「Line defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(9ページ目) - Weblio英語例文検索

Defects can be detected efficiently by performing defect examination S22 detecting magnetization inversion part based on variation of a base line of a signal read out from the medium in this state.例文帳に追加

この状態にて媒体から読み出される信号のベースラインの変動に基づいて、磁化反転部分を検出する欠陥調査Ｓ２２を実施することで、欠陥を効率的に検出することができる。 - 特許庁

An optical image of the same stripe as the stripe where the pseudo defect is determined is acquired again by the line sensor, and the obtained image data can be replaced with image data which is obtained last.例文帳に追加

また、疑似欠陥の判定が行われたストライプと同じストライプについてラインセンサで光学画像を再度取得し、得られた画像データを前回得られた画像データと置き換えることもできる。 - 特許庁

To detect the projection defect of a surface in the manufacturing line or the like of a material of continuous length such as a sheet and a tubing accurately with a simple device and with low detection costs and maintenance costs.例文帳に追加

シートや管材等の長尺材の製造ライン等で、その表面の突起欠陥の検出を、簡単な装置により、精度よく、かつ安価な検出コストおよびメンテナンスコストで行うことを可能にする。 - 特許庁

A primary candidate extraction part 11 binarizes the gradation image of the surface of a wood material divided into a plurality of inspection target regions photographed by the line sensor camera, and extracts a primary defect candidate region.例文帳に追加

一次候補抽出部１１は、複数の検査対象領域に区画されている木材の表面をラインセンサカメラにより撮像した濃淡画像を２値化し、一次欠陥候補領域を抽出する。 - 特許庁

To provide a plate-like body suitable for constituting a holding member of an object to be ground hardly adhering to an upper plate of a grinding device for reducing the number of defect of the object to be ground due to a line trouble in a grinding work.例文帳に追加

研磨装置上盤と密着しにくい被研磨物保持材を構成するのに適した板状体を提供し、研磨作業のライントラブルによる被研磨物の不良低減を図る。 - 特許庁

Whether or not a glass substrate OB with defect exists in the block to be inspected is determined based on luminance data in a photographing screen; then imaging is performed with finely changing the position of the camera in a normal line direction of the glass substrates OB when there exists a glass substrate OB with defect, and the glass substrate OB with defect is distinguished with reference to a change curve of values in relation to luminance values to camera positions.例文帳に追加

撮影画面における輝度データに基づいて、検査対象ブロック内に欠陥が存在するガラス基板ＯＢがあるか否かを判定し、欠陥が存在するガラス基板ＯＢがある場合には、カメラ位置をガラス基板ＯＢの法線方向に細かく切り替えて撮影し、カメラ位置に対する輝度値と関連する値の変化曲線から欠陥が存在するガラス基板ＯＢを判別する。 - 特許庁

In the optical film laminate with slit lines, defect-free normal sheets and defective or defect-containing sheets having predefined length corresponding to dimension of the liquid-crystal panel are defined on the carrier film by successively forming the slit lines by cutting a slit line in a direction vertical to its lengthwise direction.例文帳に追加

切込線入り光学フィルム積層体においては、その長手方向に対して直角方向に切り込みを入れて切込線を順次形成することによって、液晶パネルの寸法に対応する所定の長さを有する欠点を含まない正常シート片と欠点を含む不良シート片とがキャリアフィルム上に区画されている。 - 特許庁

To provide a three-dimensional photonic crystal operated by a plurality of designed wave lengths with which a photonic band gap wavelength band is controlled to a desired wavelength without varying a lattice period or an optical element having a point defect resonator structure and a line defect waveguide structure in the inside.例文帳に追加

複数の設計波長で動作する３次元フォトニック結晶において、格子周期を変化させることなくフォトニックバンドギャップ波長帯域を所望の波長に制御することができる３次元フォトニック結晶、もしくはその内部に点欠陥共振器構造や線欠陥導波路構造を備えた光学素子を提供する。 - 特許庁

The mounting line is provided with a mounting machine specifying means specifying a defective mounting machine processing a mounting defect component from a plurality of the mounting machines 10 when the inspection machine 93 detects the mounting defect component and a mounting machine stopping means stopping the defective mounting machine which the mounting machine specifying means specifies.例文帳に追加

