| 意味 | 例文 |
Line defectの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 530件
By also using the transmission line connected to a DUP (duplexer) as an antenna that illuminates the sample to be measured with the test signal and that receives a noise electro-magnetic wave component generated in the sample to be measured, a defect of an electronic device can be detected in non-contact with the sample to be measured.例文帳に追加
DUPに接続された伝送線路を、試験信号を被測定試料に照射するアンテナおよび被測定試料で発生する雑音電磁波成分を受信するアンテナとして共用することにより、被測定試料と非接触状態で、電子デバイスの不良検出を行うことが可能である。 - 特許庁
To provide an inspection method for a component with a double refraction characteristic, capable of inspecting simply and easily an optical defect in a film to be inspected formed with an optical compensation layer having a double refraction characteristic, in a production line or the like, and a manufacturing method for a component with a double refraction characteristic using the same.例文帳に追加
製造ライン等において、複屈折特性を有する光学補償層が形成された被検査フィルムの光学的欠陥検査を簡易かつ容易に行うことができる複屈折特性を有する部材の検査方法、および、これを利用する複屈折特性を有する部材の製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide an actinic ray-sensitive or radiation-sensitive resin composition that has high sensitivity, high dissolving contrast, sufficient pattern profile, and sufficient line edge roughness performance, reduces a standing wave, and does not generate a development defect, and also to provide a film formed using the composition and a pattern forming method using the film.例文帳に追加
高感度、高溶解コントラストであり、良好なパターンプロファイル、良好なラインエッジラフネス性能を有し、定在波の低減が可能であり、且つ現像欠陥を発生しない感活性光線性又は感放射線性樹脂組成物、それを用いて形成した膜及びそれを用いたパターン形成方法を提供する。 - 特許庁
To provide a width-reducing die for a hot steel slab capable of enhancing the productivity of a hot rolling line, preventing the occurrence of any product surface defect attributable to a damage of a die, and considerably improving a die basic unit, by preventing any surface damage of the die of a plate width press device and considerably prolonging its lifetime.例文帳に追加
板幅プレス装置の金型の表面損傷を防止して寿命を大幅に延長することにより、熱間圧延ラインの生産性の向上、金型損傷に起因する製品表面欠陥の発生防止、金型原単位の大幅改善等を可能とする、熱間鋼スラブの幅圧下用金型を提供する。 - 特許庁
To provide a method of inspecting pattern defects which automatically detects coating defects in fluorescent material coated on a glass substrate of a plasma display or the like, without being influenced by a coating pattern, such as a lattice-like fluorescent coating film, is easily installed in a production line of a panel, and realizes low-priced and high-speed defect inspection.例文帳に追加
プラズマディスプレイ等のガラス基板に塗布された蛍光体の塗布欠陥を格子状蛍光体塗布膜等の塗布パターンに影響されず高感度に自動検出し、また、パネルの製造ラインに容易に設置でき、低価格、高速度の欠陥検査を実現したパターン欠陥検査方法を提供することである。 - 特許庁
The line sensor reads the calculated shading correction data at the home position on the shading correction plate, shading is corrected by the means shading correction data on the basis of the obtained read data (S12 in Figure 10), and at least a defect position of the shading correction plate is specified on the basis of the data after the correction (S17).例文帳に追加
シェーディング補正板上のホームポジションにおいてラインセンサにシェーディング補正板を読み取らせ、得られた読取データに対して、前記平均シェーディング補正用データによりシェーディング補正を行い(図10のS12)、この補正後データを基に、少なくともシェーディング補正板の欠陥位置を特定する(S17)。 - 特許庁
To provide a developer regulating member, a developing device, a process cartridge and an image forming apparatus with which a stable developing thin layer is formed, the set image defect of a developing roller that a sharp line whose density is thick is caused on an image is avoided, and the high-quality image whose density is stable is formed.例文帳に追加
安定した現像薄層を形成することができ、画像に濃度の濃い鋭い線が発生する現像ローラセット画像不良を回避し、画像濃度の安定した、高画質な画像を形成することが可能な、現像剤規制部材、現像装置、プロセスカートリッジ及び画像形成装置を提供する。 - 特許庁
To provide a positive resist composition which is suitably used for a light source for exposure of ≤160 nm, particularly, an F_2 excimer laser beam (157 nm), and specifically to provide a positive resist composition which exhibits sufficient transmissibility when used for the light source of 157 nm and has little line edge roughness, development defect and scum.例文帳に追加
