「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(277ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a method of manufacturing a silicon wafer capable of reducing a cost of a light heating type anneal furnace, extending life of a light heating source, eliminating void defect on a wafer surface, and suppressing surface roughness of a wafer.例文帳に追加

光加熱式のアニール炉の低コスト化および光加熱源の長寿命化が図れ、ウェーハ表面のボイド欠陥を消滅させ、ウェーハの表面粗さを小さく可能なシリコンウェーハの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a surface flaw detection method capable of detecting adverse defect on a metal strip by discriminating it from an over-detection, and a surface flaw detection device used for the method.例文帳に追加

本発明は、金属帯上の有害疵と、過検出とを弁別して検出することができる表面欠陥検出方法、および、該方法に使用される表面欠陥検出装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

By the method, the adhesion member 50 and the main body 40 are formed separately, thereby the thickness required at the time of adhering the adhesion member 50 is fully assured, and defect in adhesion or deterioration in fuel impermeability is inhibited certainly.例文帳に追加

これによれは、溶着部材５０と本体４０とが別々に成形されるので、溶着部材５０の溶着時に必要な厚さを十分に確保して、接着不良や燃料不透性の低下を確実に防止する。 - 特許庁

To provide a direct liquid type writing utensil which can prevent air from entering an ink accommodation chamber by preventing an ink drop (backward flow) and which has excellent writing performance without generating a defect of a writing fault or ink leakage.例文帳に追加

インキドロップ（逆流）を防止し、インキ収容室内への空気の侵入を防止でき、筆記不良やインキ漏れという不具合を生じさせることなく、優れた筆記性能を有する直液式の筆記具を提供する。 - 特許庁

To provide an image display unit which is excellent in various characteristics such as resolution, quality of image, and emission efficiency, whose screen size can be easily increased, whose manufacturing cost can be reduced, and by which problems such as wiring defect can be solved.例文帳に追加

解像度や画質、発光効率などの諸特性に優れ、且つ大画面化が容易で、製造コストの低減も実現でき、また配線不良などの問題も解決できる画像表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide a low-profiled or downsized speaker that hardly causes a defect such as occurrence of abnormal sound or the like even when an input signal with a high amplitude is applied to a voice coil so as to reproduce preferable sound.例文帳に追加

振幅の大きい入力信号がボイスコイルに印加された場合であっても、異音を生じる等の不良が生じにくく、好ましい音声再生が可能な薄型化もしくは小型化されたスピーカーを提供する。 - 特許庁

To provide a suction chamber which removes a defect of a suction chamber in the prior art that an occurrence of vibration of a film in forming a thin film produces a lateral cockle pattern and a crepe cockle pattern and these make the forming operation impossible.例文帳に追加

従来のサクションチャンバーでは薄いフイルムを成形する際、フイルムに膜振動が起き、フイルムに横縞模様やちり緬しわ模様が入り、成形出来ないという欠点を取り除いたサクションチャンバーを提供すること。 - 特許庁

To provide a continuous casting method which can reduce a product defect in a cast slab, such as a steel slab, by promoting the float-up and the separation of non-metallic base inclusion, such as argon bubble, alumina, in the continuous casting for steel slab.例文帳に追加

鋼スラブの連続鋳造において、アルゴン気泡やアルミナなどの非金属系介在物の浮上分離を促進し、鋼スラブ等の鋳片の製品欠陥を低減し得る連続鋳造方法を提供する。 - 特許庁

To aim at a removal of a surface defect layer existing on the surface of an anode of a CCM board, protection of the anode surface, and, by extension, at prevention of rise of drive voltage of an organic EL element as well as maintenance of luminous uniformity.例文帳に追加

ＣＣＭ基板の陽極表面に存在する表面不良層を除去し、陽極表面を保護し、ひいては、有機ＥＬ素子の駆動電圧の上昇防止や発光均一性の維持を目的とする。 - 特許庁

According to a simple approach, a reflection component in the reflection elastic wave Wref on a surface S1 of the inspection object 2 is reduced and a reflection component in a cavity (defect) 21 inside the inspection object 2 can easily be detected.例文帳に追加

簡易な手法によって、反射弾性波Ｗrefにおける被検査体２の表面Ｓ１での反射成分が低減され、被検査体２内部の空隙（欠陥）２１での反射成分が検出し易くなる。 - 特許庁

To provide a photoelectric conversion device which is equipped with the optimal low reflection film in a photoelectric conversion part, wherein little smear in generated, whose breakdown voltage performance is not spoiled, and which is manufactured without generating etching damages, such as a white point defect.例文帳に追加

最適な低反射膜を光電変換部に備え、スミアの発生が少なく、耐圧性能が損なわれず、白点欠陥などのエッチングダメージを生じることなく製造できる光電変換装置を提供する。 - 特許庁

