| 例文 |
diffraction dataの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 97件
A grating pattern which is difficult to express by functions is designed with a computer and the objective diffraction type optical element is produced, using grating data which express the grating pattern.例文帳に追加
関数による表現が困難な格子パターンを電子計算器により設計し、この格子パターンを表現する格子データを用いて回折型光学素子を製造する。 - 特許庁
This X-ray diffraction device has in X-ray measuring instrument for acquiring data for a pole diagram, a memory for storing the measuring data acquired by the X-ray measuring instrument, a display device for displaying an image and an image data forming circuit for forming the image data displayed on the display device based on the data stored in the memory.例文帳に追加
極点図のためのデータを得るX線測定装置と、そのX線測定装置によって得られた測定データを記憶するメモリと、画像を表示する表示装置と、メモリに記憶されたデータに基づいて表示装置に表示するための画像データを生成する画像データ生成回路とを有するX線回折装置である。 - 特許庁
A method includes a 1st step for producing a master having a diffraction structure and a step for irreversibly changing the outward appearance of reference information represented by the diffraction structure so that a series of data carriers or a subset of the series of data carriers is individualized among steps for producing optical variable elements after the 1st step.例文帳に追加
回折構造を有するマスターを製造する第1のステップと、前記第1のステップ以降で、前記光学的可変素子を製造するステップのうち、一連の前記データキャリアまたは一連の前記データキャリアのサブセットが個別化されるように、前記回折構造で表される前記基準情報の外観が不可逆的に変更されるステップとを含む。 - 特許庁
When first bottom B1 exists in the spatial intensity distribution of diffraction-scattered light from the measuring particle group measured by measuring optical systems (3, 4, 5, 6), the spatial intensity distribution data of the diffraction-scattered light from small angle side to that first bottom B1 is used to compute the particle size distribution.例文帳に追加
測定光学系(3,4,5,6)により測定された被測定粒子群による回折・散乱光の空間強度分布に、ファーストボトムB1が存在している場合には、小角度側からそのファーストボトムB1までの回折・散乱光の空間強度分布データを用いて粒度分布を算出する。 - 特許庁
When detecting the recording direction change during recording data, the diffraction-grating rotation actuators 13 turns the diffraction-grating 12 around the grid LMB of the main beam spot for a predetermined angle to reverse the positions of the two sub-beam spots against the main beam spot in the recording direction.例文帳に追加
データ記録時に、記録方向が変化したことを検出すると、2つのサブビームスポットのメインビームスポットに対する位置を記録方向変化前後で逆転させるような所定角度で、回折格子回転アクチュエータ13は回折格子12をメインビームスポットの格子LMBを中心にして回転させる。 - 特許庁
The apparatus is constituted so as to arrange a diffraction grating at a desired position to an objective lens by arranging a piezo-electric element for moving the diffraction grating in the direction of focusing the transmission light from the objective lens in the optical pickup to be inspected, and driving the piezo-electric element based on data from an optical measuring instrument.例文帳に追加
本発明は、検査対象の光ピックアップの対物レンズからの透過光のフォーカス方向に回折格子を移動させるピエゾ素子を設けて、光学測定機器からのデータに基づきピエゾ素子を駆動して、対物レンズに対して回折格子を所望の位置に配置するよう構成した。 - 特許庁
To prevent PLL from increasing in error in data reproduction and prevent the error rate from worsening, by solving the edge shift problem, when recording a minute mark train which does not exceed the diffraction limit of an optical system.例文帳に追加
光学系回折限界以下の微小マーク列を記録した場合のエッジシフトの問題を解決し、データ再生におけるPLLの誤差増加の防止、エラーレートが悪化しないようにする。 - 特許庁
To provide a device and a method for checking an optical diffraction structure on a document, which allow text data and/or image data to be optically read by one same checking device without moving a mechanical part or the document to be checked.例文帳に追加
文書上の光学回折構造を検査するための、機械部分または検査される文書を移動することなく、同一の検査装置によってテキストデータおよび/または画像データの光学読み出しを行うことができる装置および方法の提供。 - 特許庁