160nm以下、特にF_2エキシマレーザー光(157nm)の露光光源の使用に好適なポジ型レジスト組成物を提供することであり、具体的には157nmの光源使用時に十分な透過性を示し、且つラインエッジラフネス、現像欠陥及びスカムが少ないポジ型レジスト組成物を提供することである。 - 特許庁
To provide a galvannealed steel sheet producible in the conditions where the defect in plating in the case of using a high Si-P-containing steel sheet as a base metal is prevented, and further, alloying treatability after plating is improved without highly setting the temperature in an alloying furnace and without extremely reducing a line rate, and to provide its production method.例文帳に追加
高Si、P含有鋼板を母材とする場合のめっき不良を防ぎ、さらにはめっき後の合金化処理性を改善し、合金化炉を高温設定にしたり、ライン速度を極端に低下させることなく製造可能な合金化溶融亜鉛めっき鋼板およびその製造方法を提供する。 - 特許庁
Besides, when it is judged that a switch signal is not an expected logic value at a specified timing although the output of the comparator is the logic '1' at ordinary time, the CPU 402 judges as a contact defect of a switch 318 or disconnection of a switch signal line and outputs the similar interrupt request to the main control part 1.例文帳に追加
また、CPU402は、比較器の出力が定常時に論理“0”であるにも関わらず、スイッチ信号が特定のタイミングで期待する論理値でないものと判別したとき、スイッチ318が接触不良またはスイッチ信号線が断線等したものとして、同様の割り込み要求を主制御部1に出力する。 - 特許庁
The image processing inspection part 50 composes a composite image by synthesizing an image of dicing line, which divides a circuit pattern at the surface of the wafer, into an image of rear surface of the wafer imaged by the rear surface imaging device 130 and detects the position of the defect based on the composite image with corresponding to the position of each circuit pattern.例文帳に追加
画像処理検査部50は、ウエハの表面において回路のパターンを分割するダイシングラインの画像を裏面撮像装置130により撮像されたウエハ裏面画像に合成して合成画像を生成し、この合成画像に基づいて欠陥の位置を各回路パターン位置と対応させて検出する。 - 特許庁
When a line control section 10 makes a phone call to each telephone set 4 on the occurrence of any defect in the plant facility, an order revision section 11a revises the report ranking of each administrator registered in a report table 8a so as to leave administrators of the telephone sets 4 determined on-hooked behind.例文帳に追加
プラント設備側に何らかの異常が発生し、回線制御部10によって、各電話機4に電話したとき、繋がらないと判定された電話機4に対応する管理者が後回しになるように、順序変更部11aによって、通報テーブル8aに登録された各管理者の通報順位を変更する。 - 特許庁
The flow amount of coating liquid in the die head to be circulated to a supply tank through a return line is made to a flow amount capable of removing sediment in an amount more than the amount of sediment calculated from the settling velocity of particles, and the high-quality coating film without a coating defect is achieved.例文帳に追加
ダイヘッド内部の塗布液を戻り配管を介して供給タンクへと循環させる流量を、その流量によって除去できる沈降物の量が、粒子の沈降速度から算出される沈降量以上になる流量で循環させて、塗布欠陥のない高品質な塗布膜を実現する。 - 特許庁
To provide a communication system and its method where a monitor control means applies one-to-many connection to a plurality of communication function execution means placed at a remote place so as to attain communication among the interconnected communication function execution means and the monitor control means immediately detects a fault in a communication function execution means and a defect such as a line interruption.例文帳に追加
1つの監視制御手段と遠距離に位置する複数の通信機能実行手段とを1対多接続することができ、この接続された通信機能実行手段同士での通信を行うことができ、通信機能実行手段の異常や回線断等の障害を監視制御手段で即時検出すること。 - 特許庁
This visual inspection device includes a linear light source 2 for obliquely illuminating the surface of an inspecting object 5 sent in a fixed direction, a line sensor type camera 1 for capturing reflected light on the surface of the inspecting object of the light from the light source, and an image processing circuit 3 for detecting a defect from the contrast of an output image from the camera.例文帳に追加
一定方向に送られる被検査物5の表面に斜光照明を行うライン状光源2と、該光源からの光の被検査物表面での反射光を捕らえるラインセンサ型カメラ1と、上記カメラの出力画像の明暗から欠陥を検出する画像処理回路3とからなる。 - 特許庁
To provide a method of inspecting a color filter defect in a color filter substrate which allows extraction of contaminations and defects (singularities) such as white pins on the color filter substrate with high accuracy by simultaneously imaging a color filter pattern by a line sensor and setting an inspection area used as a reference, and comparatively inspecting adjacent repetitive patterns.例文帳に追加
