「Line defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

The detection device moves between candidates in each classification, a point-defect candidate smaller than a prescribed threshold or a line-defect candidate smaller than a prescribed threshold between the defect pixel candidates detected in each classification.例文帳に追加

そして、検出装置は、種別ごとに検出された欠陥画素候補間で、所定の閾値よりも小さい点欠陥候補や所定の閾値よりも小さい線欠陥候補を、前記種別ごとの候補間で移動する。 - 特許庁

The optical control element has the photonic crystal 30 having the line defect waveguide 40 and a light emitting element 10, and the line defect waveguide 40 resonates the wavelength of the light emitted by the light emitting element 10.例文帳に追加

光制御素子は、線欠陥導波路４０を有するフォトニック結晶３０及び発光素子１０を備え、線欠陥導波路４０は、発光素子１０から発せられた光の波長を共振させる。 - 特許庁

To provide an optical control element in which the wavelength of light propagated in a line defect waveguide of photonic crystal is stabilized and transmissivity to the light propagated in the line defect waveguide of photonic crystal is improved.例文帳に追加

フォトニック結晶の線欠陥導波路を伝播する光の波長を安定化させると共にフォトニック結晶の線欠陥導波路を伝播する光の透過率を向上させる光制御素子を提供する。 - 特許庁

To detect a defect by discriminating efficiently whether a defect exists on a plate-like body or not, in a manufacture line or the like of the plate-like body having transparency such as a glass plate.例文帳に追加

ガラス板等の透明性を有する板状体の製造ライン等において、板状体に存在する欠陥か、否かを効率よく判別して検出する。 - 特許庁

To provide a structure for repairing a line defect of an organic light emitting display, which easily repairs a short defect between wiring lines, and also to provide a method of repairing the structure.例文帳に追加

配線間のショート欠陥を容易に修理できるようにした有機電界発光表示装置の配線修理構造及びその修理方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an image defect correction apparatus which makes a white vertical line invisible that is generated by a point defect of a vertical CCD while suppressing the deterioration of substantial resolution.例文帳に追加

垂直ＣＣＤの点欠陥により発生する白縦線を、実質的な解像度の低下を抑えつつ目立たなくすることができる画像欠陥補正装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test method of semiconductor device which reflects possibility of having potential defect in test result of a bit line pair which can be a defect, and the semiconductor device.例文帳に追加

不良となり得るビット線対のテスト結果に、潜在的な不良を有する可能性を反映する半導体装置のテスト方法および半導体装置を提供する。 - 特許庁

To discriminate existence of a defect causing a pixel defect such as a bright point, a bright line or the like, relative to a driving substrate such as a TFT board or the like before integration into a liquid crystal panel.例文帳に追加

液晶パネルに組み立てる前の、ＴＦＴ基板等の駆動基板に対して、輝点、輝線等の画素欠陥の原因となる不良の有無を判別できるようにする。 - 特許庁

To prevent the reduction of manufacturing yield and reliability due to a fatal defect (line display defect) generated when a short circuit is generated between a gate and a drain (or source) of a transistor.例文帳に追加

トランジスタのゲートとドレイン（またはソース）間に短絡が生じた場合に致命欠陥（線表示欠陥）となることによる製造歩留および信頼性の低下を防止する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method discovering early a VA pattern formation defective substrate by detecting a partial VA deficiency of VA having a line width of 5-10 μm, and improving a line production efficiency, and also to provide a defect inspection device to which the defect inspection method is adapted.例文帳に追加

線幅５μｍ〜１０μｍのＶＡの、部分ＶＡ欠損を検出することで、ＶＡパターン形成不良基板を早期に発見し、ラインの生産効率を向上させることが可能な欠陥検査方法、および、この欠陥検査方法を適応した欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a line head which prevents deterioration of the printing quality even in the presence of a pixel defect in a light-emitting element and an image forming apparatus using the line head.例文帳に追加

発光素子に画素欠陥が存在する場合でも印字品質の劣化を防止したラインヘッドおよびそれを用いた画像形成装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a steel strip shape detector capable of detecting the defect in the shape of a steel strip at a low cost and capable of being installed not only on an established line but also on the existing line.例文帳に追加

鋼帯形状不良を安価に検出でき、新設ラインだけなく、既存ラインにも設置可能な鋼帯形状検出装置を提供する。 - 特許庁

Position information regarding a defect of a charge transfer line of an imaging sensor 16 that causes a V-line flaw in an image, is stored in a flaw information memory 54.例文帳に追加

画像におけるＶライン傷の発生原因となる撮像センサ１６の電荷転送ラインの欠陥の位置情報を傷情報メモリ５４に記憶しておく。 - 特許庁

To provide a method of inspecting an array substrate and an inspection device thereof, which allow a disconnection defect of a gate line to be detected even when potential is applied from both ends of the gate line.例文帳に追加

ゲート線の両端から電位を印加してもゲート線の断線不良を検知できるアレイ基板の検査方法及び検査装置を提供する。 - 特許庁

Since a plurality of insulating films are formed between the signal conductor and the scanning line, the defect due to a short circuit between the signal conductor and the scanning line can be prevented.例文帳に追加

