「Line defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

Since the inspection 5 is arranged between the signal line driving circuit 3 and the drive IC (Integrated Circuit) 4 and the drive IC 4 and the inspection circuit 5 are made to utilize the same data lines, not only a defect in the pixel array 1 but also a defect in the signal line driving circuit 3 can be detected correctly when performing inspection.例文帳に追加

信号線駆動回路３と駆動ＩＣ４の間に検査回路５を配置し、駆動ＩＣ４と検査回路５が同じデータ線を利用するようにしたため、検査時には、画素アレイ部１内の不良だけでなく、信号線駆動回路３内の不良も正しく検出することができる。 - 特許庁

To provide a defective pixel detection method and an image processing apparatus, which can accurately detect a position, in which image correction is required, to accurately perform image correction even in the case where normal pixels adjacent to a line defect generate abnormal output signals due to an influence of the line defect.例文帳に追加

線欠陥の影響により、隣接する正常な画素が異常な出力信号を発生する場合でも、画像補正が必要な箇所を正確に検出し、正確に画像補正することができる欠陥画素検出方法および画像処理装置を提供する。 - 特許庁

Although a serious line defect appears on a picture display in the case the interlayer short circuit takes place between the drain wire and the shield common electrode, the line defect can be repaired or made to disappear by cutting off both sides of the slit on which the short circuit has taken place with the laser repair etc. and separating the place where the short circuit has taken place.例文帳に追加

ドレイン配線とシールド共通電極との層間ショートが発生した場合、画面表示上は重大な線欠陥となるが、ショート発生部のスリットの両脇をレーザーリペア等で切断し、ショート箇所を分離することで、線欠陥をリペア・消滅することができる。 - 特許庁

A defect address storage unit 46 comprises first and second defect address storage units 46a and 46b which store the address of a longitudinal line flaw of image data outputted during long-time exposure of 1/30 sec., and the address of a longitudinal line flaw of image data outputted during the short-time exposure of 1/60 sec.例文帳に追加

欠陥アドレス格納部４６は、１／３０秒の長時間露光時に出力された画像データの縦線キズのアドレスと、１／６０秒の短時間露光時に出力された画像データの縦線キズのアドレスとをそれぞれ格納する第１及び第２欠陥アドレス格納部４６ａ，４６ｂからなる。 - 特許庁

To provide a substrate for a liquid crystal display device having a wiring structure which can avoid problems arising when a Cu material is used and suppress a disclination defect due to a step of a lower-layer side wiring line and a wire breaking defect of an upper-layer side wiring line, and its manufacturing method.例文帳に追加

Ｃｕ材料を用いる場合に生じる問題を回避するとともに、下層側の配線の段差に起因するディスクリネーション不良や上層側配線の断線不良の発生を抑制することができる配線構造を備えた液晶表示装置用基板及びその製造方法の提供。 - 特許庁

The surface of the steel sheet 100 flowing the production line is inspected by a surface inspection device 20, and the surface defect of the steel sheet 100 is automatically dressed by a grinding mechanism 20 according to the type and degree of a defect without stopping the production line.例文帳に追加

生産ラインを流れる薄鉄鋼１００の表面を表面検査装置２０４により検査し、この検査により発見された薄鋼板１００の表面欠陥を、生産ラインを止めず、かつ欠陥の種類や程度に応じて、研磨機構２０７により自動的に手入れする。 - 特許庁

Also, by having both a low resolution optical system and a high resolution optical system, both a circular or a rectangular pattern defect and a defect of fine line width such as an CD error can be detected simultaneously.例文帳に追加

さらに、低解像度光学系と高解像度光学系の両方を具えることにより、円形又は矩形のパターン欠陥とＣＤエラーのような微細線幅の欠陥の両方を同時に検出することができる。 - 特許庁

To improve the efficiency of the management (deletion, retrieval and display, etc.) of image data while defect image data gathered every day in a semiconductor mass production line become extensive by the throughput improvement of a review SEM (defect observation apparatus).例文帳に追加

レビューＳＥＭのスループット向上により、半導体量産ラインにおいて日々収集される欠陥画像データが大量になってきており、それらの画像データの管理（削除、検索、表示等）の効率化が望まれている． - 特許庁

