「field sample」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

A computer 18 determines the existence of the defect of the sample on the basis of acquired magnetic field distribution data.例文帳に追加

コンピュータ１８は、取得された磁場分布データに基づいて、試料の欠陥の有無を判定する。 - 特許庁

To provide a method for converting an adaptive sample distance field of a graphics model into a triangle model.例文帳に追加

グラフィクスモデルの適応的サンプル距離フィールドを三角形モデルに変換する方法を提供する。 - 特許庁

Further, a check field 37 for packaging state judgement is displayed under the sample image 36.例文帳に追加

さらに、見本画像３６の下方には、実装状態判定用のチェック欄３７を表示する。 - 特許庁

By detecting the displacement of the cantilever 1, a magnetic field distribution from the sample 5 is detected.例文帳に追加

カンチレバー１の変位を検出することによって試料５からの磁界分布を検出する。 - 特許庁

By this method, near-field infrared spectrometry is performed with respect to the thin film sample.例文帳に追加

このようにして薄膜化された試料に対し、近接場赤外顕微分光測定を行う。 - 特許庁

Momentary photoconduction is thereby induced to the sample to cause field evaporation of molecules on the surface.例文帳に追加

これにより、試料に瞬間的に光伝導を誘起し、表面の分子を電界蒸発させる。 - 特許庁

Secondary electrons emitted from the sample 12 are accelerated by an electric field generated by the object lens 11.例文帳に追加

試料１２から放出された二次電子を、対物レンズ１１が作る電界で加速する。 - 特許庁

The method of fabricating the acicular sample for field ion microscopy includes a process for machining the desired part of the sample to be observed with a field ion microscope into an acicular shape by irradiating the sample with a focused charged-particle beam, a process for cutting the acicular sample away from a sample base, and a process for fixing the cut acicular sample to an electrode bar.例文帳に追加

電界イオン顕微鏡観察用針状試料の作製方法は、集束した荷電粒子ビームを照射することにより電界イオン顕微鏡で観察する所望の箇所を針状に加工する工程と、針状試料を試料基板から切り離し摘出する工程と、摘出した針状試料を電極棒に固定する工程を含むことを特徴とする。 - 特許庁

To obtain a magnetic field measuring apparatus capable of accurately measuring a magnetic field, a magnetic field applying device capable of accurately applying a magnetic field necessary for a sample or a space and a magnetism shielding device for accurately obtaining an area of a zero magnetic field environment in the measuring apparatus for measuring an environmental magnetic field and the field generated from a substance or an organism.例文帳に追加

環境磁場、および、物質や生体から発生する磁場を測定する磁場測定装置に関し、高精度で磁場を測定できる磁場測定装置、および、試料や空間に必要な磁場を正確に印加できる磁場印加装置、および、正確にゼロ磁場環境の領域が得られる磁気遮蔽装置を提供する。 - 特許庁

A secondary electron 18 emitted from a sample 14 surface by irradiation of a primary electron beam 2 is drifted from the sample surface toward an electric field supply electrode 11 by an electric field made by a plurality of electrodes arranged in the sample room.例文帳に追加

一次電子ビーム２の照射によって試料１４表面から放出された二次電子１８は、試料室内に配置された複数の電極の作る電界によって、試料表面から電界供給電極１１に向かってドリフトする。 - 特許庁

An electric charge locally charged on the surface of the sample 5 is quickly moved by a converged electron beam by mounting electrodes 13-16 as an electric field application mechanism in which an electric field 6 having a component along the surface of the sample 5 in an arbitrary direction is applied to the sample 5 and by using the electric field application mechanism to apply the electric field.例文帳に追加

試料５にその表面に沿った成分を有する任意の方向の電場６を印加する電場印加機構部として電極１３〜１６を設置し、この電場印加機構部を用いて電場を印加することにより、収束電子線によって試料５表面上に局所的に帯電する電荷を速やかに移動させる。 - 特許庁

To obtain a sample measuring substrate enhanced in near field light detection sensitivity by closely adhering and fixing a sample for near field spectral analysis to a light reflective substrate without producing local adhesion defectiveness.例文帳に追加

近接場分光分析用の試料を、局所的な密着不良を生じることなく、光反射性基板に密着固定させ、近接場光検出感度の高い試料測定基板を得る。 - 特許庁

Thus, a movement of the observation visual field due to the inclination of the sample is corrected, even when the sample is not set at a standard height position to enable an observer to observe a screen without visual field movement.例文帳に追加