To provide a molding machine for an optical element such as a lens or the like exerting no adverse effect on a product even in the case of the occurrence of cracks which is the maximum defect of a glass mold, and also to provide a molding method using the machine.例文帳に追加

ガラスの成形型の最大の欠点である欠けやクラックが発生した場合でも、これらが製品に悪影響を及ぼすことのないレンズ等の光学素子の成形装置および成形方法を提供する。 - 特許庁

To improve such a factor as a variation in productivity caused by a characteristic defect of a circuit caused by thinning, production yields, etc., when manufacturing an integrated circuit device of which the substrate is thinned, the factors that largely affect mass production.例文帳に追加

基板を薄膜化した集積回路装置を作製する際に、薄膜化による回路の特性不良によるバラツキ、生産歩留まり等、量産化に大きく影響する要素を改善することを課題とする。 - 特許庁

To provide a patterned-knit sock with border patterns, and the like, eliminating such a defect as inferior appearance caused by extrusion of knitting yarn ends forming the patterned-knit part out of the knit structure thereof.例文帳に追加

本発明は、ボーダー柄等を有する柄編み靴下の構成において、柄部分を編成した編み糸の糸端が編み組織よりはみ出すことによる外観不良の欠点を解消することを目的としたものである。 - 特許庁

To provide a method and a device for visualizing a situation of a molding internal deformation to investigate workability and to elucidate a cause of a defect in a molding, in the working of a complicated shape of component plastically deformed three-dimensionally.例文帳に追加

３次元的に塑性変形する複雑形状部品の加工において、加工性の検討や成形品の欠陥の原因を解明するため成形品内部変形の様子を可視化する方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a sensor having a shortened full length and improved accuracy of an operation point by solving the problem wherein a conventional contact type position sensor having a plunger measuring shaft has a defect that the full length becomes long from the viewpoint of a structure.例文帳に追加

従来のプランジャ測定軸を有する接触式位置センサでは全長が構造上長くなる欠点があったが本願発明では全長を短く、かつ動作点の精度向上をはかったセンサを提供する。 - 特許庁

To provide a manually cleaning and coating method and a manual cleaning coater in which both cleaning and coating are structured as one unit, splashing defect is prevented and high quality coating is carried out without adversely affecting environment.例文帳に追加

洗浄・塗装又を一つのユニットで構成し、飛散事故を防止し、環境に悪影響を及ぼすことなく、品質の良い塗装を行う手動型洗浄・塗装方法及び手動型洗浄・塗装機を提供する。 - 特許庁

The inspection processing part 17 extracts a data of the sheet film from the acquired image data, determines further the effective area of the inspection object, and conducts finally the defect inspection, the dimension inspection and the like, within the effective area.例文帳に追加

検査処理部１７は、取得した画像データから枚葉フィルムのデータを抽出し、更に検査対象とする有効領域を決定し、最後に、この有効領域に対して欠陥検査、寸法検査等を行っている。 - 特許庁

To simply produce a large-sized cold plate of high quality in which the defect in the solidification of sticking faces is remarkably reduced, and which has excellent dimensional precision, and further, to attain the reduction in the cost of the cold plate and the improvement of its recycling properties.例文帳に追加

接着面の凝固不良を大幅に低減し、寸法制度に優れた高品質な大型のコールドプレートを簡便に製造し、さらには、コールドプレートの低コスト化、リサイクル性の向上を目的とする。 - 特許庁

To provide a low temperature casting method and a low temperature casting apparatus for spheroidal graphite cast iron which is obtained by precision casting using a die and has high strength equivalent to that of a forged one and generates no external or internal defect.例文帳に追加

金型を使用した精密鋳造により、鍛造に匹敵する高強度をもち、外部・内部欠陥を生じない球状黒鉛鋳鉄の低温鋳造方法及び低温鋳造装置を提供する。 - 特許庁

To provide a device and a method for inspecting defects appropriately detecting defects on the surface of a band body such as a thin steel plate to be inspected for a defect, by accurately specifying the position of the edge of the band body.例文帳に追加

疵の検査対象である薄鋼板等の帯状体のエッジの位置を精度良く特定して帯状体表面の疵を適切に検出する疵検査装置及び疵検査方法を提供すること。 - 特許庁

The imaging device 10 includes: a camera 12 for picking up the image of the surficial defect in the object S to be inspected; and at least one leg part 14 arranged in the camera 12 and extended toward the image pickup direction of the camera 12.例文帳に追加

撮像装置１０は、被検査物Ｓにおける表面欠陥の撮像を行うカメラ１２と、カメラ１２に設けられると共にカメラ１２の撮像方向に向けて延びる、少なくとも一つの脚部１４とを備える。 - 特許庁

