「Function Test」に関連した英語例文の一覧と使い方(15ページ目) - Weblio英語例文検索

A compressed-data generation means 20 has a function which compresses a test pattern to be given to this LSI tester 100 and which generates compresses data 30.例文帳に追加

ＬＳＩテスタに与えるテストパターンの圧縮データを生成する圧縮データ生成手段と、前記圧縮データに基づきＬＳＩのテストを行うＬＳＩテスタとを含むＬＳＩテストシステムである。 - 特許庁

To shorten a data write-in time at a test time by giving a function writing the data read out from a specified bank in another bank in a synchronous type DRAM(dynamic random access memory) having multi-bank constitution.例文帳に追加

マルチバンク構成を有する同期型ＤＲＡＭにおいて、特定のバンクから読み出したデータを他のバンクに書き込みを行う機能を持たせ、試験に際してデータ書き込み時間を短縮する。 - 特許庁

A test computer 51 determines a set value of write current as a function of temperature for every head element section 12 from relation with write current and error rate.例文帳に追加

本発明の一実施形態において、テスト・コンピュータ５１は、ライト電流とエラー・レートとの関係から、ヘッド素子部１２ごとに温度の関数としてのライト電流の設定値を決定する。 - 特許庁

To enable confirming easily a normal/defective condition of cut off of a fuse for replacing a defective memory cell by a redundant memory cell when a function test of each pellet on a semiconductor wafer is performed.例文帳に追加

不良のメモリセルを冗長メモリセルに置換するためのヒューズの切断の良否を、半導体ウェハ上の各ペレットについて機能テストを実施する際に容易に確認できるようにする。 - 特許庁

To provide an IC tester predicting beforehand a hardware function necessary during execution of a test program, and switching one by one its current-sending state or its small power-consumption state.例文帳に追加

テストプログラム実行中に必要なハードウェア機能を事前に予知してその通電状態または低消費電力状態を逐一切り替えることを可能とするＩＣテスタを実現する。 - 特許庁

To provide a function verification technique that is more effective in dispensing with test patterns and capable of more effectively reducing the time and cost required to verify functions regarding the design data of a semiconductor device.例文帳に追加

よりテストパターンの省略効果が高く、半導体装置の設計データに対する機能検証にかかる時間及びコストをより効果的に削減できる機能検証技術を提供する。 - 特許庁

The ground leakage detection device 40 checks a ground-leakage detection function according to a test signal TZCT from a control device 70 prior to the output of the commercial AC voltage Vac.例文帳に追加

また、漏電検出装置４０は、商用交流電圧Ｖａｃの出力前に制御装置７０からのテスト信号ＴＺＣＴに応じて漏電検出機能のチェックを行なう。 - 特許庁

To provide a device to easily test a function for communicating with an RFID tag even when data stored in the RFID tag on a component to be attached to the device are varied according to the model of the device.例文帳に追加

装置に装着される部品のＲＦＩＤタグが持つデータが装置の機種ごとに異なる場合でも、装置がＲＦＩＤタグと通信する機能の検査を容易にする。 - 特許庁

To provide an electric connecting member allowing stable electric connection and inspection without damaging leads, and minimizing release of heat at a high-temperature function test.例文帳に追加

安定した電気接続が可能で、リードを傷つけずに検査が可能であり、かつ高温ファンクションテスト時の熱の逃げを最小限にすることができる電気接続部材を提供する。 - 特許庁

According to the constitution, even if the function turned ON by the respective switches 6-9 is changed, an executor of the action test can perform input operation to the switches in the lighting order of the switches 6-9.例文帳に追加

この構成により、各スイッチ６〜９によってＯＮされる機能が変更しても、動作試験の実施者は、スイッチ６〜９の点灯順にスイッチへの入力操作を行うことができる。 - 特許庁

To provide a subscriber circuit capable of identifying a protector with a separation function (disconnected state) or a modular jack with a capacitor or the like connected to a subscriber line and to provide a test method.例文帳に追加

