「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(266ページ目) - Weblio英語例文検索

To suppress a defect while maintaining a cache coherence domain by performing address inspection before data intercepted by a memory controller are processed.例文帳に追加

欠陥抑制キャッシュ・コヒーレンス・ドメイン及びキャッシュ・コヒーレントな区画間メモリ領域を可能としながら、キャッシュ・コヒーレントな対称型共有メモリ・マルチプロセッサ・システムにおける欠陥抑制メモリ区画化を達成する。 - 特許庁

To provide a document reader by which the occurrence of an abnormal image is prevented by preventing the occurrence of defect due to paper powder, a dust or the like on a contact glass without largely changing the existing state of the constitution of a document reader.例文帳に追加

現状の原稿読取装置の構成を大きく変えることなく、コンタクトガラス上の紙粉・ゴミ等による不具合を防止し、異常画像の発生を防止できる原稿読取装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method of cutting a heat development photosensitive material, inhibiting the peeling of a film in a cut plane and poor carriage in an exposure and development system, the defect of an image and the deposition of a peeled layer onto equipment resulting therefrom.例文帳に追加

切断面での膜剥がれやそれに起因する露光・現像系での搬送不良、画像欠陥、剥離層の機器への付着が抑えられる熱現像感光材料の切断方法を提供する。 - 特許庁

To provide inkjet recording paper which does not cause a defect such as cracking in manufacturing, is excellent in handleability for breaking etc., and has high ink absorbency and color developability.例文帳に追加

発明の目的は、製造時にひび割れ等の欠陥がなく、折れ割れ等の取り扱い性に優れ、高いインク吸収性及び発色性を有するインクジェット記録用紙を提供することにある。 - 特許庁

To provide a defect analyzing method of a memory by which must- repair of a memory can be retrieved at high speed and simulation processing relieving can be performed at high speed at the time of detection of must-repair.例文帳に追加

メモリのマストリペアを高速で検索すると共に、マストリペアが検出された時点でマストリペアを救済するシミュレーション処理を高速に行うことができるメモリの不良解析方法を提案する。 - 特許庁

To provide an acoustic reproducing apparatus for utilizing an ultrasonic wave to reproduce an audible tone with strong directivity that solves a defect that a distance from an ultrasonic wave generating element to a reproduction point of the audible tone is too long.例文帳に追加

超音波を利用して指向性の強い可聴音を再生する音響再生装置において、超音波発生素子から可聴が再生されるまでの距離が長すぎる欠点を解消する。 - 特許庁

This defect detection device for the optically transparent film A is equipped with a detection means 3 for detecting defects of the optically transparent film A, from an image acquired by imaging by the imaging means 1.例文帳に追加

撮像手段１による撮像で得られた画像から光透過性フィルムＡの欠陥を検出する検出手段３とを備える光透過性フィルムＡの欠陥検出装置に関する。 - 特許庁

To provide a plate-like body suitable for constituting a holding member of an object to be ground hardly adhering to an upper plate of a grinding device for reducing the number of defect of the object to be ground due to a line trouble in a grinding work.例文帳に追加

研磨装置上盤と密着しにくい被研磨物保持材を構成するのに適した板状体を提供し、研磨作業のライントラブルによる被研磨物の不良低減を図る。 - 特許庁

To provide an image recording apparatus and an image correcting method which correct a defect of an image such as an artifact generated caused by abnormality of a recording element in accordance with the image to realize a favorable image recording.例文帳に追加

記録素子の異常によって起こるアーティファクト等の画像欠陥を画像に応じて補正して好ましい画像記録を実現する画像記録装置及び画像補正方法を提供する。 - 特許庁

To surely avoid the degradation of image quality due to a defect of running of a recording material by surely eliminating trouble caused by the variation in action of the recording material which rushes to a fixing nip area between fixing members.例文帳に追加

定着部材間の定着ニップ域に突入する記録材の挙動変動による不具合を確実に解消し、もって、記録材の走行不良に伴う画質劣化を確実に回避する。 - 特許庁

.Clauses which shield the Vendor from any and all liability to indemnify the consumer for damages caused by a product defect; provided, however, that these clauses would be valid if it is stipulated in such contract that the Vendor should be responsible, when a latent defect is found in the subject item under such contract, to provide replacement or repair such defect (Subparagraph 1, Paragraph 2, Article 8 of said Act) or if a Vendor.s affiliate bearing a certain relation to such Vendor is held responsible (Subparagraph 2, Paragraph 2, Article 8 of said Act). 例文帳に追加

