「interface test」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

The apparatus for measuring the film adhesive force is equipped with a stage for fixing a test piece in which the film adheres to a substrate; a cutting blade for separating an adhesion interface of the substrate and the film; and a strain gage for observing a separation strength acting on a cutting plane when separating the adhesion interface by the cutting blade.例文帳に追加

基板に膜が密着している試験片を固定するステージと、前記基板と前記膜との密着界面を剥離する切刃と、前記切刃で前記密着界面を剥離する際の切断面に作用する剥離荷重を観測するひずみゲージとを具備したことを特徴とする膜密着力測定装置によって解決される。 - 特許庁

To provide a USB test monitor circuit for monitoring interface signals between a physical layer transmitting/receiving differential signals flowing in a USB bus and a serial interface engine conducting communication of the physical layer, for identifying a transaction flowing in the USB bus, and for evaluating validity of a part independent of the physical layer without using an additional measurement apparatus.例文帳に追加

ＵＳＢバスを流れる差動信号を送受信する物理層と物理層の通信を行うシリアル・インタフェース・エンジンとの間のインタフェース信号をモニタしてＵＳＢバスを流れるトランザクションを識別し、物理層に依存しない部分の正当性の評価を新規に測定器を用いることなく行うＵＳＢテストモニタ回路を提供する。 - 特許庁

An axis to be effective corresponding to a designated test is preliminarily stored in the effective axis selection table memory part 11 and a signal to decide whether or not operation signals from an interface i/f 6 to the effective axis selection gate part 7 corresponding to the state a test procedure selection switch group 9 is designated.例文帳に追加

有効軸選択テーブル記憶部１１では指定された検査に応じて有効とすべき軸があらかじめ記憶され、検査手技選択スイッチ群９の指定された状態に応じて、有効軸選択ゲート部７に対してインターフェースｉ／ｆ６からの操作信号を、制御駆動部８に出力すべきか、否かを決めるための信号を出力する。 - 特許庁

A control circuit 6 acquires a movement state detection result of a gyro sensor 25 provided to a remote controller 20 with a microphone through a remote controller interface circuit 7, and outputs a test signal generated by a test signal generating circuit 8 through a speaker 13 when detecting the remote controller 20 with the microphone moving and stopping based upon the movement state detection result.例文帳に追加

制御回路６は、マイク付リモコン２０に設けられたジャイロセンサ２５による移動状態検知結果をリモコンインターフェース回路７を通じて取得し、その移動状態検知結果に基づいてマイク付リモコン２０が移動して停止したことを検知した場合に、テスト信号生成回路８で生成したテスト信号をスピーカ１３を通じて出力させる。 - 特許庁

The present method is used to monitor a network, a path selector that can select between a first input and a second input is prepared, the first input is coupled to a CPE interface (I/F) that is operable to receive signals from client premises equipment (CPE), and the second input is connected to a test signal generator that is operable to generate test signals.例文帳に追加

本方法はネットワークを監視するために使用され、第1入力及び第２入力の間で選択できる経路選択器を用意し、第1入力は、顧客宅内機器（ＣＰＥ）からの信号を受信するＣＰＥインターフェース（Ｉ／Ｆ）に結合され、第２入力は、テスト信号を生成するテスト信号生成器に接続される。 - 特許庁

To provide an interface circuit capable of reducing its manufacturing cost and accurately performing functional test and debugging by reducing the number of input terminals from the exterior of a miniaturized semiconductor device, and provide a testing method and a debugging method using the same for the semiconductor device.例文帳に追加

小型化された半導体装置外部からの入力端子数を少なくし製造コストを抑制、かつ、機能テスト、デバッグを的確に行うことができるインターフェース回路及びそれを用いた半導体装置のテスト方法とデバッグ方法を提供する。 - 特許庁

To discover fault or abnormality in a terminal connected to a network, especially, the abnormality of hardware without directly touching the terminal by using a terminal provided with an Ethernet(R) interface having a test function for the terminal in a network system.例文帳に追加