加入者線に接続された切分け機能付保安器（切離し状態）と電話機または容量付モジュラジャックなどの識別が可能な加入者回路と試験方法を提供。 - 特許庁

A counter section 14 counts a period required for executing the pipeline process in the pattern generating section 11 after the automatic program function of a memory under test 20 starts a write operation.例文帳に追加

カウンタ部１４は、被試験メモリ２０の自動プログラム機能による書き込み動作が開始されてからパターン発生部１１でパイプライン処理に要する時間分だけ時間を計時する。 - 特許庁

To provide a high-efficiency and high quality power receiving/ distributing equipment testing apparatus for a network, which enables checking for a function test of three principle elements in a power receiving/distributing equipment for the network system as a whole.例文帳に追加

ネットワーク受配電設備における三原則要素の機能試験をシステム全体で確認できる、高効率かつ高品質のネットワーク受配電設備試験装置の提供。 - 特許庁

Since the server 201 has a search function, the diagnostic apparatuses 101A and 102B are able to easily obtain any information among the recorded test protocols.例文帳に追加

この際、サーバ２０１が検索機能を有することから、診断装置１０１Ａ，１０２Ｂ側は、登録された検査プロトコルの中から任意の情報を簡単に入手することが可能となる。 - 特許庁

The present invention provides the carrier capable of bringing the dies divided individually into precisely mechanical and electrical contact to execute the function test and the burn-in by an existing device.例文帳に追加

また、個々に分割されたダイを、既存の装置で機能試験およびバーンインを実施できるように、機械的および電気的に精密に接触できる担体を提供することである。 - 特許庁

In order to avoid it, this device comprises an operation margin test means capable of performing an inspection every port to specify the device having the possibility of causing a trouble, and a specifying function of failure site.例文帳に追加

これを回避すべく、不具合の生じる可能性のあるデバイスを特定するため、ポートごとに検査が可能な、動作マージンテスト手段と、障害部位の特定機能を具備する。 - 特許庁

To provide a fire alarm facility where a fire sensor with automatic test function can flexibly be arranged irrespective of the number of addresses in an R type system.例文帳に追加

Ｒ型システムにおいて、アドレス数に係わらず、自動試験機能付火災感知器を、柔軟に配置することができる火災報知設備を提供することを目的とするものである。 - 特許庁

A pattern generation part 5 generates information on the relation of input/output signals required for generating test data based on information on a function description stored in the component database 4.例文帳に追加

パターン生成部５はコンポーネントデータベース４に格納された機能記述に関する情報を元に、テストデータ生成に必要な入出力信号の関係等の情報を生成する。 - 特許庁

To provide an in-urine physical component classification device having high precision and accuracy, by having a function capable of focusing automatically on a physical component in test solution, especially in urine.例文帳に追加

被検液中、特に尿中の有形成分に焦点を自動に合わせる機能を有することにより、精密性、正確性の高い尿中有形成分分類装置を提供する。 - 特許庁

The control section with the function of electric inertia control and the drive motor are regarded as one set, and a plurality of their sets are disposed independently, thereby enabling brake test for high-speed vehicles to be carried out.例文帳に追加

この電気慣性制御機能を有する制御部と駆動モータとを１セットとし、これを複数組を独立して設けることにより高速車用のブレーキ試験を可能とした。 - 特許庁

The projector with the automatic focusing function is provided with an image projecting means 2 for projecting a test pattern on the screen and a focusing means 3 for imaging the projected image and performing the focusing based on the imaged image.例文帳に追加

スクリーンにテストパターンを投写する画像投写手段２と、投写された画像を撮像し、撮像した画像に基づいて合焦を行う合焦手段３とを備える。 - 特許庁

According to the schedule function, the inspection efficiency is improved and the inspection time can be reduced, by changing the order of the test items, in response to the use condition of the measurement unit.例文帳に追加

スケジュール機能により、測定ユニットの使用状況に応じて試験項目の順番の変更を行うことで、検査効率を向上させ、検査時間を削減することが可能となる。 - 特許庁

The correction part 54 forms, when the number of specific test man-hour is two or more, information showing a relation between independent variable and slave variable for a correction function.例文帳に追加