この結果、試料が基準高さ位置にセットされていない場合でも試料の傾斜による観察視野の移動は補正され、観察者は視野移動のない画面を観察することができる。 - 特許庁

To provide a system for measuring a signal-light by a near-field optical microscope that allows a user to find dependency of signal light, emitted from a sample by near-field light, on the distance between a probe and the sample.例文帳に追加

近接場光により試料から放射される信号光のプローブ・試料間距離依存性を調べることができる近接場光学顕微鏡の信号光測定システムを提供する。 - 特許庁

To sample levels of an interference electric field and/or magnetic field locally (for example, in an inside of an X-ray detector 600) to reduced or removed.例文帳に追加

干渉電界及び／又は磁界の大きさを局所的に（例えば、Ｘ線検出器６００内で）サンプリングして低減又は除去する - 特許庁

A negative voltage is applied to a sample 25 from a sample power supply 36, and the secondary electrons that have been ejected from the sample 25 are made to be accelerated in a sufficient electric field to ionize peripheral gas molecules made by the negative voltage that has been applied to the sample 25 or a periphery of the sample, and ionize the gas molecules on the periphery of the sample by colliding with them.例文帳に追加

試料２５には試料電源３６からマイナス電圧が印加されており、試料から飛び出た２次電子は、試料２５もしくは試料周辺に印加されたマイナス電圧によって作られた周辺ガス分子をイオン化させるに充分な電界で加速され、試料周辺のガス分子に衝突しイオン化させる。 - 特許庁

To provide a method and a device which can quantitatively measure a magnetic field even in a sample where an occurred magnetic field is weak and only a minute change in magnetic field is caused.例文帳に追加

発生する磁場が微弱で、微小な磁場変化しか生じさせない試料に対しても、その磁場を定量的に計測することができる方法および装置を提供する。 - 特許庁

In a mix rate estimation process, a measurement sample is collected from field generated soil or site soil (step S1), and pH of the measurement sample is measured (step S2).例文帳に追加

混入率推定工程では、現場発生土または現地盤から測定試料を採取し（ステップＳ１）、測定試料のｐＨを測定する（ステップＳ２）。 - 特許庁

For each sample document in a certain field objectively evaluated by an examinee, words appearing in that sample document are extracted (step s1).例文帳に追加

被験者によって主観評価されたある分野における個々のサンプル文書について、そのサンプル文書に出現する単語を抽出する（ステップｓ１）。 - 特許庁

To provide a transmission electron microscope in which a transmission image of a sample is displayed on a display in real time, and visual field deviation by sample drift is automatically corrected.例文帳に追加

透過電子顕微鏡において、試料の透過像をディスプレイにリアルタイムに表示するとともに、試料ドリフトによる視野ずれの自動補正を行う。 - 特許庁

Application of overlaying voltage 13 onto a sample 12 forms a decelerating electric field toward the primary electron beam between the accelerating cylinder 9 and the sample 12.例文帳に追加

また、試料１２に重畳電圧１３を印加して加速円筒９と試料１２の間に一次電子ビームに対する減速電界を形成する。 - 特許庁

Thus, the temperature inside the sample chamber 1 can be controlled without causing a magnetic field change inside the sample chamber 1, temperature control can be performed even while irradiating the sample 7 with electron beams, and temperature changes of the sample 7 and structure members of a stage 8 and the sample chamber 1 can be reduced.例文帳に追加

これにより、試料室１内に磁場変化を生じることなく、試料室１内の温度制御ができ、試料７に電子ビームを照射中であっても、温度制御可能で、試料７、ステージ8、試料室１構造部材の温度変化を小さくすることができる。 - 特許庁

The sample is irradiated with a metastable atomic beam, subjected to spin polarization in the magnetic field to generate a sample current and the surface magnetism of the sample, is measured by measuring the changes in the sample current, when the direction of the spin polarization of the metastable atomic beam, used for irradiating the sample, is changed.例文帳に追加

磁場中においてスピン偏極させた準安定原子ビームを試料に照射し、試料電流を発生させ、試料に照射する準安定原子ビームのスピン偏極の向きを変えたときの試料電流の変化を測定することで試料表面の磁性計測を行う。 - 特許庁

