「common defect」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

A discrimination number is imparted respectively to each common defect, and existence of a common defect corresponding to the discrimination number is determined relative each substrate.例文帳に追加

各共通欠陥にそれぞれ識別番号を付与しておき、各基板毎に識別番号に対応する共通欠陥の有無を判定する。 - 特許庁

Resultantly, a state is acquired, wherein the discrimination number corresponding to the common defect is imparted only to a substrate determined that the common defect exists thereon.例文帳に追加

その結果、当該共通欠陥が存在すると判定された基板のみに、当該共通欠陥に対応する識別番号が付与された状態となる。 - 特許庁

To detect an open pin defect even if an input signal is used in common.例文帳に追加

入力信号を共通化した場合でも、オープンピン不良を検出すること。 - 特許庁

METHOD AND DEVICE FOR DECIDING MASK COMMON DEFECTS, AND METHOD AND DEVICE FOR MEASURING AND ELIMINATING MASK COMMON DEFECT CHIPS例文帳に追加

マスク共通欠陥判定の方法および装置ならびにマスク共通欠陥チップ測定除外の方法および装置 - 特許庁

To provide an antireflection film detector capable of easily detecting a common defect of low contrast occurring in an antireflection film at a certain cycle, and furthermore, identifying a cause of the common defect.例文帳に追加

反射防止フィルムに一定周期で発生する低コントラストの共通欠陥を容易に検出し、更に共通欠陥の発生原因を同定可能な反射防止フィルム検出装置を提供する。 - 特許庁

To reduce the overlook of a common defect in a die comparison system and a post-process due to double counting of the defect existing in a reference image after inspection and realize an efficient inspection.例文帳に追加

ダイ比較方式の共通欠陥の見逃し、及び参照画像に存在する欠陥のダブルカウントによる検査後処理を軽減し、効率的な検査を実現する。 - 特許庁

To provide a common mode noise filter in which the occurrence of an insulation defect is suppressed.例文帳に追加

本発明は、絶縁不良が発生するのを抑制できるコモンモードノイズフィルタを提供することを目的とするものである。 - 特許庁

To provide technique for determining which of a defect of user facilities and a defect of common carrier facilities is causes fault, for example, disables communication, when ONU loop-back test is to be conducted.例文帳に追加

ONUループバック試験を実施するにあたり、通信不能等の故障時にユーザ設備の不良か通信事業者設備の不良かの切り分けができるようにする技術を提供すること。 - 特許庁

To provide a liquid crystal display device having such an excellent feature that a problem of a bright point defect due to an electric short circuit between a display electrode and a common electrode on an array substrate to be used for the liquid crystal display device is solved to turn the bright defect to a dark defect.例文帳に追加

液晶表示装置に用いられるアレー基板における表示電極と共通電極との電気的短絡による明点欠陥を解決し、暗点欠陥にできる優れた特徴をもつ液晶表示装置、およびその製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a defect inspection device for dispensing with gain adjustment of each camera by enabling stable inspection in common threshold setting in a plurality of different imaging systems.例文帳に追加

異なる複数の撮像系において、共通の閾値設定で安定した検査ができ、各カメラでのゲイン調整を不要とした欠陥検査装置を実現する。 - 特許庁

To provide a liquid crystal panel having an ITO (indium tin oxide) film without any appearance defect, such as a crack, a wrinkle or the like, as the transparent common electrode of a color filter substrate.例文帳に追加

クラックやしわ等の外観不良の無いＩＴＯ膜をカラーフィルタ基板の透明共通電極として有する液晶パネルを提供する。 - 特許庁

To prevent a display defect caused by a change in characteristics of a thin film transistor and a display defect caused by a short circuit between a pixel electrode and a common electrode and to enlarge an aperture ratio, in an in-plane switching mode liquid crystal display.例文帳に追加

横電界方式の液晶表示装置において、薄膜トランジスタ特性の変化に起因する表示不良及び画素電極と共通電極との間のショートに起因する表示不良を防止し、さらに、開口率を大きくする。 - 特許庁

