「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(274ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a pattern profile detecting device or method that is capable of detecting at a high-speed a shaping defect in a pattern profile of a patterned media surface and a stamper as well as a production line for patterned media disks.例文帳に追加

本発明は、本高速でパターンドメディア表面やスタンパのパターン形状の整形不良を検査できるパターン形状検査装置または検査方法並びにパターンドメディアディスク製造ラインを提供することである。 - 特許庁

To provide an apparatus for three-dimensional shaping, a method for three-dimensional shaping and a program for three-dimensional shaping which reduce the possibility of occurrence of color omission and a defect in structure of a three-dimensional structure even when defective discharge arises.例文帳に追加

吐出不良が生じた場合においても、３次元構造物の色抜けや構造欠陥が生じる可能性を低減した３次元造形装置、３次元造形方法、及び３次元造形プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide an operating device which can appropriately prevent by a simple structure a defect such as a rotary cover body bounding caused by the collision with an operating device body section when the cover body is opened.例文帳に追加

回転式の蓋体を開けた際に蓋体が操作装置本体部との衝突に起因してバウンドするといった不具合を簡易な構造によって適切に防止することが可能な操作装置を提供する。 - 特許庁

To simplify an inspection method for distinguishably specifying whether a defect like a bright line or a dark line of a liquid crystal panel is caused due to the liquid crystal panel or an IC chip of a COF.例文帳に追加

液晶パネルの輝線、滅線といった不良が、液晶パネルに起因する不良であるか、ＣＯＦのＩＣチップに起因する不良であるか、ということを切り分けて特定するための検査方法を簡易化する。 - 特許庁

To provide a high-luminance and high-definition image display device capable of preventing generation of an optical defect such as a white spot while restraining deterioration of luminance performance in the image display device using a surface light source device with an edge light method.例文帳に追加

エッジライト方式の面光源装置を用いた画像表示装置において、輝度性能の低下を抑えつつ白点などの光学欠陥の発生を防止し、高輝度かつ高品位な画像表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus enabled to prevent a defect such as a moisture proof member not placed when a sheet that is easy to absorb moisture and likely to cause sticking is used for image formation.例文帳に追加

吸湿吸着を起こし易いシートを画像形成に使用したい場合に、防湿部材が未載置のままとなってしまう等の不都合を防止することが可能な構成を備える画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To provide an irregularity inspection device that prevents irregularity in film thickness of photoresist of an RGB pixel portion, pattern missing of a BM pattern, an RGB pattern and a PS/VA pattern of a blank glass portion, a mark, and a product type number, and a height defect.例文帳に追加

ＲＧＢ画素部のフォトレジストの膜厚ムラや素ガラス部のＢＭパターン、ＲＧＢパターン、ＰＳ／ＶＡパターンやマークや品種番号のパターン欠けや高さ不良の発生を防止するムラ検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a technology which enables an electro-mechanical conversion device such as a two-dimensional capacitive electro-mechanical conversion device having excellent sensitivity in a desired frequency band to be manufactured with no defect or with high yield.例文帳に追加

所望の周波数帯域で良好な感度を有する二次元容量型電気機械変換装置などの電気機械変換装置を無欠陥ないし歩留まり良く作製することを可能とする技術を提供する。 - 特許庁

To reduce a defect, which is caused by uneven thickness and residual gas in a film residue of a resist film having an uneven pattern transferred thereon, in a method for carrying out an nano-imprint by inkjet applying an ink droplet made of resist material.例文帳に追加

インクジェット法を用いてレジスト材料からなる液滴を塗布しナノインプリントを行う方法において、凹凸パターン転写されたレジスト膜の残膜の厚みムラおよび残留気体による欠陥の発生を抑制する。 - 特許庁

To provide an image processing method which is capable of determining a defect and a carved character from an image in which the inside of a tire of an object to be inspected is photographed, and to provide an image processor, an image processing program, and a recording medium.例文帳に追加

検査対象物のタイヤ内側が撮影された画像から欠陥と刻印文字とを判別することができる画像処理方法、画像処理装置、画像処理プログラムおよび記録媒体を提供する。 - 特許庁

To provide a transfer sheet in which no vapor deposition defect is generated in a metallic vapor deposition layer and in which no cracks are generated in the metallic vapor deposition layer even in the case of application to a complicated or deep three-dimensional shape.例文帳に追加

金属蒸着層に蒸着欠陥が発生せず、しかも複雑又は深みがある立体形状に適用した場合でも金属蒸着層にクラックが発生しない転写シートを提供すること。 - 特許庁

To provide a method of evaluating a surface or a surface layer of a semiconductor wafer capable of measuring a defect and contamination of the surface or the surface layer of the semiconductor wafer with high sensitivity and improving reliability of an evaluation result.例文帳に追加

