「Line defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

In a defect detector 10, a line sensor 12 picks up a test object 14, a binarizing circuit 18 prepares binary image data on the basis of a video signal of the line sensor 12.例文帳に追加

欠陥検出装置１０は、ラインセンサ１２が検査対象１４を撮像し、２値化回路１８がラインセンサ１２の映像信号に基づいて２値画像データを作成する。 - 特許庁

To solve the problem that since the operation of an amplifier circuit becomes unstable in a planar display device having the small wiring capacity of a signal line, a line defect due to the shortage of the writing of video data occurs.例文帳に追加

信号線の配線容量が小さい平面表示装置では、アンプ回路の動作が不安定になり、映像データの書き込み不足による線欠陥が生じる。 - 特許庁

In addition to inspection of breaking of a data line and a digital data driver output, it can be decided whether a spot defect is caused by using the inspecting circuit provided on the opposite side of the data line.例文帳に追加

データ線の反対側に設けられた検査回路を用いて、データ線の断線やデジタルドライバ出力の検査の他、点欠陥の有無も判定できるようになる。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display unit and its defect repair method which can repair a defect place relatively easily if the distance from a display part to an edge of a substrate is short and a defect due to a short circuit between a storage capacity bus line batch electrode and a gate bus line crossing it occurs.例文帳に追加

表示部から基板の縁までの距離が小さく、且つ、蓄積容量バスライン一括電極とそれに交差するゲートバスラインとの短絡による欠陥が発生したときに比較的簡単に欠陥個所を修復することができる液晶表示装置及びその欠陥修復方法を提供する。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display device and a defect restoring method therefor, that can restore a disconnection defect occurring in a storage capacity bus line without causing a new spot defect.例文帳に追加

本発明は、液晶表示装置及びその欠陥修復方法に関し、新たな点欠陥を生じさせずに蓄積容量バスラインに生じた断線欠陥を修復できる液晶表示装置及びその欠陥修復方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

The photonic crystal line defect waveguide 110 is arrayed with holes 112 by photonic crystals within a high dielectric constant medium 1111 by dividing these holes to two groups in a triangular grid form and the line defect section 113 is formed at their boundary.例文帳に追加

フォトニック結晶線欠陥導波路１１０は、高誘電率媒質１１１１内にフォトニック結晶による孔１１２が三角格子状に２つのグループに分けて配列され、その境界部には線欠陥部１１３が形成されている。 - 特許庁

To provide a defect marker for forming indentations easy to check by visual inspection independently of the existence or non-existence of rustproof oil or of defect detection performance on the fabricator side as to a processing line for winding up an aluminum sheet into a coil, a method of defect marking, and a defect-marked coil.例文帳に追加

アルミニウム板をコイルに巻き取る処理ラインにおいて、防錆油の有無及び加工メーカー側の欠陥検出性能に関らず、目視によって容易に確認可能な圧痕を形成することができる欠陥マーキング装置、欠陥マーキング方法及び欠陥マーキングされたコイルを提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a board for a display device that comprises wiring for repair to restore disconnection defect occurring in a data bus line, actualizes a repaired data bus line when the wiring for repair is short-circuited, and easily performs discrimination with line defect occurring due to another cause, and to provide a liquid crystal display panel and device as well as a defect inspection method of wiring for repair.例文帳に追加

本発明は、データバスラインに生じた断線欠陥を修復するリペア用配線を備え、リペア用配線が短絡した場合にはリペア処理を施したデータバスラインを顕在化させ、他の原因で生じる線欠陥との識別を容易に行える表示装置用基板、液晶表示パネル及び液晶表示装置並びにリペア用配線の欠陥検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a matching method of a charged particle beam device capable of accurately measuring and inspecting line width, defect and the like of a sample.例文帳に追加

試料の線幅、欠陥などを精密に測定、検査することができる、荷電粒子ビーム装置のマッチング方法の提供。 - 特許庁

This means that the defect of the data line is judged by the logical value of output of the logical circuit, that is, a binary state.例文帳に追加

