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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > normal inspectionの意味・解説 > normal inspectionに関連した英語例文

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normal inspectionの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 332



例文

The inspection result is within the normal range.例文帳に追加

検査結果は正常の範囲内です。 - 旅行・ビジネス英会話翻訳例文

Inspection exceeding normal plan by informing in advance.例文帳に追加

通常計画以外の事前通告による査察 - 特許庁

The vehicle diagnosis device 14 monitors an inspection state, continues the inspection when determining that the inspection state is normal, suspends the inspection when determining that the inspection state is not normal, and then resumes inspection when determining that the inspection state has become normal.例文帳に追加

車両診断装置14では、検査状態を監視し、正常な検査状態であると判定した場合には検査を継続し、正常な検査状態ではないと判定した場合には検査を中断し、その後、正常な検査状態になったと判定した場合には検査を再開する。 - 特許庁

The inspection according to the normal plan is the inspection usually taken according to the plan and in exact specified time.例文帳に追加

通常計画に従った査察は通常、計画に従い正確に指定された期日に行われる。 - 特許庁

例文

To securely and easily identify a faulty inspection point and a normal inspection point.例文帳に追加

不良が生じている検査ポイント、および正常な検査ポイントを確実かつ容易に認識させる。 - 特許庁


例文

To improve the efficiency of inspection by sharing an apparatus in normal lighting inspection and simple lighting inspection and reducing the replacement frequency of components.例文帳に追加

通常点灯検査と簡易点灯検査とで装置の共有化を図って部品の交換頻度を低減して、検査効率を向上させる。 - 特許庁

Accordingly, productivity can be improved by reducing the inspection time by normal lighting, and malfunction by normal use can be prevented.例文帳に追加

これにより、通常点灯による検査時間を短縮して生産性の向上と通常使用時の誤動作の抑制することができる。 - 特許庁

To provide a discharge lamp lighting device capable of reducing inspection time by normal lighting, and capable of preventing malfunction in normal use.例文帳に追加

通常点灯による検査時間の短縮化と通常使用時の誤動作防止を図ることのできる放電灯点灯装置を実現する。 - 特許庁

The inspection exceeding normal plan by informing in advance is the inspection outside the scope of plan when it is necessary but informing must be made in advance.例文帳に追加

事前通告による通常計画以外の査察は必要に応じて行われるが、事前通告がされねばならない。 - 特許庁

例文

To provide a lighting inspection method and a lighting inspection device for liquid crystal panel capable of exactly discriminating a normal pixel from a defective pixel.例文帳に追加

正常な画素と欠陥が発生している画素との判定を正確に行える液晶パネルの点灯検査方法および点灯検査装置を提供する。 - 特許庁

例文

An inspector gathers only the results of decision on whether the individual visual inspection results in the inspection result recording document 10 are normal or abnormal.例文帳に追加

点検員は、その点検結果記録帳票10に個々の目視点検結果が正常か異常かの判定結果だけを収録する。 - 特許庁

A wiring-harness inspection apparatus 1 gives a signal sequentially to terminals 5 of a normal wiring harness 2, and the inspection data is generated.例文帳に追加

ワイヤハーネス検査装置1は正常なワイヤハーネス2の端子5に順に信号を与えて検査データを生成する。 - 特許庁

At the maintenance inspection time of the station business equipment or at the repair time of a failure thereof, a switch 508 is operated to change from a normal operation mode to a maintenance inspection mode.例文帳に追加

駅務機器の保守点検時や故障の修理時には、スイッチ508を操作して通常動作モードから保守点検モードに切り替える。 - 特許庁

A normal circuit 1 and a circuit 2 to be inspected are controlled so that they output the same inspection pattern.例文帳に追加

正常回路1と被検査回路2が同じ検査パターン出力を出すように制御する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device-inspecting method for comparing inspection data in detail in the different inspection temperatures of normal- temperature wafer inspection and high-temperature product shipment inspection, and for supplying a stable yield.例文帳に追加

常温ウエハ検査と高温製品出荷検査の異なる検査温度間での詳細な検査データ比較を行い安定した歩留まりを供給する半導体装置検査方法を提供する。 - 特許庁

An inspection mode setter 101 selectively sets any of a normal inspection mode, a post-JAM treatment inspection mode, and an inspection mode with belt life determination.例文帳に追加

検査モード設定部101が通常検査モード、JAM処理後検査モード、ベルト寿命判定付き検査モードのいずれかを選択的に設定する。 - 特許庁

In this substrate inspection device for inspecting with one surface of a translucent substrate as an inspection surface, a lighting system is disposed on a plane including the inspection surface while an imaging device is disposed in the direction of the normal of the inspection surface.例文帳に追加

