「Line defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(10ページ目) - Weblio英語例文検索

In the defect detection method for a fuel cell material, defects of the fuel cell materials are detected by using a displacement sensor, a transmission type photoelectric sensor, a CCD (charge-coupled device) line sensor, and/or a reflection-type photoelectric sensor.例文帳に追加

本発明は、変位センサー、透過型光電センサー、ＣＣＤ（チャージ・カップルド・デバイス）ラインセンサーおよび／または反射型光電センサーにより、燃料電池材料の欠陥を検出することを特徴とする燃料電池材料の欠陥検出方法である。 - 特許庁

The line-defect waveguide has a prescribed transmission band and has a mode gap of a frequency region having a low transmittance, adjacently to the low frequency side of the transmission band, and an input light frequency is selected so as to be within the frequency region of this mode gap.例文帳に追加

この線欠陥導波路は、所定の透過帯域を持ち、その低周波数側に隣接して、透過率が小さい周波数域のモードギャップを有し、前記入力光周波数を、このモードギャップの周波数域におさまるように選択した。 - 特許庁

To eliminate strip breakage by meandering of a rolled stock and defect in shape and to prevent the deterioration of product quality and drop of productivity by reducing the difference of the coefficient of friction between upper and lower work rolls by grinding in the longitudinal direction in on-line roll griding.例文帳に追加

オンラインロール研削において、上下作業ロール長手方向の研削による摩擦係数の差を少なくすることで、圧延材の蛇行による絞り込み、形状不良をなくし、製品品質の低下及び生産性の低下を防止する。 - 特許庁

To provide a pattern forming method excellent in resolution power such as a minimum dimension free from a bridge defect, roughness performance such as line edge roughness, and dependency on developing time, and to provide an actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition and a resist film to be used for the method.例文帳に追加

ブリッジ前寸法等の解像力、ラインエッジラフネス等のラフネス性能、現像時間依存性に優れたパターン形成方法、それに用いられる感活性光線性又は感放射線性樹脂組成物及びレジスト膜を提供する。 - 特許庁

The assembly line includes a number of readers and processing stations 104 to determine and confirm the identity of vehicles passing proximate to the readers and processing stations, and the build instructions, status, position, condition, defect and repair history, etc., of a vehicle.例文帳に追加

この組立ラインは、いくつかのリーダと処理ステーション１０４を組込んで、リーダと処理ステーションのすぐ近くを通過する車両のＩＤ、および車両のビルド・インストラクション、ステータス、位置、条件、欠陥と修理の履歴などを決定し、確認する。 - 特許庁

To provide an ink for ink jet recording, having high jetting stability and further capable of forming such a picture image as to be excellent in color, light stability, and water resistance, to have no defect in picture quality, such as bleeding of a narrow line, and to exhibit excellent image preservability under a severe condition.例文帳に追加

吐出安定性が高く、しかも得られる画像の色相、耐光性、耐水性にも優れ、細線の滲みなど画質についての欠点が無く、過酷な条件下での画像保存性が優れたインクジェット記録用インクを提供する。 - 特許庁

A driving pattern applying different voltages to pixel electrode rows adjacent across a source line of a TFT array is used, and a short circuit defect between adjacent pixel electrodes is detected by potential distribution of the pixel electrodes obtained by the driving pattern.例文帳に追加

ＴＦＴアレイのソースラインを挟んで隣接する画素電極列に異なる電圧を印加する駆動パターンを用い、この駆動パターンによって得られる画素電極の電位分布によって、隣接する画素電極間の短絡欠陥を検出する。 - 特許庁

Further, since outside sealing resin 17 is injected into molding space B at high pressure and high velocity, molding defects such as void, incomplete filling, weld line and pin hole are not caused in the outside sealing resin 17, and an appearance defect and the like can be prevented.例文帳に追加

また、外側封止樹脂１７を成形空間Ｂに高圧及び高速度で注入しているので、ボイド、未充填、ウエルドライン、ピンホール等の成形不良が外側封止樹脂１７に発生せずに済み、外観不良等を防止することができる。 - 特許庁