信号線と走査線の間に複数の絶縁膜を形成しているので信号線と走査線の間の短絡による欠陥を防止出来る。 - 特許庁

To provide a pattern inspection apparatus and pattern inspection method for detecting with high sensitivity line width defect that generates error of line width in pattern transferred on a wafer.例文帳に追加

ウエハに転写されたパターンに線幅の誤差が発生する線幅欠陥を高感度に検出するパターン検査装置及びパターン検査方法を提供する。 - 特許庁

To detect a welding defect existing in a weld line generated at the time of producing a electro-resistance-welded tube with high precision.例文帳に追加

電縫管の造管時に発生した溶接線に存在する溶接欠陥を高精度で検出すること。 - 特許庁

To increase the defect relief efficiency of a DRAM, etc., which is equipped with redundant bit lines and adopts a hierarchical IO line system.例文帳に追加

冗長ビット線を備え、かつ階層化ＩＯ線方式をとるＤＲＡＭ等の欠陥救済効率を高める。 - 特許庁

Thereby, the alignment defect and the occurrence of the filling line unevenness are prevented and the display quality level is improved.例文帳に追加

これにより、配向不良を防止すると共に、注入スジむらの発生を防止し、表示品位を向上させる。 - 特許庁

Thereby, the data are corrected to a correct expected value within the defect of the cell data of 1 bit per 1 word line.例文帳に追加

これにより、通常１ワード線あたり１ビットの本セルデータの不良までなら、正しい期待値に訂正される。 - 特許庁

As this result, even if the V line defect exists in an image, the wrong control information can be prevented from being generated.例文帳に追加

その結果、Ｖライン傷が画像に存在する場合でも、誤った制御情報の生成を防止できる。 - 特許庁

To avoid defect of data transfer caused by discontinuity by eliminating a data line from a wire bundle cable in a non-magnification scanner.例文帳に追加

等倍型スキャナにおいて、束線ケーブルからデータラインを削除し、断線によるデータ転送不良を回避する。 - 特許庁

To provide a display device capable of easily discriminating the existence of a defect in a data line on a VI test stage.例文帳に追加

ＶＩテスト段階でデータ線の不良の有無を容易に判別することができる表示装置を提供する。 - 特許庁

In an optical bistable element, a line-defect waveguide is provided on a semiconductor two-dimensional photonic crystal thin plate.例文帳に追加

本発明の光双安定素子は、半導体２次元フォトニック結晶薄板上に線欠陥導波路を設ける。 - 特許庁

In two adjacent pixels 7A, 7B that are connected to a signal line 3 where a defect 50 has occurred across a defect portion, signal lines 3 and parallel lines 102 are short-circuited to configure a parallel circuit 80 parallel to the defect portion.例文帳に追加

欠陥５０が発生した信号配線３に当該欠陥箇所を挟んで接続された画素７Ａ、７Ｂで信号配線３と並列配線１０２を短絡させて欠陥箇所に並列な並列回路８０を構成する。 - 特許庁

To provide a defect marking and defect removing method for a steel sheet where defect removal for a steel sheet before cold rolling can be securely performed without causing the reduction in productivity by the decrease of a line speed, and to provide a device therefor.例文帳に追加

冷間圧延前の鋼板の欠陥除去を確実にかつライン速度の減速による生産性の低下を招くことなく行う鋼板の欠陥マーキングと欠陥除去方法およびその装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

Also, where the imaging apparatus uses live view image data successively acquired with an imaging element before main photographing to calculate AE/AWB correction value (control information), if a V line defect exists on the live view image, the imaging apparatus does not use pixel data equivalent to the V line defect from among the image data, but uses correction data by the V line defect correction.例文帳に追加

また、撮像装置では、本撮影前において撮像素子で順次に取得するライブビュー画像データを利用してＡＥ・ＡＷＢ補正値(制御情報)を算出するが、ライブビュー画像にＶライン傷が存在する場合には、画像データのうちＶライン傷に相当する画素データを用いず上記のＶライン傷補正による補正データを利用する。 - 特許庁

In a memory tester for detecting a defective bit by probing a memory to be measured and performing the operation of replacing the defective bit by a redundant cell in a memory to be measured, a line defect detecting circuit (10) for performing detection of a defective bit is constituted of a forward line defect detecting circuit (11) and a backward line defect detecting circuit (12).例文帳に追加

被測定対象メモリをプローブして不良ビットを検出し、当該不良ビットを被測定対象メモリ上の冗長セルへの置き換え演算を実行するメモリテスタにおいて、不良ビットの検出を実行するためのライン不良検出回路(10)を、順方向ライン不良検出回路(11)及び逆方向ライン不良検出回路(12)とで構成する。 - 特許庁

The cumulative profile data of each line is compared with the threshold level determined from the cumulative profile data of the line and thereby the pixel defect of the line unit relating to the line in the (x) direction and/or the (y) direction of the TFT substrate is detected.例文帳に追加

