「Line defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(8ページ目) - Weblio英語例文検索

The liquid crystal display device provided with the large auxiliary capacitance is obtained, wherein a leakage defect between the semiconductor layer 20 for the auxiliary capacitance and the auxiliary capacitance line 21 is not generated and the aperture ratio is not reduced.例文帳に追加

補助容量用半導体層20と補助容量線21とのリーク不良を起こさず、開口率が低下せず、大きな補助容量を備えた液晶表示装置を得る。 - 特許庁

To appropriately discover an irregularity defect, or the like generated on the surface of a body to be inspected having roughness in the degree of visible light, and to apply the method suitably to a manufacture line of a steel plate.例文帳に追加

可視光程度の粗度を有する被検査体の表面に生じた凹凸欠陥等を適切に発見することができ、鋼板の製造ライン上において好適に適用すること。 - 特許庁

To provide a line concentrator capable of eliminating a defect such as concentration of jobs on a particular information processing apparatus and quickly carrying out data transfer processing.例文帳に追加

特定の情報処理装置にジョブが集中するなどの不具合を解消することができるとともに、データの転送処理を迅速に行うことができる集線装置を提供する。 - 特許庁

Since a constitution enables the following liquid jet to surely reach the target in the state of being coupled with the preceding liquid jet, an extremely fine thin line can be obtained without any defect.例文帳に追加

このような構成によって後続する液体ジェットは確実に先行する液体ジェットと連結した着滴を形成できるため、非常に微細な細線を不良無く得ることができる。 - 特許庁

To provide a thermal transfer image receiving sheet having high density printing characteristics and having no defect within an image such as white drop-out and line unevenness, and to provide its manufacturing method.例文帳に追加

本発明の課題は、高濃度の印画特性を有し、かつ白抜けやスジムラのような画像内の故障がない感熱転写受像シートおよびその製造方法を提供することにある。 - 特許庁

To provide an image processing apparatus that can avoid increase of the circuit scale and suppress the reduction of using efficiency and the reduction of processing speed when a defect of a point and line of a display panel is detected.例文帳に追加

表示パネルの点・線欠陥を検出する場合に、回路規模の増大を回避し、利用効率の低下及び処理速度の低下を抑制し得る画像処理装置を提供する。 - 特許庁

Thereby, it can be grasped that defect is caused in which node out of six transistors constituting a SRAM cell, also the number of pads to be provided is less, and the test circuit can be inserted into a scribe line sufficiently.例文帳に追加

これにより、ＳＲＡＭセルを構成する６個のトランジスタのどのノードで不良が発生したのかが把握でき、かつ備えるパッドの数が少なく、スクライブラインに十分に挿し込める。 - 特許庁

A source line contact hole is formed in the part of a crystal defect 26b in monocrystal silicon layer 200, 204 obtained by epitaxial growth of silicon on an inter-layer insulating film 16.例文帳に追加

層間絶縁膜１６上にシリコンをエピタキシャル成長させて得られた単結晶シリコン層２００、２０４の結晶欠陥２６ｂの部分にソース線コンタクトホールを形成する。 - 特許庁

To stably manufacture a transfer master disk substrate with a surface formed with rugged pattern excellent in line width accuracy, and excellent in pattern shape accuracy where pattern defect is inhibited.例文帳に追加

表面凹凸パターンの線幅精度が良好で、パターン欠陥が抑制されパターン形状精度が良好な転写用原盤基板を安定的に製造することを可能とする。 - 特許庁

ASSEMBLY AND WELDING LINE FOR AUTOMOBILE BODY AND BODY COMPONENT OR EQUIVALENT, AND METHOD FOR IDENTIFICATION AND MANAGEMENT OF ERROR AND DEFECT IN EQUIPMENT BASED ON METHOD OF INVENTION例文帳に追加

自動車ボデー及びボデー部品又は同等品のための組立及び溶接ライン並びに本発明の方法による設備における誤差及び欠陥の識別及び管理のための方法 - 特許庁

To provide algorithm compressing and analyzing error information quantity by detecting the defect of a line which must be relieved previously when a relieving-analyzing-test of a semiconductor memory is performed.例文帳に追加

半導体メモリデバイスを救済解析テストする際に、事前に救済しなければならないライン不良を検出することにより、エラー情報量を圧縮解析するアルゴリズムを提供する。 - 特許庁

A short-circuit defect is prevented by forming a second interlayer insulation layer 15 under an upper electrode power-feeding wire to be a power supply line to an upper electrode 13 of a thin-film electron source array.例文帳に追加

