「Line defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a data driving method and device for a liquid crystal panel that can prevent a boundary line defect between pixel blocks driven in block sequence.例文帳に追加

本発明はブロック順次に駆動される画素ブロック間の境界線不良を防止することができる液晶パネルのデータ駆動方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To produce an undulated sheet having a fine regular pattern of concavities and convexities formed on the surface, with high quality without defect, and with sufficient productivity and high line speed.例文帳に追加

表面に規則的な微細凹凸パターンが形成された凹凸状シートを、欠陥なく高品質で、かつ高ラインスピードで生産性よく製造する。 - 特許庁

The defective box S_3 is removed from the production line by actuating the apparatus 20 based on a defect signal inputted to a control part 25.例文帳に追加

制御部２５に入力される不良信号に基づき不良箱体除去装置２０を作動させて不良箱体Ｓ_3 を製造ラインから取り除くようにする。 - 特許庁

To manufacture a rugged sheet, on the surface of which a regular minute protrusion/recess pattern is formed, with high quality and high productivity at a high line speed without any defect.例文帳に追加

表面に規則的な微細凹凸パターンが形成された凹凸状シートを、欠陥なく高品質で、かつ高ラインスピードで生産性よく製造する。 - 特許庁

Also, a line sensor camera, a photoelectric sensor, a camera controller, and a light source controller are provided and it is made possible to detect a defect while moving.例文帳に追加

また、ラインセンサカメラと、光電センサと、カメラ制御器と、光源制御器とを設けて移動中に欠陥を検出することができるようにしている。 - 特許庁

To provide an optical scanning timing adjustment apparatus preventing occurrence of line defect due to an unrecognized BD signal and to provide an optical scanning system.例文帳に追加

ＢＤ信号の未認識に起因するライン抜けの発生を防止することのできる光走査タイミング調整装置、光走査システムを提供する。 - 特許庁

To provide a technology for confirming a detective location within a short period of time during physical analysis in the in-line defect inspecting process of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置のインライン欠陥検査工程において、物理解析時に短時間で故障箇所の位置を確認することのできる技術を提供する。 - 特許庁

To provide a ticket reader capable of uniformly keeping the interval of a read surface and a transfer belt without bias and preventing the read defect of an order-in-line ticket.例文帳に追加

読取面と移送ベルトとの間隔を偏りなく均一に保持し、整理券の読取不良を防止することができる券読取装置を提供する。 - 特許庁

To manufacture a rugged sheet, in which a regular fine rugged pattern is formed on its surface, with high quality without any defect at a high line speed and also at high productivity.例文帳に追加

表面に規則的な微細凹凸パターンが形成された凹凸状シートを、欠陥なく高品質で、かつ高ラインスピードで生産性よく製造する。 - 特許庁

To detect fault in a station side exchange even in the case that the fault is generated in a communication line on a terminal side and an insulation defect occurs.例文帳に追加

端末側の通信線に障害が生じ絶縁不良となった場合でも局側交換機においてその障害の検出が可能なこと。 - 特許庁

To prevent defect caused by overcurrent when the overcurrent flows into a circuit on a game machine side from an unused power line inside island equipment.例文帳に追加

島設備内の使用されていない電源線から遊技機側の回路に過電流が流入するときに、その過電流による不具合の発生を防止する。 - 特許庁

The first computer 68 performs image processing, based on image data in each color from the CCD line sensor 66 and detects a defect of the CSP tape 16.例文帳に追加

第１のコンピュータ６８は、ＣＣＤラインセンサ６６からの各色毎の画像データに基づいて画像処理を行い、ＣＳＰテープ１６の欠陥を検出する。 - 特許庁

To provide an active matrix substrate whose defect can be corrected with high precision without causing breaking of a signal wiring line nor damage to a pixel electrode.例文帳に追加

信号配線の断線や画素電極の損傷の発生を伴うことなく、欠陥修正を高精度で行うことができるアクティブマトリクス基板を提供する。 - 特許庁

To provide a positive photoresist composition having excellent resolution and edge roughness of line pattern and hardly causing developing defect in the manufacture of a semiconductor device.例文帳に追加

半導体デバイスの製造において解像力、ラインパターンのエッジラフネスに優れ、現像欠陥の少ないポジ型フォトレジスト組成物を提供すること。 - 特許庁

To provide a waveguide which is capable of connecting a total reflection confinement type waveguide and a photonic crystal line defect waveguide with high optical coupling efficiency.例文帳に追加