これはデータ線の欠陥は、論理回路の出力である論理値、つまり２値の状態によって判定できることを意味する。 - 特許庁

To improve a sensitivity by preventing a bias defect or shading occurrence caused by a voltage drop in a row selection line.例文帳に追加

行選択線の電圧降下に起因するバイアス不良やシェーディング発生を防止することができ、感度の向上をはかる。 - 特許庁

To suppress the increase in line defect even in the case that a liquid crystal display device receives a peeling electrification before completion of an array part of a thin film transistor.例文帳に追加

薄膜トランジスタのアレー部分の完成までに剥離帯電を受けた場合にも、線欠陥不良の増加を抑える。 - 特許庁

A directional coupler is constructed with two line defect optical waveguides 1 and 2 and a saturable absorption region 6.例文帳に追加

２本の線欠陥光導波路１および２と可飽和吸収領域６とによって方向性結合器が構成される。 - 特許庁

When defects exist in the inspection ranges 14, 22 and 23, a CCD line sensor camera 15 receives the scattered light from each defect.例文帳に追加

ＣＣＤラインセンサカメラ１５は、検査範囲１４，２２，２３に欠陥が存在する場合、各欠陥からの散乱光を受光する。 - 特許庁

ELECTROLUMINESCENT ELEMENT, ELECTROSCOPE USING ELECTROLUMINESCENT ELEMENT, CONDUCTION DISPLAY POWER LINE, AND CIRCUIT BOARD DEFECT INSPECTION DEVICE例文帳に追加

電界発光素子及び電界発光素子を用いた検電器及び通電表示電力線及び回路基板欠陥検査装置 - 特許庁

Thus, voltage stress is generated between the bit line BL1 and the peripheral circuit or the like, and a defect is made conspicuous.例文帳に追加

これにより、ビット線ＢＬ１と周辺回路等との間に電圧ストレスを生じさせ不良を顕在化させることができる。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory which can perform easily defect detection of the data line redundancy replacing circuit of a shift system.例文帳に追加

シフト方式のデータ線冗長置換回路の不良検出を容易に行なうことができる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a polymer for resist generating little line edge roughness and forming little defect in DUV excimer laser lithography, etc.例文帳に追加

ＤＵＶエキシマレーザーリソグラフィー等において、ラインエッジラフネスが小さく、ディフェクトの生成も少ないレジスト用重合体を提供する。 - 特許庁

Variation in fastening torque is eliminated in an automatic assembly line to reduce occurrence of product defect.例文帳に追加

また、自動組み立て作業ラインにおいて、ねじ締めトルクにばらつきを生じることが解消され、製品不良の発生が減少する。 - 特許庁

The total reflection confinement type waveguide 120 has the same or approximately the same width as the width of the line defect section 113.例文帳に追加

全反射閉じ込め型導波路１２０は、その幅が線欠陥部１１３の幅と同一又は略同一の幅を有している。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a liquid crystal device which does not cause a line defect, a liquid crystal device, and an electronic apparatus thereof.例文帳に追加

線欠陥を生じさせることのない液晶装置の製造方法、液晶装置及び電子機器を提供すること。 - 特許庁

To reduce line defect problems of postprocessing, a reliability test, and a user by preventing a defect in connection from being overlooked in sensitive inspection and an inspector from incorrectly deciding an unstable connection.例文帳に追加

感応検査での接続不良の見逃しや、接続不安定なものの検査作業者による判定違いの発生を防ぎ、後工程や信頼性試験及びユーザーにおける線欠陥問題を低減する。 - 特許庁

The liquid crystal generates no defect line (loop defect), and not only is the γ characteristics observed when the liquid crystal device from the front but also can the γ characteristic, with the device being observed from an oblique direction, be made uniform.例文帳に追加

また、液晶に欠陥線（ループ欠陥）が発生せず、液晶素子を正面から見たときのγ特性はもちろんのこと、液晶素子を斜めから見たときのγ特性も均一にできる。 - 特許庁

To provide a continuous line for correcting a defect in a color filter with which a defect generated in a color filter substrate is efficiently corrected and generation of defective products is suppressed.例文帳に追加