各ラインの累積プロファイルデータを、そのラインの累積プロファイルデータから求めたしきい値と比較することによって、ＴＦＴ基板のｘ方向及び／又はｙ方向のラインについてライン単位で画素欠陥を検出する。 - 特許庁

For example, a lateral line defect pattern 2 of a central part is displayed by dots of a relatively slightly dense halftone display, and lateral line defect pattern 2 except them is displayed by dots of a halftone display near a relatively white display.例文帳に追加

たとえば、中央部の横方向線欠陥パターン２を相対的にやや濃い中間調表示のドットとし、それ以外の横方向線欠陥パターン２を相対的により白表示に近い中間調表示のドットとする。 - 特許庁

For determining whether the uncertain defective line is a defect, the average luminance of the uncertain defective line is compared with that of a line, comprising a plurality of normal, adjacent pixels.例文帳に追加

その不確かな欠陥ラインを欠陥かどうか判定するために、不確かな欠陥ラインの平均輝度と、隣接する複数の正常画素からなるラインの平均輝度とを比較して欠陥かどうかを判定する。 - 特許庁

To detect surely a defect of an inspection object without depending on a defect shape of the inspection object, each different polishing line formed on each inspection object or the like.例文帳に追加

検査対象物における欠陥の形状や各検査対象物に形成されたそれぞれ異なる研磨筋等によらず、検査対象物の欠陥を確実に検出すること。 - 特許庁

To provide a display device capable of detecting a defect in which the potential of the output line of a first or a second scanning driver is fixed and capable of restoring the defect.例文帳に追加

第１又は第２の走査ドライバの出力線の電位が固定される欠陥を検出し、その欠陥を修復することができる表示装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To efficiently perform the repairing work in the repairing of a dot defect and a line defect of liquid crystal panel with a laser beam, and also to improve the yield by enhancing the success rate of the repairing.例文帳に追加

液晶パネルの点欠陥や線欠陥のレーザ光によるリペアにおいて、リペア作業を効率良く行うことができ、かつリペア成功率を高めて歩留まりを向上させる。 - 特許庁

To heighten potential difference between a pixel electrode having an adjacent defect and a normal pixel electrode and to heighten detection sensitivity of an adjacent defect of pixel electrodes across a source line, in TFT array inspection.例文帳に追加

ＴＦＴアレイ検査において、隣接欠陥を有する画素電極と正常な画素電極との電位差を高め、ソースラインを挟む画素電極の隣接欠陥の検出感度を高める。 - 特許庁

To enable detection of excessive erase defect without using word line voltage being threshold voltage or less of the lowest limit of excessive erase.例文帳に追加

過消去の下限の閾値電圧以下のワード線電圧を用いることなく過消去不良を検出可能にする。 - 特許庁

Therefore, a data line defect may be easily repaired by using the dummy buffer section built into the data driver chip.例文帳に追加

それにより、データ駆動チップに内蔵されたダミーバッファ部を用いてデータ配線不良を容易にリペアすることができる。 - 特許庁

To provide an inspection device which can well perform inspection of a defect in an emission state regardless of types of line heads.例文帳に追加

ラインヘッドの種類によらず良好に発光状態の欠陥検査を行うことが可能な検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a polymer compound which is used for photoresists and is excellent in line edge roughness resistance, pattern collapse resistance, development defect resistance, dry etching resistance and the like.例文帳に追加

ラインエッジラフネス、パターン倒れ、現像欠陥、ドライエッチング耐性等に優れたフォトレジスト用高分子化合物の提供。 - 特許庁

To provide an imaging apparatus capable of preventing generation of wrong control information even if a V line defect exists in an image.例文帳に追加

Ｖライン傷が画像に存在する場合でも、誤った制御情報の生成を防止できる撮像装置を提供する。 - 特許庁

To substitute it efficiently for a column address when a defect of a column address line is caused in a non-volatile ferroelectric memory device.例文帳に追加

不揮発性強誘電体メモリ装置でカラムアドレスライン欠陥が発生した時、効率よくカラムアドレスを代替する。 - 特許庁

PHOTOGRAPHING METHOD OF CRYSTAL DEFECT HAVING IN-PLANE ORIENTED DISLOCATION LINE IN SINGLE CRYSTAL SAMPLE BY X-RAY TOPOGRAPH例文帳に追加

単結晶試料における面内配向した転位線を有する結晶欠陥のＸ線トポグラフによる撮影方法 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which defect in a dummy bit line region can be detected effectively at a wafer test.例文帳に追加

ダミービット線領域の不良をウェハテスト時に効果的に検出することができる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To prevent erroneous operation caused by that the prescribed test mode is not set due to defect of a line in a burn-in test.例文帳に追加

バーンイン試験におけるライン不良により所定のテストモードに入れていないことによる誤動作を防止すること。 - 特許庁

Since the speed of voltage change of the word line can be accelerated, the short circuit defect can be detected efficiently.例文帳に追加

電流量の制限により、ワード線の電圧変化の速度を高くできるため、ショート不良を効率よく検出できる。 - 特許庁