半導体ウェーハの表面または表層の欠陥および汚染を高感度に測定し、評価結果の信頼性を高めることが可能な半導体ウェーハの表面または表層評価方法を提供する。 - 特許庁

To provide a transfer device and a transfer method, reliably transferring ruggedness to a resin layer while preventing a transfer defect to the resin layer caused by a stamper; and to provide an apparatus and a method for manufacturing an optical disk.例文帳に追加

スタンパによる樹脂層への転写不良を防止しつつ、樹脂層へ確実に凹凸を転写することができる転写装置および転写方法ならびに光ディスク製造装置および製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a lithium film deposition method by vacuum deposition method which is capable of controlling generation of defect during deposition of an Li film, and to provide a power generation element manufactured by the lithium film deposition method.例文帳に追加

真空蒸着法によるＬｉ膜の成膜時に当該Ｌｉ膜に不具合が生じることを抑制できるＬｉ膜の成膜方法、およびこの成膜方法により製造した発電要素を提供する。 - 特許庁

To provide a method for growing a silicon single crystal, by which a single crystal of a defect-free region where OSF and grown-in defects are not included over the whole region in the radial direction is grown stably in a high yield.例文帳に追加

径方向全域にわたりＯＳＦおよびｇｒｏｗｎ−ｉｎ欠陥のない無欠陥領域の単結晶を歩留り良く安定して育成することができるシリコン単結晶の育成方法を提供する。 - 特許庁

To provide a hardware flow control method for preventing the defect of data by reliably stopping data transmission from the other side when one device connected through a UART interface starts transition control to a reception invalidating state.例文帳に追加

UARTインタフェースで接続された一方の装置が受信不能状態への遷移制御を開始した場合、相手側からのデータ送信を確実に停止させデータ欠損を防止するハードウェアフロー制御方法を提供する。 - 特許庁

To provide a reflection type mask and a method of manufacturing the same which can maintain transfer characteristics even if contamination cleaning is carried out, and can suitably correct a white defect.例文帳に追加

本発明は、コンタミネーションクリーニングを行っても転写特性を維持することが可能であり、白欠陥を良好に修正することが可能な反射型マスクおよびその製造方法を提供することを主目的とする。 - 特許庁

To provide a film that is excellent in handleability in a sheet state and has optical characteristics causing no hindrance to a visual inspection in a cross-nicol method which is typical as a defect inspection of contamination of foreign matters etc. in a polarizing plate.例文帳に追加

シート状態の取扱性に優れ、偏光板の異物混入等の欠陥検査として一般的なクロスニコル法による目視検査で障害とならないような光学特性を有するフィルムを提供する。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display device having high contrast and proper visibility and capable of reducing alignment defect of a liquid crystal, such as, disclination in the liquid crystal display device, when a black level is displayed.例文帳に追加

黒レベルを表示するときの液晶表示装置のディスクリネーション及び光漏れといった液晶の配向不良を低減でき、コントラストが高く、視認性の良い液晶表示装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a polishing method that achieves high flatness of a polished surface of a polishing body after CMP processing, and further reduces the defect density of scratches or the like on the polishing surface of the polishing body compared with the conventional one.例文帳に追加

ＣＭＰ処理後に、被研磨体の研磨面が高い平坦性を有するとともに、被研磨体の研磨面におけるスクラッチなどの欠陥密度を従来に比して低減させることができる研磨方法を提供する。 - 特許庁

To provide a barrier film capable of suppressing an environmental load and having an excellent gas barrier property by effectively utilizing a natural resource and suppressing the generation of a defect in a barrier layer caused by fine irregularity on the surface of a film substrate.例文帳に追加

天然資源を有効利用し、かつフィルム基材表面の微細な凹凸に起因するバリア層内の欠陥の発生を抑制することで、環境負荷を抑え優れたガスバリア性を有するバリアフィルムを提供する - 特許庁

In this crystal system, the surface mode can be effectively outputted by confining input light (hv) in ends of the three-dimensional photonic crystal (2), by controlling the physical properties of the system, for example, making the thickness of the defect layer proper.例文帳に追加

この結晶システムでは、欠陥層の厚さを好適なものとするなど、システムの物性を制御することで、入力光(hv)を３次元フォトニック結晶(2)の端部に閉じ込め、表面モードを効果的に出力（hv')できる。 - 特許庁

In substrate inspection prior to pattern forming that uses design data 303, a defective fraction 506 is calculated, taking into consideration the position of a detected defect 504 on an inspection map indicating the place on a wafer.例文帳に追加