薄膜型電子源アレイの上部電極１３への給電線となる上部電極給電配線の下に、第二層間絶縁層１５を形成して短絡不良を防止する。 - 特許庁

An inclination of the edge part of the metal cast slab obtained by the continuous casting is measured with a cross sectional view by using the horizontal line as a standard, and the measured value is compared with a threshold value for judging whether the defect exists under the surface skin.例文帳に追加

連続鋳造で得た金属鋳片の縁部の傾斜を、断面視で水平を基準にして測定し、該測定値を表皮下欠陥の存在を判定する閾値と比較する。 - 特許庁

To provide a spool for fishing, capable of enabling a plurality of lines for terminal tackle to be wound on one spool without causing confusion of the lines in good order, and hardly providing a defect and crease to the line at the time of attachment and detachment.例文帳に追加

複数の仕掛糸を一つの釣用糸巻きに糸が入り乱れることなく整然と捲回でき、仕掛の装着、脱着の際も糸に傷や折れめの付き難いこと。 - 特許庁

To inspect whether of not a defect such as a broken line is caused in connection lines interconnecting a remote controller and a broadcast unit body with respect to a broadcast unit provided with the remote controller.例文帳に追加

遠隔操作器を備えた放送装置において、放送装置本体と遠隔操作器とを接続する接続ラインに断線等の異常が生じていないかどうかを検査する。 - 特許庁

To detect insulation defect of an integrated circuit in which bit lines are formed so as to cross each other and an integrated circuit in which bit lines and a power source line are arranged parallel to each other.例文帳に追加

ビット線が互いに交差するように形成されている集積回路や、ビット線と電源線とが並行して配置されている集積回路の絶縁不良を検出する。 - 特許庁

To manufacture a sheet-like article such as an optical material or an imaging material having regular fine embossed patterns formed on its surface with high quality without defect and with good productivity and at a high line speed.例文帳に追加

表面に規則的な微細凹凸パターンが形成された光学材料やイメージング材料のシート状物を、欠陥なく高品質で、かつ高ラインスピードで生産性よく製造する。 - 特許庁

To shorten a test time by parallel processing of a plurality of chips when defect check of a bit line or a sense amplifier is performed in a wafer test of a NAND type flash-memory.例文帳に追加

NAND型フラッシュメモリのウェハテストに際してビット線またはセンスアンプの不良チェックを行う場合に、テスト時間を短縮し、複数チップの並列処理によりテスト時間を大幅に縮める。 - 特許庁

In the seal defect prevention apparatus, a line back dancer section 33 (or 43) and a stretch section 34 (or 44) are arranged with a first seal forming section 32 (or a second seal forming section 42) between.例文帳に追加

シール不良防止装置は、ラインバックダンサ部３３（又は４３）と張設部３４（又は４４）とを第１のシール形成部３２（又は第２のシール形成部４２）を間にして配置する。 - 特許庁

An electric fuse cutoff circuit 13 cuts off an electric fuse corresponding to a memory cell based on the defect address information inputted from an address line 15 in the period in which the signal ϕ1 is in the H level.例文帳に追加

電気ヒューズ切断回路１３は、信号φ１がＨレベルの期間でアドレス線１５から入力した不良アドレス情報に基づいてメモリセルに対応する電気ヒューズを切断する。 - 特許庁

A vertical black line retrieving unit compares each histogram value on the histogram table with a specified threshold value and stores an image address indicative of the histogram value and the defect position if the histogram value is larger than the threshold value.例文帳に追加

垂直黒線検索処理装置がヒストグラム・テーブルにおける各ヒストグラム値を所定の閾値と比較し、閾値より大きいときはヒストグラム値と欠陥位置を示す画像アドレスを記憶する。 - 特許庁

To provide a synchronous semiconductor memory in which timing at which a word line is disabled is set by utilizing frequency information of a clock signal and defect of cell operation can be prevented.例文帳に追加

クロック信号の周波数情報を利用してワードラインのディスエーブルするタイミングを設定し、セル動作不良を防止することができる同期式半導体メモリ装置を提供すること。 - 特許庁

Moreover, it prepares a detection unit 24 which detects a defect of pixels included in the imaging elements as a defective pixel based on the pixel values of the digital image signals synchronously added for each line.例文帳に追加

また、ライン毎に同期加算されたデジタル画像信号の画素値に基づいて、撮像素子に含まれる画素の欠陥を欠陥画素として検出する検出部２４を備える。 - 特許庁

The inspection unit 30 is arranged with laminated four inspection parts composed of a thickness measuring device 32, a line width measuring device 33, a superposition measuring device 34, and a macro defect inspecting device 35.例文帳に追加

