「interface test」に関連した英語例文の一覧と使い方(4ページ目) - Weblio英語例文検索

In the semiconductor testing device including a test head having the pin card inside it and an interface device above it, the pin card can be inserted or removed from a side surface of the test head.例文帳に追加

内部にピンカードが収納され上部にインターフェース装置が設けられているテストヘッドを含む半導体試験装置において、前記ピンカードの挿抜を前記テストヘッドの側面から行えるようにしたことを特徴とする。 - 特許庁

This test system 100 capable of integrating a plurality of modules 108 enabling supply of a test signal to a device to be tested is equipped with a deliverer 150 functioning as an interface when communicating between prescribed two modules.例文帳に追加

被試験デバイスに試験信号を供給可能なモジュール１０８を複数組み込み可能な試験システム１００は、所定の二つのモジュール間で通信を行う際のインタフェースとして機能する配送器１５０を備える。 - 特許庁

The optical communication system is provided with a backup interface provided on a station side apparatus, an optical loop back means for recognizing the normality of the backup interface, and a detecting means for detecting that the backup interface is in a normal state on the basis of a result of an optical loop back test executed by the backup interface via the optical loop back means.例文帳に追加

光通信システムは、局側装置に設けられる予備系インタフェースと、予備系インタフェースの正常性を確認するための光ループバック手段と、光ループバック手段を介して実施される予備系インタフェースによる光ループバック試験の結果を基に、当該予備系インタフェースが正常であることを検知する検知手段とを備える。 - 特許庁

Test signal generating and determining parts 30, 40, and 50 generate timing signals for generating test signals to be inputted to a semiconductor device (DUT) 10, which is an object of test, output the generated timing signals to DUT interface parts 60, 70, and 80, and output the generated timing signals to a multiplexer 20.例文帳に追加

試験信号生成・判定部３０，４０，５０は、ＤＵＴ１０に対して入力される試験信号を生成するためのタイミング信号を生成してＤＵＴインターフェイス部６０，７０，８０に出力するとともに、生成したタイミング信号をマルチプレクサ２０に対して出力する。 - 特許庁

A hidden relationship between items of clinical test data is extracted by using an interactive interface that determines and displays a health degree out of a client's test data based on previously stored test data and reference values which are the upper and lower limits of a range determined to be normal.例文帳に追加

あらかじめ格納していた検査データと正常と判断させる範囲の上限・下限よりなる基準値とを基に、クライアントの検査データから健康度を判断して表示するインタラクティブインタフェースを用い、臨床検査データの項目間の隠れた関係を抽出する。 - 特許庁

By using the built-in memory instead of the semiconductor memory device it is possible to test the interface part and circuits related to the same with the semiconductor device as a single body.例文帳に追加

内蔵メモリを半導体メモリ装置の代わりに使用することで、半導体装置単体でインタフェース部およびそれに関連する回路を試験できる。 - 特許庁

To test the data transfer of a peripheral component interface(PCI) bus, without using an external storage device and its external storage controller.例文帳に追加

外部記憶装置とその外部記憶制御装置とを使用することなくＰＣＩバスのデータ転送試験が可能なデータ転送試験システムを提供する。 - 特許庁

To identify the location and cause of a failure by means of test data and cope with improper timing when a bus interface circuit fails.例文帳に追加

バスインタフェース回路において障害が発生した場合に、テストデータを用いて障害の箇所・原因を特定するとともにタイミング不良にも対応させる。 - 特許庁

An interface part 101 is integrated into the wind test model 50, and hereby the model 50 is supported by the support rod 102 penetratingly and movably up and down.例文帳に追加

風試模型５０にはインターフェイス部１０１が組み込まれ、これにより模型５０は支持棒１０２に上下動可能なように貫通支持されている。 - 特許庁

To provide a cell transmission control circuit having a simple configuration, that can prevent ATM cell abort, in a system employing a UTOPIA(universal test and operations PHY interface for ATM) level 2 bus.例文帳に追加