To provide a vessel production line which can check defects by checking the liquid level by an X-ray liquid volume inspection apparatus, grasp the time chart of carrying vessels, and determine in which filler valve a filling defect occurs.例文帳に追加

Ｘ線液量検査装置により液面のレベルのチェックによる不良確認と同時に、容器の運搬のタイムチャートをも把握したので、どのフィラーバルブにおいて充填の不良がおきているかを判別できる容器生産ラインを提供する。 - 特許庁

To provide an artificial quartz crystal having low line defect density in order to solve the extreme difficulty in growing the artificial quartz crystal having the decreased line defects as the generation of growth progresses in the current growth method of using a Y rod or Z plate as the seed quartz crystal.例文帳に追加

現状のＹ棒またはＺ板を種水晶として用いる育成法では、育成の世代が進むにつれて線状欠陥の少ない人工水晶を育成することは非常に困難である．本発明は上記課題を解決するためになされたものであって線状欠陥密度の低い人工水晶を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a plate-like body suitable for constituting a holding member of a polishing object hardly adhering to an upper panel of a polishing device or clogged with a polishing agent for reducing the defect of the polishing object due to a line trouble and achieving homogeneous polishing of the polishing object.例文帳に追加

研磨装置上盤と密着しにくく、また研磨剤が目詰まりしにくい被研磨物保持材を構成するのに適した板状体を提供し、ライントラブルによる被研磨物の不良を低減させるとともに、被研磨物の均一な研磨を達成する。 - 特許庁

To provide an actinic ray sensitive or radiation sensitive resin composition that excels in roughness property, exposure latitude, depth of focus and development defect performance and that allows to form a fine isolated line pattern of favorable shape, and to provide a pattern forming method using the same.例文帳に追加

ラフネス特性、露光ラチチュード、焦点深度及び現像欠陥性能に優れ且つ良好な形状の微細な孤立ラインパターンを形成可能とする感活性光線性又は感放射線性樹脂組成物、及びそれを用いたパターン形成方法を提供すること。 - 特許庁

As for a redundant relief having m lines of redundant rows and one line redundant column, storage areas of m+1 rows are arranged to a column table of an error storage table accumulating the defect information, and storage areas of m+n rows are arranged with respect to a row table.例文帳に追加

ｍ本の冗長行および１本の冗長列を有する冗長救済において、不良情報を蓄積するエラー記憶テーブルのコラムテーブルに対してｍ＋１行の格納領域を設け、ロウテーブルに対してｍ＋ｎ行の格納領域を設ける。 - 特許庁

The electroscope is realized by forming the electroluminescent element in a tape form, and so is the conduction display power line by forming at a part of an outer package coating, and the circuit board defect inspection device is realized by laminating a transparent electrode, an electroluminescent element, and a circuit board for inspection in that order.例文帳に追加

電界発光素子をテープ状に形成して検電器を，外装被覆の一部に形成して通電表示電力線を，さらに透明電極，電界発光素子，被検査回路基板の順に積層配置して回路基板欠陥検査装置を実現する。 - 特許庁

It is also provided with a suspension type conveyer 12, a screw part detecting means 5 in the carrier process, a vacuum conveyer 99 carrying the detection accepted prodcucts to a next process, and a discharge means 4b discharging the PET preform with defect to the outside of the conveyer line.例文帳に追加

更に、吊り下げ式搬送コンベア１２を設け、この搬送工程中にネジ部検査手段５と、検査合格品を次工程へ搬送するバキュームコンベア９９と欠陥のあるＰＥＴプリフォーム１をコンベアライン外へ排出する排出手段４ｂを設けた。 - 特許庁

When the photosensitive drum 24 is continued to be rotationally drive, the toner T constituting a black line on the charge defect portion of the photosensitive drum 24 is soon supplied to a gap formed between a cleaning blade 42 and the surface of the photosensitive drum 24 and blocking preventing operation is performed.例文帳に追加

