「Line defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(7ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a method for manufacturing a gas barrier film showing an effect in preventing an application defect when a stretched gas barrier film having a PVA gas barrier layer is manufactured by an in-line coating method.例文帳に追加

ＰＶＡガスバリア層を有する延伸ガスバリアフィルムをインラインコート法によって製造する際の塗工欠陥の発生を防止する効果のある製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory capable of efficiency relieving the defect of a memory cell unit including a plurality of cells accessed from a common bit line by a small number of circuits.例文帳に追加

共通のビット線からアクセスされる複数のセルを含んだメモリセルユニットの欠陥を、少ない回路で効率的に救済できる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

For a linear defective pixel column (longitudinal line flaw 62) caused by the defect of the vertical transfer path, only the head coordinates of the flaw are recorded in the ROM.例文帳に追加

本発明では、垂直転送路の欠陥に起因する直線状の欠陥画素列（縦線キズ６２）について、キズの先頭座標のみをＲＯＭに記録しておく。 - 特許庁

To provide cationic polymerization inkjet ink having excellent adhesiveness even when used in a line printer and showing improved resistance against a stripe defect, and to provide an inkjet recording method using the ink.例文帳に追加

インプリンタで使用しても密着性に優れ、かつスジ故障耐性が向上したカチオン重合型インクジェットインクとそれを用いたインクジェット記録方法を提供する。 - 特許庁

When the A mobile station 3 is located in a reception defect area A1, the A mobile station 3 captures the receiving status signal of a B mobile station 8 via a longitudinal voice/signal line 14.例文帳に追加

Ａ移動局３が受信不良エリアＡ１にあれば、Ａ移動局３は前後音声・信号ライン１４を介してＢ移動局８の受信状態信号を取り込む。 - 特許庁

If a defect in connection is caused, a display element is controlled to blink or a power source part 32 is controlled to cut off the voltage supply to a power line 61b.例文帳に追加

接続不良が起きたときは表示素子３４が点滅制御されるか、電源部３２が制御されて電源線６１ｂへの電圧供給が遮断される。 - 特許庁

Since the image pick-up part 18 uses a high-resolution line CCD 21, it can detect even a small defect that could not be detected by a conventional surface-inspecting device.例文帳に追加

撮像部１８は、高解像度のラインＣＣＤ２１を使用しているため、従来の表面検査装置では検出できなかった小さな欠陥も検出する。 - 特許庁

To prevent a defect of folding around a ruled line from being generated and to improve appearance in a method for manufacturing a corrugated fiberboard box by processing a flat sheet-like corrugated fiberboard sheet.例文帳に追加

平板状の段ボール板を加工して段ボール箱を製造する方法において、罫線の周辺で折り曲げ不良の発生を防止して見映えを向上させる。 - 特許庁

To provide a TFT substrate capable of suppressing alignment treatment unevenness caused by level difference by a wiring line, an electrode and the like, reducing generation of an alignment defect and shortening charging time.例文帳に追加

配線や電極等による段差に起因する配向処理むらを抑制し、配向不良の発生を低減でき、充電時間を短くできるＴＦＴ基板の提供。 - 特許庁

To provide a radiation curable composition capable of producing a concave and convex-shaped sheet having a surface on which a regular fine concave and convex pattern is formed, with high quality, without a defect, at a high line speed with high productivity.例文帳に追加

表面に規則的な微細凹凸パターンが形成された凹凸状シートを、欠陥なく高品質で、かつ高ラインスピードで生産性よく製造する。 - 特許庁

To provide a radiographic apparatus capable of accurately correcting a line defect even in the case of using an X-ray grid with an error or an X-ray grid of different density.例文帳に追加

誤差のあるＸ線グリッドや異なる密度のＸ線グリッドを用いた場合でも、正確にライン欠損を補正することができるＸ線撮影装置を提供する。 - 特許庁

To improve power consumption by reducing current flowing a bit line when reading is performed and to avoid operation defect due to concentration of charged/discharged current.例文帳に追加

