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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > Function Testの意味・解説 > Function Testに関連した英語例文

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Function Testの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 986



例文

A function for guiding urine of the specimen to a face side bonded with the test pieces 24 to turn it in therearound is allowed to be provided in the opening part 30 and the bent part 32.例文帳に追加

開口部30と切り曲げ部32には、検体である尿を試験片24が貼付された面側に案内し、回り込ませる機能を持たせることができる。 - 特許庁

To prevent malfunction of a circuit caused by influence of clock skew, in a scanning test circuit wherein a scan path is constituted by connecting in series flip-flop circuits with scanning function.例文帳に追加

スキャン機能付フリップフロップ回路を直列接続してスキャンパスを構成したスキャンテスト回路において、クロックスキューの影響による回路の誤動作を防止する。 - 特許庁

To test the margin about a function for data transfer processing by readily creating a state for transferring data amount of performance limitation for a network repeater.例文帳に追加

ネットワーク中継装置において容易に性能限界のデータ量を転送する状態を作り出すことにより、データ転送処理の機能についてのマージンを試験する。 - 特許庁

LBF-x (x=a-c) fields whose number is equal to the number of the function blocks 10a-10c in the ATM transmitter 1 are provided in a payload of this test cell.例文帳に追加

この試験セルのペイロード部には、ATM伝送装置1内の各機能ブロック10a〜10cの数と同数のLBF_x(x=a〜c)フィールドが設けられている。 - 特許庁

例文

A memory test system is disclosed in which easy function tests are carried out once or twice first to obtain fail bit data, and an OR calculation result of the obtained fail bit data is stored in a buffer memory B108.例文帳に追加

メモリテストシステムは、最初に1〜2回のイージーファンクションテストを行って、得られたフェイルビットデータのOR演算結果をバッファメモリB108に記憶しておく。 - 特許庁


例文

In what is called an R-type fire alarm facility, the fire sensor with automatic test function is additionally connected to a branch line apart from the trunk of the R-type system.例文帳に追加

いわゆるR型の火災報知設備において、いわゆる自動試験機能付火災感知器を、R型システムの幹線とは別の支線に付加的に接続するものである。 - 特許庁

To provide a system and a method for specifying the fault location of a semiconductor device which can specify a fault in function during scanning test of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置のスキャンテストのファンクション不良を特定する半導体装置の故障箇所判定システム及び半導体装置の故障箇所特定方法を提供する。 - 特許庁

The function of the universal joint 6 becomes unavailable by pressing by the load detector 5, and a test piece gripping device 7 suspended from a suspension shaft as shown in Fig.4 is prevented from moving freely.例文帳に追加

荷重検出器5の押圧によって、自在継手6の機能は不能となり、吊軸16に吊設された図4に示す試験片把持装置7は自由が阻止される。 - 特許庁

To provide a shear soil tank having a test function dealing with the fluid deformation of an inclined ground or a liquefied ground and associated behaviors of a foundation or a construction with the deformation.例文帳に追加

傾斜地盤や液状化による地盤の流動変形とそれに伴う基礎や構造物の挙動に対処した試験機能を有するせん断土槽を提供する。 - 特許庁

例文

An information processing device 100 sequentially inputs same test online telegraphic messages to each of online systems 200 and 300 that have a same function and different processing systems.例文帳に追加

情報処理装置100が、同機能で処理系が異なるオンラインシステム200、300それぞれに対し、テスト用で同一のオンライン電文を順次投入する。 - 特許庁

例文

To provide a system LSI having the function capable of rightly reading data of an external device when performing a high-speed test with a clock signal higher in speed than in general operation.例文帳に追加

通常動作時よりも高速なクロック信号で高速試験を行う時に、外部装置のデータを正しく読み込むことができる機能を備えたシステムLSIを提供する。 - 特許庁

To provide a method of integrating, into a process control program or a safety control program using a field device, online test function of its field device.例文帳に追加

フィールドデバイスを用いるプロセス制御プログラムまたは安全制御プログラムに対して、それらのフィールドデバイスのオンライン試験機能を統合するような方法を提供する。 - 特許庁

A program generating function 14 starts a corresponding active template 12 from a model library database 13 based on a template name described in a test spec 2.例文帳に追加

プログラム生成機能14は、テストスペック2に記述されているテンプレート名に基づいて、対応する能動的テンプレート12を雛形ライブラリデータベース13から起動する。 - 特許庁

A function test circuit 21 in the burn-in device 200 is mounted on a burn-in board 30, and specifies a plurality of devices to be inspected DUT operated normally.例文帳に追加

