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field sampleの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 559件
The region for holding a different sample container is inserted in the magnetic shield successively by the rotation of the holder 3 and the magnetization of the labelled specimen in the first sample container and the detection of the magnetic field generated from the labelled specimen housed in the second sample container are performed parallelly.例文帳に追加
ホルダー2の回転により、異なる試料容器を保持する領域が順次磁気シールドの内部に挿入され、第1の試料容器に収納される標識化検体の磁化と、第2の試料容器に収納される標識化検体から発生する磁場の検出とが、並行して実行される。 - 特許庁
Specifically, the method comprises steps for sub-sampling the motion vector field to generate sub-sample versions of the field at a first coarse resolution and a second finer resolution, coding the coarse-resolution version of the motion vector field, and comparing the coarse-resolution field with the finer-resolution field to generate a missing error, thus coding the missing error at a finer resolution.例文帳に追加
具体的には、モーションベクトルフィールドの副標本をとってフィールドの副標本バージョンを第1の粗い解像度と第2のより細かい解像度で生成し、モーションベクトルフィールドの解像度の粗いバージョンを符号化し、解像度の粗いフィールドを解像度のより細かいフィールドと比較して見逃し誤りを生成し、そしてこの見逃し誤りをより細かい解像度で符号化する。 - 特許庁
In the probe 3, with the introduction of laser beam resonant with vibration from a semiconductor laser 9, an evernescent field is produced from a minute opening at its tip end and the proximity field interaction between the sample 14 and the probe 3 excites a minor carrier at the sample 14, then the semiconductor evaluating device 1 detects changes in optical excitation current for the evaluation of the sample 14.例文帳に追加
プローブ3は半導体レーザ9から振動に共振したレーザー光が導入されると、その先端の微小開口からエバネッセント場が発生して、試料4とプローブ3との近接場相互作用により試料14に少数キャリアを励起させ、半導体評価装置1は、当該光励起電流の変化を検出して、試料14の評価を行っている。 - 特許庁
Further, the near-field light produced on the measuring surface of the sample S is measured with in-plane space resolution of an order of the wavelength or below of light by condensing the near-field light using the polarizing probe 2.例文帳に追加
また、偏光プローブ2を用いて近接場光を集光することで、試料Sの測定面に生じる近接場光を光の波長以下のオーダーの面内空間分解で測定することができる。 - 特許庁
The image observation visual field is rotated at the middle point of the image observation visual field, thus the probe is not moved unlike in the past, and the tip of the probe does not collide with a sample surface.例文帳に追加
これによれば、像観察視野の回転の動作は像観察視野の中点の位置で行われるので、従来のようにプローブの移動は行われず、プローブの先端と試料表面とが衝突することはない。 - 特許庁
To provide an insect specimen sample set useful for the improvement of monitoring by field workers in the field of manufacturing products such as foods, pharmaceutical products etc., by facilitating daily observation and recording of insects' habitat.例文帳に追加
食品や医薬品など、製品の製造現場における日々の昆虫の生息状況の観察、記録を容易にして、現場従業者のモニタリングの向上に役立つための昆虫標本サンプルセットに関するものである。 - 特許庁
Furthermore, a shield member 22 is also provided beneath an electron lens in order to suppress variation of a magnetic field above the sample 7 generated when the shield member 21 moves in the leakage magnetic field from the electron lens 5.例文帳に追加
また、電子レンズ5からの漏洩磁場中をシールド部材21が移動することによって生じる試料7上方での磁場変動を小さく抑えるために電子レンズの下方にもシールド部材22を設ける。 - 特許庁
In addition, an excitation source 6 is caused to generate the excitation field which is amplitude-modulated at a prescribed carrier frequency and a modulated frequency on the surface of the sample 5.例文帳に追加
また、励起源6により、試料5表面に所定の搬送波周波数と変調周波数で振幅変調された励起場を発生させる。 - 特許庁
By this device, the amplitude-modulated signal current is impressed on a sample 3 from a current monitor 17 to generate the amplitude-modulated high frequency magnetic field.例文帳に追加