パターン形成前の基板検査において、設計データ３０３を利用して、検出された欠陥５０４がウェハ上の場所を示した検査マップ上のどの位置にあるを考慮して不良率５０６を計算する。 - 特許庁

To continuously manufacture an image display apparatus employing a roll sheet, which is a roll of an optical film where defect information is printed as markings, and which hardly causes defects due to transfer of irregular deformation in the marking regions.例文帳に追加

欠点情報がマーキングとして印字された光学フィルムが巻回されており、該マーキング部位の凹凸変形の転写による欠陥が生じにくいロール原反を用いて画像表示装置を連続的に製造する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of electrophotographic photoreceptor with little image defect and a manufacturing method of an electrophotographic photoreceptor substrate with little shape or burr on end part of the substrate causing separation of film during film formation.例文帳に追加

画像欠陥の少ない電子写真感光体の製造方法及び、成膜中に発生する膜ハガレの要因となる基体端部の形状やバリの少ない電子写真感光体用基体の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a device and method for defect inspection, capable of avoiding the effect caused by detected pixel shift and pixel crack, and capable of mutually adding scattered lights generated from almost the same region.例文帳に追加

検出画素ずれおよび画素割れによる影響を回避し、概略同一の領域から発生する散乱光同士を加算可能にする欠陥検査装置および欠陥検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a method for producing an inkjet recording material having good pearl gloss by suppressing occurrence of surface defect in particular in regard to the method for producing the inkjet recording material using pearlescent pigment.例文帳に追加

真珠光沢顔料を用いたインクジェット記録材料の製造方法に関し、特に表面欠陥の発生を抑制し、良好な真珠光沢を有するインクジェット記録材料の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a color solid-state imaging device, a color solid-state imaging device manufacturing method, and a color solid-state imaging apparatus manufacturing method, with which it becomes possible to prevent a defect that occurs at the time of wire bonding and manufacturing.例文帳に追加

ワイヤーボンディング時及び製造時に生じる不具合を解消することができるカラー固体撮像素子、カラー固体撮像素子の製造方法及びカラー固体撮像装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a charging member of an electrophographic device, the charging member preventing an image defect called a C set image caused when the charging member and a photorecptor are left contacted for a long time.例文帳に追加

本発明は、電子写真装置の帯電部材において、帯電部材と感光体を長期当接放置した場合に発生する、Ｃセット画像と呼ばれる画像不良を抑制した帯電部材を提供することにある。 - 特許庁

The memory device includes a list of grown defect that identifies a plurality of data sectors stored along a track between the first servo wedge and the second servo wedge on a selected track as data sectors which may not be written to.例文帳に追加

メモリ装置は、選択されたトラック上の第１サーボウェッジと第２サーボウェッジ間のトラックに沿って記憶された複数のデータセクタを書き込み不能なデータセクタとして特定するための後発欠陥のリストを含む。 - 特許庁

To provide a semiconductor device packaging method capable of reducing the rate of trouble generation, a semiconductor repairing method capable of easily repairing a defect of a solder junction, and a semiconductor device capable of performing these methods.例文帳に追加

不具合発生率を低減できる半導体装置の実装方法、半田接合部の不良を容易に修理することができる半導体装置のリペア方法、これら方法を実施可能とする半導体装置を提供する。 - 特許庁

To provide a fault monitoring circuit, a semiconductor integrated circuit and a faulty part locating method for surely transmitting defect information to a circuit for holding a system in a safe state, and for securing safety as the system.例文帳に追加

故障情報がシステムを安全な状態に保つ回路まで確実に伝達され、システムとしての安全性を確保できる障害監視回路、半導体集積回路及び故障個所特定方法を提供すること - 特許庁

To provide a distributed protection relay in which availability is improved without unnecessarily halting a protection function by eliminating or minimizing influences of data missing caused by a transmission defect of data transmission from an analog input section.例文帳に追加

アナログ入力部からのデータ伝送の伝送不良によるデータ欠落の影響をなくすあるいは極小にすることで、保護機能を不要に停止させることなく、可用性を高めた分散形保護リレーを提供する。 - 特許庁

A defect detection sensor 5 is provided at a prescribed conveyance position on a turntable 2, and detects the elevating and lowering position of the push-up punch 10 every time the push-up punch 10 passes through the prescribed conveyance position.例文帳に追加

不良検出センサ５は、ターンテーブル２における所定の搬送位置に設けられており、所定の搬送位置を突き上げパンチ１０が通過する毎に、この突き上げパンチ１０の昇降位置を検出する。 - 特許庁