A measuring surface S1 is scanned by an electron beam B2 and the detection of an electron beam back scattering diffraction pattern by a detection part 6 and the analysis of data D1 by a data processing part 9 are performed in relation to the respective pixels in the measuring surface S1 to obtain the two-dimensional distribution data K1 of a crystal orientation related to the measuring surface S1.例文帳に追加
電子ビームB2によって測定面S1を走査し、測定面S1内の各ピクセルに関して、検出部6による電子線後方散乱回折パターンの検出、及び、データ処理部9によるデータD1の解析を行うことにより、測定面S1に関する結晶方位の二次元分布データK1が得られる。 - 特許庁
When determined that it is a periodic structure, the electron beam diffraction image and a limited visual field image are preserved as one data group together with an observation condition including the position of the sample stage, an X-ray spectrum or the like.例文帳に追加
周期構造であると判定したら、電子線回折像、及び、制限視野像を、試料ステージの位置を含む観察条件、X線スペクトル等と共に1つのデータ群として保存する。 - 特許庁
To provide a structure analysis method for accurately analyzing the structure and composition of a carbon material to be measured based on the X-ray diffraction data of the carbon material to be measured by utilizing a statistical method.例文帳に追加
統計的手法を利用し、被測定炭素材のX線回折データに基づいて、高い精度で被測定炭素材の構造および組成分析が可能な構造解析法を提供する。 - 特許庁
In addition, the D enzyme can be used in combination with its L-enzyme counterpart in co-crystallation admixtures to form racemic crystals for determining crystallographic structures using X-ray diffraction data.例文帳に追加
加えて、D−酵素は、L−酵素の片割れと共に、X−線解析データを用いる結晶学的構造を決定するためのラセミ結晶を生成するのに共結晶化混合物で使用すりことができる。 - 特許庁
To provide an X-ray analyzing method for accurately obtaining X-ray diffraction data even from a contaminated destructed surface to enable the judgment of a destruction cause and an apparatus adapted thereto.例文帳に追加
汚染された破壊面からでもX線回折情報を精度良く得ることにより、破壊原因の判定を可能にするX線解析方法及びその装置を提供することを課題とする。 - 特許庁
In the operational processing part, at least one of the double diffraction phase difference and main axis azimuth of the sample is calculated on the basis of a theoretical formula of the intensity of measuring light and the light intensity data of measuring light.例文帳に追加
演算処理部では、測定光の光強度の理論式と、測定光の光強度情報とに基づいて、試料の複屈折位相差及び主軸方位の少なくとも一方を算出する。 - 特許庁
To provide a reproducing device and a reproducing method to decrease a reproduction error rate without causing degradation in throughput of data reproduction, saturation in diffraction efficiency of a recording medium or decrease in encoding efficiency.例文帳に追加
データ再生のスループットの劣化、記録媒体の回折効率の飽和、符号化効率の低下を招来することなく、再生誤り率を低下する再生装置及び再生方法を実現する。 - 特許庁
To measure X-ray and radiation light powder diffraction data by using one-dimensional or two-dimensional (for example, a position sensitive proportional counter (PSPC), an image plate, a large-scale CCD detector).例文帳に追加
1次元又は2次元検出器〔例えは、比例計数管位置敏感検出器(PSPC)、イメージングプレート、大型CCD検出器〕を用いたX線及び放射光粉末回折データの測定に利用される。 - 特許庁
To more improve the safety of a seal of light diffraction structure by expressing the execution of forgery/modification by adding data to a hologram seal of a type for recording data in a reflection layer by a laser or the like by a similar means as an appearance change of the hologram seal.例文帳に追加
反射層にレーザー等で記録を行なうタイプのホログラムシールに、同様な手段で追記して偽造・変造したことが、ホログラムシールの外観上の変化として表れるようにして、光回折構造シールの安全性をより一層高めることを課題とする。 - 特許庁
Concretely, when the height of a curved surface part 100a of the base material 100 (film surface of resist applied on original optical surface of the base material) has an increasing tendency compared with the design data, the interval of a diffraction zone 300a of the part is adjusted so as to become narrower than the design data.例文帳に追加
