「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(261ページ目) - Weblio英語例文検索

A testing of yarns to test the accuracy of the description of count or length shall be made, in the first instance, up to the limit of one bundle in every one hundred bales or fractions of one hundred bales in a consignment.例文帳に追加

選択すべき見本の数番手又は長さについての表示の正確性を検査するための糸の試験については，第1試験段階において，託送品の各100梱包又は100梱包未満当たり1束を限度として，これを行わなければならない。 - 特許庁

Common functions or characteristics are defined by JIS (Japanese Industrial Standards), IOS-standards (International Organization for Standardization-standards) or IEC-standards (International Electro-technical Commission-standards), or determined quantitatively by testing or measuring methods provided in those standards. 例文帳に追加

標準的なものとは、JIS(日本工業規格)、ISO規格(国際標準化機構規格)又はIEC規格(国際電気標準会議規格)により定められた定義を有し、又はこれらで定められた試験・測定方法によって定量的に決定できるものをいう。 - 特許庁

The "working, functions, or characteristics" of the claimed inventions are found to be convertible to other working, functions, or characteristics specified by other definitions or testing or measuring processes, and it is found that the products of the cited inventions are considered to be identical to those of the claimed inventions from the results of the conversion. 例文帳に追加

請求項に係る発明の「作用、機能、性質又は特性」が他の定義又は試験・測定方法によるものに換算可能であって、その換算結果からみて同一と認められる引用発明の物が発見された場合。 - 特許庁

A semiconductor wafer is held so that probes can be brought into contact with both surfaces thereof, both surfaces of the semiconductor wafer are then heated, respectively, by a heater part and the probes are connected with both surfaces, respectively, thus testing semiconductor chips provided on the semiconductor wafer.例文帳に追加

両面にプローブを接触可能に半導体ウエハを保持し、この半導体ウエハの両面をそれぞれヒータ部により加熱し、この両面にそれぞれプローブを接続して当該半導体ウエハに設けられた半導体チップを試験する。 - 特許庁

To select and provide information of the optimum one out of plural kinds of test systems or test devices in response to requirement from a testing person, as to the information what test system, what test device or the like is required for a test of a semiconductor device or various kinds of electronic equipments.例文帳に追加

半導体装置や各種の電子機器のテストにどのようなテストシステムやテスト装置等が必要かの情報を、テストする者の要求に応じて複種類のテストシステムやテスト装置の中から最適なものの情報を選択し提供すること。 - 特許庁

To provide a technique for improving maintenance and inspection practices of a suction nozzle changing device which selectively positions one of a plurality of suction nozzles at a normal use position, and surface mounting equipment and component testing equipment equipped with the same device.例文帳に追加

複数の吸着ノズルのうちの１つを選択的に通常使用位置に位置決めする吸着ノズル変更装置、同装置を装備する表面実装機および部品試験機において、保守点検性を向上させる技術を提供する。 - 特許庁

The substrate 1 for testing of the semiconductor integrated circuit is formed by laminating a lowest layer substrate 11, a second layer substrate 12, a third layer substrate 13, a top layer substrate 14, each of the substrates being a multilayer wiring board and having connectors 2 on a top surface of its outer periphery.例文帳に追加

半導体集積回路試験用基板１は、それぞれが多層配線基板であり、その外周部上面にコネクタ２を備える、最下層基板１１、２層目基板１２、３層目基板１３、最上層基板１４を積層する。 - 特許庁

To allow decreasing the number of pads in a semiconductor device along with its manufacturing method, which comprises a first circuit connected to a connection pad and a second circuit which requires testing.例文帳に追加

接続パッドに接続された第１の回路部とテストが必要とされた第２の回路部とを有する半導体装置及びその製造方法に関し、パッド数を削減できる半導体装置及びその製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

Based on testing data td and the detected failure list ta outputted from the failure detection system 30, a failure kind-classified state model sn indicating statistical data of a state of the service provision system is generated in each kind of the failure.例文帳に追加

試験用データｔｄ及び障害発見システム３０から出力される発見障害リストｔａに基づいて、障害の種類毎にサービス提供システムの状態の統計データを示す障害種類別状態モデルｓｎが生成される。 - 特許庁

Because of acquiring the measurement data from the existing measuring devices, the testing scenario and sequence can be easily produced at low cost with various communication protocols as targets without needing to construct a mechanism for acquiring measurement data of the various communication protocols.例文帳に追加

