「field sample」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a mapping type electron microscope capable of suppressing the distortion aberration in a wide field of view and observing a sample with a high resolution.例文帳に追加

広視野での歪曲収差を抑えることができ、高分解能で試料を観察できる写像型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The field frequency locking system 129 includes a microcoil 130 and a resonance sample disposed for sensing variations in polarized magnetic fields.例文帳に追加

フィールド周波数ロック・システム（１２９）は、マイクロコイル（１３０）と、分極磁場の変化を検知するために配置される共鳴サンプルを含む。 - 特許庁

To simply obtain the membrane thickness data of a membrane sample and to rapidly select a visual field suitable for observation or analysis.例文帳に追加

薄膜試料の膜厚情報を簡単に得ることができて、観察及び又は分析に適した視野を迅速に選択できるようにする。 - 特許庁

A voltage V (V) corresponding to near field detection level 8 is held by a sample-and-hold circuit, held voltage is released once.例文帳に追加

サンプルホールド回路により近接場検出レベル８に対応する電圧値Ｖ（Ｖ）がホールドされ、ホールドされた電圧が一旦解放される。 - 特許庁

The positive ions 30 are moved in the electric field direction by Coulomb force to generate a flow (electroosmotic flow) of the sample solution 28.例文帳に追加

一方、プラスイオン３０が電界方向にクーロン力を受けて移動し、それによってサンプル溶液２８の流れ（電気浸透流）が生じる。 - 特許庁

Electrodes 8a, 8b are installed so that sample air passing a heater part 10 passes through a uniform electric field at a measuring part 6.例文帳に追加

ヒータ部１０を通過したサンプル空気が測定部６で一様な電場中を通過するように、電極８ａ，８ｂが設置されている。 - 特許庁

In this sample structure, a Schottky electrode 23 is formed on the surface of a semiconductor substrate 22 where a field pattern 21 is formed.例文帳に追加

このサンプル構造では、フィールドパターン２１が形成された半導体基板２２の表面にショットキー電極２３が形成されている。 - 特許庁

To provide a prober device including a superconducting electromagnet in the interior of a vacuum vessel, for loading a sample bed with strong magnetic field.例文帳に追加

真空容器の内部に超伝導電磁石を備え、試料台に強い磁場を負荷することができるプローバ装置を提供する。 - 特許庁

In this static magnetic field generation device for the magnetic resonance device equipped with a pair of facing magnetic poles, for generating a static magnetic field having high uniformity to be applied to a sample, markers for showing a domain having high uniformity of the static magnetic field are provided on the surfaces of the magnetic poles.例文帳に追加

対向する１対の磁極を備え、試料に印加するための均一度の高い静磁場を発生する磁気共鳴装置用静磁場発生装置において、静磁場の均一度の高い領域を示すマーカを、磁極の表面に設けた。 - 特許庁

To provide a transmission-type scanning charged-particle beam device capable of obtaining highly precise bright and dark field signal images, by clearly separating a bright field signal electron from a dark field signal electron even if a scanning range on a sample changes.例文帳に追加

試料上における走査範囲が変化しても、明視野信号電子と暗視野信号電子を明確に分離し、高精度の明視野信号像と暗視野信号像を得ることができる走査透過荷電粒子線装置を提供することにある。 - 特許庁

The method includes the steps of applying a DC magnetic field to a measurement object sample; repeatedly applying an AC magnetic field to demagnetize, while sequentially weakening a strength of the AC magnetic field; measuring a magnetic field distribution on a surface of the sintered tool, and obtaining a residual stress distribution of the sintered tool by converting the magnetic field distribution into the residual stress distribution.例文帳に追加

被測定試料に直流磁界を加えた後、交流磁界の強度を逐次弱めながら反復して交流磁界を加える消磁操作を実施し、その後前記焼結工具表面の磁界分布を測定して、前記磁界分布を残留応力分布に変換することにより前記燒結工具の残留応力分布を求める。 - 特許庁

This stabilizer 1 includes a contact face 1a brought into contact with a sample A within a visual field range of an observation optical system 4 or in the periphery thereof, and a point observable simultaneously with the sample A by the observation optical system 4, in the vicinity of the contact face 1a contacting with the sample A within the visual field range of the observation optical system 4.例文帳に追加

観察光学系４の視野範囲内またはその周囲において試料Ａに接触させられる接触面１ａを備え、観察光学系４の視野範囲内における試料Ａとの接触面１ａ近傍に、観察光学系４により、試料Ａと同時に観察可能な照準を備えるスタビライザ１を提供する。 - 特許庁