本装置は、電流モニタ17から試料3に対して振幅変調された信号電流を印加して、振幅変調された高周波磁界を発生させる。 - 特許庁
A two-dimensional image of a characteristic pattern R provided on a sample is formed in the field of view V, and the coordinate of the two-dimensional image and a stage is stored.例文帳に追加
試料上に設けられた特徴的なパターンRの二次元画像を視野V内に形成し、そのときの二次元画像とステージとの座標を記憶する。 - 特許庁
In the case of continuously observing the sample in the same field of view, a control means 10 controls the location of probe scanning on the basis of the obtained amount of the drift.例文帳に追加
そして、制御手段10は、試料の同視野の連続観察を行う場合、求められたドリフト量に基づいて探針走査位置を制御する。 - 特許庁
To provide a probe canning control method and a scanning probe microscope capable of satisfactorily and continuously observing a sample in the same field of view.例文帳に追加
試料の同視野の連続観察を良好に行うことができる探針走査制御方法および走査形プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁
The permeance of the film is higher than that of the flake-shaped powders, and consequently, a demagnetizing field becomes small, so that the film is hard to be influenced by the dimension ratio L/D of the sample.例文帳に追加
これは、フレーク状粉末よりも膜のパーミアンスが高く、結果として反磁界が小さくなるために試料の寸法比L/Dの影響を受けにくい。 - 特許庁
The electron beam is curved by a front magnetic field of the objective lens 4 and radiated with parallel beams while separating a sample position and the vacuum for a suitable distance.例文帳に追加
電子線は、対物レンズ4の前磁場で曲げられ、試料位置と真空をそれぞれ適当な距離はなれた状態で、平行ビームにて照射する。 - 特許庁
The ions generated in the vicinity of the surface of the sample 2 have an initial speed which does not depend on the m/z, however the other ions have a speed corresponding to the m/z by the action of electric field.例文帳に追加
試料2表面付近で発生したイオンはm/zに依存しない初速を持つが、そのほか電場の作用によりm/zに応じた速度を持つ。 - 特許庁
A magnetic field is impressed onto an examined sample, and rotation of a polarization direction by natural optical active substance is controlled to remove dichroic influences on the incident and emission faces.例文帳に追加
被検試料に磁場を印加し、自然旋光性物質による偏光方向の回転を制御することで、入出射面の二色性の影響を除去する。 - 特許庁
To provide a charged particle beam device capable of preventing a sample from being not observed by intrusion of a part of a grid of a mesh in a visual field.例文帳に追加
視野にメッシュのグリッドの一部が入って、試料を観察することができないことを防止することができる荷電粒子線装置を提供する。 - 特許庁
Then, marking can be carried out while the marker is within the observation visual field by moving the supporting member to the sample side in the longitudinal axial direction of the lens barrel of the objective lens.例文帳に追加
そして、マーカが観察視野内にある状態で、対物レンズの鏡筒の長軸方向に支持部材を標本側に移動させることで、マーキングできる。 - 特許庁
Light from the illuminating device 50 is made parallel beams by a field lens 40 and reflected by a dichroic mirror 41 to illuminate a sample surface through an objective 42.例文帳に追加
照明装置50からの光を視野レンズ40で平行光にしダイクロイックミラー41に反射させて対物レンズ42を通して試料面を照明する。 - 特許庁
To provide a sample holding mechanism used in an electron beam application device capable of effectively suppressing disturbance of an electric field due to existence of foreign matter.例文帳に追加
異物等の存在による電界の乱れを効果的に抑制することが可能な電子線応用装置に用いられる試料保持機構の提供にある。 - 特許庁
This stereoscopic microscope has an objective, a simple mount surface, and the dark field lighting device which is arranged opposite the objective across the sample mount surface.例文帳に追加
対物レンズと、被検体搭載面と、被検体搭載面を挟んで対物レンズと対向する位置に配置された暗視野照明装置とを有する。 - 特許庁
According to the charged particle beam device, an electrostatic lens generating an electric field on a track of a charged particle beam is disposed between an objective lens and a sample.例文帳に追加