既存の測定器から測定データを取得するので、さまざまな通信プロトコルの測定データを取得するしくみを構築する必要はなく、さまざまな通信プロトコルを対象として、安価で容易に試験用シナリオおよびシーケンスを作成できる。 - 特許庁

The joining strength of respective fillets 14 are quantitatively estimated by measuring the height of respective fillets 14 or the like depending on the image of respective fillets 14 obtained by receiving the testing light at a light receiving part 5 installed at the other side of the connecting structure 10.例文帳に追加

連接構造体１０の他方の側で受光部５により検査光を受光して得られる各フィレット１４の画像に基づいて、各フィレット１４の高さなどを測定し、各フィレット１４の接合強度を定量的に評価する。 - 特許庁

The testing apparatus carries out function tests for network relays installed in respective circuits of the network, in which a plurality of circuits led out via respective transformers are connected to a common network bus separately via a protective breaker.例文帳に追加

本発明は、それぞれ変圧器を介して導出された複数の回線がそれぞれ保護遮断器を介して共通のネットワーク母線に接続されるネットワークの各回線ごとに設けられたネットワークリレーの機能試験を行う試験装置に関する。 - 特許庁

The floor material testing apparatus consists of a pair of test rods 2 for applying load to the floor material 1 and a test rod driving device 3 for moving a pair of the test rods 2 up and down alternately to apply load to the surface of the floor material 1 alternately by the leading ends of the test rods 2.例文帳に追加

床材１に荷重を加える一対の試験棒２と、一対の試験棒２を交互に上下させて試験棒２の先端で床材１の表面に交互に荷重を加えるようにした試験棒駆動装置３とから成る。 - 特許庁

Output of the write data DO 1 to 8 to the flash memory 1 is performed by using the input/output terminals IO 1 to 8 of the testing equipment 2, and the completion signal BUSY outputted from the flash memory 1 is monitored at the input/output terminal IO 9.例文帳に追加

フラッシュメモリ１に対する書込みデータＤＯ１〜８の出力は、試験装置２の入出力端子ＩＯ１〜８を使って行い、入出力端子ＩＯ９ではフラッシュメモリ１から出力される完了信号ＢＵＳＹを監視する。 - 特許庁

To provide a spraying corrosion testing device having a hermetically sealing structure by water, capable of preventing mist of corrosive liquid generated in a test tank from leaking to the outside of the test tank, and performing a test excellent in reproducibility and work efficiency in an energy saving state.例文帳に追加

試験槽内で生成させた腐食液のミストが前記試験槽外に漏洩するのを防止し、省エネルギーで、再現性と作業性の優れた試験ができる、水による密閉シール構造を具備した噴霧腐食試験装置を提供すること。 - 特許庁

This device is made up of an inspecting cup ring unit A that is structured by mounting an annular outer magnet member 3 on the inside circumferential side of a cup-shape portion 1, a motor 4 that rotates the inspecting coupling unit A in the circumferential direction, a testing base 10, and a measuring means B.例文帳に追加

カップ状部１の内周側にリング状のアウターマグネット部材３が装着されてなる検査用カップリング体Ａと、該検査用カップリング体Ａを円周方向に回転させるモータ４と、テスト台１０と、計測手段Ｂとからなること。 - 特許庁

In this superconducting coil vertical vibration testing device, the superconducting coil 1 is equipped with an vibration rod 21 fixed to a simulated external vessel 4 by the load support materials 2, 3, and a hydraulic exciter 26 to which the vibration rod 21 is connected through a vacuum vessel 12.例文帳に追加

超電導コイル上下加振試験装置において、超電導コイル１が、荷重支持材２，３によって模擬外槽４に固定される加振ロッド２１と、この加振ロッド２１が真空槽１２を貫通して連結される油圧加振機２６とを具備する。 - 特許庁

In this carry-testing medium 10, the surface of a base material 11 is formed with an electroconductive layer 12, and the surface of the electroconductive layer 12 is formed with a geometric pattern by two kinds of ink, i.e., a high-friction ink material 13 and a low-friction ink material 14.例文帳に追加

搬送テスト用媒体１０は、基材１１の表面に導電層１２が形成され、さらに動電層１２の表面に高摩擦インク材１３と、低摩擦インク材１４との２種類のインクで幾何学的模様が形成されている。 - 特許庁