ラインセンサでカラーフィルタパターンを撮像すると同時に基準となる検査エリアを設定し、隣り合う繰り返しパターンを比較検査して、カラーフィルタ基板の異物、白ピン等の欠陥(特異点)を精度良く抽出するためのカラーフィルタ基板のカラーフィルタ欠陥検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
To provide a positive photoresist composition for exposure to a far ultraviolet ray in which bridging for forming a developing defect or particularly line pattern and a trench pattern is reduced so as to perform a subject in a technique for improving an original performance of a microphotofabrication used for a far ultraviolet ray or particularly an ArF excimer laser beam.例文帳に追加
遠紫外光、とくにArFエキシマレーザー光を使用する上記ミクロフォトファブリケ−ション本来の性能向上技術における課題を達成すべく、現像欠陥、特にラインパターン及びトレンチパターン形成におけるブリッジングを低減した遠紫外線露光用ポジ型フォトレジスト組成物を提供する。 - 特許庁
To provide an actinic ray- or radiation-sensitive resin composition which simultaneously satisfies sensitivity, resolution, pattern shape, line edge roughness and development defect performance, in lithography especially using an electron beam, an X-ray or an EUV ray as an exposure light source, and to provide a resist-film and pattern formation method utilizing the same.例文帳に追加
特に露光光源として電子線、X線又はEUV光を用いるリソグラフィーにおいて、感度、解像力、パターン形状、及びラインエッジラフネス、現像欠陥性能を同時に満足する感活性光線性又は感放射線性樹脂組成物並びにそれを用いたレジスト膜及びパターン形成方法を提供する。 - 特許庁
To provide a polyolefine resin composition which has strength, impact resistance, heat resistance and stiffness, can be used for a car wheel cover to be free from transformation, shrinkage and defect in loading stability, is excellent in coatability and has excellent property to bring about no projection phenomenon along a weld line.例文帳に追加
強度、耐衝撃性、耐熱性および剛性を有するとともに、自動車のホイールカバーに用いたとき変形性、収縮率およびホイール装着安定性などの不良がなく、塗装性に優れ、特にウェルドラインの発生部位の突出現象が発生しない優れた物性を有するポリオレフィン樹脂組成物を提供する。 - 特許庁
In the method for preventing the tip bend in the cold pilger mill, by this method for preventing the tip bend in the cold pilger mill, the bend defect at the tip of a product is prevented by attaching an auxiliary mandrel to the tip of a mandrel, inserting the auxiliary mandrel into an accurately pressing die or an out pawl without deviating the tip of the product from the pass line.例文帳に追加
コールドピルガーミル圧延機での先端曲がりを防止する方法において、マンドレルの先端に補助用マンドレルを取付け、成品先端がパスラインを逸れることなく、精圧ダイスまたはアウト爪に挿入し、成品先端の曲がり不良を防止することを特徴とするコールドピルガーミル圧延機での先端曲がり防止方法。 - 特許庁
After the detection of the joint defective pixel, the defect determination of the joint pixel adjacent to the downstream side of a read-out direction of a data bas line of the detected joint defective pixel is performed preferentially by the joint defective pixel detection part 23 to thereby monitor properly the joint defective pixel which is the defective pixel after joint processing.例文帳に追加
そのビニング欠損画素の検出後に、検出されたビニング欠損画素のデータバスラインの読み出し方向の下流側に隣接するビニング画素の欠損判断を優先的にビニング欠損画素検出部23は行うことで、ビニング処理後(結合後)の欠損画素であるビニング欠損画素(結合欠損画素)を適正に監視することができる。 - 特許庁
This image processing part 13 is provided with an addition circuit part for adding the data of differential images, which are processed similarly while changing lighting line sequentially, and a discrimination circuit part for discriminating whether or not the added data of the differential images continuously exceed a threshold, and when it is higher than a specified value, to detect it as a defect.例文帳に追加
同時にこの画像処理部13では点灯ラインを順次変えて同様に処理された微分画像のデータを加算する加算回路部13Cを備え、加算した微分画像のデータが連続してしきい値以上となるか否かを判別する判別回路部13Dを設け、所定値以上である場合に欠陥として検出する(S19)。 - 特許庁
A method for manufacturing the semiconductor device is characterized in that the contact hole is filled with a conductive material without causing a defect inside when the contact hole is filled with the conductive material in a succeeding stage by removing by anisotropic etching the barrier layer formed in the opening area of the contact hole filled with the conductive material forming the connection line.例文帳に追加
