「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(260ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a device and a method for testing a jitter transfer characteristic which can shorten a time for determining whether or not a measuring object 100 conforms to a predetermined jitter transfer characteristic mask.例文帳に追加

本発明は、測定対象１００が予め定められたジッタ伝達特性マスクに適合しているか否かの判定時間を短縮することのできるジッタ伝達特性試験装置及びジッタ伝達特性試験方法の提供を目的とする。 - 特許庁

To provide a voice signal processing device which automatically changes an emphasis degree of utterance voice, according to articulation of voice in an input voice signal which is actual utterance voice, without using a sound source for testing, such as impulse.例文帳に追加

インパルス等の試験用音源を用いることなく、実際の発話音声である入力された音声信号における音声の明瞭度に応じて、自動的に発話音声の強調度合いを変更する音声信号処理装置を提供する。 - 特許庁

To provide an attachment for sockets capable of automatically adapting to the performance test of IC devices and increasing thermal radiation from IC devices while curving increases in size, and also to provide a semiconductor device testing apparatus having the same.例文帳に追加

本発明は、ＩＣデバイスの性能試験の自動化に対応することができ、また、サイズの大型化を抑制しつつ、ＩＣデバイスからの熱放出を高めることができるソケット用アタッチメント及びそれを有する半導体デバイス試験装置を提供する。 - 特許庁

The circuit 124 sets up the data pattern of diagnosis testing data in each of an address output register 115, a data output register 117 and a bus control output register 119 and instructs the output of the data pattern to respective buses 101 to 103.例文帳に追加

バスインターフェース制御回路１２４は診断試験用データのデータパターンをアドレス出力レジスタ１１５と、データ出力レジスタ１１７と、バス制御出力レジスタ１１９とのそれぞれにセットし、各バス１０１，１０２，１０３への出力を指示する。 - 特許庁

On a substrate for testing, a clock signal corresponding to an actual operation of the semiconductor device is supplied, and a test program for conducting a performance test on the first memory circuit is written from a tester to the second memory circuit of the second semiconductor device.例文帳に追加

試験用基板上において、上記半導体装置の実動作に相当したクロック信号を供給し、テスト装置から上記第２半導体装置の第２メモリ回路に上記第１メモリ回路の動作試験を行うテストプログラムを書き込む。 - 特許庁

A circuit testing device 2A, a bump forming device 2C, an IC chip bonding device 2D, a cutting device 2E, and a control device 1 that controls the above devices are provided to a system 100 which manufactures a semiconductor part that the IC chips are mounted three-dimensionally.例文帳に追加

ＩＣチップが三次元実装されてなる半導体部品を製造するシステム１００に、回路試験装置２Ａ、バンプ形成装置２Ｃ、ＩＣチップ接合装置２Ｄ、切断装置２Ｅ、およびこれらの装置を制御する制御装置１を設ける。 - 特許庁

To provide a manufacturing method for a semiconductor device, capable of accurately putting chips in a shell, preventing an offset phenomenon upon closing a cover of the shell, and radiating heat generated upon testing, and a shell for use in the method.例文帳に追加

シェル内にチップを投入する際に正確に投入でき、またシェルのカバーを閉じる際に片寄せ現象を防止でき、さらに試験時に発生する熱を放熱できる半導体装置の製造方法、およびこれに用いられるシェルを提供する。 - 特許庁

To accurately adjust the pressure of a proportional solenoid control valve in a short time independently of existence of an individual difference of the proportional solenoid control valve when testing a pressure control of the proportional solenoid control valve and to provide a device for the same method.例文帳に追加

比例電磁制御弁の圧力調整試験において、比例電磁制御弁の個体差の有無に関係なく短時間でかつ精度の高い比例電磁制御弁の圧力調整を行うこと及び、その装置の提供をすること。 - 特許庁

In processes IV, V, a bar code of a component a is read in with bar code reading means 4d, 4e, and at the same time, a characteristics test is made with a characteristics testing means 7a, 7b, whose result is registered in the data base DB in coordination with an ID shown in the bar code.例文帳に追加

工程IV、Ｖでは、バーコード読取手段４ｄ，４ｅで部品ａのバーコードを読み取るとともに、特性検査手段７ａ，７ｂで特性検査を行い、その検査結果をバーコードで示されるＩＤに対応付けて、データベースＤＢに登録する。 - 特許庁