具体的には、基材100の曲面部100a(基材100の母光学面上に塗布されたレジストの膜表面)の高さが設計値に対して増加する傾向にあれば、その部分の回折輪帯300aの間隔は設計値より狭く調整する。 - 特許庁
To provide a method for detecting relative position of the head of a transducer, with respect to a storage medium by using a data structure existing or written prior, to an optical diffraction medium and a magnetic storage tape.例文帳に追加
光学回折媒体および磁気記憶テープにある既存のまたは以前に書込まれたデータ構造を利用して記憶媒体に対するトランスデューサのヘッドの相対位置を検出するための方法を提供する。 - 特許庁
A third arithmetic means 38 discriminates the reciprocal lattice point group forming X-ray diffraction at every twin crystal component based on the crystal azimuth matrix at every twin crystal component to form display data for three-dimensionally displaying them in the same way.例文帳に追加
第3演算手段38は,結晶方位行列に基づいて,X線回折が生じる逆格子点群を,双晶成分ごとに区別して,それを同様に立体的に表示するための表示データを作成する。 - 特許庁
The 3D sample form can be constructed from the TEM images, which can not be regarded as projection data, and the 3D form of a crystalline sample, with which diffraction contrast can be easily mixed, such as semiconductor device can be constructed as well.例文帳に追加
投影データとは見なせないTEM像からの3次元試料形状構築が可能となり、半導体デバイス等、回折コントラストが混入し易い結晶性試料の3次元形状構築も可能となる。 - 特許庁
Thus, the intensity of laser light applied on the hologram recording medium M does not get unstable, diffraction efficiency of generated reconstruction light L4 can be made constant, and high-accuracy reproduced data can be obtained.例文帳に追加
これにより、ホログラム記録媒体Mに照射されるレーザ光の強度が不安定になることもなく、発生する再生光L4の回折効率を一定にすることができ、高精度の再生データを得ることができる。 - 特許庁
The substance identification part 4 retrieves the database for the retrieval to identify the substance, based on the lattice spacing transmitted from the electron beam diffraction image analytical part 3 and an element data transmitted from the EDX analytical part 2.例文帳に追加
物質同定部4は、電子線回折像解析部3から送信された格子面間隔データ、EDX分析部2から送信された元素データをもとに検索用データベースを検索して物質を同定する。 - 特許庁
To provide an exposure device inspection method and an exposure device, capable of obtaining a highly accurate inspection result by forming a highly accurate transfer pattern and by acquiring diffraction light detection data, when inspecting the exposure device using a photo mask.例文帳に追加
フォトマスクを用いて露光装置の検査を行う際に、高精度な転写パターンを形成し、回折光検出データを取得し、高精度の検査結果を得ることが可能な露光装置の検査方法、及び露光装置を提供する。 - 特許庁
When using the time division drive method, a data signal side drive circuit 102 and a gate signal side drive circuit 103 are respectively configured by TFTs each having an extremely rapid operation speed and using a semiconductor film having an active layer showing an electron beam diffraction image corresponding to [110] orientation.例文帳に追加
また、時分割駆動方式を用いる際、データ信号側駆動回路102及びゲート信号側駆動回路103を、特異な結晶構造を有するシリコン膜を用いた極めて動作速度の速いTFTで形成する。 - 特許庁
A measurement control device 11 reads the wavelength data of the first-order ray from a storage device 14, according to the characteristic X-ray type of a specified element to obtain the actual spectroscopic wavelength position and the measurement wavelength range, based on the diffraction order.例文帳に追加
測定制御装置11は指定された元素の特性X線種に従って記憶装置14から1次線の波長データを読出し、回折次数に基づいて実際の分光波長位置と測定波長範囲を求める。 - 特許庁
Irradiated near infrared rays transmit the oleaginous confectionery (or dough for producing it) A and is focused on a line sensor 17 through a condensing lens 14, a slit 15, a diffraction grating 16 to measure optical spectrum date, followed by feeding the optical spectrum data measured to a computer 18 coupled with the sensor 17 to conduct arithmetic processing.例文帳に追加
照射された近赤外線は、油脂性菓子(又は、油脂性菓子生地)Aを透過し、集光レンズ14、スリット15、回折格子16を介してラインセンサ17上に焦点を結ばせ、分光スペクトルデータが計測される。 - 特許庁