Data generators 104A, 104B, 104C for testing a CAM are inserted between an APG 101 for RAM and CAM-macros 105A, 105D, 105E, write-in data of the CAM-macros is generated from an address signal 12 directly or by decoding.例文帳に追加

ＲＡＭ用ＡＰＧ１０１とＣＡＭマクロ１０５Ａ，１０５Ｄ，１０５Ｅの間にＣＡＭテスト用データジェネレータ１０４Ａ，１０４Ｂ，１０４Ｃを挿入し、アドレス信号１２から直接、あるいはデコードしてＣＡＭマクロの書き込みデータを生成する。 - 特許庁

In addition, a pair of bearing housings are fixed on a bearing support member, and a load sensor for measuring force transmitted from the tires of the vehicle to the flat belt mechanism is arranged between a base of the travelling testing device for the vehicle and the bearing support member.例文帳に追加

また、上記一対の軸受のハウジングは軸受支持部材に固定され、車両のタイヤからフラットベルト機構に伝達される力を計測する荷重センサは、車両用走行試験装置のベースと軸受支持部材との間に配置される。 - 特許庁

To obtain testing equipment for a radio terminal and a base station which can realize improvement in the accuracy of reproduction of a radio environment in a real field, by enabling reduction of an error in the direction of arrival of a path and increase of the total electric power of the path being reproduced.例文帳に追加

パス到来方向の誤差の減少および再現するパスの総電力の増大を可能とすることにより、実フィールドにおける電波環境の再現精度向上を実現可能な、無線端末および基地局用の試験装置を得ること。 - 特許庁

In testing an LED driver 44, the analog switches 36 to 43 are switched on/off, and enables the input/output operation functions of the input/output circuit 56 are invalidated, and a connection path from external terminals 4, 5 to the LED driver 44 is formed.例文帳に追加

ＬＥＤドライバ４４をテストする場合、アナログスイッチ３６〜４３のオンオフを切り換えるとともに、入出力回路５６の入出力動作機能を有効化し、外部端子４、５からＬＥＤドライバ４４までの接続経路を形成する。 - 特許庁

To output the determined result of a test to the outside without increasing the number of pins to test a successive approximation type A/D converter mounted on an LSI, to execute the test of the A/D converter and the test of other circuits in parallel, and to shorten time for testing the LSI.例文帳に追加

LSI に搭載された逐次比較型A/D コンバータのテストを行なうためにピン数を増やすことなくテストの判定結果を外部へ出力し、A/D コンバータのテストを他の回路のテストと並行に実行でるようにし、LSI のテスト時間の短縮を実現する。 - 特許庁

The application testing system includes an OS holding part; a selective start signal receiving part; a selective start part; an application receiving part; an application introducing part; and a remote control signal receiving part.例文帳に追加

本発明は、ＯＳ保持部と、選択起動信号受信部と、選択起動部と、アプリケーション受信部と、アプリケーション導入部と、遠隔操作信号受信部と、を有するアプリケーション試験装置であり、本発明によって前記課題を解決するものである。 - 特許庁

To provide a device for performing a highly accurate test by suppressing abnormality generation in a torque sensor, in a testing device for performing a test of a prime mover by realizing a state where the prime mover is loaded simulatively on a vehicle by connecting a dynamometer to the prime mover to apply a load torque.例文帳に追加

原動機に動力計を連結して負荷トルクを印加し、擬似的に原動機を車両に搭載した状態を実現して原動機の試験を行う試験装置において、トルクセンサの異常発生を抑制して高精度の試験を行う。 - 特許庁

To provide a signal generating circuit of a semiconductor testing device that is capable of reducing the data transmission amount for skew correction when an operation mode is switched, and to allow concurrent use of respective format channels without reducing the number of effective channels.例文帳に追加

動作モードを切り替えたときのスキュー補正用のデータ転送量を減らし、有効なチャンネル数を減少させることなく各フォーマットチャンネルを同時に使用することができる半導体試験装置の信号発生回路を提供すること。 - 特許庁

When the machine type data of the given game machine is input, the processing part 322 of the game machine testing device 2 reads out the data possibly inputted corresponding to the machine type data from the memory 321 to present the types of the test data outputted from the game machine involved.例文帳に追加

遊技機試験装置２の処理部３２２は、所定の遊技機の機種データが入力されると、当該機種データに対応する入力可能データをメモリ部３２１から読み出して、当該遊技機から出力される試験データの種類を提示する。 - 特許庁