To obtain a large glass substrate without a melting defect by properly testing the melting defect over the entire surface of the glass substrate when the substrate size is 1,100 mm×1,250 mm or more, particularly 2,000 mm×2,000 mm or more.例文帳に追加

基板寸法が１１００ｍｍ×１２５０ｍｍ以上、特に２０００ｍｍ×２０００ｍｍ以上である場合に、ガラス基板の全面に亘って、溶融欠陥検査を適正に行うことにより、溶融欠陥がない大型のガラス基板を得ること。 - 特許庁

This testing apparatus A generates change in a load corresponding to body motion obtained by respiration of a sleeping person, and discriminates the respiratory standstill condition or the low respiratory condition of the sleeping person on the basis of the change in a frequency of this respiratory signal.例文帳に追加

検査装置Ａは、就寝者の呼吸による体動に応じた、荷重変化を呼吸信号として生成し、この呼吸信号の周波数の変化に基づいて、就寝者の無呼吸状態もしくは低呼吸状態を判定する。 - 特許庁

The sensors are elongate test strips 32 for in vitro testing, each having a substrate 34, at least one electrode 42, 44, an embossed channel 54 in the electrode, and lidding tape 38 covering at least a portion of the embossed channel 54.例文帳に追加

センサは、インビトロ試験のための細長い試験ストリップ３２であり、基板３４と、少なくとも１つの電極４２、４４と、電極内にエンボス加工されたチャネル５４と、エンボス加工されたチャネル５４の少なくとも一部分をカバーする蓋テープ３８とを含む。 - 特許庁

To provide an in-plane shearing testing method for a rubbery elastic laminate capable of easily performing the laborary test of shearing fatique durability at a member level by a relatively simple tester to evaluate the same, and in-plane shearing test equipment therefor.例文帳に追加

部材レベルでの剪断疲労耐久性を比較的簡単な試験装置により室内試験で容易に行うことが出来ると共に、その評価をすることが出来るゴム状弾性積層体の面内剪断試験方法及びその装置を提供する。 - 特許庁

Moreover, the driver board 32 of each test unit 3 performs a test specific to the driver board with respect to the burn-in board 4 connected via the motherboard 33, according to the instruction for starting testing the control unit 2, and outputs the test result to the control unit 2.例文帳に追加

また、各テストユニット３のドライバボード３２は、そのドライバボード固有の試験を、制御装置２のテスト開始の指示に応じて、マザーボード３３を介して接続したバーンインボード４に対して行い、試験結果を制御装置２に出力する。 - 特許庁

Also, the yield can be improved by testing by using optimum stress applying voltage and discrimination voltage in accordance with internal generation voltage characteristics in a test method of a nonvolatile semiconductor memory in which the gate voltage of a memory cell is generated internally in read-out.例文帳に追加

また、読み出し時にメモリセルのゲート電圧が内部生成される不揮発半導体記憶装置の検査方法においては内部生成電圧特性に応じた最適なストレス印加電圧と判定電圧で検査することで歩留り向上が図れる。 - 特許庁

The polyimide film is continuously manufactured at a width of at least 1,000 mm and gives a distortion ratio of a specified value or less over the entire width when subjected to a trouser tear testing in the MD direction.例文帳に追加

幅１０００ｍｍ以上で連続的に生産されるポリイミドフィルムであり、ＭＤ方向のトラウザー引き裂き試験を行った場合、全幅においてずれ率が一定の値以下となるようなポリイミドフィルムの製造方法により得られるポリイミドフィルムを提供する。 - 特許庁

To execute an improved test with higher precision at higher speed, concerning a testing device of a semiconductor integrated circuit including an A/D conversion circuit or a D/A conversion circuit and a test method of the semiconductor integrated circuit using the device.例文帳に追加

Ａ／Ｄ変換回路またはＤ／Ａ変換回路を含んだ半導体集積回路の試験装置およびこれを用いた半導体集積回路の試験方法において、試験を、より高精度、より高速度で実行できるよう、改良する。 - 特許庁

To provide a transformation plastic coefficient testing device for measuring successively deformation of a test piece during a rapid cooling time by assuming rapid-cooling thermal treatment after heating a material, and identifying a transformation plastic coefficient from the deformation.例文帳に追加

材料を加熱した後に急速冷却する熱処理を想定し、急速冷却時の試験片の変形量を逐次測定可能とし、その変形量から変態塑性係数を同定することができる変態塑性係数試験装置を提供する。 - 特許庁