カラーフィルタ基板に生じてしまった欠陥を効率よく修正することができ、また、不良品の発生を極力低く抑えることができるカラーフィルタ欠陥修正一貫ラインを提供する。 - 特許庁

By driving the test transistors 145 without mounting the source driver IC14, an image can be displayed on a display screen 22, and defects such as a point defect, a line defect and color slippage can be easily detected.例文帳に追加

テストトランジスタ１４５を動作させることにより、ソースドライバＩＣ１４を実装せずとも、表示画面２２に画像を表示でき、点欠陥、線欠陥、色ずれなどを容易に検出することができる。 - 特許庁

As for the observation mark M_3, a direction line m_3" points to a defect part section A_0 so as to show that the section A_0 (sample processing part) of a defect part A exists in the right direction, viewing from the mark M_3.例文帳に追加

観察用マークＭ_３は、そのマークＭ_３から見て右方向に欠陥部分Ａの断面Ａ_０（試料加工部）があることが分かるように、方向線ｍ_３”は欠陥部分断面Ａ_０の方を指している。 - 特許庁

A data line or a data line and a power supply line in a unit pixel area of the organic electroluminescence element are formed in a trench formed by etching an insulating film, and a 1st electrode as a pixel electrode is formed so as to overlap the data line or the upper part of the data line and power line without causing a defect such as cross/talking.例文帳に追加

本発明は、有機電界発光素子の単位画素領域上のデータラインまたはデータライン及び電源供給ラインを、絶縁膜をエッチングして形成したトレンチ上に形成して画素電極である第１電極を、クロス・トークのような不良発生なくデータラインまたはデータライン及び電源供給ラインの上部にオーバーラップするように形成する。 - 特許庁

To provide a transmission line inspection system using an unpiloted plane capable of automatically inspecting whether a cap defect and a crack are caused in the insulator used in a transmission line.例文帳に追加

送電線に使用されている碍子に笠欠および亀裂が生じているか否かを自動的に点検することができる無人飛行体を用いた送電線点検システムを提供する。 - 特許庁

In so doing, a conventional process of manually taking out a glass substrate from the line and visually confirming a defect to make a final judgment is omitted to enable to perform in-line final judgment.例文帳に追加

このようにすることで、従来人手でガラス基板をラインから取り出し、欠陥を目視確認して最終判断を行っていた工程を省き、インラインでの最終判定を可能とする。 - 特許庁

When inspection is performed, the defect of the data line is judged by output of the logical circuit obtained by applying a driving signal for inspection corresponding to a prescribed logical value to the data line.例文帳に追加

検査のときには、所定の論理値に対応する検査用駆動信号をデータ線に印加し、このときに得られる論理回路の出力によりデータ線の欠陥を判定する。 - 特許庁

To eliminate the scattering of a line part, a fixing defect and the fluctuation of line width as for an image forming device constituted so that plural image forming units are arranged side by side and almost in parallel and an image forming method.例文帳に追加

複数の画像形成ユニットがほぼ平行に並設した画像形成装置および方法に関し、ライン部散り、定着不良、およびライン幅変動を解消すること。 - 特許庁

To provide a new bookbinding method using a paper folded in zigzag and a line paste bonding for eliminating defect of a book found by a perfect binding using a conventional hot-melt line adhesive, and further improving it.例文帳に追加

従来のホットメルト線のりによる無線とじによるブックの欠点を解消し更に改良するためのジグザグ折り用紙及び線のり接着による新しい製本方法。 - 特許庁

Thereby, a conventional process of manually taking out a glass substrate from a line and visually checking a defect to make a final judgment is eliminated, so that in-line final determination can be made.例文帳に追加

このようにすることで、従来人手でガラス基板をラインから取り出し、欠陥を目視確認して最終判断を行っていた工程を省き、インラインでの最終判定を可能とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor storage device that suppresses an increase in chip area and reduces a leak current in a low-power (power-down) state due to a short circuit between a bit line and a word line due to a cross defect.例文帳に追加