透光性を有する基板の一面を被検査面として検査する基板の検査装置において、被検査面を含む平面上に照明装置を配設し、被検査面の法線方向に撮像装置を配設する。 - 特許庁

The inspector inputs all 'normal' or 'abnormal' state data regarding the inspection results of the individual visual inspection items regarding the facility device to the open inspection result managing device 50 together when the visual inspection of the facility equipment is completed.例文帳に追加

点検員は、設備機器の目視点検完了時に一括して設備機器に関する個々の目視点検項目の点検結果に関する「正常」あるいは「異常」の全ての状況データを開放点検結果管理装置50に入力する。 - 特許庁

When inspection of the operation checking board is conducted by the board wiring inspection device, inspection (first inspection) in which the wiring of the prescribed pattern is regarded as normal is conducted to the wiring of the good piece regions, and inspection (second inspection) in which the wiring of the prescribed pattern is regarded as normal is also conducted to the wiring of the defective piece regions.例文帳に追加

そして、動作チェック用基板の検査を基板配線検査装置において行う場合、良ピース領域の配線については、所定パターンの配線を正常な配線と見なして行う検査(第1検査)が実施され、不良ピース領域の配線についても、所定パターンの配線を正常な配線と見なして行う検査(第2検査)が実施される。 - 特許庁

A detecting coil 5 is arranged so that its normal axis is perpendicular to an inspection surface (flat surface) of a test body 6, and an exciting coil 4 is arranged on it so that normal axis is horizontal to the inspection surface using a permanent magnet 3 as a core.例文帳に追加

検出コイル5は法線軸が試験体6の検査面(平面)に垂直となるように配置し、その上に、励磁コイル4は永久磁石3をコアとして法線軸が検査面に水平となるように配置する。 - 特許庁

By making the competitive learning type neutral network 10a learn on the basis of the feature quantity obtained from the normal inspection target X, the inspection target X is decided as being abnormal, when the membership degrees deviate from normal.例文帳に追加

競合学習型ニューラルネットワーク10aを正常な検査対象Xから得られた特徴量で学習させておけば、帰属度が正常から逸脱するときに、検査対象Xに異常があると判定することができる。 - 特許庁

An operation mode of a service control device 21 includes a normal mode for providing normal service, and an inspection mode different from the normal mode.例文帳に追加

運行制御装置21の運転モードには、通常のサービスを提供するための通常モードと、通常モードとは異なる検査モードとが含まれている。 - 特許庁

(2) The evaluation device 50 of flow of an reactant gas in the fuel cell has an inspection gas entrance 53 provided between the entrance and exit of the normal reactant gas and an inspection gas detection part 54 provided between the entrance and exit of the normal reactant gas, and an inspection gas measurement means 56 connected to it.例文帳に追加

(2)正規の反応ガスの入口と出口との間に設けた検査ガス入口53と、正規の反応ガスの入口と出口との間に設けた検査ガス検出部54とそれに接続された検査ガス測定手段56とを、有する燃料電池内の反応ガスの流動の評価装置50。 - 特許庁

To provide an interlocking inspection device in which the number of wires among equipment used for interlocking inspection is small, and the interlocking logical data confirmed to be normal by the interlocking inspection can be used for the actual operation without any change.例文帳に追加

連動検査に用いる機器の間の配線が少なく、連動検査により正常が確認された連動論理データをそのまま実際の運行に使用することができる連動検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method where a normal burn-in inspection is performed and vain power may be reduced upon inspection and a semiconductor integrated circuit used therefore.例文帳に追加

正常なバーンイン検査を行うとともに、検査時の無駄な電力を削減できる検査方法、およびこれに用いられる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

To provide a surface inspection apparatus for performing a precise inspection based on a high-magnification image as needed while performing a normal high-speed inspection.例文帳に追加

通常は高速な検査を行いながら、必要に応じて高倍率の画像に基づく高精度な検査を行うことが可能な表面検査装置を提供する。 - 特許庁

An inspection section 48 executes an inspection and a voice output section 50 outputs a first voice message indicating a normal state or a failure occurrence as the inspection result and a second voice message indicating failure information.例文帳に追加

点検部48は点検を実行し、音声出力部50は点検結果として正常又は障害発生を示す第1の音声メッセージと障害内容を示す第2の音声メッセージを出力する。 - 特許庁

To perform an inspection in consideration of a distribution of a normal product group concerning an image inspection method and an image inspection device for inspecting a quality of an image of an inspected product by using a mahalanobis distance.例文帳に追加

マハラノビス距離を用いて被検査製品の画像の良否検査を行う画像検査方法、画像検査装置において、正常製品群の分布を考慮した検査を行うことができるようにする。 - 特許庁