バーンイン装置200内のファンクションテスト回路21はバーンインボード30上に実装され、かつ正常に動作する複数の被検査デバイスDUTを特定する。 - 特許庁

A host PC 8 connected to the signal wire changeover connector 2 has a function for setting connection between the test point 4 and the probe point 2b and informing the signal wire changeover connector 2 of the result.例文帳に追加

信号線切換コネクタ2と接続されるホストPC8は、どのテストポイント4とプローブポイント2bを接続するか設定し、信号線切換コネクタ2に通知する機能を備える。 - 特許庁

To provide a means of inspecting function of logic circuit with a high detection capability at low cost by reducing the necessary amount of a pattern memory without reducing the number of step of a test pattern.例文帳に追加

テストパターンのステップ数を減少させずにパターンメモリの必要量を減らし、低コストで検出力の高い論理回路の機能検査手段を提供すること。 - 特許庁

The learning device 1 learning the prediction model for predicting an output of test databased on an importance level that is a ratio of a generation probability between training data that are input data of training sample data and the test data includes a learning part 12 learning the prediction model by the use of an importance level weighted loss function that is a loss function wherein the importance level is considered.例文帳に追加

訓練サンプルデータの入力データである訓練データと、テストデータとの生成確率の比である重要度に基づき、テストデータの出力を予測するための予測モデルを学習する学習装置1であって、重要度を考慮した損失関数である重要度重み付き損失関数を用いて予測モデルの学習を行う学習部12を有する。 - 特許庁

A coverage devaluation system 10 is composed roughly of an input means for inputting a register transfer level(RTL) description 3, a means for inputting a verification suite 4, a function test coverage measuring instrument 1 which measures the function test coverage, an RTL simplifying device 2 which simplifies RTL, and an output means which outputs a converted verification suite 5.例文帳に追加

カバレッジ評価システム10は、レジスタ転送レベル(RTL)記述3を取り込む入力手段と、検証スイート4を入力する手段と、機能テストカバレッジを計測する機能テストカバレッジ計測装置1と、RTLを簡単化するRTL簡単化装置2と、変換された検証スイート5を出力する出力手段とから概略構成される。 - 特許庁

Log data obtained from the target apparatus M are compared with data obtained by operating the test circuit K according to the log data, thereby if either of function blocks F (F1 and F2) configuring the existing circuit part 11 is determined to be faulty, the faulty function block F is substituted with the alternative circuit D with a part of the test circuit K as the alternative circuit D.例文帳に追加

対象装置Mから取得したログデータと、そのログデータに従って検査回路Kを動作させることで得られたデータとを比較することで、既存回路部11を構成する機能ブロックF(F1,F2,…)のいずれかが故障であると判定されると、検査回路Kの一部を代替回路Dとして、故障した機能ブロックFを代替回路Dで置換する。 - 特許庁

To provide an Ethernet (R) transmission apparatus which can accurately decide the normality of a line quality monitoring function so that the number of pseudo line error codes inserted for a test coincides with an error count value during error count period of the function, and also to provide a method for testing the function of the apparatus.例文帳に追加

イーサネット(登録商標)伝送装置及びその回線品質監視機能の試験方法に関し、試験用に挿入した擬似回線エラーコードの個数と、回線品質監視機能におけるエラーカウント期間のエラーカウント値とが一致するようにし、回線品質監視機能の正常性の正確な判定を可能にする。 - 特許庁

The PDS control section comprising a subscriber multiplex/ demultiplex part 21, a service multiplex/demultiplex part 22 and a test mode circuit part 23, and an Ethernet interface section comprising an Ethernet (trademark) signal terminating function part 25, a filtering function part 26, an Ethernet packet processing function part 27 and a common control part 28 are made into one chip LSI.例文帳に追加

加入者多重分離機能部21とサービス多重分離機能部22とテストモード回路部23とからなるPDS制御部、及び、イーサネット(登録商標)信号終端機能部25とフィルタリング機能部26とイーサネットパケット処理機能部27と共通制御部28とからなるイーサインタフェース部を1チップLSI化する。 - 特許庁

To provide a cap with a thread which has the snap-off and snap-on function while maintaining a thred-fixing function similar to that of a conventional cap with a thread, and is attachable/detachable in one operation to/from a male thread part of a container or the like materialized by a test tube body or the like.例文帳に追加

従来の螺子付きキャップと同様の螺子による固定機能を維持しつつ、更にスナップ/オフ及びスナップ・オン機能をも付与して、試験管本体等に具体化される容器等の雄螺子部分にワンタッチで脱着することができるようにする。 - 特許庁

