「field sample」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a transmission electron microscope observation sample forming method for a magnetic material which minimizes magnetic field turbulence, accompanying the sample shape and allowing observation and analysis with high precision.例文帳に追加

試料形状に伴う磁場の乱れを最小限にし、より高い精度で観察や分析が可能な、磁性材料の透過電子顕微鏡観察用試料作製方法の提供。 - 特許庁

By a discharge unevenness observation device observing the discharge light generated between a sample sheet 1 and a transparent electrode 3 grounded by applying a voltage from the outside to an electrode 2 on which the sample sheet 1 is placed, the discharge unevenness when the perpendicular electric field less than the dielectric breakdown electric field of the sample sheet 1 is applied, is observed.例文帳に追加

サンプルシート１を置いた電極２に外部から電圧を印加することによってサンプルシート１とアースに短絡された透明電極３との間に発生する放電光を観察する放電ムラ観察装置により、サンプルシート１の絶縁破壊電界に満たない垂直電界を印加したときの放電ムラを観察する。 - 特許庁

A quasi-electrostatic field is formed on the route of the laminar flow LF from the parallel flat plate electrode 21 installed outside the laminar flow LF and, when the target sample labelled with the piezoelectric element in the sample flowing through a sample flow SF2 enters the quasi-electrostatic field, the vibration (elastic wave) produced in the piezoelectric element labelled with the target sample is detected by an elastic wave detection part 23.例文帳に追加

層流ＬＦ外方に設けられた平行平板電極２１から、該層流ＬＦの経路上に準静電場を形成し、その準静電場に、サンプル流ＳＦ２に流れる試料のうち圧電体が標識された標的試料が入ったとき、その標的試料に標識される圧電体に生じる振動（弾性波）を、弾性波検出部２３により検出するようにした。 - 特許庁

A uniform magnetic field keeping means 2 by a cylindrical second kind superconductor to surround a sample space 11 is arranged inside a static magnetic field generating means, and a demagnetizing means of the uniform magnetic field keeping means 2 is installed.例文帳に追加

静磁場発生手段１の内側に試料空間１１を囲むような円筒形状の第２種超伝導体による均一磁場保持手段２が配置され、さらに均一磁場保持手段２の消磁手段３、４が設置する。 - 特許庁

To provide a focused ion beam device converging an ion beam to a beam-spot position with no magnetic field without isotope separation on a sample even when a magnetic field exists on an optical axis of an ion beam and the magnetic field changes.例文帳に追加

イオン・ビーム光軸上に磁場が存在し、更に磁場が変動する場合でもイオン・ビームが試料上で同位体分離を生じることが無く、磁場が無い場合のビーム・スポット位置へ集束する集束イオン・ビーム装置を提供する。 - 特許庁

The sample picture display means presents the scheduled production and the number of members registered to the present while introducing the field through a GIS picture.例文帳に追加

サンプル画面表示手段は、圃場をＧＩＳ画面で紹介し、生産予定量と現在までの登録会員数を提示する。 - 特許庁

A soil sample is collected from the soil of a field from the surface to the depth of 5 cm, and the collected soil is dried at 60°C by using a ventilation dryer.例文帳に追加

圃場の表面から深さ5cmまでの土壌から土壌試料を採取し、通風乾燥機を用いて60℃で乾燥する。 - 特許庁

By displaying the entire image of a sample formed under a bright field observation method, optional areas (noticeable areas #1 and #2) are designated.例文帳に追加

明視野観察法のもとで作成された標本全体画像を表示して、任意の領域（注目領域＃１、＃２）を指定させる。 - 特許庁

To determine the presence of a fibrous mineral such as asbestos in a sample, easily and in a short time, in a field.例文帳に追加

現場において簡便かつ短時間にアスベスト等の繊維状鉱物が試料に含まれるか否かを判定できるようにする。 - 特許庁

To improve an aberration even if a visual field is wide by improving an objective lens in a sample evaluating device of multibeams.例文帳に追加

マルチビームの試料評価装置において、対物レンズを改良して視野が広い場合でも収差が良好となるようにする。 - 特許庁

To easily change bright field illumination and inclined lighting over to each other without intercepting illumination light with respect to a sample.例文帳に追加

標本に対する照明光を遮断することなく明視野照明と偏斜照明とを容易に切り換えられること。 - 特許庁

A low-temperature device (28) is positioned within the field-of-view of the spectrometer (18) at an opposite side of the sample (12) from the spectrometer (18).例文帳に追加