本発明の荷電粒子線装置によると、対物レンズと試料の間に、荷電粒子線の軌道上に電場を生成する静電レンズが設けられている。 - 特許庁
To provide a microscope comprising a rotation mechanism with which a sample image being observed can be rotated at an optional angle without changing the visual field of observation.例文帳に追加
観察視野を変えることなく観察している試料画像を任意の角度に回転させることが可能な回転機構を備えた顕微鏡を提供する。 - 特許庁
The skin effect observation device can thereby measure the electric field applied onto the conductor sample and the amplitude of the current and the change of a phase thereof in real time.例文帳に追加
これにより、導体試料に印加された電場と試料内部の電流の振幅と位相の変化を実時間で測定することが可能となる。 - 特許庁
To remove a sample ion generated in an ion trap during the ionization of a reagent gas without the need for changing an RF trapping field between ionization and reaction processes.例文帳に追加
イオン化および反応工程の間でRFトラッピング場を変える必要なく、試薬ガスのイオン化の間、イオントラップ内で生成されるサンプルイオン除去する。 - 特許庁
A target ion responding part 20 for detecting target ions in a sample to be inspected is formed to the gate region 17 of a field-effect transistor 10.例文帳に追加
被験試料中の標的イオンを検出するための標的イオン感応部20を電界効果型トランジスタ10のゲート領域17に形成した。 - 特許庁
The steam is positioned near a sample and injected through a needle to be electrically biased in order to reduce interference with a collection field of the secondary ion.例文帳に追加
水蒸気は、サンプルの近傍に位置決めされ二次イオンのコレクション場との干渉を減少させるために電気的にバイアスされる針を通じて注入される。 - 特許庁
PARALLEL MAGNETIC FIELD TYPE RUTHERFORD BACK SCATTERING ANALYZER, ENERGY SPECTRUM MEASURING METHOD FOR SCATTERED ION USING IT AND CRYSTAL AXIS DETECTING METHOD FOR SAMPLE USING IT例文帳に追加
平行磁場型ラザフォード後方散乱分析装置,それを用いた散乱イオンのエネルギースペクトル測定方法,それを用いた試料の結晶軸検出方法 - 特許庁
The lower electrode of the retarding field type objective lens 14 is an axially symmetry electrode 20 arranged in the region close to a light axis adjacently to the sample 15.例文帳に追加
減速電界型対物レンズ14の下極は、試料15に隣接して光軸に近い領域に設けられた軸対称電極20である。 - 特許庁
A microscopic rod having the property of allowing propagation of near field light is used for converging near field light and made to function as a light converging element for converging and irradiation of the near field light and also as an inducing element for causing emission from fluorescent molecules; the rod is brought close to a sample.例文帳に追加
近接場光伝播性の微小な棒体を用いて近接場光を集光し照射させるための集光体として機能させ、蛍光分子を発光させるための誘起体として機能させた上で、棒体と試料とを近接させることとしている。 - 特許庁
A sample analysis system 100 includes an analyzing device 1 as an object to be protected which is installed at a position where the analyzing device 1 is influenced by a magnetic field that a superconducting magnet 2 produces, in relation to the superconducting magnet 2, and a magnetic field change suppressing device 3 which suppresses change in the magnetic field acting on the analyzing device 1.例文帳に追加
試料分析システム100は、磁場を形成する超電導マグネット2に対してその磁場の影響を受ける位置に設置される保護対象としての分析装置1と、この分析装置1に作用する磁場の変化を抑える磁場変化抑制装置3とを備えている。 - 特許庁
A parallel magnetic field at one tesla or more parallel to the incident beam 2 is generated in a prescribed region on the upstream side of the incident beam 2 from the sample 1 by magnetic-field generators 7 to 10, and the qudrupole electrode 4 is arranged inside the parallel magnetic field so as to pass the incident beam 2 through its central axis.例文帳に追加
磁場発生器7〜10により試料1から入射ビーム2上流側の所定領域に入射ビーム2と平行な1テスラ以上の平行磁場を発生させ,四重極電極4をその中心軸に入射ビーム2を通過させるよう平行磁場内に配置する。 - 特許庁
A power accumulated in a high-capacity capacitor 2 is supplied to a conductive sample 5 through a standard resistance 4 by switching a current switch 3 using a field effect transistor to the ON state, to thereby raise the sample temperature to a high temperature in a short time.例文帳に追加