テスト機能を有すイーサネット（登録商標）インタフェースを備えた端末をネットワークシステムの端末に用い、ネットワークに接続する端末の故障や異常、特にハードウェアの異常を、端末に直接触ることなく発見できるようにすること。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device capable of improving yield of a semiconductor device, and saving the labor and the time required from start until finish of an interface test of the semiconductor device even when an abnormality occurs.例文帳に追加

半導体デバイスの歩留まりの向上を図ることができるとともに、異常が発生したときにおいても半導体デバイスのインターフェーステストを開始してから終了するまでにかかる手間と時間とを省くことができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

A program is created on the programming interface for executing a sample test in a rheometer, by receiving the connection relationship between a number of nodes selected by the user and other nodes in each node by a connection indicator having directivity.例文帳に追加

プログラムは、ユーザが選択した多くのノードと、指向性を有する接続インディケータによる各ノードにおける他のノードとの接続関係と、を受信することによって、レオメータにおいてサンプルのテストを実行するために、プログラミングインターフェース上で作成される。 - 特許庁

Only connecting pads 3 are collectively arranged on each of the adjacent sides of semiconductor chips 1 and 2; and the input/output interface circuits 5, test pads 6, and external connecting pads 7 are arranged along the other three sides of the chips 1 and 2.例文帳に追加

各半導体チップ１，２の互いに隣接する１辺には、接続用パッド３のみが集まって配置されており、残りの他の３辺に沿って入出力インターフェース回路５や、テスト用パッド６、外部接続用パッド７が配置されている。 - 特許庁

In a connection test, data held in registers 241-1 and 241-2 are transferred to registers 211-1 and 211-2 in an interface circuit 210, further transferred to registers 312-1 and 312-2 at a side of the second chip 200-2 and held therein.例文帳に追加

接続試験においては、レジスタ２４１−１および２において保持されているデータを、インターフェース回路２１０内のレジスタ２１１−１および２に転送し、さらに第２チップ２００−２側のレジスタ３１２−１および２に対して転送して保持させる。 - 特許庁

Based on an appropriate reflow scope having no reduction in strength at connection interfaces acquired by performing a connection interface strength evaluation test, an appropriate reflow scope in a temperature profile having one temperature peak is acquired with the compound thickness of the connection interface determined uniquely by a thermal load as a standard.例文帳に追加

基板の電極部上に溶融温度を一定とした温度プロファイルを用いてはんだ接続を行い、それぞれ接続界面強度評価試験を行って求めた接続界面での強度低下のない適正リフロー範囲をもとに、熱負荷によって一意に決定される接続界面の化合物厚さを基準として、温度ピークを一つもつ任意の温度プロファイルでの適正リフロー範囲を求める。 - 特許庁

The method includes the step of preparing an object file management framework for establishing a standard interface between a vender-supplied pattern compiler and the module type test system, receiving a pattern source file, preparing a pattern object metafile on the basis of the pattern source file by using the object file management framework, and testing the device to be tested, through the test module by using the pattern object metafile.例文帳に追加

ベンダ供給パターンコンパイラとモジュール式試験システムとの間に標準インターフェースを確立するためのオブジェクトファイル管理フレームワークを作成すること、パターンソースファイルを受信すること、オブジェクトファイル管理フレームワークを用いて、パターンソースファイルに基づいてパターンオブジェクトメタファイルを作成すること、及びパターンオブジェクトメタファイルを用いて試験モジュールを通して被試験デバイスを試験する。 - 特許庁

An examinee can have a diagnostic test by the consultation by interview using the personal computer 120 and a diagnostic test including a practice using the operation interface 130 by himself or herself by using the low-cost drive aptitude diagnostic remote consultation terminal, and diagnostic results and advice are output on a display 126 etc., of the personal computer 120 to eliminate the need for administrator's attendance.例文帳に追加

パーソナルコンピュータ１２０を用いた問診による診断テストと、操作インタフェース１３０を用いた実技を含む診断テストを、低コストの運転適性診断遠隔受診端末１１０を用いて受診者が一人で遂行できるとともに、診断結果や助言をパーソナルコンピュータ１２０のディスプレイ１２６等に出力することで、管理者の立ち会い等も不要である。 - 特許庁