To provide a method of performing highly reliable inspection by: correcting displacement depending upon inspection temperature when electric characteristics are inspected at predetermined inspection temperature; and bringing a stylus tip of a probe terminal into normal contact with an electrode of a semiconductor element.例文帳に追加

電気的特性検査を所定の検査温度で行う場合、検査温度による変位を補正し、プローブ端子の針先と半導体素子の電極とを正常に接触させて、信頼性の高い検査を行う方法の提供。 - 特許庁

To provide a tube inspection method by an ultrasonic flaw detection method which enables the detection of the flaw part of a thin-walled inspection target and capable of measuring even the wall thickness of a normal part, and a tube inspection system by the ultrasonic flaw detection method.例文帳に追加

薄肉の被検物の欠陥部を検出でき、且つ正常部の肉厚をも測定できる、超音波探傷法によるチューブ検査方法及び超音波探傷法によるチューブ検査システムを提供する。 - 特許庁

Snow accumulation on the floor surface is prevented by making the inspection stand the upright state in normal time, and the labor for removing snow of the inspection stand can be reduced by using the stand in the sideways state in the case of inspection or maintenance work or the like.例文帳に追加

そして、通常時は点検台を起立状態とすることで床面に積雪するが防止され、点検時や保守時等の作業時には、横倒状態にして使用することで点検台の除雪作業の労力を軽減することができる。 - 特許庁

A selection circuit 210 electrically separates the first wire L1 from the second wire L2 and an inspection terminal T1 during a normal time, and electrically connects the first wire L1 and the second wire L2 to the inspection terminal T1 during an inspection time.例文帳に追加

選択回路210は、通常時において第1配線L1と第2配線L2及び検査端子T1を電気的に分離し、検査時において第1配線L1、第2配線L2及び検査端子T1を電気的に接続する。 - 特許庁

A data update part 160 for inspection control changes specific standards to strict standards which are narrower in non-defect range, when there is a specific number of inspection objects that the inspection device has judged to be defective and the repair operator has judged to be normal.例文帳に追加

検査制御用データ更新部160は、検査装置は異常と補修作業者は正常と判断した検査対象物が所定数あるときは所定基準を正常範囲が狭くなるような厳格な基準に変更する。 - 特許庁

Also, the mode is shifted to the normal mode after completion of inspection, and the sensor unit is configured so that whether the radio wave transmitting function is effectively maintained or stopped after completion of inspection can be selected before inspection.例文帳に追加

また、検査終了後、通常モードに移行させるとともに、検査前に、検査終了後に電波送出機能を有効に維持させるか、停止させるかを選択できるようにする。 - 特許庁

To provide a sensor unit inspection device capable of enhancing precision of inspection, and capable of eliminating labors and times of resetting an inspection device to execute reinspection, in order to prevent a normal article from getting defective.例文帳に追加

検査の精度を高めることができるとともに、正常品が不合格になるのを防止するために、検査装置に対するセットをやり直して再検査を行う手間をなくすことができるセンサーユニット検査装置を提供する。 - 特許庁

After the setting of the inspection slicing value corresponding to the effective lead core width, an inspection track written in a magnetic disk medium by the inspection head 1 is read, a reproducing output is compared with the inspection slicing value by a comparator 3, and the normal state of the magnetic disk medium is determined, based on the result of the comparison.例文帳に追加

実効リードコア幅に対応した検査スライス値が定まったら、上記検査ヘッド1により磁気ディスク媒体に書き込んだ検査用トラックをリードし、比較器3により再生出力と上記検査スライス値とを比較して、該比較結果に基づき磁気ディスク媒体の良否を判定する。 - 特許庁

In addition to a function of outputting an inspection result about the quality (normal/abnormal) of an inspection target by using a binarization part 15 for comparing an inspecting signal with a reference value, a defect inspection system 10 includes a diagnostic function (self-diagnosis function) for the quality of the defect inspection system 10 itself.例文帳に追加

検査用信号を基準値と比較する2値化部15を用いて検査対象物の良否(正常/異常)の検査結果を出力する機能に加えて、欠陥検査システム10自体の良否の診断機能(自己診断機能)を持たせる。 - 特許庁

In a Pachinko machine, the inspection subject devices such as a normal winning switch 11a are connected to the main control board 25 through inspection subject relay boards 36 and 40, while the non-inspection subject devices such as a plurality of lamps 8a-8k are connected to the main control board 25 through non-inspection subject relay boards 35 and 39.例文帳に追加

パチンコ機では、普通入賞スイッチ11a等の検査対象装置が検査対象中継基板36,40を介して主制御基板25に接続される一方、複数のランプ8a〜8k等の非検査対象装置が非検査対象中継基板35,39を介して主制御基板25に接続される。 - 特許庁