To provide a method for discriminating a common defect among a plurality of substrates located at the same position accurately, at high speed and at low cost.例文帳に追加

複数枚の基板に渉って同じ位置に存在する基板間の共通欠陥を、精度よく高速で安価に判別できる共通欠陥判別方法を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory capable of efficiency relieving the defect of a memory cell unit including a plurality of cells accessed from a common bit line by a small number of circuits.例文帳に追加

共通のビット線からアクセスされる複数のセルを含んだメモリセルユニットの欠陥を、少ない回路で効率的に救済できる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

A noise component contained in two signals in common from the sensors 6a, 6b is cancelled by operating the both signals, so as to realize defect detection excellent is an S/N ratio.例文帳に追加

この２つの信号を演算することにより、両者に共通に含まれるノイズ成分をキャンセルすることができ、Ｓ／Ｎ比の良い欠陥検出が可能となる。 - 特許庁

To obtain large relieving efficiency with small area by using a common fuse set for row/column common relieving for arbitrary one side of row relieving or column relieving, according to that the defect of row being more or the defects of column being more in a memory chip and to enhance relieving efficiency.例文帳に追加

メモリチップにロウ不良が多いかカラム救済が多いかに応じてロウ／カラム共通救済用フューズセットをロウ救済あるいはカラム救済の任意の一方に使用し、救済の効率を高め、少ない面積で大きな救済効率を得る。 - 特許庁

Although a serious line defect appears on a picture display in the case the interlayer short circuit takes place between the drain wire and the shield common electrode, the line defect can be repaired or made to disappear by cutting off both sides of the slit on which the short circuit has taken place with the laser repair etc. and separating the place where the short circuit has taken place.例文帳に追加

ドレイン配線とシールド共通電極との層間ショートが発生した場合、画面表示上は重大な線欠陥となるが、ショート発生部のスリットの両脇をレーザーリペア等で切断し、ショート箇所を分離することで、線欠陥をリペア・消滅することができる。 - 特許庁

For a plurality of places which are determined that it cannot be confirmed whether or not they are defects including a common unconfirmed element, a defect indication screen output part 14 associates the information showing each of the plurality of places with the information showing the common unconfirmed element to display it on a display 20.例文帳に追加

欠陥指摘画面出力部１４は，共通の未確定要素を含む，複数の欠陥であるか否かを確定できないと判定された箇所について，それら複数の箇所のそれぞれを示す情報と，共通の未確定要素を示す情報とを対応付けて，ディスプレイ２０に表示させる。 - 特許庁

To provide an injection valve mechanism which is in particular applicable to a highly reliable common rail system fuel injection mechanism to facilitate control of the injection process and cancel a defect of conventional devices in general.例文帳に追加

信頼性の大きいコモンレール方式の燃料噴射機構に特に適用可能な噴射弁機構を提供して、噴射過程の制御を容易にし、従来装置の欠点を概ね解消する。 - 特許庁

Even if a short-circuit defect between the pixel electrode and auxiliary capacity line occurs, no bright point is displayed nearly throughout a period wherein the potential of the auxiliary capacity line is equal to the common potential Vcom to improve the display quality of the display device.例文帳に追加

よって、画素電極と補助容量線との短絡不良が生じる場合であっても、補助容量線の電位が共通電位Ｖｃｏｍと同一であるほとんどの期間において輝点が表示されず、表示装置の表示品位を高めることができる。 - 特許庁

A common inspection slice value 10 in all measuring channels of the defect inspection device, measuring channel correction values 11 which are the correction values for every measuring channel, and inspection head correction values 12 which are the correction values for every inspection head, are added by adders 14 to obtain an actual inspection slice value 15.例文帳に追加

欠陥検査装置の全測定チャネルで共通の検査スライス値１０と，測定チャネルごとの補正値である測定チャネル補正値１１と，検査ヘッドごとの補正値である検査ヘッド補正値１２とを加算器１４で加算して実際の検査スライス値１５を得る。 - 特許庁