検査ユニット３０には、膜厚測定器３２、線幅測定器３３、重ね合わせ測定器３４およびマクロ欠陥検査器３５の４つの検査部を積層して配置している。 - 特許庁

To discover properly an irregularity defect or the like generated on the surface of an inspection object having roughness in the degree of visible light, and to apply the method suitably to a manufacture line of a steel plate.例文帳に追加

可視光程度の粗度を有する被検査体の表面に生じた凹凸欠陥等を適切に発見することができ、鋼板の製造ライン上において好適に適用すること。 - 特許庁

To enable to eliminate products having lower reliability out of initial good products by testing margin for a reference potential of a bit line in the case that storage data is read out from a memory cell in a ferroelectric memory, improving reliability of products shipped, and to perform efficiently analysis of defect by making easy to discriminate whether defect of an initial defective product is caused by margin defect or by defect of a manufacturing process.例文帳に追加

強誘電体メモリに関し、メモリセルからビット線に記憶データが読み出された場合におけるビット線の電位の基準電位に対するマージンを試験し、初期良品からの信頼性の低い製品の除去を可能とし、出荷する製品の信頼性の向上を図ると共に、初期不良品については、その不良がマージン不良を原因とするものなのか、あるいは、製造プロセスの欠陥によるものなのかの識別を容易にし、不良解析の効率化を図る。 - 特許庁

Even if a short-circuit defect between the pixel electrode and auxiliary capacity line occurs, no bright point is displayed nearly throughout a period wherein the potential of the auxiliary capacity line is equal to the common potential Vcom to improve the display quality of the display device.例文帳に追加

よって、画素電極と補助容量線との短絡不良が生じる場合であっても、補助容量線の電位が共通電位Ｖｃｏｍと同一であるほとんどの期間において輝点が表示されず、表示装置の表示品位を高めることができる。 - 特許庁

To provide a processor system allowing prevention of reduction of system performance without drastically expanding circuit size when a defect is present in a part of a word line of an SRAM (Static Random Access Memory) used for a cache memory or even when a part of the word line fails.例文帳に追加

キャッシュメモリに使用されるＳＲＡＭのワードラインの一部に欠陥がある場合やワードラインの一部が故障してしまった場合であっても、回路サイズを大幅に拡大することなく、システム性能の低下を防止することができるプロセッサシステムを提供すること。 - 特許庁

In this constitution, a potential of one pixel electrode line and a potential of another adjacent pixel electrode line cancel each other, so variation in effective value of liquid crystal is suppressed to prevent a display defect in stripped pattern.例文帳に追加

このような構成により、１つの画素電極行の電位と、隣接する他の画素電極行の電位とが互いに相殺し合うことになるため、液晶の実効値の変動が抑制され、縞模様状の表示不良が発生するのを防止することができる。 - 特許庁

A rise in sent blood pressure resulting from a stenosis or inflection of a blood sending line, a defect in blood removal due to a stenosis or inflection of a blood removing line, or blood flow variation, blood pressure variation, etc., of a vein, an artery, etc., on a human body side can really be reproduced.例文帳に追加

術野側操作による送血ラインの狭窄や屈曲による送血圧上昇、脱血ラインの狭窄、屈曲による脱血不良、或いは、人体側の静脈、動脈などによる血流変化や血圧変化などをリアルに再現することができる。 - 特許庁

While a word line, to which a memory cell of a test target is connected, is driven in a defect detection test, driving of a word line to which a memory cell for applying active noise is connected is made possible, wherein data inverse to data written in the memory cell of the test target is written into the memory cell for applying active noise.例文帳に追加

不良検出試験の際に検査対象メモリセルが接続されたワード線を駆動している間に、検査対象メモリセルに書き込まれたデータの逆のデータが書き込まれたアクティブノイズ印加用メモリセルが接続されたワード線を駆動できるようにした。 - 特許庁

To provide a method and a device for inspecting a defect, capable of recalculation by collecting image data for a product currently on a production line even during a continuous inspection, without giving influence to an inspection tact and without stopping the line, and capable of evaluating ability of an inspection machine itself.例文帳に追加

連続検査中においても、その検査タクトに何も影響を与えること無く、またラインを止まることなく、現在流れている製品の画像データを集収し、再計算することができ、検査機自身の能力を評価することを目的とする。 - 特許庁

To provide a semi-transmission type phase shift reticle that can suppress a pseudo defect caused in the oblique boundary line of a chamfered portion partitioning a circuit pattern region from a peripheral region, and to provide an inspection method for the reticle.例文帳に追加