低温デバイス（２８）をこの分光計（１８）から離してサンプル（１２）の反対側の分光計（１８）の視野内に配置する。 - 特許庁

To provide a fault analysis technology, whereby a sample can stably be mounted on a stage and moved within the analysis field of view.例文帳に追加

ステージ上に安定して試料を搭載でき、かつ解析視野を移動させることが可能な故障解析技術を提供する。 - 特許庁

To provide a scanning near-field optical microscope capable of corresponding to a sample large in dimensions and weight and scanning at high speed.例文帳に追加

寸法や重量が大きな試料に対しても対応でき、また、高速走査化が可能な走査型近接場光学顕微鏡。 - 特許庁

Since the analysis plate 2, having the solid immersion lens is provided in addition to the sample 1, the analysis field of view can be moved.例文帳に追加

試料１とは別に、固浸レンズを有する解析用プレート２を備えているため、解析視野を移動させることができる。 - 特許庁

To provide a microscope and transmission dark field lighting system where an observer easily handles a sample even in the state where an optional transmission dark field lighting system is mounted to the microscope.例文帳に追加

オプションの透過暗視野照明装置を顕微鏡に装着した状態でも、検鏡者が標本を取り扱い易い顕微鏡、透過暗視野照明装置を提供すること。 - 特許庁

The first magnetic field lens and the second magnetic field lens have an inside magnetic pole and an outside magnetic pole, and the inside magnetic pole and the outside magnetic pole form an annular gap facing the sample.例文帳に追加

前記第１および第２磁界型レンズは、内側磁極および外側磁極を有し、内側磁極および外側磁極は試料に対面する環状のギャップを形成する。 - 特許庁

To obtain a transmission electron microscope allowing easy interpretation of a dark-field image, capable of capturing a dynamic phenomenon occurring in a sample, and allowing observation of the dark-field image of a minute area.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡によって、暗視野像の解釈が容易で、試料で生じている動的現象を捉えることができ、且つ微小領域の暗視野像の観察を可能とする。 - 特許庁

Noise distribution detection means 11 detects the distribution of the electromagnetic field strength measured by the electromagnetic field strength meter 6 as approximate distribution of the electromagnetic noise generated in the sample device 100.例文帳に追加

ノイズ分布検出手段１１は、電磁界強度計６で測定された電磁界強度の分布を、供試機器１００内で発生する電磁ノイズの近似的な分布として検出する。 - 特許庁

The reaction area 4 is an area serving as a field for a mutual reaction between probe DNA (nucleotide chain for detection) and sample DNA (target nucleotide chain), and specifically an area serving as a field for hybridization reaction.例文帳に追加

反応領域４は、プローブＤＮＡ（検出用ヌクレオチド鎖）とサンプルＤＮＡ（標的ヌクレオチド鎖）との相互反応の場、具体的にはハイブリダイゼーション反応の場となる領域である。 - 特許庁

Selecting any new field value will correct the sample output, though possibly resulting in no matching font.Should be able to return a FONT for the PRIMARY selection, not just a STRING.Any change in a field value will cause xfontsel to assert ownership of the PRIMARY_FONT selection.例文帳に追加

フィールドに新しい値を選択してサンプル出力を直すことができるが、マッチするフォントが無いこともある。 PRIMARY セレクションには、単なる STRING ではなく FONT が返されるべきである。 - XFree86

To provide a scanning near field optical microscope capable of detecting the angle dependence of scattering light generated by the coupling of the near field light from the tip part of a probe with a sample.例文帳に追加

プローブ先端部の近接場光と試料とのカップリングにより発生する散乱光の角度依存性を検出できる走査型近接場光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A business form as a sample is displayed on a display screen by a business form image display part 14, and a rectangular field region is defined in each section of the business form by a field information definition part 15 which has received the instruction of an operator, and stored with a field name in a field information storage part 16.例文帳に追加

見本となる帳票を帳票画像表示部１４によってディスプレイ画面上に表示させ、オペレータの指示を受けたフィールド情報定義部１５によって、帳票の個々の部分に矩形状のフィールド領域を定義し、フィールド名とともにフィールド情報格納部１６に格納する。 - 特許庁

To provide a monolithic electric field absorbing/electric field light emission simultaneous measuring instrument capable of simplifying the control of an experimental condition and taking many experimental conditions by integrating both of electric field absorptiometric analysis/electric field emission analysis and capable of accurately grasping the physical properties of a sample.例文帳に追加