To enable miniaturizing a spinner and controlling the vibration to the radial direction on spinning a sample in a gas bearing for rotatably supporting a spinner, on which a sample tube containing the sample to be measured is fixed, in a homogeneous magnetic field space of an NMR apparatus.例文帳に追加

測定試料を入れたサンプル管を固定したスピナを、ＮＭＲ装置の均一磁場空間で回転可能に支持するための気体軸受において、スピナを小型化することができ、さらにサンプル回転時の半径方向への振動を抑制できるようにする。 - 特許庁

To provide a light scanning microscope which having; an at least single-dimensional light distribution apparatus for grid-shaped illumination of a sample in a locally limited grid field; a detector for capturing sample light; and a sample table capable of moving in at least one direction.例文帳に追加

大きさの制限されたラスタフィールド内で試料をラスタ状に照明するための少なくとも１次元の光分布装置、試料光捕捉のための検出装置および少なくとも１方向に移動できる試料ボードを有する光走査型顕微鏡 - 特許庁

The present invention provides improving sample collection, filtration, detection, measurement, identification and/or analysis (collectively "analysis") using, for example: dispersion characteristics; sample fragmentation; and/or variations in sample processing such as, without limitation, variations in flow channel/filter field conditions.例文帳に追加

本発明は、例えば、分散特性；サンプル解離；及び／又は、限定はされないがフロー・チャンネル／フィルター電界状態中の変動のようなサンプル処理における変動を使って、サンプル収集、フィルタ、検知、測定、識別及び／又は分析（「分析」と総称）の改善を提供する。 - 特許庁

To provide a charged particle beam device in which displacement of the observed image is not caused within the observation field even when moving the sample for a predetermined distance using a moving mechanism of a sample stage and then returning it to the original position during observation of an image of the sample.例文帳に追加

試料画像を観察中に、試料ステージの移動機構を用いて試料の位置を所定の距離だけ移動させた後、再びもとの位置に戻しても、観察画像が観察視野内で位置ずれを起こさないような荷電粒子線装置を提供する。 - 特許庁

To solve a problem wherein, when an electric field or a voltage on a surface of a sample is changed in accordance with a characteristic of the sample, the arrangement of a plurality of primary beams on the sample surface, and a plurality of secondary beams on a detector is changed, in a multi-beam type charged particle beam application device.例文帳に追加

マルチビーム型の荷電粒子線応用装置において、試料の特性に応じて試料表面における電界や電圧を変更すると、試料表面における複数の一次ビーム、検出器上における複数の二次ビームの配置が変化する。 - 特許庁

In the plasma etching system for etching a sample mounted on a sample mounting electrode 107 by applying a high frequency electric field in a treatment chamber in order to form plasma by the dissociation of etching gas introduced into the treatment chamber, a sample base ring 112 formed of a material containing carbon is arranged on the outer circumferential part of a region for mounting the sample on the sample mounting electrode 107.例文帳に追加

処理室内に高周波電界を印加し、処理室内に導入したエッチングガスを解離してプラズマを形成し、試料裁置電極１０７上に載置した試料にエッチング処理を施すプラズマエッチング処理装置において、前記試料載置電極１０７上の試料を載置する領域の外周部にカーボンを含む材料により形成した試料台リング１１２を配置した。 - 特許庁

The near-field fiber probe 14 used for near-field measurement of a sample 32 is characterized by using a short probe shortening a length of an optical fiber.例文帳に追加

試料３２を近接場測定する際に用いられる近接場ファイバープローブ１４において、光ファイバーの長さをショート化したショートプローブを用いたことを特徴とする近接場ファイバープローブ１４。 - 特許庁

To provide a sensor manufacturing method, capable of fixing a spread area of sample solution on a reaction field, and selecting and forming the area of the reaction field freely and comparatively easily.例文帳に追加

試料溶液が反応場上で拡がる面積を一定とすることができ、また、比較的容易に、反応場の面積を自由に選択して形成できるセンサ製造方法を提供すること。 - 特許庁

A large electric field is locally applied on the sample S from a head end part 3A of the optical fiber probe 3, and an electric field modulation spectrum of an extra local region is provided by irradiation of the light.例文帳に追加

試料Ｓには光ファイバプローブ３の先端部３Ａから局所的に大きな電場が印加されており、前記光の照射によって極局所領域の電場変調スペクトルを得る。 - 特許庁

Therefore, the presence or amount of an analyte contained in a sample is accurately measured by measuring the response to a magnetic field of the magnetically responsive reagent or the response to a magnetic field of the mobile solid phase reagent.例文帳に追加