To eliminate the effect due to signal delay or waveform distortion caused by connecting a measurement system, such as an LSI tester in an AC test, without enlarging the circuit scale so much, in a semiconductor integrated circuit having a built-in interface circuit for transferring serial data.例文帳に追加

シリアルデータを転送するインタフェース回路を内蔵した半導体集積回路において、回路規模をあまり大きくすることなく、ＡＣテストにおいてＬＳＩテスタ等の測定系を接続することによる信号遅延や波形歪の影響を排除する。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus 1 is provided with a controller 11, a converter 12, and a pin electronics section 13 which functions as an interface to a DUT 40 and tests the DUT 40, on the basis of signals obtained by applying test signals to the DUT 40.例文帳に追加

半導体試験装置１は、制御装置１１、変換装置１２、及びＤＵＴ４０に対するインターフェイスとして機能するピンエレクトロニクス部１３を備えており、ＤＵＴ４０に試験信号を印加して得られる信号に基づいてＤＵＴ４０の試験を行う。 - 特許庁

The interface circuits 2a-2d are provided, corresponding to each of a plurality of function blocks 1a-1d, and a test pattern for measuring a power supply current can be set in all the function blocks 1a-1d from an LSI tester through a single input/output terminal.例文帳に追加

複数の機能ブロック１ａ〜１ｄのそれぞれに対応してインターフェース回路２ａ〜２ｄを設け、ＬＳＩテスタから１つの入出力端子を介して全ての機能ブロック１ａ〜１ｄに電源電流を測定するためのテストパターンを設定できるようにした。 - 特許庁

A heat treatment method irradiates emission light from a Xe flash lamp, which serves as a heat source, to a test sample having an interface of a semiconductor substrate 15 including an insulating film containing oxygen, and Si, while at least part of ultra violet rays in the emission light is removed to carry out heat treatment.例文帳に追加

加熱源となるＸｅフラッシュランプの放出光を、前記放出光の内の紫外線の少なくとも一部を除去した状態で酸素を含む絶縁膜とＳｉを含む半導体基体との界面を有する試料に照射して熱処理を行う。 - 特許庁

To display, at the real time, a scanning electron microscope image of the state of an interface between the side where a load is given and the opposite side or the like, by making inclinable a surface dynamics characteristic test device for testing a surface dynamics characteristic of composite material, and by arranging it in a sample chamber of the scanning microscope.例文帳に追加

複合材料の界面力学特性の試験を行う界面力学特性試験装置を傾斜可能にして走査型顕微鏡の試料室に配置し、荷重をかけた側と反対側の界面などの状態の走査型電子顕微鏡像をリアルタイムに表示する。 - 特許庁

By inputting information data such as the addresses of particular components 12 to 15 inside the satellite 1 via the stub cable 100 and the bus interface connector 10, the ground test unit 2 can control the satellite 1 to the same level as a data processing computer 11.例文帳に追加

地上試験装置２はスタブケーブル１００及びバスインタフェースコネクタ１０を経由して人工衛星１内部の特定のコンポーネント１２〜１５のアドレス等の情報データを入力することで、人工衛星１に対してデータ処理計算機１１と同等の制御が可能である。 - 特許庁

To provide a semiconductor device, in which an increase of a chip area is restricted, failure of a depression type MOS transistor for output of a step-down circuit is prevented, and is capable of realizing an operation lower limit test of an internal circuit that operates by voltage lower than operating voltage of an external interface circuit, and a method of testing thereof.例文帳に追加

チップ面積の増加を抑え、また降圧回路の出力用デプレッション型ＭＯＳトランジスタの破壊を防ぎ、外部インタフェース回路の動作電圧より低い電圧で動作する内部回路の動作下限テストを実現することができる半導体装置、およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a digital control software fault simulation test device for integrating a plant simulation device and a high pressure core spray controller by providing data, and for applying software safety analysis and estimated derived association new fault mode by a hardware input/output module and a deterministic network communication interface.例文帳に追加