An AAL1-SAR function block 12 divides data of a digital multiplex channel to generate an ATM cell and the ATM cell is reassembled into data of the digital multiplex line to conduct a wrap test of the AAL1-SAR function.例文帳に追加

AAL1−SAR機能ブロック(12)によってデジタル多重回線のデータを分割してATMセルを生成し、そのATMセルをデジタル多重回線のデータに再び組み立てることでAAL1−SAR機能の折り返し試験を行う。 - 特許庁

To provide an instant shutdown type circuit-breaker which shares many parts installed at a circuit-breaker main body of a standard product as much as possible and which has no overload/open-phase trip function while retaining a trip test function by changing only a small part of the parts.例文帳に追加

標準品のしゃ断器本体に装備した部品をできるだけ共用し、僅かな部品一部を取り替えるだけでトリップテスト機能を残したまま過負荷/欠相引外し機能が無い瞬時しゃ断方式の回路しゃ断器を提供する。 - 特許庁

To provide an economical infrared radiation simulation target capable of maintaining an infrared radiation function even when it is hit to some extent from a machine gun or the like, and useful in a firing test or shooting practice of a machine gun or the like having an infrared targeting function.例文帳に追加

機関砲等からある程度被弾したとしても赤外線放射機能を維持でき、赤外線照準機能を有する機関砲等の発射試験、射撃訓練に有用で、かつ経済的な赤外線放射模擬標的を提供する。 - 特許庁

In the method for checking the post-processing device function, a printing job transmitted from a host computer by a user for function checking is stored in the printer control device as a print file, and printing the stored print file is executable with the test print menu.例文帳に追加

前記後処理装置の機能確認方法として、ユーザが機能確認用にホストコンピュータから送信する印刷ジョブを、印刷ファイルとしてプリンタ制御装置内に格納し、格納した印刷ファイルをテスト印刷のメニューから印刷できるようにした。 - 特許庁

This new immunocyte control/differentiation factor gene search method utilizing the transduction of a gene into a Pax5-defected pro cell B is established to obtain a new cell T reconstruction test system, and the function of Rac1, ERK5 and the like are elucidated by the utilization of the test system.例文帳に追加

Pax5欠損プロB細胞への遺伝子導入を利用した新規免疫細胞制御・分化因子遺伝子探索法を確立し、新規T細胞再構築試験系を得ると共に、それを利用してRac1、ERK5等の機能解明を行なうことにより、課題を解決できた。 - 特許庁

The active template 12 and an intermediate parameter 10 are associated by a test spec editing function 7, and the started active template 12 generates a test program 5 by fetching the necessary intermediate parameter 10 in the intermediate parameter group.例文帳に追加

能動的テンプレート12と中間パラメータ10との関連付はテストスペック編集機能7によってなされており、起動された能動的テンプレート12は、中間パラメータ群の中から必要な中間パラメータ10を取り込むことによって、テストプログラム5を生成する。 - 特許庁

The information processor 100 has the function of performing the authentication test for transmitting data to the server (e.g., POP server or SMTP server) (e.g., for making a provider accept data), and performs this authentication test by one operation.例文帳に追加

本発明の情報処理装置100は、サーバ(例えばPOPサーバまたはSMTPサーバ)にデータを送信するための(例えば、プロバイダーにデータを受け付けてもらうための)認証テストを行なう機能をもち、この認証テストを1回の操作で行なうようになっている。 - 特許庁

A scan chain circuit 1 temporarily holds data output and input to a combination logic circuit 2 during normal operation, and serially transfers a test pattern signal SCANIn by making a plurality of flip-flops F/F function as a shift register during execution of the scan test.例文帳に追加

スキャンチェーン回路1は、通常動作時には、組み合わせ論理回路2に入出力されるデータを一時保持する一方、スキャンテスト実行時には、複数個のフリップフロップF/Fをシフトレジスタとして機能させテストパターン信号SCANInをシリアル転送する。 - 特許庁

This method is inputted with the time for carrying out a tests, the time for final learning, test ranges and acceptance conditions as initial information and provides the learners with the necessary number of learning times for the test ranges by using such initial information and the oblivion function held therein.例文帳に追加

本発明は、テストの実施時期、最終学習時期、テスト範囲、及び合格条件を初期情報として入力し、これらの初期情報と内部に保持する忘却関数を用いて当該テスト範囲に対する必要学習回数を学習者に提示する。 - 特許庁