読み出し時にビット線を流れる電流を削減し、消費電力の向上を図ると共に、充放電電流の集中による動作不具合を回避できるようにする。 - 特許庁

Consequently, in-plane unevenness is suppressed in all density regions and image quality defect (e.g. false contour line) caused by in-plane unevenness correction processing can be prevented from being actualized.例文帳に追加

これにより、全ての濃度領域における面内むらを抑制し、かつ、面内むら補正処理に起因する画質欠陥（擬似輪郭など）の顕在化を防止することができる。 - 特許庁

To provide a polyimide film coating device and its method that can eliminate a pinhole defect and bleeding of a line by efficiently removing polyimide liquid remaining on an ink jet head.例文帳に追加

インクジェットヘッド上に残存するポリイミド液を效率的にとり除いてピンホール不良や線のにじみなどを改善できるポリイミド膜塗布装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

A correction part 30 is installed at a position where a defect included in either region obtained, by dividing a substrate 2 into two equal parts with a straight line in the Y-axis direction can be corrected.例文帳に追加

修正部３０は、基板２をＹ軸方向の直線で２等分した片方の領域に含まれる欠陥を修正することができる位置に設置される。 - 特許庁

Thereby, the alignment defect caused by the columnar spacers 15 is hardly visually confirmed as the display abnormality on the straight line in the direction along the rubbing treatment direction.例文帳に追加

これにより、柱状スペーサ１５に起因する配向不良がラビング処理方向に沿う方向の直線上の表示異常として視認されにくいようにすることができる。 - 特許庁

To provide an inexpensive and high-resolution surface defect inspecting apparatus and its method for making a line sensor accurately track a location and a position fluctuation in an inspecting object.例文帳に追加

本発明は、被検査物の位置や姿勢変動にラインセンサを精度よく追従し、低コストで高解像度化が容易な表面欠陥検査装置及びその方法を提供する。 - 特許庁

Since an open circuit defect portion is coated with the conductive paste 3, unintended increase in the line width is prevented during application of the conductive paste 3.例文帳に追加

これにより、断線欠陥部分に導電性ペースト３が塗布されるので導電性ペースト３の塗布時に線幅が不用意に大きくなるのを抑えることができる。 - 特許庁

Among 66 columns of memory cell units 40 in one line, 64 columns are used as data units, 1 column is used as a redundancy unit, and 1 column is used as a defect specifying unit for storing data to specify a defective unit in the line.例文帳に追加

１行中の６６列のメモリセルユニット４０のうち、６４列がデータ用ユニット、１列が冗長用ユニット、１列が行内の欠陥ユニットを特定するデータを記憶するための欠陥特定用ユニットとして用いられる。 - 特許庁

To provide a dynamic type semiconductor memory device which is small in layout area, high in redundancy relieving rate and can secure a redundancy relieving while devising measures for a standby current defect caused by a short circuit of a bit line and a word line.例文帳に追加

ビット線とワード線のショート欠陥によるスタンバイ電流不良を対策しながら、小さなレイアウト面積で、高い冗長救済率、かつ確実な冗長救済可能にするダイナミック型半導体記憶装置の提供。 - 特許庁

In correcting the defect, the data bus line 1 is cut off and separated with a laser beam at positions 2a, 2b interposing the intersection 13, an opening and connection are formed with a laser CVD method and the specified part 4a and the data bus line 1 are electrically connected.例文帳に追加

欠陥修正時には、交差部位１３を挟む箇所２ａ，２ｂでレーザ光により切断分離し、レーザＣＶＤ法で開口及び接続を形成して、特定部位４ａとデータバスライン１とを電気的に接続する。 - 特許庁

To provide a collision prevention control system capable of avoiding a collision of carrier trucks when a communication line built in a junction area is single and also when defect occurs in the communication line.例文帳に追加

合流領域に敷設された通信線が単線の場合においても、更にその通信線に不具合が生じた場合においても、搬送台車同士の衝突を回避することができる衝突防止制御システムを提供する。 - 特許庁