回路パターン領域と周辺部領域とを区画する面取り部の斜め境界線で生じる疑似欠陥を抑制できる半透光方式の位相シフトレチクルとその検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for detecting terminal system abnormality, wherein the apparatus detects an abnormality, such as a connection defect of a transmission line which is difficult to be detected by protocol analysis by means of a conventional protocol analyzer.例文帳に追加

従来のプロトコルアナライザによるプロトコル解析では検出の困難な伝送線の接続不良等の異常を検出することのできる端末システム異常検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method, apparatus and program for defect detection, capable of accurately detecting defects in the contour shape of an workpiece having an outer circumferential contour, based on a straight line.例文帳に追加

直線を基調とした外周輪郭を有する被検査物に対して、精度よく輪郭形状欠陥を検出可能な欠陥検出方法、欠陥検出装置、および欠陥検出プログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a liquid crystal display element that can prevent a defect of a print pattern by forming a print pattern formed on a cliche so that its depth varies with the line width.例文帳に追加

クリシェに形成される印刷パターンを、その線幅によって深さが異なるように形成することによって、印刷パターンの不良を防止できる液晶表示素子の製造方法を提供しようとする。 - 特許庁

To provide an inexpensive defect-inspecting device of a bottle mouth with simple structure that can be easily installed at, moved to, or removed from an already installed line and can be installed at a narrow space.例文帳に追加

既設のラインへの設置、移設や撤去が容易であり、従来よりも狭いスペースに設置することができ、構造が従来よりも簡単で安価な壜口部の欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

The transmission/reception part 21 receives image information on a defective component 7 of a product and product defect information on the product through a communication line 4, and stores them in the first database 31.例文帳に追加

送受信部２１は、製品の不具合のある部品７に関する画像情報及び製品に関する製品不具合情報を、通信回線４を介して受信し、第１データベース３１へ格納する。 - 特許庁

To provide a positive resist composition which exhibits satisfactory transmittance when a light source of exposing light of ≤160nm, concretely of the F2 excimer laser beam (157nm) is used and allows the line edge roughness, development defect and scum to be improved.例文帳に追加

１６０ｎｍ以下、具体的にはＦ_２エキシマレーザー光（１５７ｎｍ）の露光光源使用時に十分な透過性を示し、ラインエッジラフネス、現像欠陥、スカムが改善されたポジ型レジスト組成物を提供する。 - 特許庁

To provide an image processing apparatus, image processing method and computer program capable of detecting even a defect near a contour line and performing product quality assessment with high accuracy.例文帳に追加

輪郭線近傍の欠陥であっても高い精度で存在を検出することができ、高い精度で良品判定を行うことができる画像処理装置、画像処理方法、及びコンピュータプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide a pattern forming method with the excellent exposure latitude (EL) and focus margin (DOF) capable of reducing the line width irregularity (LWR) and residual defect, a chemically amplified resist composition and a resist film.例文帳に追加

露光ラチチュード（ＥＬ）及びフォーカス余裕度（ＤＯＦ）に優れ、線幅バラツキ（ＬＷＲ）及び残渣欠陥を低減できるパターン形成方法、化学増幅型レジスト組成物及びレジスト膜を提供する。 - 特許庁

Each probe sensor head is constituted such that a probe part of supplying an electric current to an electrode and a sensor part of determining open/short defect by detecting the electric current supplied to the line are integrally formed.例文帳に追加

プローブセンサーヘッドは、電極に電流を供給するプローブ部と、配線に供給された電流を検出してオープン／ショート欠陥を判別するセンサー部とが一体となって構成されている。 - 特許庁

To provide a long-life image display device without causing a display defect by preventing a dielectric breakdown failure between a lower electrode and an upper electrode (upper electrode power feed line) constituting a thin-film type electron source.例文帳に追加

薄膜型電子源を構成する下部電極と上部電極（上部電極給電線）間の絶縁破壊不良を防止して表示欠陥のない長寿命の画像表示装置を提供する。 - 特許庁

To provide an efficient defect inspection device that does not require a preparation process for special region detection for an inspection object conveyed continuously in a manufacture line, and can greatly shorten an inspection time.例文帳に追加

製造ラインを連続して搬送される被検査物に対して、特殊領域検出のために準備工程を必要とせず、検査時間の大幅な短縮が可能な、効率の良い検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a display capable of determining clearly a factor of generating a line defect, while restraining a cost required for inspection from increasing, as to the display such as an liquid crystal panel.例文帳に追加

本発明は、液晶パネルなどの表示装置に関し、検査に要するコストの上昇を抑えつつ、線欠陥発生の要因を明確に判別可能な表示装置を得ることを目的とする。 - 特許庁