To provide a hologram apparatus in which diffraction efficiency can be made constant without changing the output of a laser light source itself and by which high-accuracy reconstructed data can be obtained, and to provide a hologram recording/reproducing method using the hologram apparatus.例文帳に追加
レーザ光源自体の出力を変化させなくても回折効率を一定にすることができ、高精度の再生データを得ることができるホログラム装置及び当該ホログラム装置を用いたホログラム記録再生方法を提供すること。 - 特許庁
Reflected light from the layer 0 is diffracted by the diffraction grating 5 and detected by the photodetector 7, thereby the data of the layers 0, 1 can be simultaneously read.例文帳に追加
また、レイヤ0からの反射光は回折格子5によって回折され光検知器6によって検出され、レイヤ1からの反射光は光検知器7によって検出されることにより、レイヤ0,1のデータを同時に読み出しすることができる。 - 特許庁
To provide an X-ray diffraction analyzing technique capable of simply acquiring the X-ray diffraction pattern equipped with the local structural data of a sample having a non-uniform crystal structure in a laboratory or on the spot by reducing the damping of intensity in a light path until the X-ray beam emitted from an X-ray tube arrives at a sample to the utmost.例文帳に追加
X線管から出射されたX線ビームが試料に到達するまでの光路における強度の減衰を極力小さくすることにより、不均一な結晶構造を有する試料の局所構造情報を備えるX線回折図形を、実験室や現場で短時間且つ簡単に取得することを可能とするX線回折分析技術を提供する。 - 特許庁
Accordingly, for example, the intensity ratio between each measurement data having the equal distance from the X-ray diffraction peak is calculated, and an asymmetric curve plotted from the calculation result is used, to thereby determine accurately the displacement of the crystal atom.例文帳に追加
そこで、例えばX線回折ピークからの距離が等しい測定データ同士の強度比を計算し、それらの計算結果から描画される非対称性曲線を用いることにより、結晶原子の変位量を精度よく求めることができる。 - 特許庁
Next, the transmissive diffraction element 105 is moved outside the light path, and measuring the interference fringe is repeated by varying the distance between a pin hole PH and the tested surface 108a to obtain the orbicular data (partial profile) for all surface of the tested surface 108a.例文帳に追加
次に、透過型回折素子105を光路外に移動させて、ピンホールPHと被検面108aとの距離を変化させて干渉縞を計測することを繰り返し、被検面108a全面について輪帯データ(部分プロフィル)を取得する。 - 特許庁
Laser light from a light source 31 is divided into maser reference light for master hologram data playback and pump light for photorefractive amplification by a beam splitter 32, and the master reference light is emitted to a master hologram recorded in a master medium 22, so as to generate diffraction light.例文帳に追加
光源31からのレーザ光をビームスプリッタ32によりマスターホログラムデータ再生用のマスター参照光とフォトリフラクティブ増幅用のポンプ光とに分割し、マスター参照光をマスター媒質22に記録されたマスターホログラムに照射し、回折光を発生させる。 - 特許庁
The system comprises laser light 44 for obtaining diffraction images, an optical diffractor array 23 to be supplied with hologram data, a screen 26 having a photorefractive member 25 for projecting hologram images, reference light 46 to be made incident on the hologram pattern on the photorefractive member 25, and a means 22 for supplying the hologram data and an optical system control signal.例文帳に追加
回折像を得るためのレーザ光44と、ホログラムデータが供給される光回折器アレイ23と、ホログラム像を映し出すためのフォトリフラクティブ部材25を有したスクリーン26と、フォトリフラクティブ部材25上のホログラムパターンに入射する参照光46と、ホログラムデータ及び光学系制御信号を供給する手段22とから成る。 - 特許庁
A laser 20 reads data from the digital video disk 12 and a beam 204 is focused to a diffraction limited spot by a focusing lens 210 and the focused spot is positioned on one of data layers 52, 62.例文帳に追加
レーザ光ビームは、光記憶ディスクの内部層のデータを読書きするため、該内部データ層にフォーカスし、そのことに反応し内部データ層に読書きされ、レーザ光ビームは、データの読書き後光記憶ディスクドライブが静止状態モード時に、光記憶ディスクの最外部のデータ層に自動的にリフォーカス、そうするとすぐレーザ光源は、レーザ・パワーが減少し、レーザ光源の寿命が延長する。 - 特許庁
To provide a holographic recording medium that accurately corrects disagreement in diffraction conditions due to expansion/shrinkage and changes in a refractive index of a recording layer caused by a temperature difference between upon recording and reproducing data information and that allows stable reproduction of data information, and to provide a holographic recording system and a holographic reproducing system using the holographic recording medium.例文帳に追加