ＵＴＯＰＩＡレベル２バスを使用したシステムにおいて、ＡＴＭセル廃棄を防止し得る簡単な構成のセル送信制御回路を得る。 - 特許庁

To enhance efficiency of a test of an interactive program which performs input operation by a graphic user interface(GUI) and further to easily grasp an error generation condition and a generation factor.例文帳に追加

ＧＵＩによる入力操作を行う対話型プログラムのテストの効率化、さらにはエラー発生状況や発生要因の把握の容易化を実現する。 - 特許庁

A graphical user interface is provided to make the data related to the standard test method or equipment and the evaluation method or equipment identifiable.例文帳に追加

グラフィカルユーザインターフェースは、基準方法または機器および評価方法または機器に関連付けられたデータを識別可能にするために提供される。 - 特許庁

To output a test signal and a sound collection signal without adding a dedicated interface to a signal processor having an automatic sound field correcting function.例文帳に追加

自動音場補正機能を有する信号処理装置について専用インタフェースを追加することなくテスト信号及び集音信号を出力可能にする。 - 特許庁

To enable a loop-back test in an interface in which phase relations between data signals and strobe signals for sampling the data are different in the inputs and the outputs.例文帳に追加

データと該データをサンプリングするためのストローブ信号の位相関係が入力と出力で異なるインタフェースにおいて、ループバック試験を可能とする。 - 特許庁

Warning:There is no reliable way to test if an instance supports the complete mapping protocol since the interface itself isill-defined.例文帳に追加

警告:インタフェース自体が誤った定義になっているため、あるインスタンスが完全なマップ型プロトコルを備えているかを調べる信頼性のある方法は存在しません。 - Python

The program execution part 134 includes: a first test execution mode to execute the operation confirmation of the Web page by making an interface disposed by a Web browser be called from the test program; and a second test execution mode to execute the operation confirmation of the Web page by making a control code newly added to the Web page be called from the test program.例文帳に追加

プログラム実行部１３４は、ウェブブラウザが公開するインタフェースをテスト・プログラムから呼び出させることによりウェブページの動作確認を実行する第１のテスト実行態様と、ウェブページに対し新たに追加した制御コードをテスト・プログラムから呼び出させることによりウェブページの動作確認を実行する第２のテスト実行態様とを含む。 - 特許庁

The IC chip is mounted on a printed circuit board and electrically connected to the other IC chip and thereafter the interface of the one IC chip transmits test data to the other IC chip, and can determine an output level of the interface at the transmission of substantial data on the basis of a determination result of the received test data.例文帳に追加

ＩＣチップが印刷基板上に実装され、他のＩＣチップとの電気的な接続がなされた後に、一方のＩＣチップ・インターフェースから他方のＩＣチップへテスト・データの伝送を行ない、受信したテスト信号の判定結果に基づいて、本来のデータ伝送時におけるインターフェースの出力レベルを決定することができる。 - 特許庁

To provide semiconductor memory elements which can reduce the test time by making a DRAM core test by a parallel input/output interface method and support various input/output information transmission rates in the multi-port memory elements communicating information with external devices by a serial input/output interface method when operating normally.例文帳に追加

正常動作時に直列入／出力インタフェース方式で外部装置と情報通信を行うマルチポートメモリ素子において、並列入／出力インタフェース方式でＤＲＡＭコアテストを実行することによってテスト時間を減少させ、且つ、様々な入／出力情報伝送処理率を支援する半導体メモリ素子を提供すること。 - 特許庁

The integrated circuit system (IC) 100 include a RAM 120, a serial interface 150, a means for downloading a burn-in test program to the RAM 120 of the integrated circuit system by the serial interface 150, and a means for reading the burn-in test program downloaded from the RAM 120 and allowing the CPU 110 to execute it.例文帳に追加

集積回路装置（ＩＣ）１００は、ＲＡＭ１２０、シリアルインターフェース１５０を含み、前記シリアルインターフェース１５０でバーインテストプログラムを集積回路装置の前記ＲＡＭ１２０にダウンロードする手段と、前記ＲＡＭ１２０からダウンロードされたバーインテストプログラム読み出して、前記ＣＰＵ１１０に実行させる手段とを含む。 - 特許庁