Accordingly, a dark-field image of the incident angle α suitable for the sample 3 including information in omnidirections is obtained.例文帳に追加

従って、試料３に適した入射角αの暗視野像が全方位の情報を含んで得られる。 - 特許庁

After magnetization of a sample, a cancel magnetic field in the reverse direction by which magnetization of the inspection material is vanished exactly is applied.例文帳に追加

試料を着磁後、検査材の磁化が丁度消失する逆方向のキャンセル磁場を印加する。 - 特許庁

To maintain the observation field while switching observation means regardless of the angle of a sample stage and the observation position.例文帳に追加

試料台の角度や観察位置によらず、観察手段を切り替えても観察視野を変化させない。 - 特許庁

An electric field guides the reagent ions and facilitates an interaction with the fluid sample to form product ions.例文帳に追加

電界が試薬イオンを誘導し、流体サンプルとの相互作用を促進して生成イオンを形成する。 - 特許庁

GAS FIELD IONIZATION ION SOURCE, SCANNING CHARGED PARTICLE MICROSCOPE, OPTICAL AXIS ADJUSTMENT METHOD, AND SAMPLE OBSERVATION METHOD例文帳に追加

ガス電界電離イオン源，走査荷電粒子顕微鏡，光軸調整方法、及び試料観察方法 - 特許庁

The adaptive sample distance field includes a surface cell which stores a distance value which has a corresponding gradient.例文帳に追加

適応的サンプル距離フィールドは、対応する勾配を有する距離値を格納するサーフェスセルを含む。 - 特許庁

To provide an X-ray tube in which, when a sample or a sample stand on which the sample is placed is largely declined, an exhaust pipe is not obstructive, and the turbulence of an electric field in the periphery of a target is reduced.例文帳に追加

試料または試料を載持する試料台を大きく傾斜させる際に排気管が邪魔とならず、しかも、ターゲットの周囲の電界の乱れを低減することができるＸ線管を提供する。 - 特許庁

When an irregular image in a wide range of a sample 2 is observed, the distance between the head of a probe 1 and the surface of the sample 2 is such a distance that a field emission current flows between the probe 1 and the sample 2.例文帳に追加

試料２の広い範囲の凹凸像を観察する場合、探針１の先端と試料２の表面との距離は、探針１と試料２との間にフィールドエミッション電流が流れる距離となされる。 - 特許庁

To separately detect secondary signal particles generated from the surface of a sample, dark field transmitted signal particles scattered within and transmitted through the sample, bright field transmitted signal particles transmitted through the sample without being scattered within the sample to observe the image with an optimum contrast according to an objective, in a charged particle beam device.例文帳に追加

荷電粒子線装置において、試料表面から発生した二次信号粒子と、試料内で散乱して透過した暗視野透過信号粒子と、試料内を散乱しないで透過した明視野透過信号粒子を分離して検出し、目的に応じた最適なコントラストの像を観察する。 - 特許庁

To estimate electric conductivity in a concerned region only from the measurement of the concerned region of an unknown sample, without disturbing a field, if there is a current field in the sample, and without modeling the sample body as a whole by using finite difference method and finite element method.例文帳に追加

試料内部に既に電流場が存在した場合にその場を乱すことなく、また、試料の全体を有限差分法や要素法等でモデル化することなく、未知試料の関心領域のみの測定から、その関心領域の電気導電率を推定すること。 - 特許庁

The first magnetic field lens and the second magnetic field lens have the same constitution, and are mounted in the plane symmetry with respect to the mounting surface of the sample vertical to the optical axis.例文帳に追加

前記第１および第２磁界型レンズは、同一の構成を有し、光軸に垂直な試料の配置面に対して互いに面対称に配置される。 - 特許庁

To provide a surface magnetism measuring method in a magnetic field capable of measuring the surface magnetism of a sample, even in a magnetic field, and a surface magnetism measuring instrument.例文帳に追加

磁場中においても試料表面の磁性計測が可能な、磁場中での表面磁性計測方法および表面磁性計測装置を提供する。 - 特許庁

To provide a near-field light probe unit producing device for producing a near-field light probe unit that can efficiently perform an approach operation to a sample for near-field light measurement and can prevent damage due to a collision to the sample.例文帳に追加

近接場光測定を行うための試料へのアプローチ動作を効率的に行うことでき、しかもプローブの試料への衝突による破損を防ぐことが可能な近接場光プローブユニットを作製する近接場光プローブユニット作成装置を提供する。 - 特許庁