本発明の半導体装置の製造方法は、接続線を形成する導電材料を埋め込むコンタクトホールの開口領域に形成されたバリア層を異方性エッチングにより除去することにより、後の工程で導電材料を埋め込むに際して、欠陥を内在させることなくコンタクトホールに導電材料を充填することを特徴とする。 - 特許庁
To provide a decoupling thin film capacitor used in a feeder line requiring a quick power supply to a semiconductor integrated circuit in which dielectric breakdown is retarded as compared with a prior art even when an excess pulse field is applied and dielectric deterioration due to the migration of mobile charges, e.g. an oxygen defect, is retarded.例文帳に追加
半導体集積回路への速やかな電力供給が必要とされる電源ラインに使用されるデカップリング薄膜コンデンサにおいて、従来のものに比べて過大なパルス電界がかかった場合でも、絶縁破壊が起きにくく、また、酸素欠陥等のモバイルチャージの移動による絶縁劣化が起きにくい薄膜コンデンサを提供する。 - 特許庁
To provide a photosensitive coloring composition suitable as a color filter material, being good in developability and in image and line formability, preventing a coloring composition from remaining on a non-pixel part on a substrate after developing (development residue), a pattern defect of a pixel part and/or peeling, and having high productivity, and a color filter formed using the photosensitive coloring composition.例文帳に追加
現像性および画像画線形成性が良好で、現像後の基板上の非画素部への着色組成物の残留(現像残渣)や画素部のパターン欠け及び/または剥れがなく、高生産性のカラーフィルタ材料として好適な感光性着色組成物及びこれを用いて形成されるカラーフィルタを提供することを目的とする。 - 特許庁
The dummy pattern 3 is arranged while folded in a rectangular wave shape to the line width of a conventional linear pattern and then the peeling load of the dummy seal 3 per unit area of a glass is improved to obtain the large effect that a serious defect which is seal peeling is hardly caused in a process of cutting the stuck glass to a panel individual piece size.例文帳に追加
また、ダミーパターン3を従来の直線パターンの線幅で矩形波状に折り曲げて配置することにより、ガラスの単位面積当たりのダミーシール3の剥離荷重が向上し、貼り合わせガラスをパネル個片サイズに切断する工程において、シール剥離という重大欠陥を誘発しにくくなるという効果も多大と成りうる。 - 特許庁
To provide an inspection method and an inspection device capable of stably detecting a small defect such as a stain and a foreign matter generated in the contour vicinity even when the contour direction cannot be determined since the contour in an inspection object image is not a simple straight line shape and is a complicated shape such as a waveform in an inside surface inspection of a package.例文帳に追加
パッケージの内面検査、等において、検査対象画像における輪郭が単純な直線状ではなく波形状等の複雑形状であって輪郭の方向が定まらないような場合であっても、輪郭近傍に発生する小さな、汚れ、異物、等の欠陥を安定して検出することができる検査方法および検査装置を提供する。 - 特許庁
The slit 3 is formed by a deviation equivalent to a displacement OF from a center line of the antenna element 2, and an antenna function defect caused by the metallic plate closely arranged to the antenna element in parallel is prevented and a degree of rear side insertion of the plate antenna with respect to the metallic plate can be more deepened by properly selecting the value of the displacement OF.例文帳に追加
スリット3は、アンテナ素子2の中心線より変位OF分ずらせて設定されており、変位OFの値を適宜設定することにより、アンテナ素子2に対して近接して平行配置される金属板に起因するアンテナ機能障害が防止されるとともに、該金属板に対するプレートアンテナの背面挿入度をより深くすることができる。 - 特許庁
Productivity is thereby enhanced while saving the cost by skipping the photographic step in a process for producing a semiconductor package being used for driving an LCD, reliability of a product is improved by preventing occurrence of a defect in the process for forming the circuit pattern 110 of metallic material and a circuit pattern having a fine line width is produced more efficiently.例文帳に追加
したがって、LCD駆動用として使われる半導体パッケージの配線基板を製造する過程で写真工程を省略してコスト節減及び生産性の向上効果が得られ、金属材質の回路パターン110を作る過程で発生する欠陥を防止して製品の信頼性を改善し、微細線幅を有する回路パターンをさらに効率的に作られる。 - 特許庁
The method for continuously inspecting the transparent resin sheet on a production line radiates light from a light source installed above the transparent resin sheet and detects a shadow cast on a whiteboard installed behind the transparent resin sheet through the transparent resin sheet, to thus detect an appearance defect in the transparent resin sheet.例文帳に追加
透明な樹脂シートを生産ライン上で連続的に検査する方法において、透明樹脂シート上方に設置した光源により光を照射し、該透明樹脂シートの裏側に設置した白板に写る影を該透明樹脂シート越しに検出することによって、透明樹脂シートの外観上の欠点を検出する透明樹脂シートの検査方法およびかかる検査方法により得られる品質に優れた透明樹脂シートの製造方法。 - 特許庁
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