全反射閉じ込め型導波路とフォトニック結晶線欠陥導波路とを高い光結合効率で接続することが可能な導波路を提供する。 - 特許庁

To improve the heat dissipation property and reduce a waveguide loss by diffraction on outer surfaces in a semiconductor laser consisting of a two-dimensional photonic crystal line-defect waveguide.例文帳に追加

二次元フォトニック結晶線欠陥導波路からなる半導体レーザにおける放熱性を良く、面外回折による同派路損失を低減すること。 - 特許庁

Since the number of pixels in the one cycle is obtained from the moire pattern projected on the X-ray image, the line defect can be accurately corrected.例文帳に追加

Ｘ線画像に写りこんだモアレパターンから、その１周期における画素数を求めているので、正確にライン欠損を補正することができる。 - 特許庁

To prevent pattern collapse of a line end portion or a defect pattern as a whole and to improve the process margin in lithography and the manufacturing yield of a device.例文帳に追加

ライン端部のパターン倒壊若しくはパターン自体がディフェクトとなるのを防止し、リソグラフィのプロセスマージン及びデバイスの製造歩留まりの向上をはかる。 - 特許庁

To enhance an aperture ratio in a display device using organic light emitting elements and also to perform a display having high quality by preventing display failure such as line defect.例文帳に追加

有機発光素子を用いた表示装置における開口率を向上し、かつ線欠陥等の表示不良を防止して高品質の表示を可能とする。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display capable of controlling occurrence of magnetic noise from a recovery line arranged for the purpose of recovering a display defect in an LCD panel.例文帳に追加

ＬＣＤパネルにおける表示欠陥を修復すべく設けられた修復用ラインからの電磁ノイズの発生を抑制し得る液晶ディスプレイを提供する。 - 特許庁

V-line flaw information indicative of relation between the position and level of a V-line flaw occurring in an image due to a defect in the charge transfer line of an image pick-up sensor 16 and the temperature of the image pick-up sensor 16 is prestored in a flaw information memory 54.例文帳に追加

撮像センサ１６の電荷転送ラインにおける欠陥に起因して画像において発生するＶライン傷の位置およびレベルと、当該撮像センサ１６に係る温度との関係を示すＶライン傷情報を傷情報メモリ５４に予め記憶しておく。 - 特許庁

To provide a display device with which detection of the presence of a line defect is conducted by display inspection before mounting a driving signal source, wherein a scanning line and a signal line are mutually independently controlled and inspected, and to provide a method for inspecting the same.例文帳に追加

走査線と信号線とを独立して制御して検査することによって、駆動信号源の実装前における表示検査によって線欠陥の有無を検査することが可能な表示装置及び表示装置の検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

The display device has, on a substrate, a pixel circuit driven through a gate line and a source line, first wiring formed simultaneously to the gate line, second wiring formed simultaneously with the source line, and the test circuit which detects the defect of the pixel circuit, by using potentials of the first wiring and second wiring.例文帳に追加

基板上に、ゲートライン及びソースラインにより駆動する画素回路と、前記ゲートラインと同時に形成された第１の配線、及び前記ソースラインと同時に形成された第２の配線と、前記第１の配線及び前記第２の配線の電位により、前記画素回路の不良を検知する検査回路と、を有する構成とした。 - 特許庁

This pattern defect inspection device detects a defect by comparing a detection image acquired by scanning patterns, which are sequentially arranged in the line direction at equal intervals on the object under inspection and provided with the same shape, by means of an image sensor with a reference image acquired by scanning the patterns arranged adjacently in the line direction and provided with the same shape.例文帳に追加

被検査物体上に行列方向に等間隔で連続的に配列された同一形状を有するパターンをイメージセンサを走査して得られる検出画像とその行列方向に隣接する同一形状のパターンを走査して得られる参照画像とを比較して欠陥を検出するパターン欠陥検査装置である。 - 特許庁

To provide a defect repairing method for a liquid crystal display device which can easily repair a line breaking part by combining a partial wiring by laser CVD if a line-breaking defect is generated in a display panel.例文帳に追加

本発明は、液晶表示装置及びその欠陥修復方法に係り、表示パネル内に断線欠陥が生じた場合、レーザＣＶＤによる部分配線を組み合わせることにより、簡単に断線個所の修復が行えるようにする液晶表示装置の欠陥修復方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To simplify an inspection method for distinguishably specifying whether a defect like a bright line or a dark line of a liquid crystal panel is caused due to the liquid crystal panel or an IC chip of a COF.例文帳に追加