電場吸光分析と電場発光分析との両者を一体化することにより、実験条件の制御を簡便にし、実験パラメーターを多く取ることができ、試料の物性の把握を正確に行うことができる一体型電場吸収・電場発光同時測定装置を提供する。 - 特許庁

An electric field for opening a punch hole on the cell surface is impressed on the reaction field into which a sample solution including cells and magnetized fine particles are introduced and a magnetic field is applied to the reaction field in order to introduce the magnetic fine particles through the punch hole.例文帳に追加

本発明は、細胞を含む試料溶液と磁性を有する微粒子が導入されている反応場に細胞表面に穿孔を開けるための電界を印可し、その穿孔より磁性を有する微粒子を細胞内へ導入するため反応場に磁界を印可することにより達成する。 - 特許庁

In order to efficiently heat the sample, the sample as well as a conductor are sealed in a sampling tube, and inductive current is then induced in the conductor by rotating the tube in a magnetostatic field, thereby inductively heating the conductor to heat the sample.例文帳に追加

試料を効率良く加熱するために、導電体を試料とともに試料管内に封入し、静磁場中で回転させることにより誘導電流を導電体に誘起して、導電体を誘導加熱することにより試料を加熱する。 - 特許庁

To provide a sample support stage for observing a three-dimensional structure of high versatility with a sample constitution while adopting a constitution capable of always holding a sample in the visual field center of an electron microscope, a protractor and a three-dimensional structure observing method.例文帳に追加

試料を常に電子顕微鏡の視野中心で保持可能な構成を採用しながら、簡素な構成で汎用性の高い３次元構造観察用の試料支持台及び分度器、並びに３次元構造観察方法を提供する。 - 特許庁

Thus, whichever sample on the sample plate 2 is analyzed, distance (d) between the upper surface of the sample and an ion extraction electrode 9 is maintained fixedly, thus dispensing with variations in flight distance and making the operation of an ion extraction electric field equal.例文帳に追加

これにより、サンプルプレート２上のどのサンプルを分析する場合にも、サンプル上面とイオン引き出し用電極９との間の距離ｄが一定に保たれ、飛行距離のばらつきがなくなるとともにイオン引き出し電場の作用も同じになる。 - 特許庁

This X-ray detector is provided with a magnetic field generation means for counterbalancing a stray magnetic field to a sample base from a magnetic generation means provided for blocking incidence of electrons generated together with X-rays by sample irradiation into a detection element inside the X-ray detector.例文帳に追加

試料照射によりＸ線とともに発生する電子がＸ線検出器内の検出素子に入射するのを阻止するために設けられた磁界発生手段からの試料台への漏洩磁場を相殺するための磁界発生手段を設ける。 - 特許庁

In order to acquire an electron beam image of the whole of a predetermined region of a sample, a region small in aberration is identified in a visual field of a photographing device, and the whole region is photographed as a plurality of continuous visual field images while moving a sample stage by using the region as a unit.例文帳に追加

試料の所定の領域全体の電子線像を得るために、撮像装置の視野において収差の少ない領域を特定し、この領域を単位に試料ステージを移動しながら、前記領域全体を複数の連続する視野像として撮影する。 - 特許庁

The concentration method of the sample liquid containing a detection target substance includes a process for bringing a sample into contact with magnetic beads 14 to adsorb the medium other than the detection target substance in the sample liquid and a process for removing the magnetic beads 14 from the concentrated sample liquid, by applying a magnetic field to the magnetic beads 14.例文帳に追加

検出対象物質を含むサンプル液の濃縮方法であって、サンプル液と磁気ビーズ１４とを接触させてサンプル液中の検出対象物質以外の媒質を吸着させる工程と、磁気ビーズ１４に磁場を印加することにより、濃縮させたサンプル液から磁気ビーズ１４を取り除く工程と、を備えた。 - 特許庁

The sample is collected from the actual product structure 21 by a sample test collection apparatus 11, processed and converted into a test piece by a test piece processing apparatus 12 in the field.例文帳に追加

サンプル試験採取装置１１で実機構造物２１からサンプル試料を採取し、サンプル試料採取装置１１で採取したサンプル試料をその場で試験片加工装置１２により試験片に加工する。 - 特許庁

