「phase microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

This charge density wave quantum phase microscope is constructed by using a probe 12 made of a charge density wave crystal.例文帳に追加

電荷密度波結晶からなる探針１２を用いて電荷密度波量子位相顕微鏡を構成する。 - 特許庁

Semiconductor ultrafine particles having reinforced compatibility with the specific phase in a phase separation system are allowed to coexist in the phase separation system, and the semiconductor ultrafine particles are detected by a confocal microscope.例文帳に追加

相分離系における特定の相への相溶性が増強された半導体超微粒子を該相分離系に共存せしめ、共焦点顕微鏡により該半導体超微粒子を検出する。 - 特許庁

When analyzing and processing the polymer, polymer phase-data is obtained by using a non-contact mode of an atomic force microscope.例文帳に追加

ポリマーの解析処理を行うとき、原子間力顕微鏡の非接触モードを用いてポリマーの位相データを取得する。 - 特許庁

To provide a charge density wave quantum phase microscope and a charge density wave quantum interferometer for actively utilizing macroscopic quantum phase information on a charge density wave.例文帳に追加

電荷密度波の巨視的量子位相情報を積極的に活用した電荷密度波量子位相顕微鏡及び電荷密度波量子干渉計を提供する。 - 特許庁

To provide an operating method at a high temperature, of an electron microscope, and the electron microscope, capable of stably setting a sample and efficiently heating the same with respect to high temperature properties such as phase transformation and phase transition required in the development of a heat-proof material.例文帳に追加

耐熱材料の開発において要求される相変態および相転移などの高温物性について、試料を安定に設定でき、効率よく加熱できる電子顕微鏡の高温での運転方法とその電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a phase difference electron microscope including a phase plate which is used for an electron microscope and gets around problems that spacial frequency information of an observed specimen is lost, and minimizes effect of charge of an insulation film.例文帳に追加

電子顕微鏡に用いられる位相板において、観察試料の空間周波数情報が欠損する問題を回避し、かつ絶縁膜の帯電の影響を最小限にすることのできる位相板を備えた位相差電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

In particular, a dispersion staining method in which asbestos crystals are visually searched by using a phase-contrast microscope, can be assisted by this method.例文帳に追加

特に、アスベスト結晶を位相差顕微鏡によって目視観察により探索する分散染色法を補助することもできる。 - 特許庁

To provide a control device of a transmission electron microscope which can facilitate alignment of a transmitted wave and a through-hole of a phase plate.例文帳に追加

透過波と位相板の貫通孔との間のアライメントを容易化できる透過電子顕微鏡の制御装置を提供する。 - 特許庁

To provide a phase-contrast microscope in which contrast is easily and smoothly set and also properly adjusted.例文帳に追加

コントラストを容易且つスムーズに設定できて、しかも適宜調整することができるようにした位相差顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To provide a transmission electron microscope observation sample preparing method for a solid phase reactive sample and a charged particle beam device.例文帳に追加

固相反応試料の透過電子顕微鏡観察用試料作製方法および荷電粒子ビーム装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method to easily measure phase difference by using a scanning atomic force microscope(AFM) without peeling a resist 1 during manufacturing a Levenson type phase shift mask, and to provide a method for manufacturing phase shift mask such that the manufacture process of a Levenson phase shift mask can be significantly reduced by using the above method for measuring the phase difference.例文帳に追加

レベンソン位相シフトマスクの製造途中にレジスト１を剥離せずに、走査型原子間力顕微鏡(AFM)を用いて簡便に位相差を測定する方法を提供し、この位相差測定方法を用いてレベンソン位相シフトマスクの製造プロセスを大幅に短縮することが可能になる位相シフトマスク製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a phase plate of an electron microscope which minimizes shielding of an electron wave and prevents effect of charge of an insulation film without using an advanced manufacturing technology, and provide a phase difference electron microscope which does not require significant change and addition of an optical element.例文帳に追加

電子波の遮蔽を極小化し、かつ絶縁膜の帯電の影響を回避できる電子顕微鏡の位相板を高度な製造技術を利用せずに提供し、光学要素を大幅に変更・追加必要としない位相差電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

By measuring the phase transition temperature of the compound (XA-1) with a texture observation by using a polarizing microscope, in the time of elevating temperature, it shows a smectic phase from 101 to 133°C, and also shows a nematic phase from 133 to 146°C.例文帳に追加

得られた化合物（ＸＡ−１）の相転移温度を偏光顕微鏡によるテクスチャー観察によって行うと、昇温時において、１０１℃から１３３℃までスメクチック相を呈し、１３３℃から１４６℃までネマチック相を呈する。 - 特許庁