To provide a coating method in which energy consumed in a coating line is reduced and a space required for constructing the coating line is cut down while the coating defect of parts constructing an automobile body is suppressed.例文帳に追加

自動車ボディを構成する部材の塗装不具合を抑制しながら、塗装ラインで消費されるエネルギーを低減するとともに、塗装ラインの構築に要するスペースを縮小することができる塗装方法を提供すること。 - 特許庁

To make possible to draw the high precision line pattern, increasing degree of freedom in drawing a high precision line pattern, determine a defect and measure a length, not only forming a linear beam to a X-axis and a Y-axis directions, but also forming a linear beam to a certain direction.例文帳に追加

Ｘ軸、Ｙ軸方向の線形ビームを形成するだけでなく、任意の方向の線形ビームは形成して、高精度なラインパターン描画の自由度を増し、高精度なパターン描画、欠陥検査、測長を可能する。 - 特許庁

A method for measuring a dislocation density of a fluoride crystal comprises a step to generate a defect aggregate 03 in a dislocation line 02 in the fluoride crystal 01, a step to measure the dislocation density by optically detecting the defect aggregate 03 and a step to erase the defect aggregate 03.例文帳に追加

フッ化物結晶の転位密度を測定する方法であって、フッ化物結晶０１中の転位線０２に欠陥集合体０３を発生させる工程と、前記欠陥集合体０３を光学的に検出して転位線密度を測定する工程と、前記欠陥集合体０３を消去する工程とを有するフッ化物結晶の転位密度測定方法。 - 特許庁

To obtain a liquid crystal display device whose yield and display quality are enhanced without the need of excessive costs by repairing a line defect due to disconnection confirmed by display inspection after a CF is stuck and turning a bright spot defect into an inconspicuous black spot defect without introducing an inspection device in a TFT substrate state.例文帳に追加

TFT基板状態での検査装置を導入することなく、CF貼り付け以降の表示検査で確認された断線による線欠陥を修復、および輝点欠陥を目立たない黒点欠陥にすることで、歩留まりの向上および表示品質の向上した液晶表示装置を余分なコストをかけることなく得ることを目的とする。 - 特許庁

To defect-inspect a flat display panel, using a line sensor of high resolution to verify a degree of the defect in detail and precisely, and to efficiently conduct measurement to shorten the inspection time.例文帳に追加

平面表示パネルを高分解能のラインセンサを用いて欠陥検査し、欠陥の程度を詳細かつ精度よく検証することができ、効率よく測定を行うことにより、検査時間を短縮する平面表示パネルの欠陥検査装置および方法を提供すること。 - 特許庁

To provide an electrooptical device capable of preventing the occurrence of a point defect and line defect due to the disconnection of an upper electrode material by preventing the deformation of an element portion and a holding capacitor portion due to a heat treatment process, and to provide electronic equipment.例文帳に追加

熱処理工程による素子部分および保持容量部分の変形を防止することにより、上電極材料の断線に起因する点欠陥や線欠陥が発生することを防止可能な電気光学装置および電子機器を提供すること。 - 特許庁

To provide an inexpensive quality control system for a manufacturing line which realizes measurement of the operation condition of manufacturing equipment thereby facilitating detection of a step where defect occurs in a product and facilitating pursuit of failure of equipment causing the defect and which enables Ethernet (R) to be used.例文帳に追加

製造装置の稼動状態の測定が可能で、製品不良の発生した工程の発見や、不良原因となった装置不具合の追求が容易かつ、イーサネット（登録商標）の使用が可能で安価な製造ラインの品質管理システムを提供する。 - 特許庁

To obtain a reproduction output signal for inspection having a sufficient level even at the time of off-track of a magnetic heat for inspection, when the defect inspection of a discrete track type magnetic disk medium provided with grooves is performed by using a defect inspecting device for the present mass-production line not furnished with servo function.例文帳に追加

溝付きのディスクリート・トラック型磁気ディスク媒体の欠陥検査を、サーボ機能を備えていない既存の量産ラインの欠陥検査装置を用いて行う際、検査用磁気ヘッドのオフトラック時にも十分なレベルの検査用再生出力信号を得る。 - 特許庁