感光ドラム２４が回転駆動し続けると感光ドラム２４の帯電不良部分の黒線を構成するトナーＴはやがてクリーニングブレード４２と感光ドラム２４の表面とで形成される隙間に供給されブロッキング防止作業が実行される。 - 特許庁

A same defect is lit in plural times in a single inspection by an illumination optical system performing linear lighting and a detection optical system dividing illuminated region by a line sensor and performing detection, and scattering light is added, and thereby, the detection sensitivity is improved.例文帳に追加

線状照明を行う照明光学系、被照明領域をラインセンサで分割して検出する検出光学系により、一度の検査で同一欠陥を複数回照明し、それらの散乱光を加算することにより検出感度を向上させる。 - 特許庁

To provide a method of delivering a semiconductor manufacturing composite solution, a manufacturing method, a pipe line and a manufacturing apparatus, thoroughly restraining the mixing-in of a foreign matter that can cause a defect in a manufacturing process, and remarkably reducing a content of the foreign matter.例文帳に追加

製造過程においてディフェクト要因となり得る異物の混入を十分に抑制することができ、異物含有量が極力低減された半導体製造用組成物溶液の送液方法、製造方法、配管、及び製造装置を提供する。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display wherein the influence of an in-plane electric field can be avoided even when a liquid crystal is driven by a line inversion drive system and the occurrence of an alignment defect of the liquid crystal can be suppressed without reducing a numerical aperture and to provide its manufacturing method.例文帳に追加

ライン反転駆動方式により液晶を駆動させても横電界による影響を回避し、開口率を低下させることなく、液晶の配向不良の発生を抑制することができる液晶表示装置とその製造方法を提供する。 - 特許庁

In judging the normal/defective state of cells, all cells are set in the high resistance state, the reference voltage generator 62 outputs voltage of 105% of the average value, the discriminator 61 discriminates the cell as defect when the bit line potential at the time of read is higher than this potential.例文帳に追加

セルの良否判別時には、全セルを高抵抗状態にセットし、参照電圧発生器６２は前記平均値の105％の電圧を出力し、判別器61は、読み出し時のビット線電位がこの電位より高い場合はそのセルを不良と判定する。 - 特許庁

To provide a forming method of an optical film having uniform retardation, not having an optical defect such as a die line or the like and excellent in flatness, especially the forming method of the optical film formed by a melt flow film forming method.例文帳に追加

液晶表示装置等に用いられる均一なレタデーションを有し、ダイラインなどの光学的な欠点がなく平面性に優れた光学フィルムの製造方法を提供し、特に溶融流延製膜法で製膜された光学フィルムの製造方法を提供する。 - 特許庁

In the nitride semiconductor light emitting element and its manufacturing method, a low defect region having a defect density of 10^6 cm^-2 or less and a trench region with a recess formed in the surface of a nitride semiconductor substrate and the etching angle θ between the side face of the recess and its bottom side extension line ranges as 75° ≤ θ≤ 140° in a sectional view of the recess.例文帳に追加

本発明の窒化物半導体発光素子及びその製造方法は、窒化物半導体基板の表面に、欠陥密度が１０^6ｃｍ^-2以下の低欠陥領域と、凹部が形成された掘り込み領域とが設けられ、前記凹部の断面形状において、前記凹部の側面部と前記凹部の底面部延長線との間の角度であるエッチング角度θが、７５度≦θ≦１４０度であることを特徴とする。 - 特許庁

A possibility of causing a wiring defect due to dust at the time of manufacture is reduced to improve a yield by making wider a width W1cir and a width W2cir of the wiring except an active element part of a scanning line driving circuit 17 or a signal line driving circuit 18 than a width W1pix and a width W2pix of the wiring except a picture display part 19.例文帳に追加

走査線駆動回路１７又は信号線駆動回路１８の能動素子部を除く配線の幅Ｗ１ｃｉｒ、幅Ｗ２ｃｉｒを、画像表示部１９の能動素子部を除く配線の幅Ｗ１ｐｉｘ、幅Ｗ２ｐｉｘに比べて広くすることで、製造時にダストによる配線欠陥が生じる可能性を少なくして、歩留まりを向上させるようにした。 - 特許庁