The method for evaluating the fatigue of a solder junction containing Sn as a main component includes the steps of enlarging a cut section of the junction by an electron microscope, measuring a phase size (d) of an Sn phase 20 and an Ag_3Sn phase 22, and biquadrating the measured value (d) to a phase growth evaluating parameter S.例文帳に追加

Ｓｎを主成分とするはんだの接合部の疲労評価方法において、はんだ接合部の切断面を電子顕微鏡により拡大して、Ｓｎ相２０やＡｇ_３Ｓｎ相２２の相寸法ｄを測定し、この測定値ｄを４乗して相成長評価パラメータＳとする。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for identifying and inspecting a simple easy phase object image, whereby a wide, deep measurement visual field is provided and a phase difference interference image is sharply obtained in the place of conventional phase difference microscope used for observing a phase object such as a biological cell.例文帳に追加

生体細胞のような位相物体の観察に用いられてきた従来の位相差顕微鏡に代わって、広くて深い測定視界を持ち、位相差の干渉画像が鮮明に得られる、単純で簡便な位相物体画像の識別、検査の方法と装置を提供する。 - 特許庁

METHOD AND APPARATUS FOR PHASE COMPENSATION OF POSITION SIGNAL AND DETECTION SIGNAL IN SCANNING MICROSCOPIC METHOD AND SCANNING MICROSCOPE例文帳に追加

走査型顕微鏡法における位置信号および検出信号の位相補正のための方法ならびに装置および走査型顕微鏡 - 特許庁

To provide an interference microscope capable of quantitatively detecting the phase distribution of an object to be checked with a simple device constitution.例文帳に追加

簡易な装置構成でありながら、被検物の位相分布を定量的に検出することのできる干渉顕微鏡を提供する。 - 特許庁

This optical deflection unit 5 is insertably and removably disposed within the optical paths of the vertically illuminating light projection tube, differential interference microscope and polarizing microscope, by which the inexpensive vertically illuminating light projection tube, differential interference microscope and polarizing microscope capable of making the sharp color observation can be achieved without providing the space and mechanical structure for arranging the phase plate 2, such as the sharp color plate.例文帳に追加

この光偏向ユニット５を落射投光管、微分干渉顕微鏡、偏光顕微鏡の光路内外に挿脱可能に備えることで、安価で、鋭敏色板等の位相射板を配置するスペースやメカ構造を設けることなく鋭敏色観察を行うことが可能な落射投光管、微分干渉顕微鏡、偏光顕微鏡を達成することができる。 - 特許庁

The water developable photosensitive flexographic printing plate has a phase structure having ≥3 distinguishable phases when a section of the plate is observed with a horizontal force (frictional force) microscope as a kind of scanning type probe microscope.例文帳に追加

走査型プローブ顕微鏡の一種である水平力(摩擦力)顕微鏡で断面を観察した場合、識別可能な相が三相以上ある相構造を特徴とする水現像型感光性フレキソ印刷版。 - 特許庁

In this method, a micro phase separation structure film is irradiated with normal-pressure plasma, and the film is etched up to a part allowing confirmation of the micro phase separation structure, and then the surface is observed by an atomic force microscope (AFM), to thereby confirm the micro phase separation structure.例文帳に追加

ミクロ相分離構造膜に、常圧プラズマを照射し、ミクロ相分離構造が確認可能な部分まで膜をエッチングした後、表面を原子力間顕微鏡（ＡＦＭ）で観察することによりミクロ相分離構造を確認する方法である。 - 特許庁

Accordingly, an objective phase ring effective for enabling wavelength-specific phase microscopy may not interfere with normal usage of the microscope for other applications such as, for example, fluorescence microscopy.例文帳に追加

それ故、波長特異的位相顕微鏡検査を可能にするために有効な対物位相リングは、例えば、蛍光顕微鏡検査のような他の適用のための顕微鏡の一般的な使用法を阻害しない。 - 特許庁

To provide a microscope constituted so that the different kinds of observation methods such as the phase difference observation method and the bright visual field observation method can be quickly switched.例文帳に追加

位相差観察と明視野観察等の異なる種類の観察方法を、迅速に切り替えることができる顕微鏡を提供する。 - 特許庁

This microscope is provided with a light source 17 emitting coherent light and a polarization variable element 18 changing the phase difference of x-polarization and y-polarization of the light.例文帳に追加

可干渉光を発する光源１７と、この光のｘ偏波とｙ偏波の位相差を変える偏波可変素子１８とを有する。 - 特許庁

To provide a device which detects, in a short period of time, a quantity of phase change of an observation object from a differential interference image obtained by a differential interference microscope.例文帳に追加