本実装ラインは、検査機９３によって実装不良部品が発見された際に、複数の実装機１０の中から実装不良部品を処理した不良実装機を特定する実装機特定手段と、実装機特定手段によって特定された不良実装機を停止させる実装機停止手段と、を備える。 - 特許庁

To accurately measure a distance even when a beam defect is generated, by correcting the beam defect based on respective distance informations provided by projecting toward distance measuring objects in order three kind of the same beams in luminous gravity center positions and different in luminous intensity distributions each other releting in a base line direction.例文帳に追加

基線長方向に関して発光重心位置が互いに同一であり発光強度分布が互いに異なる３種類のビームを順次に測距対象物に向けて投光して得られた各距離情報に基づいてビーム欠け補正を行うことにより、ビーム欠けが生じた場合であっても正確な測距を行う。 - 特許庁

To provide an image recording device preventing further progress of defect by blocking power to a nozzle line drive sections in the case electric abnormalities in the nozzle line drive sections carrying out record processing by electroconductive ink and a power block control method and program by the device.例文帳に追加

導電性インクにより記録処理を行うノズル列駆動部に電気的異常が検出された場合に当該ノズル列駆動部への電力を遮断して不具合の更なる進行を防止する画像記録装置、その装置による電力遮断制御方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁

To form a passivation layer made of an organic insulating material, thereby to minimize a parasitic capacity generated due to overlapping of a pixel electrode on a gate line and a data line, to smoothly carry out a repair process when disconnection defect occurs, and to improve the production yield of the final product.例文帳に追加

画素電極がゲート配線及びデータ配線と重なることによって発生する寄生容量を最小化するために有機絶縁物質で構成された保護層を形成すると共に、断線不良発生時の修理工程を円滑に進行させ、最終製品の生産収率を向上させる。 - 特許庁

Representatively, the method prepares a first superconductive cable line having no defect in the joint and obtains first correlation of an energization time and temperature increase of the joint when energizing a first direct current continuously having the prescribed energization pattern to the first superconductive cable line.例文帳に追加

代表的には、接続部に欠陥のない第1超電導ケーブル線路を用意し、この第1超電導ケーブル線路に連続的に所定の通電パターンを有する第1直流電流を通電したときの通電時間と接続部の温度上昇との第1相関関係を求める。 - 特許庁

To provide a transmission system capable of easily avoiding a defect of detecting an Alarm by each Alarm detection point in a state that line setting is finished and a signal is intentionally interrupted.例文帳に追加

回線の設定が終了し、かつ、信号を意図的に切断している状態でＡｌａｒｍ検出ポイント毎にＡｌａｒｍを検出してしまう不具合を容易に解消することのできる伝送装置を提供する。 - 特許庁

To eliminate the need of alignment adjustment between an inspecting object and the phone of a camera imaging device in photography, to form a normal rectangular image and to detect a line defect with low contrast near an edge as well.例文帳に追加

撮像時における検査対象とカメラ撮像素子面とのアライメント調整を不要とし、正常な長方形画像を作成可能にし、またエッジ付近の低コントラストな線欠陥までも検出可能とする。 - 特許庁

To provide a pattern profile detecting device or method that is capable of detecting at a high-speed a shaping defect in a pattern profile of a patterned media surface and a stamper as well as a production line for patterned media disks.例文帳に追加

本発明は、本高速でパターンドメディア表面やスタンパのパターン形状の整形不良を検査できるパターン形状検査装置または検査方法並びにパターンドメディアディスク製造ラインを提供することである。 - 特許庁

To provide a display panel driving device capable of detecting a defect in a data bus line even when an amount of change of gradation voltage is slight for an amount of change of gradation setting.例文帳に追加

階調設定の変化量に対して階調電圧の変化量が微小である場合においても、データバスラインの欠陥を容易に検出することが出来る表示パネル駆動装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

To improve a display quality level by preventing alignment defect by suppressing the crushing of a liquid crystal panel when filling liquid crystal and by enabling control of liquid crystal filling speed, and by preventing the occurrence of filling line unevenness.例文帳に追加