To provide an information display panel hardly causing disconnection by providing a route wiring part avoiding electric corrosion therein, and capable preventing the generation of a defect in a pixel comprising an electrode present ahead of a wiring line which causes disconnection or is liable to cause disconnection.例文帳に追加

引き回し配線部で電蝕が発生しないように引き回し配線部を設けて、断線が起こりにくくし、断線を生じたか、もしくは、断線しやすくなった配線の先にある電極が構成する画素に欠陥が発生するのを防止することのできる情報表示用パネルを提供する。 - 特許庁

An evaluation function including the defect ratio and the covering rate as independent variables is set as an evaluation amount for quality decision, and an evaluation function value is set to be equal to a predetermined constant value or a designation value at the time of the evaluation to calculate an evaluation reference line on the state plane.例文帳に追加

品質判定のための評価量として、不良比率及び網羅率を独立変数として含む評価関数を設定した上で、評価関数値を予め決められた一定値又は評価時の指定値に等しいとおいて、状態平面上での評価基準線を算出する。 - 特許庁

To provide an active matrix type display device and, permitting to easily discriminate a specific bus line when inspecting bus lines and restoring a defect, and a manufacturing method therefor, relating to an active matrix type display device having a switching element at each pixel and the manufacturing method therefor.例文帳に追加

本発明は、各画素にスイッチング素子を有するアクティブマトリクス型表示装置及びその製造方法に関し、バスラインの検査や欠陥修復を行う際に、容易に特定のバスラインを識別することのできるアクティブマトリクス型表示装置及びその製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To raise a controllability of a line width of a pattern, while reducing a developing defect, in case of forming a protective film of a water repellent property on a substrate an which a resist film is formed, and performing a development processing to the substrate after forming a liquid layer on a front surface of the protective film and carrying out an oil immersion exposure.例文帳に追加

レジスト膜が形成された基板の上に撥水性の保護膜を形成し、その表面に液層を形成して液浸露光した後の基板に現像処理を行うにあたって、現像欠陥を低減させると共にパターンの線幅の制御性を向上させること。 - 特許庁

This sensor is acquired by improving a magnetic flaw detection sensor formed from a ferromagnetic material core and a search coil wound thereon which are used for detection of a magnetic flux leaking from a defect existing on a magnetized inspection material arranged between magnetic poles of a magnet disposed along a running line of the inspection material.例文帳に追加

被検査材の走行ラインに沿って配設した磁石の磁極間に配置され、磁化された該被検査材に存在する欠陥から漏洩する磁束の検出に用いられる強磁性体コアとそれに巻回したサーチコイルとで形成された磁気探傷用センサを改良した。 - 特許庁

To provide an image processing device, an image processing method and a computer program which are capable of detecting even an existence of a defect or of a difference in colors nearby a contour line in high accuracy by selecting an appropriate featured value, allowing a firm determination of a non-defective product.例文帳に追加

輪郭線近傍の欠陥や色の相違についても、適切な特徴量を選択することにより、高い精度で存在を検出することができ、良品判定を確実に行うことができる画像処理装置、画像処理方法、及びコンピュータプログラムを提供する。 - 特許庁

To provide an excellent actinic-ray- or radiation-sensitive resin composition suppressing development defect even in patterning by ordinary light exposure and immersion exposure, having a wide exposure latitude and suppressing line edge roughness, and a pattern-forming method to use the composition.例文帳に追加

通常露光さらには液浸露光によるパターニングにおいても、現像欠陥が抑制されるとともに、露光ラチチュードが広く、ラインエッジラフネスを抑制できる、優れた感活性光線性または感放射線性樹脂組成物及びそれを用いたパターン形成方法を提供すること。 - 特許庁

Under an insulating film formed under the pixel electrode 10, there is formed a capacity electrode 22 for defect restoration for forming an auxiliary capacity with the pixel electrode 10 and the insulating film when a black spot mark 24 is irradiated wit laser light and connected with a gate bus line 4.例文帳に追加