データ情報の記録時と再生時の温度の違いから生じる、記録層の膨張/収縮及び屈折率変化に起因する回折条件のずれを的確に補正し、安定したデータ情報の再生を行うことのできるホログラフィック記録媒体、並びに該ホログラフィック記録媒体を用いたホログラフィック記録システム及びホログラフィック再生システムを提供する。 - 特許庁
In a measuring method of an X-ray diffraction pattern of the translin crystal, the translin crystal obtained using sodium formate as a precipitant is frozen in crystallizing solution containing polyalcohol, and X-ray diffraction data is collected in a frozen state.例文帳に追加
トランスリン結晶のX線回折像の測定方法、該結晶のX線回折像より得られる3次元構造座標、該構造座標を含むデータベース若しくは記録媒体、該構造座標を用いるトランスリンの機能を調節する能力を有する化合物の同定方法、該3次元構造座標を用いるトランスリンに潜在的に結合しうる化合物からなる化合物群の調製方法、及び、該3次元構造座標を用いるトランスリンの変異体の作製方法。 - 特許庁
To attain a method and program for measuring/analyzing X-ray diffraction capable of performing sufficiently accurate profile analysis by fitting of a specific satellite peak based on known information and measured data, and to two-dimensionally display a match state globally with a good view without losing generality.例文帳に追加
既知情報及び実測データに基づく特定サテライトピークのフィッティングにより、十分な精度のプロファイル解析が行えるX線回折測定解析方法及びプログラムを実現し、また、一致状態を一般性を失うことなく大局的に見通しよく2次元表示する。 - 特許庁
This solar cell substrate includes a transparent substrate 411, and a transparent conductive film 412 formed over the transparent substrate, and including a zinc oxide (ZnO) thin-film layer 412a doped with a dopant, where both a growth plane (0002) and a growth plane (α) are present based on X-Ray Diffraction (XRD) pattern data.例文帳に追加
太陽電池基板は、透明基板411と、透明基板に形成され、X線回折(XRD)パターンのデータを基準に、(0002)成長面と成長面がともに存在する、ドーパントがドーピングされた酸化亜鉛(ZnO)薄膜層412aを含む透明導電膜412とを含む。 - 特許庁
To provide a position analyzing method which enhances the frame rate of an image reader and prevents the calculation precision of a position from decreasing when the position of fluorescent particles or the like smaller than a diffraction limit is calculated using the image data acquired by an optical microscope using an image data acquired by an optical microscope using the image reader for reading an image using a plurality of line sensors or area sensors subjected to binning operation.例文帳に追加
ビニング動作する複数のラインセンサ、あるいは、エリアセンサを用いて画像を読み取る画像読取装置を用いて、光学顕微鏡により取得された画像情報を使用して、回折限界より小さな蛍光粒子等の位置を計算する際に、画像読取装置のフレームレートを向上させ、さらに位置の計算精度を低下させることのない解析方法を提供する。 - 特許庁
To provide an evaluation method of crystal orientation capable of suppressing effectively scattering of a background, to thereby improve measurement data to have the readable quality, even when strong background scatterings are overlapped, and separating its diffraction intensity distribution into the intensity of only an objective plane index, and an evaluation device used therefor.例文帳に追加
強い背景の散乱が重なっている場合であっても、効果的に背景の散乱を抑止し、測定データを読み取り可能な品質に高めることができ、しかも、その回折強度分布を、目的の面指数だけの強度に分離することができる結晶配向の評価方法及びそれに用いる評価装置を提供する。 - 特許庁
To accurately obtain mechanical characteristics at the time of plastic deformation of a polycrystalline material by rapidly and certainly estimating the non-uniform deformation state of the microscopic texture of the polycrystalline material when the polycrystalline material receives macroscopic deformation by a simple method using the crystal data of the polycrystalline material receiving no plastic deformation obtained by a back scattering electron beam diffraction (EBSD) method.例文帳に追加
後方散乱電子線回折(EBSD)法により得られた塑性変形を受けていない多結晶材料の結晶情報を用いて、多結晶材料が巨視的変形を受けた際の微視組織の不均一変形状態を、簡易な方法で迅速且つ確実に予測し、多結晶材料の塑性変形時の機械特性を正確に得る。 - 特許庁