ハード入出力モジュールと確定性ネットワーク通信インターフェースにより、データを提供して該プラント模擬装置と該高圧炉心注水制御装置を統合し、ソフト安全解析と推定派生関連新故障モードを応用できるディジタル制御ソフト故障模擬テスト装置を提供する。 - 特許庁

For a line number and a data format type selected during operation of the line interface apparatus, test data is communicated through a path for processing signals of the selected data format type and a non-selected line number and normality of the apparatus is tested for the selected line number and data format type during operation.例文帳に追加

回線インタフェース装置の運用中の選択された回線番号とデータフォーマット種類に対し、選択された運用中の回線番号とデータフォーマット種類に対し、選択データフォーマット種類と非選択回線番号の信号を処理する経路に試験データを疎通させ装置の正常性試験を行う。 - 特許庁

In performing client-server program simulation for a client-server system using CORBA, an interface of a server program to implement on the server side is defined to be an IDL file, the IDL file is read to be lexically analyzed, and, in liaison with the lexical analysis, a client simulator source code for server program load test is generated.例文帳に追加

ＣＯＲＢＡを使用したクライアント・サーバシステムのクライアント・サーバプログラムのシミュレーションを行うにあたって、サーバ側に実装するサーバプログラムのインタフェースをＩＤＬファイルに定義し、該ＩＤＬファイルを読み込んで字句解析を行い、該字句解析と連携しながら、サーバプログラムの負荷試験用クライアントシミュレータソースコードを作成する。 - 特許庁

The PDS control section comprising a subscriber multiplex/ demultiplex part 21, a service multiplex/demultiplex part 22 and a test mode circuit part 23, and an Ethernet interface section comprising an Ethernet (trademark) signal terminating function part 25, a filtering function part 26, an Ethernet packet processing function part 27 and a common control part 28 are made into one chip LSI.例文帳に追加

加入者多重分離機能部２１とサービス多重分離機能部２２とテストモード回路部２３とからなるＰＤＳ制御部、及び、イーサネット（登録商標）信号終端機能部２５とフィルタリング機能部２６とイーサネットパケット処理機能部２７と共通制御部２８とからなるイーサインタフェース部を１チップＬＳＩ化する。 - 特許庁

When a user uses a user interface to instruct automatic adjustment of a plurality of the image readers 10 to a system control means 16, the system control means 16 uses an image read control means 12 to read a prescribed test original from each of the image readers 10 and to obtain image data made to correspond to each image reader 10.例文帳に追加

ユーザがユーザインタフェースによりシステム制御手段１６に複数の画像読取装置１０の自動調整を指示すると、システム制御手段１６は画像読取制御手段１２を用いて所定の試験原稿をそれぞれの画像読取装置１０により読み込み、各画像読取装置１０に対応づけた画像データを得る。 - 特許庁

To provide an image display device which suppresses the occurrence of bubbles in an interface between a transparent adhesive resin sheet and a front plate in a long-term reliability test under high temperature and high humidity, in a manufacturing method of the device in which a transparent filler is closely arranged between a transparent plastic front panel and an image display panel.例文帳に追加

透明プラスチック前面パネルと画像表示パネルの間に透明充填材が密着配置される装置の製造法において、高温高湿下での長期信頼性試験で透明な粘着性樹脂シートと前面板の界面の気泡の発生を抑制する画像表示用装置を提供する。 - 特許庁

To a semiconductor tester 10 for general use constituted with test signal generation means 52, 53, 54 and 55, a data supply means, a data reading means, judging means and a control means 11, a special control signal generation means 12 and an interface means 13 for testing a semiconductor integrated circuit 16 incorporated BIST circuits 31 to 35 are provided.例文帳に追加

試験信号発生手段５２，５３，５４，５５、データ供給手段、データ読出手段、判定手段及び制御手段１１から構成される汎用的な半導体試験装置１０に対してＢＩＳＴ回路３１〜３５を内蔵した半導体集積回路１６を試験するための専用の制御信号発生手段１２及びインターフェイス手段１３を別個設けた。 - 特許庁

In a test-data output part 5, header data from a header-data generating part and data from any from among a counter 51, a fixed-data generating part 6 and an external input terminal 7 are input, and they are output as evaluation data DATA in accordance with the timing signal EN, so as to be supplied to the LSI 10 via a TS interface 9.例文帳に追加