To perform a confirmation test in which a large difference between AC characteristics does not exist in a plurality of current passes concerned in a plurality of through electrodes between an interface chip and a core chip respectively in a semiconductor device of a type using the interface chip.例文帳に追加

インターフェースチップを用いるタイプの半導体装置において、インターフェースチップとコアチップ間の複数の貫通電極にそれぞれ関する複数の電流パスで大きなＡＣ特性の差がないことの確認試験を行えるようにする。 - 特許庁

Shortly after a test release was available from Berkeley, the socket interface had been ported to System III by a UNIX vendor (although ATT did not support the socket interface until the release of System V Release 4, deciding instead to use the Eighth Edition stream mechanism). 例文帳に追加

バークレーから入手できたテストリリースのすぐ後で、 ソケットインタフェースは UNIXベンダによって System III に移植されました (しかし、ATT は System V Release 4のリリースまでソケットインタフェースをサポートせず、 その代わりに Eighth Editionのストリーム機構を使用する ことを決めました)。 - FreeBSD

A testing device 1009 realizes a radio connection by a CDMA radio interface with a mobile terminal device 150 by sending a layer-3 signal and transmits a signal to be measured to conduct the radio reception characteristic test and radio function test.例文帳に追加

試験装置１００は、移動端末装置１５０と、レイヤ３信号を伝送してＣＤＭＡ無線インタフェースによる無線接続を実現し、被測定用信号を伝送して無線受信特性試験及び無線機能試験を行う。 - 特許庁

To enable an automatic test of a semiconductor device by connecting a controller for performing conveyance control of a semiconductor device to be tested and sequence control according to a predetermined test procedure to a semiconductor testing apparatus through a simple interface.例文帳に追加

被試験対象の半導体デバイスの搬送制御と所定試験手順に従ったシーケンス制御とを行うコントローラを、半導体試験装置に簡易なインターフェイスで接続し、半導体デバイスの自動試験を行えるようにする。 - 特許庁

To execute a test program from a master device by switching the interface elements of drivers/receivers connected to channels of many sorts so as to be suited to the sort of a connected channel.例文帳に追加

多種類のチャネルに接続されたドライバ／レシーバのインターフェイス素子をチャネルの種類に適合するように切り替えて上位装置から試験プログラムを実行する。 - 特許庁

The copy of the test pattern may exhibit readily-detectable image defects, manifest as 'readings' which the user can communicate to a computer, such as through a user interface.例文帳に追加

このテストパターンのコピーは、容易に検出可能な画像欠陥を示し、また、「読み取り値」として現れ、ユーザインタフェースのようなものを通じてユーザがコンピュータに伝達することができる。 - 特許庁

Based on an instruction from the user interface 110, the body 120 conducts an actual simulation test of the mobile station through the communication IF 1252.例文帳に追加

そして、装置本体１２０は、ユーザーインタフェース部１１０からの指示に基づいて、実際に移動局に対し汎用通信ＩＦ部１２５２を介してシミュレーション試験を行うものである。 - 特許庁

Consequently, even when reliability evaluation such as a temperature cycle test is performed, the peeling of bonding interface between the insulating substrate 1 and base conductor layer 3a can be suppressed.例文帳に追加

このことにより温度サイクル試験などの信頼性評価を行った場合においても絶縁基板１と基礎導体層３ａとの接合界面の剥がれを抑制できる。 - 特許庁

Each of the universal interface channel circuits 210 is independently commanded by the data collecting circuit 120 to supply one of a variety of test signals to a DUT.例文帳に追加

各ユニバーサルインタフェースチャネル回路２１０は、様々な試験信号のうちの１つをＤＵＴに供給することを、データ収集回路１２０から個別に命令する。 - 特許庁

To dramatically correct and test for preventing generation of an error when the error is generated owing to change in interface definition information.例文帳に追加