To provide a repair construction method reducing incidental works such as excavation works, easily and appropriately repairing peeled and defect parts, and improving mechanical durability.例文帳に追加

掘削作業等の付帯作業を低減するとともに剥離や欠損箇所を簡単にしかも適正に修復させて補修箇所での機械的な耐久性をも向上させることができる補修工法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect analysis support system for a game machine, capable of easily and accurately analyzing the defects of the game machine by making various kinds of information relating to the game machine referrable.例文帳に追加

遊技機に関する各種の情報を参照可能とすることで、この遊技機の不良解析を容易かつ正確に行うことを可能にする、遊技機の不良解析支援システムを提供すること等を課題とする。 - 特許庁

To provide a manufacturing method for a spherical valve member capable of solving such problems that a defect occurs in a valve member produced according to a conventional manufacturing method, in particular, a leakage and a stagnant flow occur due to a scratch on a surface thereof.例文帳に追加

従来の製造方法によるバルブ部材の欠点、特に、表面にきずがあることで生じる漏れや流れが滞ることなどの問題を解決できる球状バルブ部材の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of detecting a circumferential scratch defect, capable of efficiently detecting a circle scratch by an electric characteristic inspection without deteriorating yield in disk manufacturing, and to provide a magnetic disk certifier.例文帳に追加

ディスク生産の歩留を悪化させることなく、電気的な特性検査でサークルスクラッチを効率よく検出ができる円周方向のスクラッチ欠陥検出方法および磁気ディスクサーテファイアを提供することにある。 - 特許庁

To provide a method for forming a pattern by which a short-circuited defect is corrected without fracturing an appropriate pattern, and a desired high-definition pattern is easily formed without causing increase in cost or decrease in productivity.例文帳に追加

適正パターンを崩さずにショート欠陥部を修正できると共にコストアップや生産性の低下を招くことなく、所望の高精細パターンを容易に形成することができるパターンの形成方法を提供する。 - 特許庁

To provide a stacked polarizing film which hardly generates static electricity even in peeling a protection film and sticking it to a liquid crystal cell, and which has an antistatic function for preventing a defect such as a luminescent spot or the like on display.例文帳に追加

保護フィルムを剥離して液晶セルに貼合した場合でも、静電気の発生が少なく、また、表示に輝点等の欠点を生じない帯電防止機能を有する積層偏光フィルムを提供する。 - 特許庁

To provide a technique capable of accurately evaluating a defect size in a piping inspection using a guide wave, by correcting a change of signal reception sensitivity for every installation of a sensor without installing a new reference reflection member.例文帳に追加

ガイド波を用いた配管検査において、新たな基準反射部材を設置せずに、センサの設置毎の受信感度変化を校正し、欠陥サイズを高精度に評価可能とする技術を提供すること。 - 特許庁

To provide an electrophotographic image-forming method and an electrophotographic image-forming device by which cleaning performance is maintained over a long term, an image defect is eliminated, and the service life of a cleaning blade is prolonged.例文帳に追加

本発明の目的は、長期に亘ってクリーニング性能を保持し、画像不良がなく、且つクリーニングブレードを長寿命化できる電子写真画像形成方法、電子写真画像形成装置を提供することである。 - 特許庁

When the number of defects detected reaches a predetermined value and over, 1 is subtracted from the thresholds of the threshold determination circuits 104 and 106 so as not to detect as a defect even when one different storage element is included in the storage part.例文帳に追加

ディフェクトの検出回数が所定値以上になると、記憶部の１個の記憶素子が一致しなくてもディフェクトとして検出しないように閾値判定回路１０４、１０６の閾値を１つ減算する。 - 特許庁

To provide an inspection method of a tire irregularity pattern and an inspection device of the tire irregularity pattern capable of determining a defect of a three-dimensional shape of the pattern with high reliability without depending on a brightness distribution image of irregularities.例文帳に追加

凹凸の輝度分布画像によることなく、高い信頼性をもって、図形の三次元形状の欠陥を判定することのできるタイヤ凹凸図形の検査方法、および、タイヤ凹凸図形検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for evaluating aptitude for flavor of food and drink by solving a defect based on sensory evaluation or the like, using an optical topography device, and measuring a change of a cerebral blood flow when taking the food and drink.例文帳に追加

官能評価等に基づく欠点を解決し、光トポグラフィ装置を使用し、飲食物を飲食する際の脳血流の変化を測定して飲食物の風味の適性を評価する方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for weaving a filament woven fabric, with which a defect of Barabike (seemingly sink mark-like interval unevenness in the weft direction on the surface of woven fabric) is prevented without quickening an opening timing and the conventional problem caused by the quickening of the opening timing can be solved.例文帳に追加