To provide a coating apparatus capable of preventing a coating defect caused by an ejecting defect of an inkjet head with a simple configuration in coating using a line type, and to provide a method of manufacturing an optical film using the same.例文帳に追加

ライン型を用いた塗布において、インクジェットヘッドの射出不良による塗布不良を、簡易な構成で防止できる塗布装置及び前記塗布装置を用いた光学フィルムの製造方法を提供する。 - 特許庁

Thereby, potential difference between the potential of the pixel electrode having the adjacent defect and the potential of the normal pixel electrode is made high and the detection of the short circuit defect between the pixel electrodes adjacent across the source line is made easy.例文帳に追加

これによって、隣接欠陥を有する画素電極の電位と正常な画素電極の電位との電位差を大きくし、ソースラインを挟んで隣接する画素電極間の短絡欠陥の検出を容易とする。 - 特許庁

On the other hand, as for the processing mark M_4, a direction line m_4" points to a defect part section A_0 so as to show that the section A_0 of the defect part A exists in the left direction (y-direction), viewing from the mark M_4.例文帳に追加

一方、加工用マークＭ_４は、そのマークＭ_４から見て左方向（ｙ方向）に欠陥部分Ａの断面Ａ_０があることが分かるように、方向線ｍ_４”は欠陥部分断面Ａ_０の方を指している。 - 特許庁

To solve the problem that an electric charge is not recovered in a signal line repaired by using a spare wiring line connected to an output terminal of a spare driving buffer used when a disconnection defect and a shortcircuit defect are repaired when charge distribution aimed at low power consumption is performed on a source bus wiring line in a vertical direction in a liquid crystal display device.例文帳に追加

液晶表示装置において、低消費電力化を目的とした電荷配分が垂直方向のソースバス配線に対し実施される場合、断線不良や短絡不良を修復した場合に使用される予備の駆動バッファの出力端子に接続される予備の配線で修復された信号線に関しては電荷回収が行われない。 - 特許庁

The line width of the pattern of the absorbing film 4 adjacent to a pattern defect correcting portion is made narrow, thereby improving the reflection rate.例文帳に追加

パターン欠陥修正部に隣接する吸収膜４のパターンの線幅を狭くすることにより、反射率を向上させることができる。 - 特許庁

To carry out the evaluation of the defect inspection or the like of a test piece having a pattern of a minimum line width of 0.2 μ or less by using a multiple beam at high throughput.例文帳に追加

最小線幅０．２ミクロン以下のパターンを有する試料の欠陥検査等の評価を、マルチビームを用いて高スループットで行なう。 - 特許庁

To provide a defect inspection method which enables detection of defects on an edge line of a surface to be inspected, only on the basis of the binarized images of the surface to be inspected.例文帳に追加

被検査面の二値化画像のみに基づいて被検査面のエッジライン上の欠陥を検出可能な欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a gas meter for detecting wire breakage of a communication line to allow repair of the wire breakage before occurrence of a communication defect.例文帳に追加

通信線の断線を検出して、通信不具合が発生する前に通信線の断線を修理することができるガスメータを提供する。 - 特許庁

To obtain fail pattern data in a spare area on a must repair line without spending much time in the process of the defect relief and analysis processing of a memory.例文帳に追加

メモリの不良救済解析処理の過程において、マストリペアライン上のスペア領域のフェイルパターンデータを時間を掛けることなく取得する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit that can secure a sufficient margin against a defect at a part where a wiring line changes in width and pitch.例文帳に追加

配線の幅とピッチが変化する部分の欠陥に対するマージンを十分に確保することが可能な半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

To provide an active matrix test substrate and a testing method which facilitate defect detection even when a scan line driving circuit of CC driving is included.例文帳に追加

ＣＣ駆動を行う走査線駆動回路を含んでいても欠陥検出が容易なアクティブマトリクス型検査基板と検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a matrix type cold-cathode electron source device in which line defect in matrix operation can be prevented even if the number of emitter is increased.例文帳に追加

エミッタ数を増やした場合においてもマトリックス動作時の線欠陥を防止できるマトリックス型冷陰極電子源装置を提供する。 - 特許庁

With this arrangement, when a test for detecting a bad address is performed in a wafer state, a defect of a column selection line can be detected.例文帳に追加