画素電極１０の下層に形成された絶縁膜の下層には、黒丸印２４にレーザ光を照射してゲート・バスライン４と接続されると、画素電極１０と絶縁膜とで補助容量を形成する欠陥修復用容量電極２２が形成されている。 - 特許庁

An optical branch part 11 branches an incident side waveguide 10 formed by a linear line defect into two waveguides and the branched two waveguides are respectively inclined by 60° in the travelling direction of light of the incident-side waveguide 10 in linearly symmetric and are inclined by 120° from each other.例文帳に追加

光分岐部１１は１本の直線状の線欠陥で形成された入射側導波路１０を、２本の導波路に分岐し、分岐した２本の導波路は入射側導波路１０の光の進行方向に対して線対称にそれぞれ60度傾き、互いに120度傾いている。 - 特許庁

A display electrode repairing method uses a laser beam to cut the display electrode from the opening and along the metal line to separate a defect position and the other part on the display electrode, so that a short circuit on display electrodes is prevented.例文帳に追加

この画素電極の補修方法は、レーザを用いて前記開口部から、金属配線の方向に沿って、画素電極上における欠陥のある位置とその他部分とを分離することで、画素電極の互いの間が導通してしまうという不具合を防止するものである。 - 特許庁

To provide consumable electrode type arc welding equipment in which an excellent weld bead with no defect is available even when the position of supplying a filler wire is horizontally dislocated in a weld line direction due to the influence of the bend or the like of a filler wire in the forwarding direction of a consumable electrode wire.例文帳に追加

消耗電極ワイヤの進行方向に対するフィラーワイヤの曲がりくせなどの影響によって、フィラー供給位置が溶接線方向に対して左右にずれた状態においても、欠陥なく良好な溶接ビードを得ることのできる消耗電極式アーク溶接装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a system, a program therefor, and a method thereof, which can reliably identify a manufacturing device as a defect generation cause, without having to depend on information about what kind of defects a group of such manufacturing devices forming a manufacturing line, or the like, have generated.例文帳に追加

製造ライン等を構成する製造装置群が過去にどのような欠陥を発生したかという情報に頼ることなく、欠陥の発生原因となっている製造装置を的確に特定することのできる装置、そのプログラム、及びその方法を提供することである。 - 特許庁

In the defect detecting method for detecting defects through the use of light transmitted through a transparent-plate-like body, both the center of illumination light and the optical center of a detector are arranged on a straight line, and a light shielding body for shielding illumination light is provided on an optical axis.例文帳に追加

本発明の欠陥検出方法は、透明板状体の透過光を用いて欠陥を検出する欠陥検出方法において、照明光の中心と検出器の光学的中心とを直線上に配置し、さらに、光軸上に照明光を遮光する遮光体を設ける。 - 特許庁

Furthermore, the defect detection circuit 3 monitors the output 10 of the abnormality detection circuit 2 for an abnormality of a circuit component or the like and when the circuit 3 detects a prescribed number of times of outputs 10 within a prescribed time, the circuit 3 discriminates it to be abnormal and disconnects the coding circuit 1 from a transmission line 9.例文帳に追加

また、回路素子等の異常に対しては、異常検出回路２の出力１０を故障検出回路３で監視し、一定時間内に一定回数の出力１０が検出されたら異常とし、符号化回路１を伝送路９から切り離すようにする。 - 特許庁

The mask inspection device 1 in one embodiment is equipped with a two-dimensional optical sensor 208 for imaging a defect on a mask 220, and a mode-lock fundamental wave laser 101 for irradiating the mask 220 with light having the larger number of repetition than a line rate of the two-dimensional optical sensor 208.例文帳に追加

本発明の一態様に係るマスク検査装置１は、マスク２２０上の欠陥を撮像する二次元光センサー２０８と、二次元光センサー２０８のラインレートより高い繰返し数の光を、マスク２２０に照射するモードロック型の基本波レーザ１０１とを備える。 - 特許庁