The peripheral equipment 1 is provided with a switch 15 for selectively setting either the device driver for the general operation or the device driver for the test and a function for writing the attribute information data of either the device driver for the general operation or the device driver for the test in the attribute memory 13a according to the switch setting.例文帳に追加

周辺機器1は、一般運用又はテスト用のいずれか一方を選択設定するスイッチ15と、スイッチ設定に応じて一般運用又はテスト用のいずれか一方の属性情報データをアトリビュートメモリ13aに書き込む機能を有している。 - 特許庁

An external memory BIST 21, which tests a nonvolatile semiconductor memory which is an external memory, is provided with a bad block address management table having a function which monitors block addresses, stores bad block addresses and perform test control in a test of nonvolatile semiconductor memory 4.例文帳に追加

外部メモリである不揮発性半導体メモリをテストする外部メモリBIST21には、不揮発性半導体メモリ4のテストにおいて、ブロックアドレスの監視、バッドブロックアドレスの格納、ならびにテスト制御などの機能を有するバッドブロックアドレス管理テーブルが設けられている。 - 特許庁

A test pattern data is input into a data input of the IP core 12, an output data output from a data output of the IP core 12 is compared with an expected value for the test pattern data, and the power source noise resistance is inspected when testing a function of the IP core 12.例文帳に追加

IPコア12のデータ入力にはテストパターンデータが印加され、IPコア12のデータ出力から出力される出力データとテストパターンデータに対する期待値と比較してIPコア12のファンクションテスト時に電源ノイズ耐性の検査を行う。 - 特許庁

Among transistors 1-4 and 5-8 for establishing a function of a decoder 21 as an ordinary decoder, a test transistor 22 is inserted into the side of the transistors 5-8 connected in series, and a test transistor 11 is connected in parallel to the transistor group including the transistors 22.例文帳に追加

デコーダ21を、通常のデコーダとしての機能をなすためのトランジスタ1〜4,5〜8の内、直列に接続されるトランジスタ5〜8側にテスト用トランジスタ22を挿入し、このトランジスタ22を含むトランジスタ群に対してテスト用トランジスタ11を並列に接続する。 - 特許庁

A program test device 20a tests the content of the program provided to a mobil phone 50 via the network in advance and generates test result data 202 which records information indicating a function included in the program and resources to be accessed when the program is executed.例文帳に追加

プログラム検査装置20aは、ネットワークを介して携帯電話機50に提供されるプログラムの内容を事前に検査し、プログラムに含まれている関数や、プログラムを実行した場合にアクセスされるリソースを示す情報を記録した検査結果データ202を生成する。 - 特許庁

To provide an on-chip test interface being integrated and always enabled which is used for verifying a function of high speed incorporated memory such as a synchronous dynamic random access memory(SDRAM) enabling performing a test with an existing tester having comparatively low operation speed (therefore, low cost), or the like.例文帳に追加

既存の比較的低速度の、(よって低コストの)テスタでテストを行なうことを可能にする、シンクロナスダイナミックランダムアクセスメモリ(「SDRAM」)などの高速組込みメモリの機能を検証するために用いる、統合され常に可能化されたオンチップテストインターフェイスを提供する。 - 特許庁

This in-urine physical component classification device is characterized by having a means for image picking up the test solution on a translucent plate or in a flow cell and by equipping the means with an auto-focusing function for focusing automatically on the physical component in the test solution.例文帳に追加

透光板上もしくはフローセル中の被検液を撮像する手段を有し、かつ前記手段において被検液中の有形成分に焦点を自動に合わせる自動合焦機能が装備されることを特徴とする尿中有形成分分類装置。 - 特許庁

The method and apparatus are for testing wirings in a circuit base mounted with an integrated circuit, and has a circuit having the function of executing embedded-type time domain reflectivity test is incorporated therein, by sending out a test transition signal generated by the integrated circuit (IC) mounted thereon to the wiring 102 and capturing the reflection 502 of the test transition signal.例文帳に追加

集積回路を搭載した回路基盤の配線を試験する方法及び装置であって、搭載された集積回路より発生される試験遷移信号を配線102に送出し、その試験遷移信号の反射502をキャプチャすることにより、時間領域反射率試験を実施する機能を有する回路が組み込まれたICを含む方法及び装置。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device for driving a magnetic recording and reproducing device and a magnetic recording and reproducing device, where the circuit device can be put into a test mode by inputting a test signal for putting each function of the semiconductor integrated circuit device into the test mode to a terminal to be used at ordinary operation.例文帳に追加