液晶注入時における液晶パネルのつぶれを抑制すると共に、液晶注入速度を制御可能にして、配向不良を防止すると共に、注入スジむらの発生を防止し、表示品位を向上させる。 - 特許庁

To provide a communication system by a mobile in which a leakage electromagnetic field is hard to occur or does not occur at all and which a power line carrier communication hard to bring about a defect due to the leakage electromagnetic field is applied and to provide the mobile.例文帳に追加

漏洩電磁界が生じにくい、或いは全く生じず、漏洩電磁界による不具合が生じにくい電力線搬送通信の適用した移動体による通信システム、及び移動体を提供する。 - 特許庁

A TFT 30 forming the single crystal silicon layer as a channel region 1a' is formed on the insulator layer and at least one line defect D exists within the single crystal silicon layer forming the channel region 1a'.例文帳に追加

そして、絶縁体層上に単結晶シリコン層をチャネル領域１ａ'としたＴＦＴ３０が形成され、チャネル領域１ａ'をなす単結晶シリコン層内に少なくとも一つの線欠陥Ｄが存在している。 - 特許庁

A latch circuit 11 outputs defect address information, which represents the address of a memory of malfunction, to an address line 15 in a period in which a signal ϕ1 is in an H level, and keeps output in high impedance in a period other than the above-period.例文帳に追加

ラッチ回路１１は、機能不良となったメモリセルのアドレスを表す不良アドレス情報を信号φ１がＨレベルの期間でアドレス線１５に出力し、それ以外では出力を高インピーダンスに保つ。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a resist composition, restraining the occurrence of a defect in a resist pattern after development, especially fine scum and micro-bridge and having small line edge roughness, and to provide a resist composition and a pattern forming method using the same.例文帳に追加

現像後のレジストパターンのディフェクト、特に微細なスカムやマイクロブリッジの発生を抑制でき、またラインエッジラフネスの小さいレジスト組成物の製造方法、レジスト組成物、およびそれを用いたパターン形成方法の提供。 - 特許庁

Then, as in step 2, compare checks regarding each inspection unit block at inspection modes respectively equivalent to the defect inspection devices used in an actual manufacturing line of the device are carried out in a plurality of chip areas.例文帳に追加

次に、ステップ２のように、実際のデバイスの製造ラインで使用される欠陥検査装置にてそれぞれ相当する検査モードで各検査単位ブロックに関する比較検査を複数のチップ領域について行う。 - 特許庁

To manage unifiedly a fault report prepared by a maintenance personnel on the basis of a defect and failure of an installed device and a failure report of installed devices collected on line with a failure history book in the same format.例文帳に追加

本発明は、設備機器の異常、故障に基づいて保全員により作成される故障報告と、オンラインで収集される設備機器の故障報告とを同一フォーマットの故障履歴台帳で一元的に管理する。 - 特許庁

And, the coordinates from the first origin of the defect on the wafer end part are converted to the coordinates from a second origin specified for the plurality of scribe lines on the wafer, based on the detected scribe line (Step S4).例文帳に追加

そして、検出されたその一のスクライブラインに基づき、ウェハ端部の欠陥の、第１原点からの座標を、ウェハ上の複数のスクライブラインに設定されている第２原点からの座標に変換する（ステップＳ４）。 - 特許庁

To provide an inspection method of a transparent resin sheet that is executable on a continuous production line and is based on a simple and low-cost device, and a transparent resin sheet of excellent quality by means of the inspection method capable of sufficiently detecting a defect even upon execution on a continuous production line.例文帳に追加

連続生産ライン上で実施でき、且つ簡便で、安価な装置による透明樹脂シートの検査方法および連続生産ライン上で実施しても十分に欠点が検出される検査方法により、品質に優れた透明樹脂シートを得ることができる透明樹脂シートの製造方法を提供する。 - 特許庁

As a measuring priciple, the coupling efficiency at the grating which is unequvocally decided by an optical constant of an inspection apparatus, a mask physical property, a mask structure and the shape of the grating is measured, the shape of the grating, a duty especially in a very small grating part and a line width of an isolated line are measured, and a defect is inspected.例文帳に追加

測定原理としては、検査装置の光学定数、マスク物性、マスク構造、グレーティング形状によって一意に定まる、グレーティングでのカップリング効率を測定することで、グレーティングの形状、特に微小グレーティング部のデューティーや、孤立線の線幅、ピンホール径について測定、欠陥の検査を行う。 - 特許庁