開口タイミングを早めることなくバラビケ欠点を防止し、開口タイミングを早めることで起こる従来の問題を解決することが可能なフィラメント織物の製織方法を提供する。 - 特許庁

A shadow generated by the foreign matter is detected based on the picked-up foreign matter detecting image, and a position of the foreign matter is calculated based on the position of the shadow to correct an image defect caused by the foreign matter in the picked-up image.例文帳に追加

撮像された異物検出用画像から異物により生じた影を検出し、その影の位置より撮像光路上の異物の位置を算出して、撮像画像の異物による像欠陥を補正する。 - 特許庁

Of the pattern inspection device 1, a comparing inspection part 10 generates a defect candidate area D in an inspected image S by comparing the inspected image S with a reference image R.例文帳に追加

パターン検査装置１において、比較検査部１０は、被検査画像Ｓと参照画像Ｒとを比較して被検査画像Ｓにおける欠陥候補領域Ｄを特定する２値化された欠陥候補画像Ｑを生成する。 - 特許庁

To provide a glass cutter capable of suppressing the degradation in the yield in a glass cutting process step by preventing the rotation defect of wheel cutters in cutting glass substrates by using the wheel cutters, and a glass cutting method.例文帳に追加

ホイールカッターを用いてガラス基板を切断する際に、ホイールカッターの回転不良を防止し、ガラスの切断工程における歩留まり低下を抑制するガラス切断装置、及びガラス切断方法を提供する。 - 特許庁

To precisely detect, with uniform precision along the width direction, a defect on a surface of a wide inspected object moving at a high speed, by a lighting system using an optical fiber bundle.例文帳に追加

本発明は、高速で移動する広い幅の被検査物の表面の欠陥を光ファイバ束を用いた照明装置によって、幅方向に均一な精度で、且つ高精度で検出できる表面検査装置を提供する。 - 特許庁

When the filtering function and the sampling function are sequenced and registered, a filtering operation and a sampling operation are performed automatically on the basis of information on a wafer as an object to be observed, and only the defect information on the object to be observed is extracted.例文帳に追加

また、これらフィルタ、サンプリング条件をシーケンス化して登録しておくことにより、観察対象ウェハの情報により自動的にフィルタ、サンプリングを行い、観察対象欠陥情報のみを抽出する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a honeycomb structure in which an outer wall is formed with covering the outer periphery with a coating material and in which a defect such as crack generation or peeling is hardly caused in the outer wall upon drying the coating material, and to provide the coating material.例文帳に追加

コート材により外周が被覆されて外壁が形成され、その外壁の乾燥時にクラックの発生、剥離等の不具合が生じ難いハニカム構造体の製造方法、及びコート材を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method and an inspection device for inspecting quickly a defect such as a cavity, a flaw and a stain, even when a machining oil or a cleaning liquid is deposited on an inner face of an inspected cylindrical object such as an engine cylinder.例文帳に追加

エンジンシリンダなどの被検査円筒物体の内面に加工油や洗浄液が付着していたりしても、高速で、鋳巣、傷、汚れ等の欠陥を検査できるようにした欠陥検査装置及びその方法。 - 特許庁

To provide a detecting apparatus for the defect of a welded can shell, in which even the welded can shell is irradiated with light, in which the leakage of light from a welded part can be detected surely and quickly, and which is of a simple structure.例文帳に追加

溶接缶胴であっても該缶胴に光を照射して溶接部分からの光の漏れを確実に迅速に検出することができる構造簡単な溶接缶胴の不良検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide a sealing method combining stable paint film performance and applying workability free from discoloration of a paint film and sticking of soil to the paint film of an automobile body and moreover causing no defect in the paint film even if left for a long time after applied.例文帳に追加

車体の塗膜変色や塗膜への汚れ付着がなく、さらに塗布後長時間放置しても塗膜欠陥を発生しない安定した塗膜性能と塗布作業性を兼備したシーリング方法を提供する。 - 特許庁

To obtain an apparatus and a method, for the inspection of a pattern, in which even abnormality of size can be recognized, irrespective of the problem of the number of measuring elements and in which the defect of a graphic to be inspected can be detected with high accuracy.例文帳に追加

計測子の数の問題と無関係に，かつ，寸法の異常についても認識でき，高精度に被検図形の欠陥を検出できるパターン検査装置およびパターン検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a general searching method for automatically searching for a defective point in a short time as a defect-searching method for locating a defective point of a mounting substrate where an IC and electronic components are mounted.例文帳に追加

ＩＣ及び電子部品が実装された実装基板の不良箇所を特定する不良探索方法において、自動的且つ短時間に不良探索を行う汎用的な探索手法及び探索装置を提供する。 - 特許庁