信頼度成長曲線補正部５４は、特定テスト工数の数が２個以上の場合、矯正関数についての独立変数と従属変数との関係を表す情報を作成する。 - 特許庁

To provide an electric connecting member capable of stable electric connection, carrying out checking without damaging leads, and minimizing release of heat at the time of high-temperature function test.例文帳に追加

安定した電気接続が可能で、リードを傷つけずに検査が可能であり、かつ高温ファンクションテスト時の熱の逃げを最小限にすることができる電気接続部材を提供する。 - 特許庁

The method and system further includes building a simulation model based on the extracted resources and executing the simulation model using only the extracted resources, exclusive of an entire design, to test a specific function or group of interrelated functions represented by the discrete test case or set of associated test cases for design verification, and correlating the simulation results with the test plan.例文帳に追加

この方法およびシステムはさらに、抽出されたリソースに基づいてシミュレーション・モデルを構築することと、設計全体ではなく、抽出されたリソースだけを用いてこのシミュレーション・モデルを実行し、それによって、離散的なテスト・ケースまたは１組の関連するテスト・ケースによって表される特定の機能または一群の相互に関係する機能をテストして設計を検証することと、このシミュレーション結果とテスト計画を相関させることとを含む。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device having a test function, capable of precisely evaluating the operation of each internal circuit, even if two or more internal circuits differed in function are mounted on a single chip, and the operating voltage varies with the internal circuits.例文帳に追加

１チップ上に機能の異なる複数の内部回路が搭載され、かつ、内部回路によって動作電圧が異なる場合においても、各内部回路の動作を正確に評価することが可能なテスト機能を有する半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

The interface circuits 2a-2d are provided, corresponding to each of a plurality of function blocks 1a-1d, and a test pattern for measuring a power supply current can be set in all the function blocks 1a-1d from an LSI tester through a single input/output terminal.例文帳に追加

複数の機能ブロック１ａ〜１ｄのそれぞれに対応してインターフェース回路２ａ〜２ｄを設け、ＬＳＩテスタから１つの入出力端子を介して全ての機能ブロック１ａ〜１ｄに電源電流を測定するためのテストパターンを設定できるようにした。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a three-dimensional device, by which a desired three-dimensional figure can be formed in a thick film resist with high accuracy by deriving a transfer function of an exposure system by use of a test reticle and designing a mask pattern using the transfer function as a feedback.例文帳に追加

テストレチクルを用いて露光システムの伝達関数を導出し、この伝達関数をマスクパターンの設計にフィードバックさせて、厚膜レジストに所望する三次元形状を精度よく形成することが可能な三次元デバイスの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a subscriber circuit testing device, subscriber circuit testing system, subscriber circuit testing method and subscriber circuit testing program which enable a test of an off-hook detection function and a test for the normality of a voice path to be applied to a subscriber circuit as a series of processing.例文帳に追加

加入者回路に対して、オフフック検出機能の試験と音声パスの正常性の試験を一連の処理として行うことのできる加入者回路試験装置、加入者回路試験システム、加入者回路試験方法および加入者回路試験プログラムを提供する。 - 特許庁

The predetermined control response is used for confirming an allowable function for the analytical test piece and/or for imparting a fixed calibration factor corresponding to the analytical test piece, alone therewith or in combination with the sample response.例文帳に追加

さらに、この所定の対照の応答は、単独または上記サンプルの応答との組み合わせにおいて、上記分析用試験片の許容可能な機能を確認することおよび／またはその分析用試験片に対応する一定の較正係数を与えることのために使用できる。 - 特許庁

To provide an MR element test apparatus having a self failure diagnosis function for an electromagnet unit for applying a magnetic field to a test object, and causing a magnetic pole plane of the electromagnet unit to have a uniform magnetic field distribution in a wide area.例文帳に追加

本発明はＭＲ素子試験装置に関し、より詳細には被試験体に磁界印可を行う電磁石ユニットに対する自己故障診断機能を備えると共に、電磁石ユニットの磁極面が広い領域で均一な磁界分布を有するＭＲ素子試験装置に関するものである。 - 特許庁