To provide an electrooptical device in which occurrence of a spot defect and a line defect caused by disconnection in an upper electrode material is prevented by preventing distortion of an element portion and a storage capacitor portion during a heat treatment process, and also to provide an electronic appliance.例文帳に追加

熱処理工程による素子部分および保持容量部分の変形を防止することにより、上電極材料の断線に起因する点欠陥や線欠陥が発生することを防止可能な電気光学装置および電子機器を提供すること。 - 特許庁

A data path from a defect DQ line to a corresponding DQ buffer is switched to a data path to the DQ buffer from the spare DQ line and the memory cell where the defect occurs is replaced with the spare memory, so that even if the memory cell becomes defective owing to secular change after the memory cells are built in the system, the memory cell can be relieved without causing the system itself to become defective.例文帳に追加

不良ＤＱ線から対応するＤＱバッファへのデータパスを、スペアＤＱ線からＤＱバッファへのデータパスに切り替えて不良が発生したメモリセルをスペアメモリセルに置換することにより、システムに組み込んだ後で、経年変化等によってメモリセルに不良が発生した場合でもシステムそのものを不良にすることなく救済が可能となる。 - 特許庁

To provide an active matrix type display apparatus capable of preventing the entry of jumping potential from a signal line or a scanning line into a capacitive element through a parasitic capacitor and thereby preventing the occurrence of display defect such as cross talk.例文帳に追加

信号線や走査線からの寄生容量を介しての容量素子への飛び込み電位の進入を防止することができ、これによりクロストーク等の表示不良を防止することが可能なアクティブマトリックス型の表示装置を提供する。 - 特許庁

The location adjusting means in the surface defect inspecting apparatus of the invention comprises a drive mechanism moved in the axial direction of the inspected object and the direction perpendicular to the direction of an optical axis of the line sensor, and adjusts the location and the position of the line sensor.例文帳に追加

そして、本発明の表面欠陥検査装置における位置調整手段が、被検査物の軸方向及びラインセンサの光軸方向と垂直な方向に移動する駆動機構を有し、ラインセンサの位置及び姿勢を調整する。 - 特許庁

To provide a method of laser welding metal plated steel plates which facilitates optimization of welding conditions and which in addition surely achieves excellent welding without a melting defect such as blowholes, even if a welding line is a curved line.例文帳に追加

溶接条件の最適化を容易にし、しかも、溶接しようとする経路が曲線の場合であっても、ブローホール等の溶融欠陥の形成の無い、良好な溶接を確実に実現することができるメッキ鋼板のレーザー溶接法を提供する。 - 特許庁

To prevent line scratch defect caused by the bending line of a free fall liquid film and stably form the free fall liquid film and to prevent the unevenness of the film thickness from occurring at both side end part of the coating liquid film in a curtain coating method.例文帳に追加

カーテン塗布方法において、自由落下液膜中の屈曲線が原因となる線傷故障を防止し、自由落下液膜を安定的に形成し、かつ、塗布液膜両側端部に生じる膜厚の不均一を防止できるようにする。 - 特許庁

To provide a defect detection method and its program for calculating a quasi-straight line with accuracy that will not deteriorate, by using a simple means, in a state of on-line real time where inspecting objects are flowing, when detecting defects in the profile shapes of the inspecting objects.例文帳に追加

検査物の外形の欠点を検出する場合に、検査物が流れているオンラインリアルタイムの状態で、簡易な手法により、精度が低下することのない疑似直線を算出可能な欠点検出方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁

To detect automatically with high sensitivity a print defect of a phosphor formed on a glass substrate such as a plasma display panel without being influenced by a phosphor applied pattern, and to realize low-cost and high-speed defect inspection by being installed easily on a manufacture line of the panel.例文帳に追加

プラズマディスプレイパネル等のガラス基板に形成された蛍光体の印刷欠陥を、蛍光体塗布パターンに影響されず、高感度に自動的に検出し、また、パネルの製造ラインに容易に設置でき、低価格、高速度の欠陥検査を実現したパターン欠陥検査方法を提供することである。 - 特許庁