目的物に隠れた瑕疵があるときに、当該瑕疵により消費者に生じた損害を賠償する事業者の責任の全部を免除する条項（ただし、このような条項も同時に当該契約において、当該契約の目的物に隠れた瑕疵があるときに当該事業者が瑕疵のないものをもってこれに代える責任又は当該瑕疵を修補する責任を負うこととされている場合（同法第８条第２項第１号）や、当該事業者と一定の関係にある他の事業者が責任を負うこととされている場合（同法第８条第２項第２号）には、無効とならない - 経済産業省

By utilizing the charge by the electron beam irradiation, a defect is detected by performing inspection, by acquiring a potential contrast image in a state in which the difference in the electrical resistance value between the normal part and the defective part is increased sufficiently.例文帳に追加

電子ビーム照射による帯電を利用し、正常部と欠陥部の電気抵抗値の差を十分増大させた状態で電位コントラスト像を取得して検査を行い欠陥を検出する。 - 特許庁

Air bubbles mixed inside when the two resin films 11, 12 are laminated together are immediately released outside when laminated, preventing formation of air bubbles and producing no adhesion defect.例文帳に追加

２枚の樹脂フィルム１１、１２を貼り合わせる際に内部に混入した気泡は、その貼り合わせの時点で直ちに孔から外部に逃げるので、気泡発生は防止され、接着不良は生じない。 - 特許庁

To obtain a method of estimating survival expectation rate by which survival expectation rates etc., can be estimated in the unit of chip based on a defect related to a prescribed step which is at least one step of a manufacturing process.例文帳に追加

製造処理の少なくとも一つの工程である所定の工程に関連した欠陥に基づくチップ単位での生存期待率等が推定可能な生存期待率推定方法を得る。 - 特許庁

To provide a method and a system for chemical vapor infiltration(CVI) by which relatively uniform and defect-free densification can be performed even in the case of a large-size porous body of hollow shape having a concave inside surface.例文帳に追加

大きな寸法の凹面状の内面を有する中空状形状の多孔質体でも、比較的均一でかつ欠陥のない強化ができる化学蒸気浸透法およびその装置を提供する。 - 特許庁

To improve the moving speed of a flexible pressure sensor to improve the productivity, and to stably polarize by preventing the defect generated by chafing of the flexible pressure sensor caused by friction.例文帳に追加

可撓性感圧体の移動スピードを向上し、生産性を向上できるとともに、摩擦による可撓性感圧体のこすれで生じる欠陥を防止して安定して分極することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method capable of manufacturing safety shoe box toes which are light in weight, homogeneous and high in strength without giving rise to the variation in strength and appearance defect of molded goods at a high yield with good productivity.例文帳に追加

成形品の強度のバラツキや外観不良を生ずることがなく、軽量、均質でしかも高強度の安全靴先芯、それを高歩留りで生産性良く製造できる方法を提供する。 - 特許庁

To obtain a galvanic cell type oxygen sensor reduced in output fluctuations, extremely enhances in reliability and stability and having a long life by removing the contact defect between a positive collector and a positive lead wire.例文帳に追加

正極集電体と正極リード線との接触不良を除去することにより、出力変動が小さく、信頼性、安定性の極めて高い、長寿命のガルバニ電池式酸素センサを得る。 - 特許庁

To provide an antiskid control device for preventing the continuously operated condition of a solenoid valve due to the incorrect fitting or pseudo-breakage of a connector of a wheel speed sensor and preventing the unstable behavior of a vehicle due to the defect of only part of wheel speed sensors during braking by executing the fail-safe operation (ABS control prohibition) for every wheel in the defect of the wheel speed sensor.例文帳に追加