By this, it is possible to determine the susceptibility of even the functional films, evaluated as of the same hardness (for example, 3H) on the basis of 'pencil scratch values' of the 'testing methods for paints' in JIS (Japanese Industrial Standard) K5400, to flaws on the basis of the sizes of measured projections and recessions.例文帳に追加

これにより、ＪＩＳ Ｋ５４００「塗料一般試験方法」の「鉛筆引っ掻き値」に基づき同一の硬度(例えば３Ｈ)と評価された機能性フィルムでも、計測された起伏の大きさの大小によって、傷の付きやすさを判別できる。 - 特許庁

Each of the semiconductor chips 10 has: an internal circuit 11; a plurality of electrode pads connected to a terminal for inputting and outputting an external device; and testing wirings for connecting this internal circuit 11 to the electrode pads of the other semiconductor chips.例文帳に追加

そして、各半導体チップ１０は、内部回路１１と、外部との入出力を行う端子に接続される複数の電極パットと、この内部回路１１と他の半導体チップの電極パットとを接続するテスト用配線とを有することとした。 - 特許庁

To provide a semiconductor IC contact structure suitable for testing a high frequency characteristic because its signal path is shorter than that of a conventional one, manufacturable at a low cost, and sufficiently applicable for a fine-pitch arrangement solder ball.例文帳に追加

従来よりも信号経路が短くて高周波特性の検査に適し、しかも安価に製作することができ、さらに、半田ボールの配列ピッチが微細なものでも十分に対応することができる半導体ＩＣのコンタクト構造を提供する。 - 特許庁

In this testing device, a center hole jack 16 is set on the lower side of a hollow pipe material 10, and a tensile force is applied to the hollow pipe material 10 to measure the drawing adhesion resistance between the pipe material 10 and a hardened hardenable material 12 hardened and adhered thereto.例文帳に追加

試験装置は、中空管体１０の下端側に、センターホールジャッキ１６を設置して、中空管体１０に引張り力を加えて、中空管材１０と、硬化付着された硬化性物質１２との間の引抜き付着抵抗を測定する。 - 特許庁

A connecting structure 10 is irradiated from one side by a light emission part 4 so that a testing light passes through both sides of respective electrode plates 11 of the connecting structure 10 of which, the plurality of electrode plates 11 are vertically jointed to a current collection plate 12.例文帳に追加

複数枚の極板１１が集電板１２に垂直に接合された連接構造体１０の各極板１１の両側を検査光が通過するように、連接構造体１０を一方の側から照明部４により照明する。 - 特許庁

A light assembly comprises a light source, an optically transmissive self-supporting substrate, and coupled with but unattached to the substrate, a voided high Tg semi-crystalline polymeric optical diffuser film that shrinks less than 1% as a result of thermal shrinkage testing.例文帳に追加

光源、光学的透過性の自己支持性基体、及び、基体と一体にされるが付着しておらず、熱収縮試験の結果として１％未満で収縮するボイドを含む高Ｔｇ半結晶ポリマー光学ディフューザーフィルムを備える光アセンブリ。 - 特許庁

To provide an operation control method and a device which is provided with a semiconductor switching means for low-voltage load, capable of precisely and continuously following to the load control value, without using industrial water and is capable of maintaining the value at the load characteristic testing for an electric generator and the like.例文帳に追加

発電機等の負荷特性試験において、工業用水を使用せずに負荷制御値に連続的に精度よく追従し、その値を持続できる半導体開閉手段を備えた低圧負荷演算制御方法及び装置の提供。 - 特許庁

With this, by a simple operation of plugging in the change-over plug into the bridge connector, the connection of the second electronic part and the first electronic part is cut off, and at the same time, a third electronic part such as a testing device can be connected there with the second electronic part.例文帳に追加

これによって、切替えプラグをブリッジコネクタに差し込む簡単な操作により、第２の電子部と第１の電子部との接続を切り離すと共に、そこに試験装置などの第３の電子部を第２の電子部と接続することができる。 - 特許庁

To solve the problem that in testing an application running asynchronously to a unit test tool by use of the unit test tool, the application cannot be accurately tested since the application is tested by the unit test tool asynchronously with completion of the application.例文帳に追加

単体テストツールを用いて単体テストツールとは非同期で動作するアプリケーションのテストを行う場合、単体テストツールでテストの合否を判断するタイミングとアプリケーションの動作完了のタイミングが一致しないため、正しく合否判定ができないこと。 - 特許庁