インタフェース定義情報の変更に伴うエラーが発生した場合にそのエラーの発生を防止する為の修正及びテストを動的に行うことが可能な技術を提供する。 - 特許庁

When the user interface 304 is displayed, the user is able to see the boundary scanning test data, generated by a boundary scanning testing device 314, in a form which is suitable for a debugging operation.例文帳に追加

該ユーザ・インタフェース表示によって、ユーザは、境界走査テスト装置によって生成された境界走査テスト・データをデバッグに適切な形式で見ることができる。 - 特許庁

To provide a thin film transistor capable of suppressing variation in electric characteristics which may be generated due to trapping of carriers in interface levels during a reliability test.例文帳に追加

信頼性試験中に、キャリアが界面準位にトラップされることによって生じる電気的特性の変動を抑制することができる薄膜トランジスタを提供する。 - 特許庁

The DUT interface parts 60, 70, and 80 switch the output values of test signals to be outputted to the DUT 10 in synchronization with the inputted timing signals.例文帳に追加

ＤＵＴインターフェイス部６０，７０，８０は、入力されるタイミング信号に同期して、ＤＵＴ１０に対して出力する試験信号の出力値を切り換える。 - 特許庁

Thus, a laser diode in the optical module section 3 is driven via an analog IC interface circuit 12 and an analog IC 2 and an optical signal corresponding to the test pattern is transmitted.例文帳に追加

これにより、アナログＩＣインタフェース回路１２及びアナログＩＣ２を介して光モジュール部３内のレーザダイオードが駆動され、テストパターンに対応した光信号が送出される。 - 特許庁

The test head 40 includes: a test head body 50 having a frame 51; an interface device 60 electrically connecting the probe card 20 and test head body 50 to each other; and a brake unit 80 interposed between the probe card 20 and frame 51, and transmitting pressure F, applied to the probe card 20, to the frame 51.例文帳に追加

テストヘッド４０は、フレーム５１を有するテストヘッド本体５０と、プローブカード２０とテストヘッド本体５０とを電気的に接続するインタフェース装置６０と、プローブカード２０とフレーム５１の間に介在して、プローブカード２０に印加される押圧力Ｆをフレーム５１に伝達するブレーキユニット８０と、を備えている。 - 特許庁

A flowchart creation part 1 displays a user interface screen on a display, and based on input by a user on the user interface screen, creates a flowchart consisting of at least one module for defining a test on a verification objective logic circuit.例文帳に追加

フローチャート作成部１は、ユーザインタフェース画面をディスプレイに表示し、このユーザインタフェース画面上でのユーザの入力に基づいて、検証対象の論理回路のテストを規定するための、少なくとも１つのモジュールから構成されるフローチャートを作成する。 - 特許庁

To allow an interface tester having plural signal lines for transferring data to surely generate the abnormality, etc., at the desired timing and quickly test an SCSI interface, etc., with a simple configuration.例文帳に追加

本発明は、データの授受を行う複数の信号線を持つインタフェースの試験を行うインタフェース試験機に関し、目的とするタイミングで確実に異常などを発生させ、簡易な構成でＳＣＳＩインターフェースなどの試験を迅速に行うことを目的とする。 - 特許庁

The testing facility terminal (13) automatically changes an interface (14) based on the transferred information to meet the electrical equipment (1) to be tested, carries out the electrical characteristics evaluation/test and transfers the test result via the network (10) to the host computer (11).例文帳に追加

転送された情報から試験設備端末（１３）は、対象となる電気機器（１）に合わせてインターフェイス（１４）を自動的に変更し、電気特性評価試験を行い、試験結果をホストコンピュータ（１１）にネットワーク（１０）を介して転送する。 - 特許庁

The multiplexer 20 outputs the timing signals generated by the test signal generating and judging parts 30, 40, and 50 to the DUT interface parts 60, 70, and 80 which are not connected to the test signal generating and judging parts 30, 40, and 50 at need.例文帳に追加