車輪速度センサにおけるコネクタの嵌合不良や擬似断線によるソレノイドバルブの連続作動状態の発生を防止することができると共に、車輪速度センサの失陥時におけるフェールセーフ作動（ＡＢＳ制御禁止）を各車輪毎に実行することで、一部の車輪速センサのみの失陥により制動時に車両挙動が不安定になることを防止できるアンチスキッド制御装置の提供。 - 特許庁

The correction method for the color filter in which pixels or pixels and black matrix are formed is characterized by specifying a defect of the pixels or color filter, grinding and removing the minimum area including the defect, and forming a color layer into the ground and removed part by the use of the correction color for the color filter, the color layer having a color identical to that of the ground part.例文帳に追加

画素、または画素とブラックマトリックスとが形成されたカラーフィルターにおいて、上記画素またはカラーフィルターに存在する欠陥個所を特定し、該欠陥箇所を含む微小面積を研削除去し、該研削除去部分に、研削された個所と同色の着色層をカラーフィルター補修用カラーを用いて形成することを特徴とするカラーフィルターの補修方法、およびカラーフィルター補修用カラー。 - 特許庁

To enable selecting an illumination angle for enlarging an effective inspection range and excellently detecting defects by suppressing generation of reflection, and to improve irregularity detection ability with improved image contrast between irregularity defect and a normal part by reducing limitations of illumination angle in an irregularity inspection device and method for detecting irregularity defect of an inspected object having a periodic pattern.例文帳に追加

周期性のあるパターンをもつ被検査体のムラ欠陥を検出するためのムラ検査装置および方法において、映り込みの発生を抑制して、有効な検査範囲の拡大、良好な欠陥の検出が可能な照明角度を選択できるようにすること、また照明角度の制限を減らすことによって、ムラ欠陥と正常部との画像コントラストの向上が期待でき、結果的にムラ検出能力を向上すること - 特許庁

A quality state calculation part 50 determines a manufacturing process classification using the material defect database 600 based on the manufacturing history of the manufacturing history database 400 and material defect information of a quality information database 310, further determines a manufacturing process relating to the manufacturing process classification using the manufacturing process classification database 500, and then calculates the relationship between the manufacturing condition and quality of the metal band material.例文帳に追加

その上で、品質状況算出部５０は、製造履歴データベース４００の製造履歴と品質情報データベース３１０の品質不良情報とを基に、品質不良データベース６００を用いて工程分類を判別すると共に、工程分類データベース５００を用いて該工程分類に関連する工程を判別し、金属帯材料の製造条件と品質との関連性を算出する。 - 特許庁

In a cell library that is used for layout design of a semiconductor integrated circuit and is a library of design data of cells each achieving a unit function; each of the design data comprises an attribute value indicating whether the cell easily causes a defect in a cell adjacently placed across the edge and whether a defect is easily caused by a cell adjacently placed across the edge, and attribute information that is associated with the attribute value.例文帳に追加

半導体集積回路のレイアウト設計に用いられる、単位機能を実現するセル毎の設計データのライブラリであるセルライブラリにおいて、セル毎の設計データは、セルが備える端部と、該端部を介して隣接するセルに欠陥を生じせしめやすいか否か、および隣接するセルから欠陥を生じせしめられやすいか否か、を示す属性値と、の対応付けである属性情報を夫々含む。 - 特許庁

To provide a cast-in-place pile provided with an in-ground heat exchange pipe for effectively utilizing underground heat, free from cross-sectional defect of the pile, and capable of effectively preventing defect of the in-ground heat exchange pipe in inserting a reinforcement cage into a posthole, and further effectively preventing freeze-thaw of concrete constituting the pile even when cooling phenomenon occurs in absorbing heat.例文帳に追加

地中熱の有効活用を可能とする地熱交換パイプが設けられた場所打ち杭であって、杭の断面欠損を生じさせることなく、また、鉄筋籠を杭孔に挿入する際に地熱交換パイプが欠損することを良好に防止でき、また吸熱時の冷却現象が発生した場合であっても杭を構成するコンクリートの凍結融解を良好に防止することができる、場所打ち杭を提供する。 - 特許庁

In the step of predicting yield, a state of a defect existing in the substrate is acquired (S14), a defective chip region is specified among the plurality of chip regions based on the state of a defect (S16), data relating to the defective chip region is stored in a database (S17), and yield is calculated based on data relating to defective chip regions stored in the database (S18).例文帳に追加