これにより、ウェハ状態で行われる不良アドレスの検出試験を行う際に、カラム選択線の不良を検出することが可能となる。 - 特許庁

To provide a normal infrared image without any line defect by inhibiting a short circuit from being produced across cells adjoining each other with compact pads interposed between.例文帳に追加

コンパクトパッドを介して隣接するセル間にて発生するショートを抑制することにより、線キズのない正常な赤外線画像を得る。 - 特許庁

To provide an imaging device that can eliminate an inter-line step difference without causing a defect in signal processing for a short arithmetic operation time.例文帳に追加

短い演算時間で、信号処理における不具合を生じること無くライン間段差を解消することができる撮像装置を提供する。 - 特許庁

An expression cell line which has one defect to generate lowering of a sialic acid addition ability of cells in the sugar nucleotide biosynthetic pathway of sialic acid is produced.例文帳に追加

シアル酸の糖ヌクレオチド生合成経路における、細胞のシアル酸付加能の低下を引き起こす欠損を有する発現細胞系の作製。 - 特許庁

To reliably detect a defect detection signal changing in short times in a high speed line via a low-cost device by reducing a load on data processing.例文帳に追加

データ処理の負荷を軽減して、安価な装置により、高速ラインで短時間に変化する欠陥検出信号を確実に検出可能とする。 - 特許庁

This allows all redundant memory lines to be available for laser repair, if needed, but also allows a redundant memory line to be selected for post repair after it has been determined that the redundant memory line is defect-free.例文帳に追加

これはあらゆる冗長メモリラインをレーザーリペア用に使用できるようにするだけでなく、必要であれば、その冗長メモリラインが不良でないと決定された後、ポストリペア用にも使われるようにする。 - 特許庁

The minimum height (h) of the detected projecting defect Wi can be set arbitrarily by changing the shift amount (x) of the imaged position (focal position) 2b of the line sensor camera 2 from the boundary line We.例文帳に追加

検出される凸状欠陥Ｗｉの最小高さｈは、ラインセンサカメラ２の撮像位置（焦点位置）２ｂと前記境界線Ｗｅとのずれ量ｘを変えることで任意に設定できる。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device capable of surely holding a current flowing via an equalizing circuit at a fixed limiting current when short-circuit defect of a bit line and a word line occurs.例文帳に追加

ビット線とワード線のショート欠陥が発生する場合、イコライズ回路を介して流れる電流を一定の制限電流に確実に保持することが可能な半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

Thereby, defect of a bit having no margin can be detected for pre-charge voltage of a higher bit line or a lower bit line by making pre-charge voltage of bit lines variable.例文帳に追加

本発明により、ビット線のプリチャージ電圧を可変にすることにより、高いビット線のプリチャージ電圧もしくは低いビット線のプリチャージ電圧に対して、マージンの無いビット不良を検出することができる。 - 特許庁

To realize an electroluminescent element with improved luminous sensitivity and to realize an electroscope of a power line, a conduction display power line, and a circuit board defect inspection device using the electroluminescent element.例文帳に追加

発光感度を増大させた電界発光素子を実現し，電界発光素子利用して電力線の検電器及び通電表示電力線及び回路基板欠陥検査装置等を実現する。 - 特許庁

To provide an automatic inspection device for display panel which automatically inspects testing items such as point defect or line defect, while achieving an enhancement of precision in detection and judgment of display unevenness without requiring any difficult display unevenness detection/determination processing.例文帳に追加

自動的に点欠陥や線欠陥などの検査項目を検査するとともに、困難な表示ムラ検出・判定処理を必要とせずに表示ムラの検出・判定の精度を向上可能なディスプレイパネル自動検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a technique capable of preventing a conductive material for defect correction from spreading up to an unnecessary part when a defect caused by breaking of a wiring line is corrected using a printing method which can be processed at low temperature.例文帳に追加

低温で処理できる印刷法を用いて、配線の断線による欠陥を修正する場合に、欠陥修正用の導電性材料が不要な部分まで広がることを防止することができる技術を提供する。 - 特許庁

To provide a defect correction method and a defect correcting device for correcting a disconnected defective portion in a wiring line thinner than 10 μm by an easy method without contaminating a TFT substrate nor damaging the nearby area of the defective portion.例文帳に追加