As a second means, a method for identifying a candidate substance for the axon-regeneration promoter comprises bringing a test substance into contact with the Wnt or the Ryk and judging whether or not the test substance inhibits the function of the Wnt or the Ryk or binding to the Wnt or the Ryk is provided.例文帳に追加

また、第二の手段として、試験物質をＷｎｔ又はＲｙｋと接触させ、前記試験物質がＷｎｔ若しくはＲｙｋの機能又はＷｎｔとＲｙｋとの結合を阻害するか否かを判定する軸索再生促進剤の候補物質を同定する方法とする。 - 特許庁

By providing a register 104 for test inserted with a delay control circuit, with which the delay of a path for input/output can become greater than the delay of a path for input/output of the other register, the register 104 for test becomes a representative register, in the case of examining the register access between function blocks 101.例文帳に追加

入出力のパスの遅延が他のレジスタの入出力のパスの遅延より大きくなるような遅延調整回路を挿入したテスト用レジスタ１０４を設けることで、テスト用レジスタ１０４は機能ブロック１０１間のレジスタアクセスを検査する際の代表レジスタとなる。 - 特許庁

In the software development supporting device provided with a function for evaluating the quality/reliability of software in a development test on the basis of plural mathematical models, a CPU 11 generates an estimation curve from measured data obtained in a software development test in accordance with the sorts of mathematical models.例文帳に追加

開発テスト中にあるソフトウェアの品質・信頼性を、複数の数理モデルに基づいて評価する機能を備えたソフトウェア開発支援装置であって、ＣＰＵ１１は、数理モデルの種類に応じてソフトウェアの開発テスト中に得られる観測データから推定曲線を生成する。 - 特許庁

The determination processing function stores a received input value whenever receiving a set of an input value and an output value from a test program and executes determination processing on the condition that the number of times for receiving the set of an input value and an output value from the test program exceeds the number of pipeline stages.例文帳に追加

この判定処理関数は、テストプログラムから入力値と出力値との組を受け取る度に受け取った入力値をバッファに保存し、テストプログラムから入力値と出力値との組を受け取った回数がパイプライン・ステージ数を越えたことを条件に、判定処理を実行する。 - 特許庁

The correction part 54 controls the display part 57 so as to output, when the number of specific test man-hour is less than 2, a graph showing a reliability development curve, and output, when the number of specific test man-hour is two or more, a graph for the correction function.例文帳に追加

信頼度成長曲線補正部５４は、特定テスト工数の数が２個未満の場合、信頼度成長曲線を表すグラフを出力し、特定テスト工数の数が２個以上の場合、矯正関数についてのグラフを出力するように、信頼度成長曲線表示部５８を制御する。 - 特許庁

The test executing operation function acquires a component (symbol) by using an identifier of a monitoring data to be selected by an interface 5 and a key 6, and updates the display data of the component (symbol) 4 for the monitoring screen for operation confirmation (changes display according to a test executing operation).例文帳に追加

試験実施操作機能は、動作確認用監視画面について、インタフェース５とキー６によって選択する試験対象の監視データの識別子を利用して部品（シンボル）を取得し、部品（シンボル）４の表示データを更新する（試験実施操作に応じて表示変化を行わせる）。 - 特許庁

To provide a component test apparatus and a component transport method for flexibly arranging electronic components even for a function station in which the configuration of arrangement or the like is changed according to a test content or the like by increasing flexibility of the transport and the arrangement of the electronic components with use of transport hands.例文帳に追加

搬送ハンドによる電子部品の搬送、配置にかかる自由度を高めることにより、試験内容等に応じて配列等の形態が変更される機能ステーションに対しても電子部品を柔軟に配置させることのできる部品試験装置及び部品搬送方法を提供する。 - 特許庁

In the method for forming a dynamic test pattern, a matter wherein a set to be tested is chosen automatically as probability of fault having capabilities and as function of machine performance data in order to maximize optimization criteria, and a matter wherein the set to be tested is mounted on a digital test pattern are contained.例文帳に追加

可能性のある不具合の確率及び機械性能データの関数として、及び最適化基準を最大化するために、試験対象のセットを自動的に選択することと、試験対象のセットをデジタル・テストパターンの上に置くことと、を含む、動的テストパターン生成のための方法。 - 特許庁