To provide an inspection method and an inspection device for inspecting the quality of the shielding film of a magneto-resistance effect head which can detect a MR head, where inspection could not be performed completely by conventional inspection by normal magnetization, and for a shielding magnetic section that is liable to change.例文帳に追加

従来の通常着磁による検査では、完全に検出することのできなかったシールド磁区の変化しやすいMRヘッドの検出が可能となる磁気抵抗効果ヘッドのシールド膜の品質を検査する検査方法および検査装置を提供する。 - 特許庁

In a pachinko machine, while the inspection object devices such as a normal winning switch are connected through inspection object relay substrates to the main control substrate, the non-inspection object devices such as plural lamps 8a-8k are connected through non-inspection object relay substrates 35 and 39 to the main control substrate 25.例文帳に追加

パチンコ機では、普通入賞スイッチ11a等の検査対象装置が検査対象中継基板36,40を介して主制御基板25に接続される一方、複数のランプ8a〜8k等の非検査対象装置が非検査対象中継基板35,39を介して主制御基板25に接続される。 - 特許庁

The electric pressure cooker has an inspection setting means 18 for setting an inspection mode for inspecting the temperature inside of the pressure container and an inspection action storing means 26 storing the processing procedure of the inspection action, the control means 19 is constituted so as to do heating control other than normal cooking in the case where the inspection mode is selected by the inspection setting means 18.例文帳に追加

圧力容器内の温度を検査する検査モードに設定する検査設定手段18と、検査動作の処理手順を記憶している検査動作記憶手段26とを有し、制御手段19は、検査設定手段18により検査モードが選択された場合、通常調理とは異なる加熱制御をするよう構成する。 - 特許庁

To provide a convenient lighting device capable of shifting to a normal mode right after completing inspection without being restrained by an inspection time in an inspection mode for easily performing operation confirmation in a manufacturing process and at an installing site and selecting an operation mode fit to an intention of a user without carelessly shifting to the inspection mode during a normal operation and raising a sense of security of the user.例文帳に追加

製造工程や設置現場で動作確認を容易に実施するための点検モードにおいて、点検時間に制約されることなく、また、点検完了次第直ちに通常モードへ移行できるとともに、通常の使用中には不用意に点検モードへ移行せず使用者の意志に即した動作モードを選択することができ、使用者の安心感を高め、使い勝手の良い照明装置を提供する。 - 特許庁

The normal operation precharge circuit and the inspection precharge circuit are connected to the same power supply voltage.例文帳に追加

通常動作用プリチャージ回路と検査用プリチャージ回路とは、同一の電源電圧に接続される。 - 特許庁

A first processing unit 1 is provided with a first learnt neural network 101, to classify inspection object signals into normal signals and the other signals.例文帳に追加

第1処理部1は、学習済みの第1のニューラルネットワーク101を備え検査対象信号を正常と正常以外とに分類する。 - 特許庁

And output voltage measured in the write inspection mode is compared with output voltage measured in a normal mode.例文帳に追加

そして、書き込み検査モードで測定した出力電圧と通常モードで測定した出力電圧とを比較する。 - 特許庁

That is, normal pixels reach a black level in the inspection images, and the signal level is greatly different from those of the noise parts.例文帳に追加

即ち、検査画像では、正常な画素が黒レベルとなり、ノイズの部分だけ信号レベルが大きく異なるものとなる。 - 特許庁

To provide an operation confirmation switch inspection method for a passenger conveyor with wheelchair conveyance that confirms a normal operation of a special step.例文帳に追加

特殊踏段が正常に動作していることを確認する車いす運搬を有する乗客コンベアの動作確認スイッチ点検方法の提供。 - 特許庁

Automatic inspection is performed with PC 12 on whether ECU processing result generated by ECU 22 is normal or not on the basis of the pseudo sensor signal.例文帳に追加

その疑似センサ信号に基づいてECU22が生成するECU処理結果が正常であるか否かをPC12により自動検査させる。 - 特許庁

To cause sensors to contact and to be substantially normal or perpendicular to the surfaces of structures to be inspected in order to improve inspection accuracy.例文帳に追加

検査精度を改善するために、センサを検査すべき構造物の表面に接触させ、その表面に対して実質的に垂直又は直角にする。 - 特許庁

例文

To provide an inspection support device for a semiconductor chip which can inspect a normal chip without making it inoperable at the time of performing pair measurement.例文帳に追加

ペア測定を行う際、正常チップを動作不良とすることなく検査することができる半導体チップ検査支援装置を提供すること。 - 特許庁

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