従って、磁気応答性試薬の磁場応答又は移動固相試薬の磁場応答を測定することにより、試料に含まれる分析物の存在又は量を正確に測定することができる。 - 特許庁

The difference between the detected magnetic field distribution caused by the low-frequency current and the magnetic field distribution caused by the high-frequency current is computed to cancel out information on the distance between the surface of the sample and the flux meter 1.例文帳に追加

検出された低周波数の電流に起因する磁場分布と高周波数に起因する磁場分布との差分を計算して、サンプル表面と磁束計１との距離の情報を打ち消す。 - 特許庁

To provide a scanning near-field optical microscope which is capable of performing high-resolution observation without bringing a fine structure for generating or selectively transmitting near-field light into direct contact with a sample.例文帳に追加

近接場光を生成または選択的に透過させる微細構造を試料に直接接触させることなく、高分解能観察可能な走査型近接場光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A reference electric field intensity wherein the quantity of electrons emitted from a sample and detected by an electron detector when electrons enter the sample with a prescribed incident voltage shows a peak is determined beforehand, when the intensity of an electric field on the electron incidence side of the electron detector is changed.例文帳に追加

電子検出器の電子入射側の電界の強度を変化させた場合に所定の入射電圧で電子が試料に入射したときに電子検出器により検出される試料から放出された電子の量がピークを示す参照電界強度を予め求めておく。 - 特許庁

In the present invention, a sample 2 is attached to a tip of a cantilever 4, a strong magnetic field is generated by a pulse magnetic field, and a deflection displacement due to moment force acting on the cantilever is measured by magnetization generated with resonance of an unpaired electron in the sample, resulting from irradiation of an electromagnetic wave.例文帳に追加

本発明では、試料をカンチレバーの先端にとりつけ、パルス磁場により強磁場を発生させ、電磁波を照射することで、試料中の不対電子の共鳴により生ずる磁化により、カンチレバーに働くモーメント力による撓み変位を測定するものである。 - 特許庁

A transmission electron microscope comprises a means for calculating an deviation amount in visual field among a plurality of sample permeation images, a means for changing an electric current given in a deflector for deflecting an electron beam or moving a sample to automatically correct the deviations in visual field, and a control means for repeating this operation means to decrease the deviations in the visual field.例文帳に追加

透過型電子顕微鏡において、複数の試料透過像間の視野ずれの量を計算する手段と、電子線を偏向させる偏向器に与える電流をかえて、または試料を移動させて視野ずれを自動的に補正する手段と、以上の手段の動作を繰り返して視野ずれを減少させる制御手段とを備える。 - 特許庁

Because of this, even if the search for the visual field proceeds to the focus-adjustment, a deflection field due to hystericis which has been generated before will not be generated, and since the electron beam will not hit the photographing visual field by a mistake at focus-adjustment as in conventional cases, the visual field will not damaged prior to photographing, and proper sample photographing can be performed.例文帳に追加

このため、視野探しから焦点合わせに移っても、従来発生していたヒステリシスによる偏向場は発生せず、従来のように焦点合わせ時に、電子線が撮影視野に誤って当たることはなく、撮影前に撮影視野が損傷しないので良好な試料撮影を行うことができる。 - 特許庁

Alternatively, the scanning of a microregion is performed by the scanner 10 on the probe side and an observation visual field is moved by the scanner 11 on the sample side.例文帳に追加

あるいは、探針側スキャナ１０で微小領域の走査を行うと共に、試料側スキャナ１１によって観察視野を移動させる。 - 特許庁

Secondary electrons from a sample 25 is given a rotational movement by magnetic field M of a semi-in-lens type objective lens 23, and gathered on an optical axis line.例文帳に追加

試料２５からの２次電子は、セミインレンズタイプの対物レンズ２３の磁界Ｍにより回転運動が与えられ、光軸上に集められる。 - 特許庁

By this method, an adaptive sample distance field is generated from range data first and then the range data of the object are converted into the model of the object.例文帳に追加

方法は、まずレンジデータから適応的サンプル距離フィールドを生成することによって、オブジェクトのレンジデータをオブジェクトのモデルに変換する。 - 特許庁

To downsize a magnetic field producing device having a sample holding member, a shield plate and a detector in its main coil, and to expand its spatial resolution.例文帳に追加

主コイル内に試料保持部材、遮蔽板、検出器を有する磁場発生装置を小型化すると共に、空間分解能を拡大すること。 - 特許庁

A bright field signal particle beam 11 is synchronized with scanning of the particle beam and deflected in the direction opposite to the deflection of the particle beam by the deflection yoke under the sample.例文帳に追加

