れや画像不良、ジャム等による用紙や印刷剤の無駄を抑制し、高品質な印刷物を無駄なく出力すること。 - 特許庁

To suppress the release of reaction gas to the working environment, further, to suppress the retainment of reaction gas in a gap flow channel between the cylinder inner wall surface and an electrode, and to prevent failures such as a defect in conducting.例文帳に追加

作業環境への反応ガスの放出を抑制できると共に、シリンダ内周面と電極間の隙間流路に反応ガスが滞留することを抑制して通電不良等の不具合を防止できること。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a multilayered electronic component element assembly which can prevent poor adhesion between insulating layers and can also prevent a internal defect at the time of burning even if the individual insulating layers are made thin and the number of layers is increased.例文帳に追加

絶縁層を薄層化して積層数を増加した場合にも、絶縁層間の密着不良並びに焼成時の内部欠陥を防止できる積層電子部品素体の製造方法を提供する。 - 特許庁

In addition to an examining processing part 5 for pattern for examining the propriety by applying mask processing at the position of through hole or photo via/laser via, an examining processing part 6 for via is provided for recognizing a defect peculiar for the position of photo via/laser via.例文帳に追加

スルホールやフォトビア・レーザビアの位置にマスク処理を施して良否検査を行うパターン用検査処理部５に加えて，フォトビア・レーザビアの位置に特有な欠陥を認識するためのビア用検査処理部６を設けた。 - 特許庁

To provide an electrophotographic photoreceptor having high contamination resistance against a developer, a discharge product or the like, sufficiently high durability against a contact type charger, a cleaning blade or the like, and preventing generation of a coating defect during manufacturing.例文帳に追加

現像剤、放電生成物等に対する耐汚性、接触型帯電器、クリーニングブレード等に対する耐久性が十分に高く、製造中のコーティング欠陥の発生を防止できる電子写真受光体の提供。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a stacked electronic component capable of obtaining desired quality and desired electric characteristics by avoiding occurrence of a defect in a metallic layer at baking processing even when the thickness of a metallic layer is thinned.例文帳に追加

金属層の厚さが薄くなった場合でも焼成処理時に金属層に欠陥を生じることを回避して、所期の品質及び電気特性が得られる積層型電子部品の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a frictional agitation joining device capable of excellently controlling the generation of a joining defect and the generation of distortion in a formed body after joining even in the case of joining many materials to be joined by frictional agitation.例文帳に追加

多数の被接合材を摩擦撹拌接合する場合でも、接合不良の発生や接合後の成形体における歪みの発生を良好に抑制することのできる摩擦撹拌接合装置の提供。 - 特許庁

To provide a manufacturing method and a manufacturing apparatus of a welded tube, capable of automatically adjusting the deviation of longitudinal direction butting parts of a tubular body due to twisting of a welding tube and preventing generation of a welding defect.例文帳に追加

溶接管のねじれによる管状体の縦方向突き合わせ部のずれを自動的に調整可能とし、溶接不良の発生を防ぐことのできる溶接管の製造方法及び製造装置の提供。 - 特許庁

To provide an inspection method wherein a non-inspection domain does not exist, capable of performing accurately defect inspection of an inspection object on which a repetitive pattern is formed, such as a liquid crystal panel, a plasma display or a semiconductor wafer.例文帳に追加

液晶パネル、プラズマディスプレイ、半導体ウェハ等などの繰返しパターンが形成されている検査対象物の欠陥検査を精度良く、しかも、非検査領域が存在しない検査方法を提供すること。 - 特許庁

This entails that the concentrations of p-type semiconductors in defect restraining layers 116a, 116b are mutually different in the peripehry of the charge storage part 110 and in the periphery of the charge transfer part.例文帳に追加

これに伴い、固体撮像装置１では、電荷蓄積部１１０の周囲と電荷転送部の周囲とで、欠陥抑制層１１６ａ、１１６ｂのｐ型半導体の濃度が互いに異なるように形成されている。 - 特許庁