マルチプレクサ２０は、試験信号生成・判定部３０，４０，５０により生成されたタイミング信号を、当該試験信号生成・判定部３０，４０，５０に接続されていないＤＵＴインターフェイス部６０，７０，８０へ、必要に応じて出力する。 - 特許庁

A testing device 100 decides test items and when performing the wireless transmission characteristic test, a layer-3 signal is transmitted between the device and mobile terminal equipment 150 to realize wireless connection by a CDMA wireless interface, thereby transmitting a signal to be measured.例文帳に追加

試験装置１００は、試験項目を判断し、無線送信特性試験を行う場合には、移動端末装置１５０との間でレイヤ３信号を伝送してＣＤＭＡ無線インターフェースによる無線接続を実現し、被測定用信号を伝送する。 - 特許庁

The apparatus generates a test pattern for the operation test of the built-in memory, which is used for a device having a memory macro, a serial input interface and a latch circuit for latching signals input serially and outputting them in parallel to the memory macro.例文帳に追加

メモリマクロと、シリアル入力インターフェースと、当該シリアル入力された信号をラッチしメモリマクロにパラレルに出力するラッチ回路とを有するデバイスに対する、当該内蔵メモリの動作試験用のテストパターンを発生するテストパターン発生装置に関する。 - 特許庁

A testing device 100 judges test items and, when performing the wireless transmission characteristics test, transmits a layer-3 signal to mobile terminal equipment 150 to realize a wireless connection by a CDMA wireless interface, thereby transmitting a signal to be measured.例文帳に追加

試験装置１００は、試験項目を判断し、無線送信特性試験を行う場合には、移動端末装置１５０との間でレイヤ３信号を伝送してＣＤＭＡ無線インターフェースによる無線接続を実現し、被測定用信号を伝送する。 - 特許庁

To facilitate the construction of I/F(interface) between a burn-in test device and an insertion and extraction machine and facilitate a burn-in test without causing a mistake in exchanging data in each information file such as installation position information on burn-in board and measurement result and the like.例文帳に追加

バーンイン試験装置と挿抜機との間のＩ／Ｆ（インターフェイス）の構築を容易にし、また、バーンインボードの実装位置情報および測定結果等の各情報ファイルのデータの受け渡しの際にミスを発生することがなく、バーンイン試験を容易にする。 - 特許庁

A test circuit C0 of the present invention provided on a semiconductor integrated circuit in which a standby mode and a non-standby mode are switched is a test circuit for an interface block I2 which performs interface between the semiconductor integrated circuit and the outside in a non-standby mode and, in a standby mode, generates a fixed voltage and outputs the fixed voltage to a corresponding signal line.例文帳に追加

本発明にかかるテスト回路Ｃ０は、スタンバイモードと非スタンバイモードとが切り替わる半導体集積回路上に設けられ、非スタンバイモード時には半導体集積回路と外部とのインターフェースを行い、スタンバイモード時には固定電圧を生成し対応する信号線に向けて出力するインターフェースブロックＩ２、のテスト回路である。 - 特許庁

For example, the IC card test device 1 generates a command APDU described with hexadecimal characters according to the program interface specifications of the IC card from the test script described in script language, and tests the IC card program by using the generated command APDU.例文帳に追加

例えば、ＩＣカードテスト装置１は、スクリプト言語で記述されたテストスクリプトから、ＩＣカードのプログラムインターフェース仕様に従い、１６進数のキャラクターで記述されたコマンドＡＰＤＵを生成し、生成したコマンドＡＰＤＵを用いてＩＣカードプログラムをテストする。 - 特許庁

The specification of the apparatus for the characteristic test, the selection of the characteristic test, and the input and output used for the input of input values are performed by a graphical user interface of a personal computer 4 and the decision of the results meeting the input values is also displayed on the screen of the personal computer 4.例文帳に追加

特性試験の対象装置の特定、特性試験の選定および入力値の入力に用いる入出力をパソコン４のグラフィカルユーザインターフェースによりおこない、入力値に応じた結果の判定もパソコン４の画面に表示する。 - 特許庁