To provide a polymer exhibiting excellent roughness reduction capability, solubility, compatibility, defect reduction capability, exposure sensitivity and the like when used as a positive photoresist, a monomer for producing the same, and a precursor (an intermediate, or a modifier) thereof.例文帳に追加

ポジ型フォトレジストとして用いたときに、ラフネス低減、溶解性、相溶性、ディフェクト低減、露光感度等に優れる重合体、これを与える単量体（モノマー）及びその前駆体（中間体，修飾剤）を提供する。 - 特許庁

To provide a fuel cell in which a short-circuit defect is reduced by improving a structure of power generating elements constituted of a cathode and an anode of a flat type nonaqueous electrolyte solution primary cell while maintaining a high capacity design.例文帳に追加

扁平型非水電解液一次電池の正極と負極とで構成される発電要素の構造を改善することにより、高容量設計を維持しつつ、短絡不良を低減した電池を提供する。 - 特許庁

In the active matrix type display device, a protection film 8 which serves both for absorption of laser surplus power and for spilling prevention of conductor fragments is arranged on the upper layer side of a laser irradiation part for correcting a point defect.例文帳に追加

アクティブマトリクス型表示装置において、点欠陥を修正するためのレーザ照射部の上層側に、レーザ余剰パワー吸収用および導体破片の飛び散り防止用を兼ねた保護膜８を配置する。 - 特許庁

To provide a review device and a review method, capable of preventing a picked-up image from being charged and contaminated and obtaining the picked-up image without defocus, by performing focusing outside the imaging region of a defect candidate.例文帳に追加

焦点合せを欠陥候補の撮像領域外で行って、撮像画像の帯電やコンタミネーションを防ぐとともに、焦点のずれのない撮像画像を得ることができるレビュー装置及びレビュー方法を得る。 - 特許庁

A wafer data area 109 which stores information specifying a wafer and a manufacturing process is provided so that the defect information can be retrieved by only using the review data by similarly handling information on an inspection step and the information on a reviewing step.例文帳に追加

ウェハと製造工程を特定する情報を記憶するウェハデータ領域１０９を設け、検査工程とレビュー工程の情報を同様に扱うことでレビューデータのみで欠陥情報の検索を可能とする。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus capable of forming a high-quality image without causing an image defect by preventing toner adhering to the wall surface or the like of a developing device from being accumulated and falling to a photoreceptor.例文帳に追加

現像装置の壁面等に付着したトナーが堆積し、感光体上にこぼれ落ちることを防止して、画像欠陥を引き起こすことがなく高画質な画像を形成できる画像形成装置を提供すること。 - 特許庁

To manufacture an aluminum based alloy member which eliminates the need for machining, or the like, for removing fine cracks and defects on the surface, does not remain the crack, let alone the defect and has more excellent mechanical characteristics by an inexpensive process.例文帳に追加

表層の微細クラックおよび欠陥を除去する機械加工等を不要にし、クラックはおろか欠陥すらも残留しない、機械特性により優れたアルミニウム系合金部材を安価な工程で製造可能にする。 - 特許庁

To provide a thermoplastic resin composition in which an inorganic filler is uniformly dispersed in a thermoplastic resin, to inhibit the deterioration of physical properties and the defect of appearance due to the insufficiency in dispersion, and to provide a molded article formed from the same.例文帳に追加

熱可塑性樹脂に無機フィラーを均一に分散し、分散不良による物性の低下、外観不良を抑制する熱可塑性樹脂組成物及び、それを用いて得られる成形品を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a fine porous film enabling space saving production and capable of manufacturing the fine porous film reduced in plane defect and having a pore size suitable for separating and refining nucleic acid, and to provide a manufacturing apparatus for the fine porous film.例文帳に追加

省スペースで製造することが可能であり、面状欠点の少ない核酸の分離精製に適した孔径に製造することができる微細多孔質膜の製造方法及び装置を提供する。 - 特許庁

The number of times of occurrence of failure is counted, when the number of times of occurrence of failure exceeds the number of cells by which failure can be relieved, the semiconductor to be tested is discriminated as a defect and a test is stopped.例文帳に追加

フェイル発生回数を計数し、フェイル発生回数が不良救済可能なセル数を越えた時点でその被試験半導体メモリを不良と判定し、試験を中止する半導体メモリ試験方法を提案する。 - 特許庁

Defect inspection based upon whether data synchronism can be detected is carried out by using a data synchronizing signal 52 which is longer by fluctuation in rotation before and after a data synchronizing signal 52 in normal reproduction of recording information including its retrial.例文帳に追加

リトライを含む通常の記録情報の再生時のデータ同期信号５２よりも前後に回転変動分だけ長いデータ同期信号５７を使用してデータ同期検出の可否に基づく欠陥検査を実施する。 - 特許庁