前記歩留りを予測する工程では、前記基板に存在する欠陥の状態を把握し（Ｓ１４）、前記欠陥の状態に基づいて前記複数のチップ領域のうちから不良チップ領域を特定し（Ｓ１６）、前記不良チップ領域に関するデータをデータベースに格納し（Ｓ１７）、前記データベースに格納されている不良チップ領域に関するデータに基づいて歩留りを算出する（Ｓ１８）。 - 特許庁

To control the temperature in a device during the operation of an electronic computer and a sharp rise or lowering in temperature in temporary stop or complete stop, and to achieve energy saving during operation and component defect reduction in temporary stop and complete stop and the reduction of the possibility of an defect in restart, in a system in which a plurality of power supply devices or electronic computers loaded on an electronic computer are loaded in parallel.例文帳に追加

電子計算機に搭載されている複数台の電源装置または電子計算機が並列に搭載されるシステムにおいて、電子計算機の動作中における装置内温度制御と一時停止及び完全停止時の急激な温度上昇や下降を制御し、動作中の省エネルギーと一時停止及び完全停止時の部品障害低減と再起動時障害の可能性を低減する。 - 特許庁

The method for manufacturing a mask blank substrate comprising a substrate having two main surfaces opposing to each other includes: a step of polishing the two main surfaces of the substrate; and a step of correcting a surface defect present on the main surface of the substrate by bringing flame at a burning temperature equal to or higher than the softening point of the substrate into contact with the surface defect.例文帳に追加

対向する２つの主表面を有する基板からなるマスクブランク用基板の製造方法であって、前記基板の２つの主表面を研磨する工程と、前記基板の主表面に存在する表面欠陥に対して、前記基板の軟化点以上の燃焼温度の火炎を接触させて前記表面欠陥を修正する工程とを有することを特徴とするマスクブランク用基板の製造方法である。 - 特許庁

The evaluating method for the crystal defect of the semiconductor single-crystal substrate is performed at least by detecting the crystal defect obviously developed on the surface of the thermally processed semiconductor single-crystal substrate after thermally processing it under a hydrogen atmosphere at 800 to 1,100°C.例文帳に追加

半導体単結晶基板の結晶欠陥評価方法であって、少なくとも、前記半導体単結晶基板を水素雰囲気下８００〜１１００℃で熱処理した後、該熱処理した半導体単結晶基板の表面に顕在化した結晶欠陥の検出を行うことによって、前記半導体単結晶基板の結晶欠陥の評価を行うことを特徴とする半導体単結晶基板の結晶欠陥評価方法。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of an organic electroluminescent element forming a base material; a first electrode, an organic light emitting media layer including an organic light emitting layer, and a second electrode formed on the base material; and an inorganic sealing layer formed on the second electrode; prevented from generation and spread of defect for a long period by providing the inorganic sealing layer excellent in a barrier property and free from defect.例文帳に追加

基材と、この基材上に、第一電極と、有機発光層を含む有機発光媒体層と、該有機発光媒体層、第二電極を形成し、第二電極上に無機封止層を形成する有機エレクトロルミネッセンス素子の製造方法において、バリア性に優れた欠陥のない無機封止膜を提供することにより、長期にわたり欠陥の発生、拡大のない有機エレクトロルミネセンス素子を製造することにある。 - 特許庁

In the nitride semiconductor light emitting element and its manufacturing method, a low defect region having a defect density of 10^6 cm^-2 or less and a trench region with a recess formed in the surface of a nitride semiconductor substrate and the etching angle θ between the side face of the recess and its bottom side extension line ranges as 75° ≤ θ≤ 140° in a sectional view of the recess.例文帳に追加

本発明の窒化物半導体発光素子及びその製造方法は、窒化物半導体基板の表面に、欠陥密度が１０^6ｃｍ^-2以下の低欠陥領域と、凹部が形成された掘り込み領域とが設けられ、前記凹部の断面形状において、前記凹部の側面部と前記凹部の底面部延長線との間の角度であるエッチング角度θが、７５度≦θ≦１４０度であることを特徴とする。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for concealing defective pixels in image sensors, by which the provision of an external storage means, is unnecessitated, the testing on every occasion, so as to program defective pixels is unnecessitated and moving defect pixels for the use of a user can be concealed and to provide a computer-readable recording medium in which a program to realize the method is recorded.例文帳に追加