A server 100 has a source code file 2, a code clone output file 3, a test result file 4 and a code clone merging file 7, and includes a data setting part 8, a code clone detection/merge processing part 9 and a test result setting part 10 as function blocks implemented by hardware resources in the server 100.例文帳に追加

サーバ100内に、ソースコードファイル２、コードクローン出力ファイル３、テスト結果ファイル４、コードクローンマージファイル７を備え、またサーバ100内のハードウェア資源により実現される、機能ブロックとしての、データ設定処理部８、コードクローン検出・マージ処理部９、テスト結果設定処理部10を備える。 - 特許庁

The tool 3 has a function to obtain characteristic information (a velocity and an attenuation degree, etc., of ultrasonic wave) of a part to be measured for a test (a test piece) 12 and also is provided with a block body 11 constituted of the part to be measured 12 and of a vibrator 20 and with a controller 14 having a display part 16.例文帳に追加

校正用器具３は、テスト用の被測定部（テストピース）１２の特性情報（超音波の音速、減衰度合い等）を取得する機能を持つものであり、その被測定部１２および振動子２０で構成されたブロック体１１と、表示部１６を備えたコントローラ１４とを有している。 - 特許庁

If the IP macro 12 and the client designed circuit 14 pass the output delay test and the input delay test, respectively, it is determined that the delay between the scan flip-flop 21, 24 is within one cycle by a function clock F_CLK and the delay between the scan flip-flop 21, 24 is not a problem.例文帳に追加

ＩＰマクロ１２の出力遅延試験及び顧客側設計回路１４の入力遅延試験が合格であれば、スキャンフリップフロップ２１、２４間の遅延はファンクションクロックＦ＿ＣＬＫで１サイクル内に収まり、スキャンフリップフロップ２１、２４間の遅延に問題はないと判定する。 - 特許庁

A text storage section 31 stores station data generated by a network manager from an application system 11 via a transmitter-receiver 37, a difference extract function section 27 compares the data with in-operation station data stored in a text storage section 34 to extract difference data, and a test item extract function section 28 generates a test scenario on the basis of the difference data.例文帳に追加

ネットワーク管理者によって作成された局データは投入システム１１から送受信機３７を介してテキスト格納部３１に格納され、差分抽出機能部２７によりテキスト格納部３４に格納されている稼働中局データと比較され、差分データが抽出され、試験項目抽出機能部２８において差分データに基づき試験シナリオを作成する。 - 特許庁

A digital virtual test system including a semiconductor simulation model and an LSI tester simulation model includes a determination means for comparing and determining whether an address signal for accessing a memory function model in the semiconductor simulation model accesses a predetermined address in an address range of the memory function model or not to detect a defect of a test pattern using the LSI tester or the LSI tester simulation model.例文帳に追加

半導体シミュレーションモデルとＬＳＩテスタシミュレーションモデルを含むデジタルヴァーチャルテストシステムにおいて、半導体シミュレーションモデルのメモリ機能モデルをアクセスするアドレス信号が、メモリ機能モデルのアドレス範囲のうち所定のアドレスをアクセスしたかどうかを比較判定する判定手段を設けてＬＳＩテスタまたはＬＳＩテスタシミュレーションモデルを使用したテストパターンの不備を検出する。 - 特許庁

The evaluation device for a peripheral device of a personal computer with a universal serial bus temporarily stores a test pattern sent to the USB function and retransmits the token or discard it in response to the reply data from the USB function so as to attain programming without notifying a time until preparation of return of the DATA packet is finished and the design efficiency of the test pattern can be enhanced.例文帳に追加

ユニバーサルシリアルバスを持つパソコンの周辺機器の評価装置は、ＵＳＢファンクションに対し送出したテストパタンを一時的に保持して、ＵＳＢファンクションからの返信データに応じて再送、又は、破棄することにより、ＤＡＴＡパケットの返信の用意が完了するまでの時間を意識せずにプログラミングを行うことができ、テストパタンの設計効率を向上することができる。 - 特許庁