液晶パネルの輝線、滅線といった不良が、液晶パネルに起因する不良であるか、ＣＯＦのＩＣチップに起因する不良であるか、ということを切り分けて特定するための検査方法を簡易化する。 - 特許庁

When there is a defect in the image signal for gain setting or the image signal used for the white reference data, the line for reading the image signals is changed and thereafter, the image signal at the revised line is read.例文帳に追加

ゲイン設定のための画像信号や白基準データとなる画像信号に異常があるときには、これら画像信号を読み取るラインを変更し、以後、変更したラインでかかる画像信号の読取りを行なう。 - 特許庁

The illuminating optical axis 19 of the parallel light beam 18 and the light receiving axis 22A of the line sensor 22 are set so that when the parallel light beam is reflected in the streak-like defect, the reflected light is received by the line sensor 22.例文帳に追加

平行光ビーム１８の照射光軸１９とラインセンサ２２の受光軸２２Ａは、筋状欠陥内で平行光ビームが反射したとき、その反射光がラインセンサ２２に受光されるように設定される。 - 特許庁

A line 1 of the light irradiated on the lower surface of the molded article 1 is imaged by a camera 3 to check a linear state of the line 1 of the light and detect the defect on the lower surface of the molded article 1.例文帳に追加

そして成形品１の下面に照射される光のライン１をカメラ３で撮像することによって、光のライン１の直線状態を見て、成形品１の下面の欠陥を検出することができる。 - 特許庁

To provide a laser beam machining state measuring apparatus suitable for detecting a defect of a machined part in-line in an actual manufacturing line and capable of realizing joint use for an observation optical system in a compact constitution.例文帳に追加

実際の生産ラインにおいてインラインで加工部位の欠陥検出を行うのに適し、しかも観察光学系の併用をコンパクトな構成で実現できるレーザ加工状態計測装置を提供すること。 - 特許庁

Consequently, the mentioned time is set much longer than the time constant of the RC product of a resistance component generated owing to the insulation characteristic defect and the capacity of a bit line, variation in bit line potential due to a leak can be detected by a sense amplifier at the inspection time, and the reliability defect having the resistance component can be detected as a defect in the beginning.例文帳に追加

この結果、セルプレート線信号（ＣＰ）活性化からセンスアンプ信号（ＳＡ）活性化までの時間が、絶縁特性不良によって発生する抵抗成分とビット線容量のＲＣ積の時定数より十分に長く設定され、リークによるビット線電位の変動を検査時にセンスアンプにより検出することが可能となり、抵抗成分を有する信頼性不良を初期に不良として検出することができる。 - 特許庁

Whereby the searching adapted to the actual manufacturing line such that only the defect of the front surface 1a is regarded as no-good, only the defect of the rear surface is regarded as no-good, and each of the defects of the front surface 1a and the rear surface 1b is totalized, can be performed.例文帳に追加

これにより、表面１ａの欠陥のみを不良とする、裏面１ｂの欠陥のみを不良とする、表面１ａの欠陥、裏面１ｂの欠陥それぞれの集計をするといった、実際の製造ラインに即した検査が可能となる。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for removing a surface defect, with which cutting tools for removing the surface defect caused when the surface of a hot-dipped wire is subjected to ironing with a heat resistant material on a line can be replaced with others during passing of the hot-dipped wire.例文帳に追加

めっき線の表面を耐熱材でしごき取った際に発生した表面欠陥をライン上で除去するバイトを、溶融めっき線の通材中に交換することができる、表面欠陥除去装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To efficiently correct a longitudinal line flaw of a fine level caused by a defect of a vertical transfer path which is hardly conspicuous rather than an ordinary defective pixel while avoiding the increase of a ROM capacity or the like for storing defect information on pixels of a solid-state imaging device.例文帳に追加

固体撮像素子の画素の欠陥情報を格納するＲＯＭ等の大容量化を回避しつつ、通常の欠陥画素よりも目立ち難い垂直転送路の欠陥に起因する微妙なレベルの縦線キズを効率よく補正する。 - 特許庁

When a defect is incurred on the TFT 1, the picture element defect is corrected by irradiating an intersectional part of a current-carrying part 6 for correction and a picture element electrode 4 with laser light for destroying a lying gate insulating film and short-circuiting the picture element electrode 4 and the reference potential line 3.例文帳に追加

ＴＦＴ１の不良時、レーザ光を修正用導電部６の画素電極４と交差する部位に照射することで、介在するゲート絶縁膜を破壊し、画素電極４と基準電位線３とを短絡させ、画素欠陥を修正する。 - 特許庁