ＴＦＴ基板を汚染することなく、欠陥部の近傍にダメージを与えることなく、簡単な方法で１０μｍよりも細い配線の断線欠陥部を修正することが可能な欠陥修正方法を提供する。 - 特許庁

To provide a coating defect inspection method of a magnetic tape that can detect a coating defect on line and specify its position in applying magnetic coating material with a die coater, can efficiently manufacture the magnetic tape correspondingly, and requires only small amount of inspection cost.例文帳に追加

磁気塗料をダイコータで塗布する際に、オンラインで塗工欠陥を検出してその位置を特定でき、その分だけ磁気テープを能率よく製造でき、しかも検査コストが少なくて済む磁気テープの塗工欠陥検査法を提供する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device and method for a film, capable of inspecting simply and easily an optical defect in the film to be inspected formed with an optical compensation layer having a double refraction characteristic, in a production line or the like.例文帳に追加

製造ライン等において、複屈折特性を有する光学補償層が形成された被検査フィルムの光学的欠陥検査を簡易かつ容易に行うことができるフィルムの欠陥検査装置よおび方法を提供する。 - 特許庁

The display and detection control circuit 6 corrects the data signal to peripheral pixels based on the black spot defect position, and when a data line drive circuit 11 is driven by the corrected data signal, the black spot defect is corrected visually.例文帳に追加

この表示及び検出制御回路６は、黒点欠陥位置に基づいて、その周辺画素へのデータ信号を補正し、補正したデータ信号にてデータ線駆動回路１１を駆動することで、視覚的に黒点欠陥を補正する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device for electroluminescent element capable of surely discriminating RGB colors, and is further, capable of inspecting a plurality of pixel areas on a manufacturing line.例文帳に追加

ＲＧＢの色を確実に識別でき、さらに製造ライン上で複数の画素領域を検査できるエレクトロルミネッセンス素子の欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁

On the other hand, measurement of line width, measurement of overlap and inspection of macro defect are carried out after the substrate is developed and heat-treated and before being returned back to an indexer ID.例文帳に追加

一方、線幅測定、重ね合わせ測定およびマクロ欠陥検査については現像後熱処理の後、インデクサＩＤに戻される前に行われる。 - 特許庁

A defective signal level of the image pickup sensor 101 caused on a line including the defect-generating position and in parallel with the one direction is corrected.例文帳に追加

特定された不良発生位置を含みかつ前記一方向に平行な線上に生じる撮像センサ１０１の信号レベル不良を補正する。 - 特許庁

To provide a defect inspection method capable of relatively easily determining a threshold even when a new product type is added to a manufacturing line.例文帳に追加

製造ラインに新たな製品種別が追加された場合であっても、比較的容易にしきい値を決定することができる欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To correct a point defect while decreasing an impedance of an auxiliary capacitance signal trunk line, and to suppress increase in the area of a non-display region.例文帳に追加

補助容量信号幹線のインピーダンスを低下させながらも点欠陥の修正が可能であり、しかも、非表示領域の面積増加を抑制する。 - 特許庁

To provide a pattern modifying apparatus which can modify a disconnected electrode with a thin line that has a size of about 10 μm, having less contamination at the peripheries of defect parts.例文帳に追加

１０μｍ前後の細線で電極断線部などを修正することができ、かつ、欠陥部周辺の汚染が小さなパターン修正装置を提供する。 - 特許庁

The inspection unit blocks are all the same size and area, and their size is determined so it can be covered by performance of defect inspecting devices used in a manufacturing line of the device.例文帳に追加

また、検査単位ブロックは全て同じ寸法面積で、その大きさはデバイスの製造ラインで使用される欠陥検査装置の性能が及ぶ程度にされる。 - 特許庁

A surface defect detector 3 is provided on an inspection line and the surface defects of a cold-rolled steel sheet 1 are detected and input to a marking controller 5.例文帳に追加

検査ラインには表面欠陥検出器３が設けられ、冷延鋼板１の表面欠陥を検出してマーキング制御装置５に入力する。 - 特許庁

To provide a display device capable of further improving display quality by removing a line defect causing a first pixel row to become brighter or darker than other pixel rows.例文帳に追加

先頭の画素行が他の画素行より明るく又は暗く見えるライン不良を除去して表示品質を更に向上可能な表示装置を提供する。 - 特許庁