To provide mold powder for use in continuous casting of steel which produces a surface defect-free slab of sound quality without incurring operational troubles such as breakout even when the slab is a round slab with a small cross-sectional size.例文帳に追加

小断面サイズの丸鋳片においても、ブレークアウト等の操業トラブルが発生せず、表面欠陥のない健全な品質の鋳片を得ることができる鋼の連続鋳造に用いるモールドパウダーを提供すること。 - 特許庁

To provide a plasm treating apparatus that achieves large-area, uniform plasma enabling high-speed film formation having a small amount of defect while feeding a large amount of material gas and can perform more satisfactory plasma treatment.例文帳に追加

プラズマ処理装置において、大量の材料ガスを供給しながら、欠陥の少ない高速成膜を可能とする大面積均一プラズマを実現し、より良好なプラズマ処理が可能なプラズマ処理装置を提供する。 - 特許庁

When a signal-treating circuit substrate 21 containing a defect presence or absence-judging means outputs a malfunction detection signal in a weaving state, an output circuit 39 outputs a loom-stopping signal to a loon control computer Co.例文帳に追加

製織状態において、欠点有無判定手段を含む信号処理回路基板２１が異常検出信号を出力すると、出力回路３９は、製織停止信号を織機制御コンピュータＣｏに出力する。 - 特許庁

When entering is not permitted, as an operation history inside the system, collation NG factor analysis information ('out of validity of card', 'no coincidence of password number' and 'read defect of personal ID') is written on the IC card 1.例文帳に追加

入室の許可を与えない場合、システム内での動作履歴として、照合ＮＧ原因分析情報（「カード有効期限切れ」、「暗証番号の不一致」、「個人ＩＤの読み取り不良」など）をＩＣカード１へ書き込む。 - 特許庁

To provide a vapor phase growth equipment and a vapor phase growth method with the equipment, which enable to control defect caused at a particle surface and to grow a thin film having a uniform composition.例文帳に追加

パーティクル等の表面欠陥の発生を有効に抑制することができ、均一な組成の薄膜を成長させることのできる気相成長装置およびその装置を適用した気相成長方法を提供する。 - 特許庁

To provide an antimony-doped single silicon crystal wafer having a small crystal defect density on the surface of the wafer and having a high gettering ability, and to provide an epitaxial wafer made to grow using the antimony-doped silicon wafer as a substrate wafer.例文帳に追加

アンチモンドープシリコンウエーハであって、ウエーハ表面の結晶欠陥密度が少なく、ゲッタリング能力が高いアンチモンドープシリコンウエーハ及び該ウエーハを基板ウエーハに用いて成長されたエピタキシャルウエーハを提供する。 - 特許庁

To form no development defect after a resist pattern as an upper layer is formed even when the percentage content of silicon (Si) of an intermediate film is made high in a multi-layer resist process, and thereby to improve the yield.例文帳に追加

多層レジストプロセスにおいて、中間層膜のシリコン（Ｓｉ）の含有率を高くした場合でも、上層のレジストパターンを形成した後の現像欠陥が発生せず、従って、歩留まりを向上できるようにする。 - 特許庁

To provide a method for selling cosmetics, by which a customer can purchase cosmetics suited to the skin of the customer while receiving counseling at home by eliminating the defect of a conventional method for selling cosmetics.例文帳に追加

従来の化粧品販売方法の欠点を解消し、顧客が自宅にいながらも、カウンセリングを受け、顧客の肌に適合した化粧品を購入することができる化粧品販売方法を提供する。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display device, capable of easily restoring the disconnection defect generated in a manufacturing stage to a quality product with high success rate.例文帳に追加