To provide an image correcting method for making an accurate image correction of a part requiring image correction by accurately detecting streak-like density unevenness that appears adjacent to a line defect of a photographed image, and a radiation imaging apparatus.例文帳に追加

撮影した画像の線欠陥に隣接して現れるスジ状の濃度むらを精度良く検出し、画像補正が必要な箇所に正確に画像補正することができる画像補正方法および放射線画像撮影装置を提供する。 - 特許庁

At this time, in a test mode, a control logic (26) for stopping the bit line drive functions of the first drive circuits is provided so as to enable detection of a defect when the transfer MOS transistors does not operate normally.例文帳に追加

このとき、テストモードにおいて、上記第１駆動回路によるビット線駆動機能を停止させるための制御論理（２６）を設けることで、トランスファＭＯＳトランジスタが正常に動作しない場合の不良を検出可能にする。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory which permits high speed write-in cycle for a memory cell without requiring a standby time for shift decoding operation in accordance with a defective address is decided even if a data line shift system is used for relieving defect.例文帳に追加

不良救済にデータ線シフト方式を用いたとしても、不良アドレスに応じたシフトデコード動作が確定するまでの待ち時間を要することなく、メモリセルへの高速書き込みサイクルを可能にした半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide communication equipment and a method capable of preventing occurrence of a defect of impossible connection to an intended destination due to defects on a line (noise, mechanical connection performance (connectability of connectors, breakage or the like)) and software bug or the like.例文帳に追加

回線上の不具合（ノイズ、機械的な接続性（コネクタの勘合性、断線等））、ソフトウェアバグ等で意図した相手先との接続ができなくなる不具合の発生を防止することができる通信装置および方法を提供する。 - 特許庁

To suppress the reading defect of a horizontal thin line and the generation of moire, in an image reading apparatus which supplies constant current to a plurality of light sources, which emit light in mutually different colors, as drive current to read an image of an original.例文帳に追加

互いに色の異なる光を発生する複数の光源に一定電流を駆動電流として供給して原稿の画像を読み取る画像読取装置において、横細線の読取不良やモアレの発生を抑制すること。 - 特許庁

To provide an optical delay element having a line defect waveguide structure made of photonic crystal wherein a group refractive index is high and a region where wavelength dispersion is fixed or small of the group refractive index is kept as a band of practical level.例文帳に追加

群屈折率が大きく、かつ、群屈折率の波長分散が一定若しくは小さい領域が実用レベルの帯域で保たれたフォトニック結晶による線欠陥導波路構造を有する光遅延素子を提供する。 - 特許庁

To provide a developing device which will not cause an image defect, while preventing the occurrence of filming by setting a center line average roughness Ra(μm) of the surface of a developer carrier to be Ra<0.3 μm, and to provide an image forming apparatus equipped with the device.例文帳に追加

現像剤担持体の表面の中心線平均粗さＲａ（μｍ）をＲａ＜０．３μｍとしてフィルミングの発生を防止しつつ、画像不良を引き起こさない現像装置、及びこれを備える画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To avoid the occurrence of a defect at a divided edge and to prevent divided material and a small piece of glass due to edge removal and terminal part formation from being left behind in a conveying path for a liquid crystal panel involved in dividing a a liquid crystal panel along its cutting-plane line.例文帳に追加

液晶パネルの切断線の分断にともない、分断縁に欠損が発生しないようにすると共に、液晶パネルの搬送路に耳落しや、端子部形成による分断材、ガラスの小塊が残らないようにする。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus made inexpensive, having simple constitution, realizing the agreement of the relative parallelism and inclination of a plurality of image carriers, guaranteeing parallelism with the laser scanning line of an exposure device and preventing an image defect such as color slurring from occurring.例文帳に追加

低コストかつ、簡単な構成で、複数の像担持体の相対的な平行と傾きを合わせ、かつ、露光装置のレーザー走査線との平行も保証でき、色ずれ等の画像不良が発生しない画像形成装置の提供。 - 特許庁