The method for preparing and testing specimens for high-throughput screening assays for identifying bonding between a chemical target and a library compound and the use of a calorimeter device for measuring reaction enthalpy on the bonding are disclosed.例文帳に追加

薬剤標的とライブラリ化合物の間の結合の同定のための、ハイスループットスクリーニングアッセイ用の標本調製および検査のための方法、結合に関する反応エンタルピーを測定する熱量計装置を用いた使用について開示される。 - 特許庁

To provide an electric connection device provided with contacts different in arrangements capable of testing a plurality of types of electronic devices different in specifications of the size, number, arrangement and the like of electrodes, and capable of saving space for arranging the contacts.例文帳に追加

電極の大きさ、数、配列などの仕様の異なる複数種類の電子デバイスを試験することができる異なる配列の接触子を備え、それらの接触子を配列するスペースを節約することができる電気的接続装置を提供する。 - 特許庁

If a semiconductor integrated circuit 3 under test has a less required number of terminals for tests, a plurality of testers corresponding to the semiconductor integrated circuit 3 under test one to one are used for testing a plurality of semiconductor integrated circuits 3 at once.例文帳に追加

試験対象となる半導体集積回路の、試験で必要とされる端子が少なかった場合に、半導体集積回路と一対一に対応づけられた複数の試験装置を用いて、複数の半導体集積回路を同時に試験する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device which shortens time required for a test or achieves flexible correspondence in accordance with a DUT, by generating a steeply-changing test signal or a mildly-changing test signal.例文帳に追加

急峻に変化する試験信号或いは緩やかに変化する試験信号を生成することができ、これにより試験に要する時間の短縮やＤＵＴに合わせた柔軟な対応を図ることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a test method for relevancy testing of an identifier able to be transmitted to a communication means by way of a communication network in a message, a test module therefore and a generating module for building a relevancy table provided for the testy method.例文帳に追加

メッセージ中にあり、通信ネットワークを介して通信手段への伝達が可能な識別子の関連性テストのためのテスト法、そのためのテストモジュール及び上記のテスト法のために提供される関連表を作り上げる作成モジュールの提供。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of improving yield of a semiconductor device, and saving the labor and the time required from start until finish of an interface test of the semiconductor device even when an abnormality occurs.例文帳に追加

半導体デバイスの歩留まりの向上を図ることができるとともに、異常が発生したときにおいても半導体デバイスのインターフェーステストを開始してから終了するまでにかかる手間と時間とを省くことができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The method and the device for data analysis according to various aspects are so constituted that a statistical outlier which includes a local outlier for showing an outlier in a subset of larger data population at testing data of a component can be identified.例文帳に追加

様々な局面に従ったデータ解析のため方法および装置は、より大きなデータ母集団のサブセットの中の外れ値を表す、局所的外れ値を含む、コンポーネントの試験データの中の統計的外れ値を識別するように構成される。 - 特許庁

To provide a memory error correction and detection circuit test system which utilizes the validity/invalidity switching function of an ECC circuit and simply performs an operation test of the ECC circuit without adding a circuit for test, and also to provide its testing method.例文帳に追加

ＥＣＣ回路の有効／無効切り替え機能を利用して、試験用の回路を追加することなく簡単にＥＣＣ回路の動作試験を行うことができるメモリ誤り訂正・検出回路試験システムおよび試験方法を提供する。 - 特許庁

Article 62 Those who have an objection to the disposition to the designated testing agency in accordance with the provisions in this Act may submit an application for examination to the Minister of Land, Infrastructure, Transport and Tourism pursuant to the Administrative Appeal Act (Act No. 160 of 1962). 例文帳に追加

第六十二条　この法律の規定による指定試験機関の処分に不服がある者は、国土交通大臣に対し、行政不服審査法（昭和三十七年法律第百六十号）による審査請求をすることができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

(2) A notifying manufacturing business operator who intends to take the test set forth in the preceding paragraph shall, pursuant to the provision of the Ordinance of the Ministry of Economy, Trade and Industry, submit a specified measuring instrument for testing, construction drawings and other relevant documents to said designated verification body. 例文帳に追加

２　前項の試験を受けようとする届出製造事業者は、経済産業省令で定めるところにより、試験用の特定計量器及び構造図その他の書類を当該指定検定機関に提出しなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

(5) The competent minister may, when recognizing that a person as provided for in paragraph (3) has violated the provisions of the said paragraph, order that person to use Organisms Subject to Testing based on the conditions in the said paragraph or take other necessary measures. 例文帳に追加