外部に別に格納手段を設ける必要がないのみでなく、いちいちテストをして欠陥ピクセルに対するプログラミングをする必要もなく、ユーザが使用する間にも動く欠陥ピクセル(Moving defect pixel)に対する補正が可能となるようにするための、イメージセンサの欠陥ピクセル補正装置及びその方法と、前記方法を実現させるためのプログラムを記録したコンピュータで読み出すことができる記録媒体を提供する。 - 特許庁

To provide a broadcasting receiver capable of allowing a viewer to continuously view a program by receiving broadcasting signals from a plurality of kinds of transmission equipment and switching branch numbers by the detection of a reception defect, when channel information is stored and managed with the branch numbers concerning a case where the viewer cannot continuously view the program due to the reception defect caused by the position movement of a traveling object.例文帳に追加

移動体における位置移動による受信不良発生によって継続的な番組視聴が提供できないことに対して、複数の送出設備から放送信号を受信し、枝番によりチャンネル情報を記憶管理している場合には、受信不良の検出により枝番を切り換えることで継続した番組視聴を可能とする放送受信装置の提供を目的とする。 - 特許庁

When alumina or zirconia ceramics sintered by hot isostatic pressing after normal sintering are heat-treated at nine temperatures at 50°C intervals in the range of 1,200-1,600°C for 0.5-4 hr each and defects are observed by the method, the average defect size is ≤70 μm at the heat treatment temperature at which the average defect size is observed to be maximum.例文帳に追加

また本発明のセラミックスは、常圧焼結の後に熱間静水圧加圧焼結されたアルミナまたはジルコニアセラミックスであり、当該セラミックスを１２００〜１６００℃の温度範囲内において５０℃間隔の９種類の温度で夫々０．５〜４時間熱処理し、夫々の部分を光透過観察したとき、平均欠陥サイズが最も大きく観察された熱処理温度において、該平均欠陥サイズが７０μｍ以下である。 - 特許庁

The optical film is disclosed in which light-shielding processing is applied to an optical defect causing light leakage, the optical defect appearing when a thermoplastic resin film such as a thermoplastic saturated norbornene resin, a polycarbonate resin, a polysulfonic resin, a polyether sulfonic resin, and a polymethyl methacrylate resin is located between polarizers arranged at crossed Nicols, and the polarizing plate is disclosed on which the optical film and the polarizers are layered.例文帳に追加

クロスニコルに配置された偏光子間に、熱可塑性飽和ノルボルネン系樹脂、ポリカーボネート系樹脂、ポリスルホン系樹脂、ポリエーテルサルホン系樹脂、ポリメタクリル酸メチル系樹脂等の熱可塑性樹脂フィルムを配置した際に、光漏れが生じる、熱可塑性樹脂フィルムの光学欠点が遮光処理されていることを特徴とする光学フィルム及びこの光学フィルムと偏光子が積層されていることを特徴とする偏光板。 - 特許庁

To provide manufacturing technology of a semiconductor device, which can extract a representative defect that reflects an occurrence situation of a detected defect in a process for detecting a plurality of the defects existing in a pattern formed in a semiconductor substrate, extracting the prescribed number of the defects from a plurality of the detected defects and inspecting an appearance on the prescribed number of the extracted defects.例文帳に追加

半導体基板に形成されたパターンに存在する複数の欠陥を検出し、検出した複数の欠陥の中から所定数の欠陥を抽出した後、抽出した所定数の欠陥について外観検査を実施する工程において、検出した欠陥の発生状況を反映した代表的な欠陥を抽出することができる半導体装置の製造技術を提供する。 - 特許庁

The multi-layered information recording medium comprises a plurality of recording layers, a user data area for recording user data, provided in at least two of the plurality of recording layers, and a defect list storing area for storing a defect list used to manage the at least one defective area detected when at least one defective area is detected in the user data area.例文帳に追加