試験用データ出力部５では、ヘッダデータ発生部８からのヘッダデータと、カウンタ５１、固定データ発生部６、外部入力端子７のいずれかからのデータが入力されて、タイミング信号ＥＮに従って評価用データＤＡＴＡとして出力され、ＴＳインタフェース９を介して１３９４ＬＳＩ１０に供給される。 - 特許庁

The flat metallic test pieces of 15×30×2 mm made of different metals and alloys are combined into one using the designed interface, so that the value and direction of the galvanic current in the whole combination can simultaneously be monitored by making under the same condition exposed to the corrosive medium (electrolyte).例文帳に追加

異なる金属及び合金から製造された１５＊３０＊２ｍｍの平らな金属試験片が、設計されたインターフェイスを使用して１つに結合されており、これにより、同一条件下において同一の腐食性媒質（電解質）に対して露出させることにより、組み合わせの全体におけるガルバニック電流の値及び方向を同時に監視可能である。 - 特許庁

A device for evaluating the transmission path environment having a function for configuring a power line communication network comprises an operation terminal having a graphical user interface function for controlling a communication apparatus, and displays communication functions such as an SN ratio, throughput and a success rate of communication as the results of communication test performed in the installation environment in order to construct the power line communication network.例文帳に追加

電力線通信ネットワーク構成機能を備えた伝送路環境評価装置と、通信装置を制御する為にグラフィカルユーザインタフェース機能を備えた操作端末を備え、電力線通信ネットワークを構築するために、設置環境にて通信試験を行った結果としてSN比、スループット、通信成功率などの通信性能を表示する。 - 特許庁

Data collection processed by a baseband processing part is carried out in real time and transmission and reception radio performance evaluation can be immediately performed in the field test mode of the digital modulation and demodulation system 100 mounted on the vehicle by providing an input-output interface part 105 with respect to a data collecting device 107 in a baseband processor 104 of the digital modulation and demodulation system 100.例文帳に追加

ディジタル変復調システム１００のベースバンド処理装置１０４内にデータ収集装置１０７に対する入出力インタフェース部１０５を設けることにより、ベースバンド処理部で処理されたデータ収集がリアルタイムに行われ、り、車両に搭載したディジタル変復調システム１００のフィールド試験時において、即座に送受信無線性能評価が可能になった。 - 特許庁

This digital control software fault simulation test device includes at least a plant simulation (Process) device of program simulation; a controller (Controller) including a high pressure spray substance control and software simulation control (Control Logical Simulation); and an operation interface device for enabling an operator (Operator) to observe a high pressure core sparay controller and special safety control system control.例文帳に追加

少なくとも、プログラム模擬のプラント模擬（Ｐｒｏｃｅｓｓ）装置と、高圧注水実体制御とソフト模擬制御（Ｃｏｎｔｒｏｌ Ｌｏｇｉｃａｌ Ｓｉｍｕｌａｔｉｏｎ）とが含有される制御装置（Ｃｏｎｔｒｏｌｌｅｒ）と、作業者（Ｏｐｅｒａｔｏｒ）が高圧炉心注水制御装置と格別安全制御システム制御を観察するための操作インターフェース装置とが含有される。 - 特許庁

In this semiconductor testing device constituted so that input terminals of the plurality of DUTs are connected in parallel, and that a test signal is applied thereto simultaneously, the plurality of DUTs are mounted on a common DUT interface board, and a wiring pattern distributed in the branched state to the plurality of DUTs is branched at one branch point, and formed so that each length from the branch point to each DUT point is set to be equal.例文帳に追加

複数のＤＵＴの入力端子を並列接続して試験信号を同時に印加するように構成された半導体試験装置において、 前記複数のＤＵＴは共通のＤＵＴインタフェースボードに実装され、前記複数のＤＵＴに分岐配線する配線パターンは１箇所の分岐点で分岐され、この分岐点から各ＤＵＴ点までが等しい長さになるように形成されていることを特徴とするもの。 - 特許庁