チップ面積の増大を抑止し、クロス不良によるビット線とワード線間の短絡による、低電力（パワーダウン）時のリーク電流を削減する半導体記憶装置の提供。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory in which efficiency of relieving defect can be improved by enabling replacing a defective normal word line by a redundant word line having other decoding signal.例文帳に追加

不良のノーマルワードラインと他のデコーディング信号を有するリダンダントワードラインに代替が可能であることによって不良救済効率を増やすことができる半導体メモリ装置を提供する。 - 特許庁

The beads spacers are disposed on the longitudinal signal line and/or the lateral signal line of the substrate by an ink jetting system to improve the defect due to the beads spacers on the pixel electrode.例文帳に追加

ビーズスペーサーを、基板上の縦方向信号線及び／又は横方向信号線上に、インクジェット方式で配置することで、画素電極上のビーズスペーサによる不具合を改善する。 - 特許庁

To provide a method of friction stir welding and equipment of the friction stir welding in which a rotating tool detects the center line and the width of a gap in line, and further easily detects a weld defect.例文帳に追加

回転工具がインラインで前記ギャップの中心線、ギャップ幅を検出できるのみならず、接合不良も容易に検出できる摩擦攪拌接合方法とその装置の提供。 - 特許庁

The control part is provided with a decision means which discriminates a defect in connection of the cable from communication abnormality using a communication line or voltage variation of a ground line provided to the cable.例文帳に追加

コントロール部にはケーブルの接続不良を、通信線を利用した通信異常か、ケーブルに設けられた接地線の電圧変動によって判別する判別手段が設けられる。 - 特許庁

To prevent a defect from being transferred onto a wafer substrate, by reducing the thickness of an organic film for correcting an opening-like defect by treatment on a line even when performing a washing treatment at specified timing to suppress the variations in pattern line width after exposure, and by the decreased shielding capability in charged particle beams at the defect portion.例文帳に追加

露光後のパターン線幅の変動を抑えるべく所定タイミングで洗浄処理を行う場合であっても、その線上処理によって開口状欠陥を修正する有機膜の膜厚が減少し、その欠陥部分における荷電粒子線の遮蔽能力低下により、ウエハ基板上へ欠陥が転写されてしまうのを回避できるようにする。 - 特許庁

An eddy current defect detection apparatus 10 comprises three flaw-detecting machines 12, 13 and 14 arranged along a path line for a material 11 to be inspected.例文帳に追加

渦流探傷装置１０は、被検査材１１のパスラインに沿って配置された３基の探傷機１２,１３,１４で構成される。 - 特許庁

Also signal light 3 is made incident on one out of the line defect optical waveguides 1 and 2, and control light 4 is made incident on the other out of the two.例文帳に追加

また、線欠陥光導波路１および２には、一方に信号光３が入射され、他方に制御光４が入射される。 - 特許庁

To automatically prepare a mask image capable of reliably masking a border line of a light-and-shade pattern, and to appropriately detect coating defect.例文帳に追加

明暗パターンの境界線をより確実にマスクするマスク画像を自動作成すると共に塗装欠陥をより適切に検出する。 - 特許庁

Further, the defect compensating circuit 76 performs interpolation using a prepared interpolation pattern selected according to adjacent patterns of the dot flaw and line flaws.例文帳に追加

また、欠陥補正回路７６は点キズと線キズの隣接パターンに応じて予め用意された補間パターンから選択して補間する。 - 特許庁

Inspection units 10 and 20 performing macro defect inspection or line width measurement of a pattern are disposed in the indexer ID.例文帳に追加

マクロ欠陥検査やパターンの線幅測定等を行う検査ユニット１０および検査ユニット２０はインデクサＩＤの内部に配置している。 - 特許庁

To provide a wheel cutter for brittle materials in which neither chips nor the edge defect of a incision line easily generates when forming a rib mark.例文帳に追加

リブマーク形成時に切り粉や切込みラインの角欠けが発生し難い脆性材料用のホイールカッターを提供しようとするもの。 - 特許庁