To provide a drain channel member and a floor covering structure capable of watertightly joining a floor covering material without causing a joint defect and performing excellent waterproofness for a long period even when applied with an adhesive to a sub-floor of an outdoor common hallway or a veranda that is exposed to sunlight or the weather.例文帳に追加

接合不良を生じることなく床被覆材と水密的に接合でき、太陽光や風雨に曝される屋外の共通廊下やベランダの床下地に貼着施工しても、長期間に亘って優れた防水性を発揮できる、ドレイン排水溝部材と床被覆構造を提供する。 - 特許庁

To provide a video signal processing apparatus capable of controlling luminance based on an inputted video signal and achieving prevention of a display defect by a voltage drop due to resistance of a common electrode and reduction of power consumption, a video signal processing method, a program, and a display device.例文帳に追加

入力される映像信号に基づいて輝度を制御し、共通電極の抵抗に起因する電圧降下による表示不良の防止と消費電力の低減とを図ることが可能な映像信号処理装置、映像信号処理方法、プログラム、および表示装置を提供する。 - 特許庁

Common defect types to the number of L are collected in each test, and each test of the tests to the number of N is expressed as correlation vectors to the number of N, and a complementary number of the correlation vector having the most non-zero components among the correlation vectors to the number of N is set as the initial value of a vector W.例文帳に追加

上記課題は、各試験ごとにＬ個の共有欠陥型を収集し、Ｎ個の試験の各試験をＮ個の相関ベクトルとして表現し、Ｎ個の相関ベクトルのうち最も多くの非零成分を有する相関ベクトルの補数をベクトルＷの初期値に設定する。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus, capable of restraining an initial image defect by setting toner electrification amount in a developing means as reference toner charging amount at the initial time of exchange, even in an image forming unit where toner is not contained in the developing means and which is made common.例文帳に追加

現像手段にトナーを含有していない共通化された画像形成ユニットであっても、交換初期時に現像手段内のトナー帯電量を基準のトナー帯電量とすることができ、初期の画像不良を抑制することのできる画像形成装置を提供する。 - 特許庁

A semiconductor integrated circuit (1) does not use a nonvolatile memory connected to a common bus (5) and utilized for general purposes, but uses a nonvolatile memory cell (6) of a fuse circuit (7) connected to a dedicated signal line (9), to store control information for relieving defect or the like of circuit modules (2, 3).例文帳に追加

半導体集積回路（１）は、回路モジュール（２，３）の欠陥救済等のための制御情報の記憶に、共通バス（５）に接続される汎用利用される不揮発性メモリを用いず、専用信号線（９）に接続されたヒューズ回路（７）の不揮発性メモリセル（６）を用いる。 - 特許庁

Thus, a shielding effect of the signal line is raised, the aperture ratio is raised by reducing width of a black matrix, parasitic capacity between the signal line and the common potential lines is reduced, a defect when the signal line and the floating film are short-circuited is minimized to raise the display quality.例文帳に追加

これにより信号線のシールド効果を高め、ブラックマトリクスの幅を縮小して開口率を向上させることができ、信号線と共通電位線との寄生容量を小さくし、信号線とフローティング膜とが短絡した場合の欠陥を最小限に抑えて表示品位を向上させる。 - 特許庁

Even though the prior art constitutes an incomplete expression or there is a defect in some of the prior art, it can be cited in assessing the novelty and the inventive step, when the person skilled in the art can readily understand the technical features of the claimed invention based on common technical knowledge or empirical rules. 例文帳に追加

先行技術に不完全な表現が含まれるか又は一部の先行技術に瑕疵があったとしても、当業者が技術常識や経験則に基づき容易に発明の技術的特徴を理解することができる場合は、新規性及び進歩性を判断する際に引用することが可能である。 - 特許庁

In KIPO, even though the prior art constitutes an incomplete expression or there is a defect in some of the prior art, it can be cited in assessing the novelty and the inventive step, when the person skilled in the art can readily understand the technical features of the claimed invention based on common technical knowledge or empirical rules. 例文帳に追加