A semiconductor integrated circuit (1) does not use a nonvolatile memory connected to a common bus (5) and utilized for general purposes, but uses a nonvolatile memory cell (6) of a fuse circuit (7) connected to a dedicated signal line (9), to store control information for relieving defect or the like of circuit modules (2, 3).例文帳に追加

半導体集積回路（１）は、回路モジュール（２，３）の欠陥救済等のための制御情報の記憶に、共通バス（５）に接続される汎用利用される不揮発性メモリを用いず、専用信号線（９）に接続されたヒューズ回路（７）の不揮発性メモリセル（６）を用いる。 - 特許庁

When a display failure such as line defect is found during a turn-on inspection after a driver LSI 3 is installed, YAG laser is illuminated from the substrate back surface side to a cross section 12 of the wiring 4 and the wiring 5 where a failure is generated so as to connect the wiring 4 and the wiring 5.例文帳に追加

ドライバーＬＳＩ３搭載後の点灯検査にて線欠陥等の表示不良が発生した場合、不良発生箇所のソース配線４とクロス配線５との交差部１２に基板裏面側からＹＡＧレーザーを照射しソース配線４とクロス配線５を接続させる。 - 特許庁

To provide a method for a semiconductor laser welding of aluminum alloy plates, by which method the aluminum alloy plates are welded at high speed and weld defect is prevented in a manufacturing line of assembled aluminum plates of automobiles, railroad cars, buildings or the like for which aluminum alloys are used.例文帳に追加

本発明はアルミニウム合金を使用する、自動車、鉄道車両、建造物等の組み立てアルミニウム合金板の製造ラインでのアルミニウム合金板同士を高速にて溶接する事が出来ると共に、溶接欠陥を防止する事ができるアルミニウム合金板の半導体レーザ溶接方法に関する。 - 特許庁

To provide a developing device which can prevent the generation of a scratch or a line as a defect on an image on the surface of a developer thickness regulating member, which can apply toner uniformly on a developing sleeve and which can obtain a high quality image having uniform durability without unevenness.例文帳に追加

現像剤層厚規制部材の表面に画像上に欠陥として現れるような傷やスジの発生を防ぎ、現像スリーブ上に均一なトナー塗布を行うことのできる、耐久においても均一でムラのない、高品位の画像を得ることのできる現像装置を提供することにある。 - 特許庁

Also, by arranging the main seal pattern 2 by bending it in the corrugated shape in the line width of a conventional straight pattern, the peeling load of the main seal pattern 2 per unit area of glass is improved and the serious defect of seal peeling is hardly induced in the process of cutting stuck glass into a panel individual piece size.例文帳に追加

また、本シールパターン２を従来の直線パターンの線幅で波状に曲げて配置することにより、ガラスの単位面積当たりの本シールパターン２の剥離荷重が向上し、貼り合わせガラスをパネル個片サイズに切断する工程において、シール剥離という重大欠陥を誘発しにくくなる。 - 特許庁

To provide a magnaflux method, in which the quality of a steel material can be stabilized by a method where the inspection capability of a defect on the surface of the steel material by a magnaflux inspection is enhanced, energy is saved, the productivity of line operation is enhanced and the generation of a defective in a fabricating operation is prevented.例文帳に追加

磁粉探傷による鋼材表面の欠陥の検査能力の向上と、さらに省エネルギー化を図り、かつ、ライン操業の生産性を向上させ、２次加工時の不良の発生を防止し、品質の安定化を図る磁粉探傷方法を提供することである。 - 特許庁

Further, since conventionally the connection test has been conducted between the logic section and the line address, the column address in the whole LSI operation test resulted in low defect detection rate; however it can be conducted in a scan test and a test pattern which has a high detection rate of the circuit defects can be created automatically.例文帳に追加

さらには、ロジック部とメモリ間の行アドレス及び列アドレスの接続テストを従来は、ＬＳＩ全体の実動作テストで行っていたため、回路の故障検出率を低かったが、この発明によりスキャンテストにより行うことができ、回路の故障検出率が高いテストパターンを自動で作成することができる。 - 特許庁