To provide an electron microscope capable of always positioning a sample in a visual field of a camera, and of preventing the number of installation of various types of apparatuses in a sample chamber from being restricted by the camera.例文帳に追加

本発明は、常に試料をカメラに視野内に位置させることができると共に、カメラによる試料室内への各種機器の設置数を制限させることがない電子顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

In the microscope apparatus, a standard sample for generating reflection light uniformly in a scope of actual visual field of an imaging means is arranged at a position of the sample 13 in an optical system to insert and pull it into/out of the optical system (not shown).例文帳に追加

撮像手段の実視野範囲内において一様に反射光を生じる標準標本が、標本１３の位置において、光学系中に挿脱可能に配置されている（図示せず）。 - 特許庁

The light emitted from the light source 16 irradiates the sample surface through a light modulator 24, a beam splitter 26, an objective lens 22, and a transparent substrate 12 so as to generate near-field light on the sample surface.例文帳に追加

光源１６から放射された光は、光変調器２４、ビームスプリッタ２６，対物レンズ２２，透明基板１２を経て試料表面に照射され、試料表面に近接場光を生成させる。 - 特許庁

The visual field of the transmission electron microscope is searched at a first magnifying power and sample stage coordinates to be recorded, designated on the transmitted electron beam image of a sample displayed in an image display section are calculated and stored (S13 and S14).例文帳に追加

第１の倍率で視野探しを行い、画像表示部に表示された試料の透過電子線像上で指定された記録対象の試料ステージ座標を計算し、記憶する（Ｓ１３，Ｓ１４）。 - 特許庁

A sample holder-electrode holder integrated unit enabled to be removed from a device body is used in a device for processing or analysis by applying an electric field on a held sample through an electrode.例文帳に追加

保持した試料に電極を介して電界をかけて加工または分析する装置に用いられ、かつ、装置本体から取り外し可能とされた試料ホルダ電極ホルダ一体化ユニットを用いる。 - 特許庁

To provide a portable mobile mold material evaluation system for collecting a minute sample from an actual product structure, processing the minute sample in the field and testing a material.例文帳に追加

実機構造物から微小なサンプル試料を採取し、その場で微小なサンプル試料を加工し材料試験を行うことができる持ち運び可能なモバイル型材料評価システムを提供することである。 - 特許庁

The specific gravity of an unsolidified state from a sample with specified cement milk injected in the pile hole of the construction field (fine sand of N-value 40), and compressive strength after the sample is solidified, are measured and made to correspond to each other (Fig.4).例文帳に追加

構築現場（Ｎ値４０の細砂）の杭穴に一定のセメントミルクを注入した試料から固まらない状態の比重と、試料の固化後の圧縮強度を測定して対応させる（図４）。 - 特許庁

The hollow conical electron beam after passing the CM 2 is converged by a front magnetic field 5 of an OL 4 and irradiated onto the sample 3.例文帳に追加

ＣＭ２を通過した空洞円錐状の電子ビームは、ＯＬ４の前方磁場５によって収束されて試料３に照射される。 - 特許庁

To quickly analyze an agricultural chemical constituent remaining on the surface of field crops, such as vegetables, without damaging a sample.例文帳に追加

野菜などの農作物における農作物の表面に残留している農薬成分の分析を、試料を破壊せずに迅速に行う。 - 特許庁

To provide a mass spectroscope equipped with a field desorption ion source capable of controlling an ionizing volume of a sample in a simple method.例文帳に追加

簡単な方法で試料のイオン化量を制御することのできる電界脱離イオン源を備えた質量分析装置を提供する。 - 特許庁

To simultaneously provide an unevenness image of a sample surface in the same visual field for an EPMA analysis image or an SEM observation image in an electron beam analyzer.例文帳に追加

電子線分析装置において、試料面の凹凸像をＥＰＭＡ分析像やＳＥＭ観察像と同一視野で同時に得る。 - 特許庁

Gate injection for performing electrophoresis is made by changing an electric field between the reservoirs, and the specific sample component is isolated more as much as a plurality of numbers.例文帳に追加

リザーバ間の電場を変えて電気泳動を行なうゲート注入を行い、特定試料成分を複数枚分だけ多く分取する。 - 特許庁

A deflection coil 10 is provided under a sample 9, and a dark field signal detector 15 having an opening 15a is provided under the deflection coil.例文帳に追加

試料９の下に偏向コイル１０を設け、偏向コイルの下に、開口１５ａを有する暗視野信号検出器１５を設ける。 - 特許庁