When a person in charge of a building site operates an input part 52 of the acceptance-testing terminal device 5 to perform reading operation of the IC tag, the control part 51 reads data recorded in the IC tag embedded in the building member used in a building.例文帳に追加

建築現場の担当者が検収用端末装置５の入力部５２を操作してＩＣタグの読み取り操作を行うと、制御部５１は、建築物に使用された建築部材に埋め込まれたＩＣタグに記録されたデータを読み取る。 - 特許庁

This IC socket for mounting detachably a device to be measured on a test board is equipped with a signal generation part for a test for generating a signal for the test based on a control command from a testing device body, and outputting it to the device to be measured.例文帳に追加

被測定デバイスをテストボード上に着脱自在に実装するＩＣソケットにおいて、試験装置本体からの制御指令に基づいて試験用信号を発生して被測定デバイスに出力する試験用信号発生部を備える。 - 特許庁

In this embodiment, a balance merit grade of G 100 or less based on JIS B0905, is set to a rotary body, for example, an input shaft, a disc and a power roller for constituting the toroidal continuously variable transmission, by using, for example, a balance testing machine 200.例文帳に追加

本発明の実施形態では、例えば釣合い試験機２００を用いて、トロイダル型無段変速機を構成する回転体、例えば入力軸、ディスク、パワーローラに対してＪＩＳ Ｂ０９０５に基づくＧ１００以下の釣合い良さ等級を設定している。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus reads out all of the 5-bit from a one-time readout, from the storage positions of data storage sections 108a, 108b and 108c according to the constraint of the readout with a data arithmetic section 110 and performs determination processing of data with a determining section 111.例文帳に追加

そして、データ演算部１１０により読み出しの制限に従ってデータ格納部１０８ａ，１０８ｂ，１０８ｃの格納位置から１回の読み出しで５ビット全てのデータを読み出し、判定部１１１によりデータの判定処理を行う。 - 特許庁

The main controller 101 of a slot machine 10 is connected with a first relay terminal board 201 through an electric wire such as a harness, and the first relay terminal board 201 is connected with a performance testing machine 301 through an electric wire such as a harness.例文帳に追加

スロットマシン１０の主制御装置１０１と第１中継端子基板２０１とをハーネス等の電気配線を通じて接続し、該第１中継端子基板２０１と性能試験機３０１とをハーネス等の電気配線を通じて接続する。 - 特許庁

To enable temperature of cooling water inside a pipe fitting 6 connected to an inlet or an outlet of a radiator to be measured by equalizing a temperature distribution of the cooling water and to reduce a water flow resistance inside the pipe fitting 6 as low as possible in testing a cooling performance of the radiator.例文帳に追加

ラジエータの冷却性能試験において、ラジエータの出入口に接続される配管６内の冷却水の水温分布を均一にして水温を測定することができ、かつ、この配管６内の通水抵抗を極力低くする。 - 特許庁

iv) Description of flight and date and time of the relevant flight (Flight altitude in the civil training and testing area as well as the planned time to enter the civilian training and test air space and the planned time to leave the relevant air space shall be clarified. 例文帳に追加

四　飛行の内容及び当該飛行を行う日時（民間訓練試験空域における飛行高度並びに民間訓練試験空域への入域の予定時刻及び当該空域からの出域の予定時刻を明らかにすること。） - 日本法令外国語訳データベースシステム

Article 11 (1) A person who intends to import a Class I Specified Chemical Substance shall obtain permission from the Minister of Economy, Trade and Industry; provided, however, that this shall not apply to the case where a person intends to import a Class I Specified Chemical Substance for testing and research purposes. 例文帳に追加

第十一条　第一種特定化学物質を輸入しようとする者は、経済産業大臣の許可を受けなければならない。ただし、試験研究のため第一種特定化学物質を輸入しようとするときは、この限りでない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

This lightfast testing machine is constituted so that a plurality of light sources are provided to four wall surfaces of the chamber, a sample placing stand is provided in the chamber and reflecting mirrors are installed at four corners constituted by four wall surfaces so as to be turned to the central part of the chamber.例文帳に追加

チャンバーの４壁面に複数の光源を設け、チャンバー内に試料置き台を有する耐光性試験機において、４壁面が構成する４隅に反射鏡をチャンバー中央に向けて設置したことを特徴とする耐光性試験機。 - 特許庁