To provide a method for welding cold rolled steel plates, in which the occurrence of such a welding defect as tearing apart of the welded parts is accurately prevented in a welding apparatus (a mash seam welding apparatus) disposed in a cold rolled steel plate processing line.例文帳に追加

冷延鋼板処理ラインに設置された溶接装置（マッシュシーム溶接装置）において、溶接部の引きちぎり等による溶接不良の発生を的確に防止することができる冷延鋼板の溶接方法を提供する。 - 特許庁

To provide an efficient pinhole inspecting machine which can accurately inspect a seal defect, while allowing some of the remaining flowing water left at the seal part of a cup-shaped package container (hereinafter referred to as a body to be inspected), and line automated for the inspection.例文帳に追加

カツプ状包装容器（以下、被検体と言う）のシール部に残る一部の残流水を許容した状態で的確なシール不良の検査を実現するとともに、これをライン自動化した能率的なピンホール検査機を提供する。 - 特許庁

To solve the problem of abnormal overheat and abnormal rise of a revolution speed of cooking means, which occurs when voltage of a commercial power supply abnormally rises due to defect of a neutral line, faulty wiring of commercial wiring and the like.例文帳に追加

商用電源の中性線欠損や商用配線の誤配線等により、商用電源の電圧が異常に上昇した場合、調理手段が異常過熱や回転速度の異常上昇を引き起こしてしまう。 - 特許庁

An ultrasonic signal is imparted to the weld zone, while scanning a line-focusing probe, in the direction crossing at least in the two or more directions on the spot-weld zone, and existence of a defect on the weld zone is inspected from a reflection pattern of the signal.例文帳に追加

スポット溶接部上を少なくとも２方向以上の交差する方向に、線集束探触子を走査しながら該溶接部に超音波信号を与え、その信号の反射パターンから溶接部の欠陥の有無を検査する。 - 特許庁

Therefore, the developer 16A accompanied by the photosensitive web 12 never contacts with the fixing solution 20A, and a defect such as bleeding or burr at the silver line edge part of the conductive material by local runaway of developing can be suppressed.例文帳に追加

このため、感光ウエブ１２に同伴した現像液１６Ａが定着液２０Ａに接触することがなく、現像の局部暴走による導電性材料の銀線エッジ部のにじみ、ギザギザ等の欠陥の発生を抑制することができる。 - 特許庁

To provide a positive resist composition which is suitably used for a light source for exposure of ≤160, particularly an F_2 excimer laser beam (157 nm), and more specifically to provide a positive resist composition which exhibits sufficient transmissibility when used for the light source of 157 nm and is improved in line edge roughness, development defect and scum.例文帳に追加

１６０ｎｍ以下、具体的にはＦ_２エキシマレーザー光（１５７ｎｍ）の露光光源使用時に十分な透過性を示し、且つラインエッジラフネス、現像欠陥、スカム発生が改善されたポジ型レジスト組成物を提供する。 - 特許庁

To provide a device and a method for coating with a polyimide film capable of improving pinhole defect and line stain by completely removing residue left on an inkjet head in an inkjet-system polyimide coating process.例文帳に追加

インクジェット方式のポリイミド膜塗布工程においてインクジェットヘッド上に残存する残留物を完全にとり除いてピンホール不良や線染みなどを改善することができるポリイミド膜塗布装置及び方法を提供することである。 - 特許庁

To provide a technology of predicting yield by using a new technique and an algorithm for estimating the degree of a foreign matter to be generated in an actual manufacturing line, and a technology capable of quantifying defect due to foreign matter defective of a circuit module level.例文帳に追加

実際の製造ラインに発生する異物の程度を推定する新しい手法及びアルゴリズムによって歩留りを予測する技術、また、回路モジュールレベルの異物欠陥性不良を定量化することが可能な技術を提供する。 - 特許庁

To provide a fixing structure of an elongated member for a vehicle which prevents generation of malfunction (for example insulation defect in an electric line) by heat influence and is widely applicable and inexpensive, and also to provide an elongated member fixing tool used for the same.例文帳に追加

熱影響による機能障害（例えば電線における絶縁不良）の発生を防止しつつ、汎用性が高く安価な車両用長尺部材固定構造とそれに用いる長尺部材固定具を提供する。 - 特許庁