半導体集積回路装置の各機能のテストモードにするためのテスト信号を通常動作時に使用される端子に入力することによって、半導体集積回路装置をテストモードにすることのできる磁気記録再生装置ドライブ用半導体集積回路装置及び磁気記録再生装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

An information processor includes: generation means for transmitting data to a verification target from a description within a test bench program including a function of the verification target and for generating a data transmitting and receiving function to receive the data from the verification target; and implementation means for implementing the data transmitting and receiving function generated by the generation means and the function of the verification target in an emulator.例文帳に追加

検証対象の関数を含むテストベンチ・プログラム内の記述から検証対象へデータを送信すると共に、検証対象からデータを受信するデータ送受信関数を生成する生成手段と、生成手段で生成されたデータ送受信関数及び検証対象の関数をエミュレータに実装する実装手段と、を有することによって課題を解決する。 - 特許庁

In the method, a function-described specification of a semiconductor integrated circuit is logically composed, and a GCB which requires the propagation of a clock in a memory test is then extracted from a net list 1 (S1-1).例文帳に追加

機能記述された半導体集積回路の仕様を論理合成した後、ネットリスト1から、メモリ試験時にクロックを伝播させる必要のあるGCBを抽出する(S1−1)。 - 特許庁

To provide a device with an overvoltage protection function and a test method of a high voltage system to which a surge arrester is connected capable of preventing damage of the surge arrester when testing the high voltage system.例文帳に追加

サージ・アレスタが接続された高電圧システムの試験時に、サージ・アレスタの損傷を防止できる課電圧保護機能を備えたデバイス及び高電圧システムの試験方法を提供する。 - 特許庁

This method contains the estimation of a load test voltage of a battery as a function of a dynamic parameter of the measured battery, open circuit voltage, a load resistance value of a load tester, and the temperature of the battery.例文帳に追加

この方法は、測定したバッテリの動的パラメータ、開放電圧、負荷テスタの負荷抵抗値、およびバッテリの温度の関数として、バッテリの負荷テスト電圧を推定することを含む。 - 特許庁

To provide a testing method for an information processor which efficiently test a function by instruction code constitution and operand dependency relation between instructions and a storage medium stored with its program.例文帳に追加

命令コード構成および命令間のオペランド依存関係による機能の試験を効率良く行う情報処理装置の試験方法およびそのプログラムを記憶した記憶媒体を提供する。 - 特許庁

To provide a two-dimensional test pattern suitable for a color confocal microscope system furnished with a function which automatically corrects the deviation of a confocal image and a color image and for the automatic adjustment of the system.例文帳に追加

共焦点画像とカラー画像とのずれを自動的に修正する機能を備えたカラー共焦点顕微鏡システムとその自動調整に適した二次元テストパターンを提供する。 - 特許庁

To provide a casing adaptable for a device for sampling underground water or a hydraulic test of a stratum, having an expansive and contractive function and capable of transmitting a turning force or a compressive force.例文帳に追加

地下水を採水あるいは地層の水理試験を行うための装置に適用されるケーシングで、拡張、及び収縮機能を有し回転力、及び押し付け力を伝達することができる。 - 特許庁

ANALYSIS RESULT DISPLAYING DATA GENERATOR, METHOD AND PROGRAM, PROGRAM GENERATOR WITH TEST FUNCTION, METHOD AND PROGRAM, CONTROL OPERATION DETERMINING APPARATUS, METHOD AND PROGRAM, AND CONTROL OPERATION DETERMINING SYSTEM例文帳に追加

分析結果表示用データ生成装置、方法及びプログラム、テスト機能付きプログラム生成装置、方法及びプログラム、制御動作判定装置、方法及びプログラム、並びに、制御動作判定システム - 特許庁

To prevent a device under test(DUT) from receiving stress due to the impression of unexpected voltage when the DUT is connected in a current force voltage measure function (IFVM) mode of a programmable power supply device.例文帳に追加

プログラマブル電源装置の電流印加電圧測定機能(IFVM)モードで、接続の際に予想外の電圧が印加されて被測定デバイス(DUT)にストレスがかかるのを防止する。 - 特許庁

例文

To provide a flooring made of a fiber which is capable of preventing static electricity by simply placing it on a floor, and a test method for measuring its static electricity preventive function without causing differences among people involved in testing.例文帳に追加

単に床に置くだけで静電気を除電することができる繊維製床敷物の提供、並びに個人差を生ずることなく除電性能を測定する試験方法を提供する。 - 特許庁




  
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