KIPOでは、先行技術が不完全な表現が含まれるか又は一部の内容に欠陥があるとしても、当業者が技術常識や経験則により直ちにクレームに係る発明の技術的特徴を理解することができるならば、新規性及び進歩性を判断する際に引用することができる。 - 特許庁

of or relating to a defect in the eye or in a lens caused by a deviation from spherical curvature which prevents light rays from meeting at a common focus and so results in distorted images 例文帳に追加

光線が共通の焦点に集まるのを阻み、ゆがんだ像をもたらす球面曲率からの偏位により引き起こされる目または水晶体の欠陥の、あるいは、光線が共通の焦点に集まるのを阻み、ゆがんだ像をもたらす球面曲率からの偏位により引き起こされる目または水晶体の欠陥に関する - 日本語WordNet

The patch rejects the use of a support sheet to remove skin irritation which is a common defect of the conventional patches, and the base material is composed of a styrenic thermoplastic elastomer and an oil ingredient, and the main component of the oil ingredient is a liquid hydrocarbon, and the patch is a beauty sheet prepared by dipping this base material in an oily cosmetic liquid.例文帳に追加

本発明に係る貼付剤は、これまでの貼付剤の共通の欠点である皮膚刺激性を除去するため支持シートの使用を排し、基剤がスチレン系熱可塑性エラストマーとオイル成分からなり、オイル成分の主成分が液状炭化水素であり、この基剤を油性化粧液に浸漬させて作成した美容シートである。 - 特許庁

An edge intensity image and edge angle image are generated by differential processing applied to an original image of the inspecting object, an angle change intensity image is generated by applying differential processing to the edge angle image, and a defect of the inspecting object is detected based on a feature common to the edge intensity image and angle change intensity image.例文帳に追加

検査対象物の原画像に対して適用する微分処理により、エッジ強度画像とエッジ角度画像を生成し、前記エッジ角度画像に対して、さらに微分処理を適用することにより、角度変化強度画像を生成し、前記エッジ強度画像と前記角度変化強度画像に共通する特徴に基づいて前記検査対象物の欠陥を検出する。 - 特許庁

When a short circuit is produced between a lower electrode and an upper electrode due to a pinhole 12 of an insulating film 7 in an auxiliary capacitor part consisting of a common signal wiring 3 or a scanning wiring (lower electrode), and an insulating film 7 and a pixel electrode 5 (upper electrode), a part of the upper electrode 13 near the short circuit defect 12 is removed by irradiation of light energy.例文帳に追加

共通信号配線３または走査配線（下部電極）と絶縁膜７と絵素電極５（上部電極）とで構成される補助容量部において、絶縁膜７のピンホール１２により下部電極と上部電極との短絡が生じている場合に、光エネルギーを照射して短絡欠陥部１２周辺の上部電極部分１３を除去する。 - 特許庁

For example, when a chemical substance is described merely by its name or its chemical formula in a publication and the description does not show the manufacturing process clearly enough that a person skilled in the art is able to manufacture the substance on the basis of the common general knowledge as of the filing, the chemical substance is not included in "cited inventions"(Note that this does not mean that the claim violates the enablement requirement under Article 36(4)(i) where the publication is a patent application claiming the chemical substance as one of the alternatives described in the Markush form). Even though the prior art constitutes an incomplete expression or there is a defect in some of the prior art, it can be cited in assessing the novelty and the inventive step, when the person skilled in the art can readily understand the technical features of the claimed invention based on common technical knowledge or empirical rules. 例文帳に追加

したがって、例えば、刊行物に化学物質名又は化学構造式によりその化学物質が示されている場合において、当業者が本願出願時の技術常識を参酌しても、当該化学物質を製造できることが明らかであるように記載されていないときは、当該化学物質は「引用発明」とはならない（なお、これは、当該刊行物が当該化学物質を選択肢の一部とするマーカッシュ形式の請求項を有する特許文献であるとした場合に、その請求項が第36条第4項第1号の実施先行技術に不完全な表現が含まれるか又は一部の先行技術に瑕疵があったとしても、当業者が技術常識や経験則に基づき容易に発明の技術的特徴を理解することができる場合は、新規性及び進歩性を判断する際に引用することが可能である)。 - 特許庁