To obtain optical characteristics of high resolution of an original near-field light by preventing multiple reflections between a sample and a near- field optical probe, when the optical characteristics of an infinitesimal area of the sample having a high reflectivity layer therein are measured by the near-field light.例文帳に追加

内部に高反射率層を有する試料の微小領域の光学特性を近接場光により測定するときに、試料と近接場光プローブとの間における多重反射を防止して近接場光本来の解像度の高い光学的特性を得る。 - 特許庁

The shape of the sample and the plug combined is a spheroid, with its rotation axis corresponding to the sample tube axis or approximates a spheroid, as viewed from a static magnetic field direction, thereby improving the homogeneity of the magnetic field.例文帳に追加

静磁場方向から見て、試料とプラグとを合わせた形を、試料管軸を回転軸とした回転楕円形とするか、あるいは回転楕円形に近い形にしたことで磁場均一度が向上する。 - 特許庁

A voltage is applied to the sample through a retarding electrode in contact with a holder receiver at a rotation center of a rotary stage, and an electric field control electrode for correcting field distortion is mounted on the periphery of the sample.例文帳に追加

試料には回転ステージの回転中心にてホルダ受けと接触するリターディング電極を通じて電圧印加し、試料外周部には電界歪みを補正するための電界制御電極を備える。 - 特許庁

An equipotential plane on the electric field control electrode is made varied by applying a voltage to the electric field control electrode, and following this, the equipotential plane at a sample edge is corrected, which enables the sample to be observed as far as its edge.例文帳に追加

電界制御電極に電圧印加することで、電界制御電極上の等電位面を変化させ、それに伴い、試料端部における等電位面を補正し、試料端部まで観察可能とする。 - 特許庁

To provide a near-field optical probe unit which can easily and efficiently carries out an operation to approach a sample in a near-field optical measurement and prevents a probe from colliding with the sample and being broken.例文帳に追加

近接場光測定を行うための試料へのアプローチ動作を簡便かつ効率的に行うこと、プローブの試料への衝突による破損を防ぐことが可能な近接場光プローブユニットを提供する。 - 特許庁

To provide an electric characteristic evaluating apparatus for placing a sample in a magnetic field space, controlling the size of a magnetic field and the amount of change, and measuring a current, or the like, in the minute region of the sample.例文帳に追加

試料を磁場空間中に置き、磁界の大きさやその変化量を制御しながら試料の微小領域における電流等を測定することが可能な電気特性評価装置を提供すること。 - 特許庁

The static magnetic field is applied to an NMR sample arranged at a place of measurement, the pulse-like inclined magnetic field pre-pulse is applied once, and then, a sample is excited a plurality of times, the signal by each excitation is recovered without applying the inclined magnetic field to obtain the time constant and the strength of the eddy magnetic field.例文帳に追加

計測箇所に配置されたＮＭＲサンプルに静磁場を印加するとともに、パルス状の傾斜磁場プリパルスを１回印加し、その後、サンプルを複数回励起し、各励起による信号を傾斜磁場を印加することなく収集し、渦磁場の時定数と強度とを求める渦磁場計測方法。 - 特許庁

In the field ionized ion source adjustment method for introducing a sample molecule introduced from a gas chromatography device to a high electric field space sandwiched by an emitter and a cathode through an introduction pipe and using the high electric field space to ionize the sample molecule, a standard sample is introduced to the high electric field space through the introduction pipe, and an ionization condition is adjusted on the basis of an ion of generated standard sample.例文帳に追加

ガスクロマトグラフ装置から導入される試料分子をエミッターとカソードによって挟まれた高電界空間に導入管を介して導入し、該高電界空間を利用して試料分子をイオン化させる電界イオン化イオン源の調整方法であって、標準試料を前記導入管を介して前記高電界空間に導入し、生成された標準試料のイオンに基づいてイオン化条件を調整するようにした。 - 特許庁

To measure accurately and quantitatively spectrum intensity of a Raman spectrum of a sample placed on the surface of a device for enhancing optical field, even when the enhancement degree of the optical field with the photoelectric field enhancing device has differences.例文帳に追加

光電場増強デバイスの光電場の増強度にバラツキが生じても、光電場増強デバイスの表面に載置された試料のラマンスペクトルのスペクトル強度を精度よく、定量的に測定する。 - 特許庁