【解決手段】大容量コンデンサー2に蓄積した電力を、電界効果トランジスタを用いた電流スイッチ3をONすることにより、標準抵抗4を介して導電性の試料5に供給し、短時間で高温にする。 - 特許庁
In the case of visual field search, the client 11 can more speedily find out the target view by reporting the moving direction of a sample or the like through a video conference system to an operator 4 while observing the moving image of the sample.例文帳に追加
依頼者11は、視野探しの際に、試料の動画像を観察しがら、試料の移動方向等をテレビ会議システムによりオペレータ4に伝えることにより、より早く目的とする視野を探し当てることが可能となる。 - 特許庁
The sample 1 inside a vacuum chamber 20 is irradiated with a prescribed incident beam 2, and the secondary ions 3 scattered from the surface of the sample 1 are passed through an electric field by a qudrupole electrode 4 so as to be then detected by an ion detector 13.例文帳に追加
真空容器20内の試料1に所定の入射ビーム2を照射して試料1表面から飛散させた2次イオン3を四重極電極4による電場に通過させた後にイオン検出器13により検出する。 - 特許庁
Then, while changing the intensity of the electric field actually, the sample where a pattern which is a length measuring object is formed is irradiated with an electron beam, and the quantity of the electrons emitted from the sample is detected by the electron detector (step S4).例文帳に追加
そして、実際に、電界の強度を変化させながら、測長の対象であるパターンが形成された試料に電子線を照射し、電子検出器により試料から放出された電子の量を検出する(ステップS4)。 - 特許庁
A structure is provided such that disturbance will not occur in the flow of the sheath gas at a slit A in the process of sample gas injection and that the sample gas is carried by the flow of the sheath gas along the wall of an outer case electrode to be thrown into an electric field.例文帳に追加
試料ガス注入行程でスリットAにおけるシースガス流れの乱れを生じせしめず、且つ、試料ガスが外筒電極の壁面に沿い、シースガス流れに載って電界内に投入される構造の提供。 - 特許庁
The ionization device is provided with a laser emitting means, and a near field light generating means for generating near field light by incidence of a laser emitted from the laser emitting means, and is used to ionize a sample mixed with a matrix by irradiating the matrix with the near field light generated from the near field light generating means.例文帳に追加
レーザー放射手段と、前記レーザー放射手段から放射されたレーザーが入射されて近接場光を発生させる近接場光発生手段とを備え、前記近接場光発生手段から発生した近接場光をマトリクスに照射することにより、マトリクスと混合された試料をイオン化するイオン化装置を用いる。 - 特許庁
To provide a sample tube for a nuclear magnetic resonance apparatus with a detection coil for generating a high frequency magnetic field and a useful method for manufacturing the sample tube, in which a dimensional tolerance of an inner diameter of the sample tube can be reduced, a filling factor can be increased, and a volume susceptibility can be made comparable to the volume susceptibility of a sample to be analyzed if necessary.例文帳に追加
試料管の内径の寸法公差を小さく、またフィリングファクターを高くすることができ、必要によって、体積磁化率を分析対象試料の体積磁化率と同程度とすることができるような、高周波磁場を発生するための検出コイルを備えた核磁気共鳴装置用試料管、およびそのような試料管を製造するための有用な方法を提供する。 - 特許庁
To provide an ion mobility meter and an ion mobility measuring method in which base gas ions are generated using soft X-rays and sample molecule ions are generated by an ion molecular reaction of this base gas ions and sample molecules, thereby contamination of the device, decomposition of the sample, and effect to electric field of an ionization chamber etc. can be suppressed with high safety, and the sample molecules can be ionized efficiently.例文帳に追加
軟X線を用いてベースガスイオンを生成し、このベースガスイオンと試料分子とのイオン分子反応により試料分子イオンを生成することによって、安全性が高く、装置の汚染、試料の分解、及びイオン化室の電界への影響などを抑制でき、試料分子を効率よくイオン化できるイオン移動度計およびイオン移動度計測方法を提供する。 - 特許庁