５　主務大臣は、第三項に規定する者が同項の規定に違反していると認めるときは、その者に対し、同項の条件に基づいて検査対象生物の使用等をすることその他の必要な措置を執るべきことを命ずることができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

kbluetoothd: Bluetooth Meta Server.kbtsearch: Bluetooth device/service search utility.khciconfig: KDE Bluetooth Monitor.kioclient: KIO command line client.qobexclient: Swiss army knife for obex testing/development.kbtobexclient: A KDE Bluetooth Framework Application.kioobex_startkbtserialchatkbemusedsrv: KDE Bemused Server.kbtobexsrv: KDE OBEX Push Server for Bluetooth. kbluepin: A KDE KPart Application.auth-helper: A helper program for kbtobexsrv that sends an authentication request for a given ACL link.Code Listing6.3: Installing kdebluetooth例文帳に追加

kbluetoothd:Bluetoothメタサーバkbtsearch:Bluetoothデバイス・サービス検索ユーティリティkhciconfig:KDEBluetoothモニタkioclient:KIOコマンドラインクライアントqobexclient:obexテスト・開発用の高度なクライアントkbtobexclient:KDEBluetoothフレームワークアプリケーションkbemusedsrv:KDEBemusedサーバkbtobexsrv:KDEBluetooth用OBEXPushサーバkbluepin:KDEKPartアプリケーションauth-helper:与えられたACLリンクに対して認証要求を送信する、kbtobexsrvのためのヘルパーです。 - Gentoo Linux

The NetBeans PHP editor is dynamically integrated with NetBeans HTML, JavaScript and CSS editing features such as syntax highlighting and the JavaScript debugger.NetBeans IDE 6.5 fully supports iterative development,so testing PHP projects follows the classic patterns familiar to web developers.例文帳に追加

NetBeans PHP エディタは、構文の強調表示や JavaScript デバッグなどができる NetBeans HTML、JavaScript、CSS 編集機能と動的に統合されています。 NetBeans IDE 6.5 では反復開発が完全にサポートされているので、PHP プロジェクトのテストは、Web 開発者によく知られている従来のパターンに従います。 - NetBeans

Since the period of bubble economy, 'Kanji of the Year,' one Chinese character representing the social conditions of the year, have been announced every year at Kiyomizu-dera Temple under the auspices of The Japan Kanji Aptitude Testing Foundation on December 12, 'the day for Kanji' (however, the day may be shifted according to circumstances). 例文帳に追加

バブル期より毎年漢字の日の12月12日（ただし事情によりずれる場合もある）に、財団法人日本漢字能力検定協会主催によりその年の世相を漢字一字で表現する「今年の漢字」が清水寺で発表される。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

Specifically, whether review implementation plans for checking the reviews conducted on a stage-by-stage basis and managing the quality condition, or a testing plan suitable for the development associated with system integrations is formulated and a system for implementation is developed. 例文帳に追加

具体的には、工程毎のレビュー実施状況を検証し、品質状況を管理するためのレビュー実施計画や、システム統合に伴う開発内容に適合したテスト計画が策定され、実施するための体制が整備されているか。 - 金融庁

Next, the test disk 30 is mounted in a test object drive, and a testing device inquires of the test object drive, a start position of the middle area, a recording end position of file data, a recordable start position of the disk and a recordable capacity (spare capacity).例文帳に追加

このテストディスク３０を検査対象ドライブに装着し、ミドルエリアの開始位置、ファイルデータの記録終了位置、当該ディスクの追記開始位置および追記可能容量（空き容量）を、検査装置から検査対象ドライブに問い合わせる。 - 特許庁

To provide a method and a device which is provided with semiconductor switching means for calculation control for high-voltage load, capable of precisely and continuously tracking the load control value, without using industrial water and is capable of maintaining the value at the load characteristic testing for an electric generator and the like.例文帳に追加

発電機等の負荷特性試験において、工業用水を使用せずに負荷制御値に連続的に精度よく追従し、その値を持続できる半導体開閉手段を備えた高圧負荷演算制御方法及び装置の提供。 - 特許庁

To provide a material testing device and an external output method for a measured load therein, capable of generating a sufficient processing time in a servo loop as far as possible, and of outputting a detected signal proportional to the load as far as possible.例文帳に追加

サーボループにおける処理時間に余裕を極力生じさせるとともに、負荷に極力比例した検出信号を出力することができる材料試験装置における計測負荷の外部出力方法および材料試験装置を提供する。 - 特許庁