In the inspection method for surface defect, the surface image of a metal band 1 which is conveyed on a production line containing a hot rolling process is photographed by an optical system 20, and a defect which exists on the surface of the metal band 1 is detected on the basis of the photographed surface image.例文帳に追加

本発明は、熱間圧延工程を含む製造ライン上を搬送される金属帯１の表面画像を光学系２０で撮影して、この撮影した表面画像に基づいて金属帯の表面に存在する欠陥を検出する表面欠陥検出方法に適用される。 - 特許庁

Image data of longitudinal or transverse plural adjacent lines is read out from the image memory part 20 as a first image data, average data of a data level in a direction orthogonal to a reading-out direction is calculated, and a line-shaped defect in an image is detected by a defect detecting part 24.例文帳に追加

画像メモリ部２０から、第１の画像データとして縦方向あるいは横方向に隣接する複数ライン分の画像データを読み出し、読み出し方向と直交する方向のデータレベルの平均値を算出し、ライン状の画像欠陥を欠陥検出部２４で検出する。 - 特許庁

In signal charges corresponding to all pixels of the imaging sensor 16, signal charges relating to a defect spot are ordinarily transferred but signal charges relating to spots other than the defect spot are fast transferred and discarded, thereby reading out the signal charges for detecting the level of the V-line flaw.例文帳に追加

そして、撮像センサ１６の全画素に対応する信号電荷のうち、欠陥箇所に係る信号電荷を通常転送する一方で、欠陥箇所以外に係る信号電荷を高速転送して捨てることで、Ｖライン傷のレベルを検出するための信号電荷を読出す。 - 特許庁

The TFT array inspection device 1 for inspecting a TFT array based on two-dimensional measured data obtained by driving each pixel of a TFT substrate 2, comprises a data processing means 5 determining a defect point of line defect from the two-dimensional measured data of the TFT substrate 2.例文帳に追加

ＴＦＴアレイ検査装置１は、ＴＦＴ基板２の各画素を駆動して得られる二次元の測定データに基づいてＴＦＴアレイを検査するＴＦＴアレイ検査装置において、ＴＦＴ基板２の二次元の測定データから線欠陥の欠陥点を求めるデータ処理手段５を備える。 - 特許庁

Defect position data is acquired from a plurality of kinds of examination devices such as a bus line resistance device or an electric characteristic examination device 4 and a defect examination device 3 for appearance examination and is collated in a collation part 9 to generate data obtained by narrowing down the correction objects more.例文帳に追加

バスライン抵抗装置もしくは電気的特性検査装置４、および外観検査による欠陥検査装置３など、複数種類の検査装置から欠陥位置データを取得して、照合部９にて照合することによって、修正対象をより絞り込んだデータを作成する。 - 特許庁

To provide an oil-based ink composition for a ball-point pen capable of suppressing discharge defect of the ink as much as possible while imparting a thick handwriting density, suppressing handwriting defect such as blurring, dropping of intermittent ink, splitting of handwriting line and thinning of handwriting in continuous handwriting as much as possible.例文帳に追加

筆跡濃度が濃いものとしながら、インキが吐出不良を極力抑制し得、筆跡かすれ、線飛びインキのボタ落ち、筆跡の線割れ、連続筆記中に筆跡が薄くなるという筆跡の不良を極力抑制したボールペン用油性インキ組成物を提供する。 - 特許庁

To provide a surface defect-determining method, in a continuous casting process in which a molten metal within a mold is cast while being whirled horizontally by a moving magnetic field, which can judge the occurrence of the defect in the surface of a slab on-line based on the measured value of the temperature in each mold copper plate.例文帳に追加

鋳型内の溶鋼を移動磁場によって水平方向に旋回させながら鋳造する連続鋳造工程において、鋳型銅板温度の測定値に基づいてオンラインで鋳片表面の欠陥の発生を判定することのできる表面欠陥判定方法を提供する。 - 特許庁