試料の下の偏向コイルによって、明視野信号粒子線１１を、粒子線の走査と同期させ且つ逆方向に偏向させる。 - 特許庁

The magnetic field generating device 1 is moved in a narrow scanning area by a piezoelectric element 14, and the sample 39 is moved in a wide range by a coarse adjustment driving part 37.例文帳に追加

磁場発生装置１はピエゾ素子１４で狭領域走査され、また試料３９は粗動駆動部３７で広範囲に移動される。 - 特許庁

To provide a charge quantity measuring device which measures the charge quantity appearing by being induced by an electric field without preparing a sample.例文帳に追加

試料を準備することなく、電界に誘導されて現れる電荷量を測定することができる電荷量測定装置を提供すること。 - 特許庁

A deflection electric field E0 for making a sample ion generated by an ion source incident toward the ion orbit.例文帳に追加

電場Ｅ１とＥ６の間には、イオン源で生成された試料イオンをイオン軌道に向けて入射させるための偏向電場Ｅ０が配置されている。 - 特許庁

At the case, the rate converter 137 outputs audio data of each field converting the number of the sample data from 1001 pieces to 960 pieces.例文帳に追加

その場合、レートコンバータ１３７は、各フィールド分のオーディオデータを、そのサンプルデータの個数を１００１個から９６０個に変換して出力する。 - 特許庁

To remove dispersed electron which spreads around an electron beam spot on a sample in an electron beam device loading a field emission type electron gun.例文帳に追加

電界放出型電子銃を搭載する電子線装置において、試料上の電子線スポットの周りに拡がる散乱電子を除去する。 - 特許庁

This microscope 1 includes an objective lens 9 for observing the sample, the transmission bright field lighting system 17, and a base part 3 having a mounting mechanism for mounting the transmission dark field lighting system 25 on the lower side or the upper side of the transmission bright field lighting system 17.例文帳に追加

標本を観察するための対物レンズ９と、透過明視野照明装置１７と、透過明視野照明装置１７の下側または上側に透過暗視野照明装置２５を装着するための装着機構を有するベース部３を備える顕微鏡１。 - 特許庁

Because the hollow conical electron beam is irradiated onto the sample 3 with the electron beam converged, an irradiation area on the sample 3 can be reduced to obtain the dark-field image of a minute area with high resolution.例文帳に追加

また、空洞円錐状の電子ビームを収束させた状態で試料に照射させるので、試料上での照射面積を小さくでき、微小領域の暗視野像を高分解能で得ることができる。 - 特許庁

To provide a device for recognition of a thin-film sample position in an electron microscope, allowing multi-axial stage movement to bring easily an objective thin film sample piece within an observation visual field.例文帳に追加

本発明は簡単に目的の薄膜試料片が観察視野に入るように多軸ステージ移動することができる電子顕微鏡における薄膜試料位置認識装置を提供することを目的としている。 - 特許庁

By taking a different frequency from a resonance frequency of the cantilever 1 as a frequency of the alternating current applied to the sample 5, the magnetic field distribution generated from the sample 5 can be measured at a high speed.例文帳に追加

試料５に印加する交流電流の周波数を、カンチレバー１の共振周波数とは異なる周波数とすることによって高速に試料５から発生する磁界分布を測定することが出来る。 - 特許庁

A sample is irradiated with terahertz pulse light L6 generated in a terahertz light generator 5, so as to detect a time-serial change with time of intensity in an electric field of a terahertz pulse light L8 transmitted through the sample S by a terahertz light detector 8.例文帳に追加

テラヘルツ光発生器５から発生したテラヘルツパルス光Ｌ６を試料Ｓに照射し、試料Ｓを透過したテラヘルツパルス光Ｌ８の電場強度の時間的変化をテラヘルツ光検出器８により検出する。 - 特許庁

Since the camera 4 is moved in conjunction with the movement of a sample 8 by composing the electron microscope like that, the sample 8 is prevented from deviating from the visual field of the camera 4 or being interrupted by various types of apparatuses 6 installed around it.例文帳に追加

このように構成することで、試料８の移動に連動してカメラ４も移動するので、試料８がカメラ４の視野から外れたり、周辺に設置された各種機器６で遮られたりすることがなくなる。 - 特許庁

Introduction of the sample into the capillary is performed, by forming a plug region which holds a liquid different from the migration liquid to one end of the capillary and applying the electric field to the capillary, in a state where the end surface of the plug region is brought into contact with a sample solution containing the sample.例文帳に追加

前記キャピラリー内への試料導入は、前記キャピラリーの一端に泳動液とは異なる液体を保持したプラグ領域を形成し、該プラグ領域端面を、前記試料を含む試料溶液と接触させた状態で該キャピラリーに電界を印加することにより行う。 - 特許庁