To provide a method for cleaning a steel strip in a pickling line by which the quality in the appearance of a pickled steel strip is improved, and further, in a line where pickling is performed as pretreatment in a production line for a hot dip galvanized steel strip, the defect of plating in the hot dip galvanized steel strip can be improved.例文帳に追加

酸洗鋼帯の外観品質を向上させるとともに、溶融亜鉛めっき鋼帯の製造ラインで前処理として酸洗を実施するラインにおいて、溶融亜鉛めっき鋼帯のメッキ不良を改善することができる酸洗ラインにおける鋼帯の清浄化方法を提供する。 - 特許庁

Thus, a shielding effect of the signal line is raised, the aperture ratio is raised by reducing width of a black matrix, parasitic capacity between the signal line and the common potential lines is reduced, a defect when the signal line and the floating film are short-circuited is minimized to raise the display quality.例文帳に追加

これにより信号線のシールド効果を高め、ブラックマトリクスの幅を縮小して開口率を向上させることができ、信号線と共通電位線との寄生容量を小さくし、信号線とフローティング膜とが短絡した場合の欠陥を最小限に抑えて表示品位を向上させる。 - 特許庁

The excessive automatic monitoring can be prevented by installing a means which locks a sampling synchronization monitoring means or hinders device lock when a transmission line trouble occurs due to results in transmission line trouble defect of a self-end relay device and transmission line monitoring results from a remote end relay device.例文帳に追加

自端リレー装置の伝送路障害不良結果と、相手端リレー装置からの伝送路監視結果とにより伝送路障害が発生した場合サンプリング同期監視手段をロックするか、装置ロックを阻止する手段を設けることによって過剰な自動監視が防げる。 - 特許庁

When a memory cell unit connected to a word line WLi becomes an accessing target, on the basis of data read from a defect specifying unit 43_i connected to the word line WLi, a defective unit is specified from the data units of 64 columns connected to the word line WLi.例文帳に追加

ワード線ＷＬｉに接続されるメモリセルユニットがアクセス対象になると、該ワード線ＷＬｉに接続される欠陥特定ユニット４３＿ｉからの読み出しデータに基づいて、該ワード線ＷＬｉに接続される６４列のデータ用ユニットから欠陥ユニットが特定される。 - 特許庁

To prevent a wrong detection of an end part position in a display area even in a flat display panel on which a line defect is generated in the vicinity of the end part in the display area.例文帳に追加

表示領域の端部近傍に線欠陥が生じている平面表示パネルであっても、表示領域の端部の位置を誤って検出してしまうことを防止する。 - 特許庁

To make the simplified assembly compatible with the reduction of the defect rate for a scanning optical device which can adjust the irradiation position and the inclination of the scanning line, and also to reduce its cost.例文帳に追加

照射位置調整、走査線傾き調整を行う走査光学装置において、組立工程の簡略化と不良率の低減を両立させ、コストダウンを図る。 - 特許庁

To provide a radiation sensitive resin composition as a chemically amplified resist that is excellent in depth of focus, LWR (Line Width Roughness), and MEEF (Mask Error Enhancement Factor), and excellent also in preventing the occurrence of a defect in development.例文帳に追加

焦点深度、ＬＷＲ、ＭＥＥＦに優れるとともに、現像欠陥にも優れた化学増幅型レジストである感放射線性樹脂組成物を提供する。 - 特許庁

To provide a redundant circuit being suitable for improving relieving efficiency and arranging efficiently a relieving circuit when a defect occurs in a row line of a main cell region.例文帳に追加

メインセル領域の行ラインに欠陥が発生した場合に救済効率を高め、救済回路を効率よくレイアウトするに適した冗長回路提供すること。 - 特許庁

The defect correction efficiency is improved in comparison with a conventional technique which narrows down the correction object only by bus line resistances or electric characteristics of pixels.例文帳に追加

バスライン抵抗または絵素の電気的特性のみによって修正対象を絞り込む従来技術に比べて、欠陥修正効率を向上させることができる。 - 特許庁

To provide a manufacturing method for a lenticular lens sheet by which a black stripe with high contrast, free from a line defect or a printing spot and having small and uniform width is formed with good productivity.例文帳に追加

コントラストが高く、線状欠陥や印刷斑のない細く均一な幅のブラックストライプを生産性よく形成できるレンチキュラーレンズシートの製造方法を提供する。 - 特許庁