A line type environment tester 40 comprises a low- and high- temperature test tanks 42, 43 for testing a plurality of boards 1 with adapters at once during transporting of the boards housed in a transport box 20 via the test tanks.例文帳に追加

ライン型環境試験装置４０は低温試験槽４２および高温試験槽４３を備え、アダプタ付き基板１は一度に複数枚が搬送ボックス２０に収納された状態でこれらの試験槽を経由して搬送され、試験が行われる。 - 特許庁

To readily constitute a system for surely preventing an error of mistaking cells and cross-over contamination even in the case of installing a plurality of thermostatic devices for medical use having different specifications caused by a variety of makers and types in a testing room and integratively controlling them.例文帳に追加

メーカーや型式の違いによる異なる仕様の医療用恒温器を試験室に複数台設けて統合管理する場合でも、細胞の取り違えミスや交叉汚染を確実に防止するためのシステムを容易に構築することができる。 - 特許庁

A testing device 100 decides test items and when performing the wireless transmission characteristic test, a layer-3 signal is transmitted between the device and mobile terminal equipment 150 to realize wireless connection by a CDMA wireless interface, thereby transmitting a signal to be measured.例文帳に追加

試験装置１００は、試験項目を判断し、無線送信特性試験を行う場合には、移動端末装置１５０との間でレイヤ３信号を伝送してＣＤＭＡ無線インターフェースによる無線接続を実現し、被測定用信号を伝送する。 - 特許庁

When an external circuit is connected to the outside balls 2 of IC 1 by IC socket and testing is performed, a plurality of contact terminals 3 made of spherical conductive material are provided at the IC socket and these contact terminals 3 are disposed to press the outside ball.例文帳に追加

ＩＣソケットによってＩＣ１の外部ボール２に外部回路を接続し、試験を行なう際、ＩＣソケットに球形の導電材で作られた複数の接触端子３を設け、この接触端子３が外部ボール２に接圧されるよう構成する。 - 特許庁

To provide a creep testing machine allowing a person to precisely know the point of time a test piece is actually loaded to a test piece and obtain precise data even for a material having a deforming characteristic sensitive to the loading of a resin or the like.例文帳に追加

試験片に対して荷重が実際に負荷される時点を正確に知ることができ、樹脂等の負荷に対して敏感な変形特性を有する材料にでも、正確なデータを得ることができるクリープ試験機の提供を課題とする。 - 特許庁

Then, when the operation to alter the order of the thumbnail images is performed through an operational part, the image testing device alters by rewriting the image number attached to the medical images of the thumbnail images related to the alteration operation in accordance with the altered order (Step S16).例文帳に追加

そして、前記サムネイル画像の並び順を変更する操作が操作部を介してなされると、変更された並び順に応じて、変更操作に係るサムネイル画像の医用画像に付帯されている画像番号を書き換えて変更する（ステップＳ１６）。 - 特許庁

Additional protease inhibitors, reducing agents, stabilizers and buffering agents may be combined with the disclosed compositions in devices for sampling or testing biological fluids for levels of peptides of interest, or methods therefor.例文帳に追加

追加のプロテアーゼ阻害物質、還元剤、安定剤、および緩衝剤が、興味の対象であるペプチドのレベルについて生物学的液体をサンプリングもしくはテストするための装置、またはそのための方法において、開示された組成物と併用されてもよい。 - 特許庁

The semiconductor data processing device is provided with: test circuits (7, 8) for generating a test pattern in a CPU and internal circuits, testing them and maintaining the test results; a test control circuit (6) for activating the test circuits; a test start register (9); a test status register (10); and a test general register (11).例文帳に追加

ＣＰＵ及び内部回路にテストパターンを発生してテストを行って結果を保持するテスト回路(７，８)と、テスト回路を起動するテスト制御回路（６）と共に、テスト起動レジスタ（９）、テスト状態レジスタ(１０)、及びテスト汎用レジスタ(１１)を備える。 - 特許庁

To provide a full-point test system for a display device screen comprising means for improving test efficiency by automating a full-point test of the display device screen to be used for a control monitoring system for a plant or the like without watching work by a testing person.例文帳に追加

プラントなどの制御監視システムで使用する表示装置画面の全点試験を、試験者の目視作業を要することなく自動化し、試験効率を高める手段を備えた表示装置画面の全点試験方式を提供する。 - 特許庁