製造工程において発生した断線欠陥を従来よりも高い成功率で容易に修復して良品化することができる液晶表示装置及びその欠陥修復方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a safe pinhole inspection machine of a low voltage application system, having a simple structure, capable of inspecting a pinhole or a seal defect by applying a voltage to a top seal of a cup package surely, directly all at once.例文帳に追加

簡単な構造であり、カップ包装品のトップシールに確実、直接、一挙に電圧を印加し、ピンホール又はシール不良の検査を可能とした低電圧印加方式の安全なピンホール検査機を提供する。 - 特許庁

Using that, since the thermal defect of the fuel cell 1 is prevented and heat of burning exhaust is given to the fuel cell 1 with good efficiently, the fuel cell 1 can be rapidly heated and increased in its temperature.例文帳に追加

これにより、燃料電池１の熱損傷を防止しつつ、燃焼排気の熱を効率良く燃料電池１に与えることができるので、燃料電池１を速やかに加熱昇温させることができる。 - 特許庁

When the methylpolysiloxane composed of hydrophobic groups of Si-CH_3 bonds is used as the interlayer dielectric, the surface of the interlayer dielectric is damaged in an etching process and the carbon concentration is decreased due to defect of methyl group.例文帳に追加

Ｓｉ−ＣＨ_3結合たる疎水基からなるメチルポリシロキサンを層間絶縁膜に用いた場合、エッチング工程等において前記層間絶縁膜表面がダメージを受け、メチル基の欠陥により炭素濃度が減少する。 - 特許庁

To provide a caulking device and its using method capable of preventing generation of a working defect and improving a yield of a caulked part by improving mounting precision of a member to be caulked to a mounting jig.例文帳に追加

取付治具への被カシメ部材の取付け精度を向上させることにより、加工不良が生じるのを防止してカシメ加工品の歩留りを改善することができるカシメ装置及びその使用方法を提供する。 - 特許庁

In the image forming wherein an inputted image is subjected to image treatment, and outputted, analyzing information to analyze a defect of an image in association with the outputted image is recorded.例文帳に追加

入力された画像に画像処理を施して出力する画像形成において、前記出力する画像に対応付けして、画像の不具合を解析できる解析情報を記録することにより、前記課題を解決する。 - 特許庁

To provide a paper conveying device capable of reducing a load for confirmation of the user when any defect on the conveying of paper occurs by accurately detecting the displacement of the paper at a paper set section and informing the user of the displacement.例文帳に追加

用紙セット部における用紙の位置ずれを的確に検出してユーザに報知でき、用紙の搬送に関する不具合が発生した際のユーザの確認の負担を軽減できる用紙搬送装置を提供する。 - 特許庁

To sufficiently store a plurality of secondary batteries to strongly join and fix them, to change a secondary battery with defect found after assembled and to surely detect abnormal heat generation, etc.例文帳に追加

多数個の二次電池を効率的に収納してこれらを強固に接合固定するとともに、組立後に発見された不具合のある二次電池の交換を可能とし、さらに異常発熱等を確実に検出可能とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device that suppresses the increase of defect modes due to variance in inter-pad-rewiring resistance even when an operation speed becomes fast, and to provide a method of manufacturing the same.例文帳に追加

動作速度が高速になっても、パッド再配線間抵抗ばらつきに起因する不良モードの増加を抑えた半導体集積回路装置および半導体集積回路装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

When the semiconductor layers 10 and 20 form a pn junction J50a, leakage current occurring at the pn junction J50a is extremely small because the pn junction J50a exists near an edge of the silicide layer 20s and at a location having less crystal defect.例文帳に追加

半導体層１０，２０がｐｎ接合Ｊ５０ａを形成する場合、これはシリサイド層２０ｓの端部から近く、結晶欠陥が小さい位置に存在するので、ここにおけるリーク電流は非常に小さい。 - 特許庁

Thus, the magnetic head 1 can deal with the finer pitch of the terminal 4 and prevent a connection defect, since the terminal 4 and the lead terminal LT can be directly joined to each other by the bump B without using a bonding wire.例文帳に追加