The rhodopsin prepared from the eyeball of a cow is crystallized, a mercury derivative is prepared using a long time, six diffraction data are measured from only one crystal by MAD method (a measuring method by changing wavelength especially using radiated light from a SPring-8 and a beamline with a trichromator), and a crystal structure of GPCR can be analyzed by atomic resolution.例文帳に追加
牛の眼球から調製したロドプシンを結晶化した後、長時間かけて水銀誘導体を調製し、その後MAD法(特に、SPring−8の放射光とトリクロメータを備えたビームラインを使って波長を変えて測定する方法)を使って、ただひとつの結晶から6つの回折データを測定することにより、原子分解能でGPCRの結晶構造解析に成功した。 - 特許庁
To provide an optical recording material which maintains high recording sensitivity, a high dynamic range and high diffraction efficiency and can increase film thickness by controlling the lengths of side chain spacer groups; to provide an optical recording medium capable of large-volume recording by thickening a photosensitive layer without deteriorating recording properties; and to provide an optical recording and reproducing apparatus capable of recording and reproducing large-volume data.例文帳に追加
側鎖スペーサー基の長さの制御により、高い記録感度及びダイナミックレンジと高い回折効率とを維持し、かつ厚膜化を図ることができる光記録材料、記録特性を損なうことなく感光層を厚膜化することにより、大容量記録が可能な光記録媒体、及び大容量データの記録及び再生が可能な光記録再生装置を提供することである。 - 特許庁
To provide an optical recording material which maintains a high recording sensitivity and dynamic range and high diffraction efficiency by controlling the length of a main chain spacer group and can make a film thick, an optical recording medium which permits large-capacity recording by making a photosensitive layer thick without impairing the recording characteristics, and an optical recording and reproducing device which allows recording and reproducing of large-capacity data.例文帳に追加
主鎖スペーサー基の長さの制御により、高い記録感度及びダイナミックレンジと高い回折効率とを維持し、かつ厚膜化を図ることができる光記録材料、記録特性を損なうことなく感光層を厚膜化することにより、大容量記録が可能な光記録媒体、及び大容量データの記録及び再生が可能な光記録再生装置を提供することである。 - 特許庁
This divided exposure device comprises a light source which emits one laser beam, a transmission type diffraction element which splits the one laser beam emitted from the laser beam source to plural beams, an optical modulation element which modulates the plural laser beams respectively in accordance with drawing data, a beam expander which expands the respective beam diameters of the plural laser beams and respective hologram scanning systems on which the expanded laser beams are made incident.例文帳に追加
本発明の分割露光装置は、一つのレーザビームを射出する光源と、前記レーザ光源から射出される一つのレーザビームを複数のビームに分割する透過型回折素子と、描画データに基づいて複数のレーザビームをそれぞれ変調する光変調素子と、複数のレーザビームのビーム径をそれぞれ拡大するビームエキスパンダと、前記拡大されたレーザビームが入射するそれぞれのホログラム走査系とによって構成される。 - 特許庁
For example, an application claims a compound A in a crystalline state defined by a variety of parameters including X-diffraction data, and the reference document also disclosed a compound A in a crystalline state. If the crystalline state of the both cannot be distinguished from each other based on the disclosure of the reference document, it can be presumed that the claimed product is identical with the product in the reference document and accordingly the claim does not have novelty as compared with the reference document, unless the applicant can, based on the application or the prior art, prove that the claimed product is actually distinct in crystalline state from the product disclosed in the reference document. 例文帳に追加
例えば、専利出願の請求項がX回折データなど複数種のパラメータにより特徴づけた結晶形態の化合物Aであり、対比文献で開示されたのも結晶形態の化合物Aである場合、もし、対比文献の開示内容に基づいても、両者の結晶形態を区別できなければ、保護を請求する製品が対比文献の製品と同一であることを推定でき、当該出願された請求項は、対比文献に比べて、新規性を具備しないことになるが、出願人は出願書類又は先行技術に基づき、出願された請求項により限定された製品が対比文献に開示された製品とは結晶形態において確かに異なることを証明できる場合を除く。 - 特許庁
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