本発明の多層情報記録媒体は、複数の記録層と、ユーザデータを記録するためのユーザデータ領域であって、複数の記録層のうちの少なくとも２つに形成されているユーザデータ領域と、ユーザデータ領域において少なくとも１つの欠陥領域が検出された場合に検出された少なくとも１つの欠陥領域を管理する欠陥リストを格納するための欠陥リスト格納領域とを備える。 - 特許庁

To provide a method of speedily and easily detecting, thereby properly classifying defects on a semiconductor substrate to be inspected, more specifically, to provide an inspection apparatus and method for eliminating a trouble for reporting one defect frequently generated by the same cause for a plurality of times, for solving a task of reporting one defect once, and for reducing the operation time for output.例文帳に追加

被検査対象である半導体基板上の欠陥を高速かつ容易に検出し、適切に分類する手法を提供すること、すなわち、同一原因に起因することが多い１つの欠陥を複数報告する煩雑さを無くし、一欠陥に対して一報告するべきという課題を解決し、かつその演算時間をより短くして出力することが可能な検査装置および検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for storing a sequence of data elements in sequence of sectors on a storage medium and a corresponding method for reproducing a sequence of data elements read from the sequence of sectors on the storage medium, without designating a specific sector for defect management.例文帳に追加

不良管理に特定のセクタの指定を回避し、データ要素のシーケンスを記憶媒体上のセクタのシーケンスに保存する方法と、セクタのシーケンスから読み出したデータ要素のシーケンスの再生方法の提供。 - 特許庁

The guide member 10 is fitted at a position deviated from an optical path receiving a reflected light from the original so as to prevent a defect such as missing image due to a foreign material undesirably deposited on the guide member 10.例文帳に追加

ガイド部材１０は、原稿からの反射光の光路上から外れた位置に取り付けられ、ガイド部材１０に不所望に付着した異物による画像欠損などの不具合を防止するようにしている。 - 特許庁

When the detecting unit 19 detects the defect of the display unit 20, the control unit 13 controls a sound generating unit 15 to broadcast the operation information indicating the operation contents of the operating unit 18 of the user by sound.例文帳に追加

制御部１３は、検出部１９によって表示部２０の不良が検出された場合に、音声発生部１５を制御してユーザによる操作部１８の操作内容を示す操作情報を音声によって報知する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic probe which has simple and inexpensive constitution, efficiently extracts a signal associated with a harmonic component, and measures a microscopic defect with high precision; and to provide a method of manufacturing the same.例文帳に追加

簡単かつ安価な構成で実現でき、高調波成分に係る信号を効率よく抽出することができ、微視欠陥を高精度に計測できる超音波探触子およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

An image processor inspects the defect of the appearance of the inspecting object, based on the image of the inspecting object picked up by the camera, when the same part in the inspecting object travels through the inspecting objects on the plurality of background plates.例文帳に追加

画像処理装置は、被検査物の中の同一箇所が前記複数の背景板の上の被検査物を通るとき前記カメラにより撮像された被検査物の画像から、被検査物の外観の欠陥を検査する。 - 特許庁

To prevent a color mixture during a manufacture of a color filter by stably preventing a chipping defect of a transfer-formed laminate (a separation wall for forming a colored area by applying ink preferably by an ink jet method).例文帳に追加

転写形成される積層体（好ましくはインクジェット法によりインクを付与して着色領域を形成するための隔壁）の欠け欠陥を安定に防止し、カラーフィルタを作製したときの混色の発生を防止する。 - 特許庁

To provide an electronic component holder which can suppress a printing defect due to adhesion of an adhesion layer and a mask and also prevent a decrease in yield of component mounting and damage to an electronic component, and a manufacturing method thereof.例文帳に追加

粘着層とマスクの粘着に伴う印刷不良を抑制し、しかも、部品実装の歩留まり低下や電子部品の損傷を防ぐことのできる電子部品保持具及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an organic EL display manufacturing method in which, when a defect due to inclusion of foreign matter occurs in an organic layer, only a defective portion is locally repaired without damaging the periphery.例文帳に追加

有機ＥＬディスプレイの製造において、有機層中に異物の混入による欠陥が生じた場合、欠陥部のみを局所的に修復し、周囲へのダメージがない有機ＥＬディスプレイの製造方法を提供すること。 - 特許庁