これにより、バンプＢによって端子４とリード端子ＬＴとをボンディングワイヤを介さずに直接接合できるので、端子４の微細ピッチ化に対応するとともに接続不良を防止することができる。 - 特許庁

Alternatively, the light-transmitting member is a light-transmitting member made of titanium-containing molten quartz glass and is characterized in that the concentration of oxygen defect structures is 6×10^-3 mol/L or lower in its surface region.例文帳に追加

チタンを含有する溶融石英ガラスよりなる光透過部材であって、当該光透過部材は表面層領域において、酸素欠陥構造の濃度が６×１０^−３ｍｏｌ／Ｌ以下であることを特徴とする。 - 特許庁

To provide a color image reader and an image forming apparatus that enable prevention of occurrence of an image defect such as uneven coloring in a read color image so as to improve the image quality of the read image.例文帳に追加

読み取ったカラー画像に色ムラ等の画像不良が発生することを防止することができ、読取画像の画質向上を図ることができるカラー画像読取装置および画像形成装置を提供する。 - 特許庁

The difference between the value obtained by multiplying the dimension A1 of the evaluation pattern 11 by the ratio of the dimension B2 to the dimension B1, and the dimension A2 of the reference pattern 11s is calculated as the defect size of the evaluation pattern 11.例文帳に追加

寸法Ｂ１に対する寸法Ｂ２の比率を評価用パターン１１の寸法Ａ１に乗算した値と基準パターン１１ｓの寸法Ａ２との差分を、評価用パターン１１の欠陥サイズとして算出する。 - 特許庁

This defect relieving means comprises preventing an inverse current for a latch power source, non-conduction of a transistor for discrimination, discrimination by a forced setting circuit (7), inversion of latch data, change of a current detector, and the like.例文帳に追加

この不良救済手段としては、ラッチ電源の逆流防止、判定用トランジスタの非導通化、強制設定回路（７）による判定、およびラッチデータの反転および電流検出器の交換などを含む。 - 特許庁

To provide a method for casting a cast steel throw for a crankshaft made of cast steel in which the generation of a casting defect that reverse V segregation and a gap are caused at a pin part is reduced, and to provide a cast steel throw for a crankshaft made of cast steel.例文帳に追加

ピン部に逆Ｖ偏析や空隙が発生するという鋳造欠陥の発生を低減した鋳鋼製クランク軸用鋳鋼スローの鋳造方法及び鋳鋼製クランク軸用鋳鋼スローを提供する。 - 特許庁

To provide a nonvolatile semiconductor storage element by preventing the generation of a hole trap and a defect in a gate oxide film in a memory cell through a data erasing operation and stabilizing an operation by suppressing the fluctuation of element characteristics.例文帳に追加

データ消去動作によりメモリセルにホールトラップやゲート酸化膜の欠陥を生じさせにくく、素子特性の変動を抑制して動作の安定化を図った不揮発性半導体記憶素子を提供する。 - 特許庁

To provide an excellent apparatus and method achieving highly sensitive defect-detecting performance without bringing about degradation of focusing accuracy, even in case contrast at defective portions is not enough obtained due to special features of a wafer.例文帳に追加

ウェハの特質により欠陥部位のコントラストが十分に得られない場合であっても、フォーカス精度劣化をきたすことなく、高感度な欠陥検出性能を実現する優れた試料検査装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a satisfactory color filter having no foreign matter inferiority and no image defect by reducing charge gathering on a glass substrate where a coating layer of a colored composition is applied and preventing sticking of dirt and destruction of an exposure mask pattern.例文帳に追加

着色組成物の塗布層が塗布されたガラス基板上に溜まる電荷を低減し、ゴミの付着、及び露光マスクパターンの破壊を防ぎ、異物不良、画像欠陥のない良好なカラーフィルターを提供する。 - 特許庁