Magnetic signals from magnetic impurities included in the sample container independent of an external magnetic field for orientation can be canceled by determining the difference between two measuring signals acquired by applying the external magnetic field for orientation in normal and reverse directions, respectively.例文帳に追加
正逆それぞれの方向に配向用外部磁界を印加して得られた2つの測定信号の差分を求めることで、配向用外部磁界に依存しない試料容器に含まれる磁気不純物からの磁気信号をキャンセルできる。 - 特許庁
Near field light is produced near the outside of a boundary plane 11 and a light converging part 30 converges the produced near field light to apply the light from the tip 31 of the light converging part toward the sample placed on a placement table 50.例文帳に追加
境界面11の外側の近傍には、近接場光が発生し、発生した近接場光を集光部30によって集光し、集光部の先端31から載置台50上に載置された試料に向けて照射する。 - 特許庁
For the Projects Location field, click Browse to navigate to the folder in which you want to save the files for the sample projects.Notice that when you change the value in the Projects Location field, the IDE automatically updates the values in the Java Project Folder and UML Project Folder fields. 例文帳に追加
「プロジェクトの場所」フィールドで「参照」をクリックし、サンプルプロジェクトのファイルを保存するフォルダへ移動します。 「プロジェクトの場所」フィールドで値を変更すると、IDE は自動的に「Java プロジェクトフォルダ」フィールドおよび「UML プロジェクトフォルダ」フィールドの値を更新します。 - NetBeans
An image processing unit 19 of a controlling device 103 generates a synthesis observation image of the sample 1 on the basis of a plurality of observation images of the sample 1, which are obtained by being imaged by the camera 14 in the same field of view with switching of the wavelength band of the ultraviolet light with which the sample 1 is irradiated.例文帳に追加
制御装置103の画像処理部19は、標本1に照射されている紫外光の波長域を切り替えてカメラ14により同一の視野で撮像して取得された標本1についての複数の観察画像に基づいて、標本1についての合成観察画像を生成する。 - 特許庁
In a first process step, a sample 23 is illuminated, and sample light is detected and detected data is recorded, that is, detected data is recorded over the dimensions of the grid field during a movement of the sample table in at least a first direction, and recording of each table position is assigned to data recording.例文帳に追加
第1作業ステップで、試料23の照明、試料光の検出および検出データの記録、つまり少なくとも1つの第1方向での試料ボード移動過程におけるラスタフィールドサイズを越えての検出データの記録が行われ、それぞれのボードポジションの記録がデータ記録に割り振られる光走査型顕微鏡。 - 特許庁
To measure irregular images of a sample and electric current of a cantilever in contact mode, and perform measurement of a high bias voltage such as an electric field emission in lift mode without damaging a minute probe, the cantilever and the sample.例文帳に追加
コンタクトモードで試料の凹凸像の測定およびカンチレバーの電流の測定を行い、またリフトモードで電界放出のような高バイアス電圧を必要とする測定を、探針、カンチレバーや試料に損傷を与えることなく行うようにする。 - 特許庁
To provide a reaction method capable of performing an orientation control of a sample by using the grade of a magnetic susceptibility on a boundary surface even in a field where the size of a sample is as small as a micro-scale and where magnetic force does not act efficiently.例文帳に追加
試料の大きさがマイクロスケール程度に小さく、磁気力が有効に作用しないような場でも、試料配向制御を境界面における磁化率勾配を用いて制御することができる反応方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
To decrease leakage field from a high-frequency induction coil, to prevent a sample in a chamber, etc., from receiving adverse effects, and to improve the efficiency of energy transfer to plasma.例文帳に追加
高周波誘導コイルからの漏れ磁界を減少させ、チェンバなどの試料に悪影響を与えることを防止し、プラズマへのエネルギー輸送効率を向上させる。 - 特許庁
To manufacture an opening that can be brought extremely closer to a sample or a record medium surface at low costs in a manufacturing method of a minute-aperture-type near-field optical probe.例文帳に追加
微小開口型の近視野光プローブの作製方法において、サンプルあるいは記録媒体表面に極めて近接できる構造の開口を低コストで作製すること。 - 特許庁
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