観察物体の位相変化量等を微分干渉顕微鏡により得た微分干渉画像から短時間で検出する装置を提供する。 - 特許庁

When analyzing the composite material by using the atomic force microscope, data of the phase delay of the composite material acquired by using a noncontact mode of the atomic force microscope are acquired under the condition of at least two set temperatures.例文帳に追加

複合材料を原子間力顕微鏡を用いて解析するとき、少なくとも２つの設定温度の条件下、原子間力顕微鏡の非接触モードを用いて得られる複合材料の位相遅れのデータを取得する。 - 特許庁

In the section observed with the horizontal force microscope, the area proportion of the phase having the lowest horizontal force is ≥5% and that of the phase having the highest horizontal force is ≥10%.例文帳に追加

断面を水平力顕微鏡で観察した場合、水平力が最も低い相の面積率が５％以上、最も水平力が高い相が10％以上である前記 記載の水現像型感光性フレキソ印刷版。 - 特許庁

A camera 104 images an image (phase contrast image) in a cell culture container A, which is observed by using a phase-contrast microscope for observing floating cells being cultured in the cell culture container A and acquires the image.例文帳に追加

カメラ１０４は、細胞培養容器Ａ内で培養されている浮遊細胞を観察するための位相差顕微鏡を用いて観察した細胞培養容器Ａ内の画像（位相差画像）を撮像して取得する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a halftone phase shift mask by which no correction scum of a residual defect is left when the residual defect of a halftone phase shift mask is removed by using an AFM (atomic force microscope) correcting device.例文帳に追加

ハーフトーン型位相シフトマスクの残留欠陥をＡＦＭ型修正機を用いて除去する際、残留欠陥の修正カスを残さないハーフトーン型位相シフトマスクの製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

This transmission electron microscope is provided with a phase plate 8 for generating a phase difference between an electron beam passing through a predetermined region including a rear focal point of an object lens 6 and an electron beam passing through a region excluding the predetermined region.例文帳に追加

対物レンズ６の後焦点を含む所定の領域を通過する電子線と、前記所定の領域外の領域を通過する電子線との間に位相差を生じさせる位相板８を備える。 - 特許庁

The microscope sample 10 has a resin-made phase body 11 having an unevenness pattern 16 of predetermined size in a predetermined shape and support members 12 and 13 which support the phase body.例文帳に追加

本発明の顕微鏡標本１０は、予め定めた形状および寸法の凹凸パターン１６を有する樹脂製の位相物体１１と、前記位相物体を支持する支持部材１２,１３とを備えたものである。 - 特許庁

The thermoplastic resin composition is obtained by compounding 15-50 wt.% polyamide resin (a) and 50-85 wt.% polylactic acid resin (b), and forming a phase structure, wherein, in resin phase separation structure observed by an electron microscope, the polyamide resin (a) forms a continuous phase and the polylactic acid resin (b) forms a continuous phase or a dispersed phase.例文帳に追加

ポリアミド樹脂（ａ）１５〜５０重量％およびポリ乳酸樹脂（ｂ）５０〜８５重量％を配合してなる熱可塑性樹脂組成物であり、かつ電子顕微鏡で観察される樹脂相分離構造においてポリアミド樹脂（ａ）が連続相、ポリ乳酸樹脂（ｂ）が分散相または連続相となる相構造を形成することを特徴とする熱可塑性樹脂組成物。 - 特許庁

Also, the microscope device 1 modulates the phase of a laser beam with the phase modulation type SLM5 arranged at the pupil conjugate position of an object lens 13 and irradiates a sample surface SP through the object lens 13 with the laser beam.例文帳に追加

さらに、顕微鏡装置１は、対物レンズ１３の瞳共役位置に配置された位相変調型ＳＬＭ５でレーザ光の位相を変調して、対物レンズ１３を介して標本面ＳＰ上にレーザ光を照射する。 - 特許庁

Further, by performing cooling at a cooling rate equal to or higher than water cooling from the temperature range of from a β transformation point -100°C to a β single phase region upper limit, an optical microscope structure has 45% or less of pro-eutectoid α phase.例文帳に追加

さらに、β変態点−１００℃からβ単相域上限の温度範囲より水冷以上の冷却速度で冷却することにより、光学顕微鏡組織の初析α相が４５％以下であることを特徴とする。 - 特許庁

An observed image of the phase-difference microscope is analyzed to regard as an optimum focus point the position where the sizes and number of images of an observed solid body are maximum.例文帳に追加

位相差顕微鏡の観測像を画像解析して、観測される個体の像影の大きさおよび像影の個数が最大となる位置を最適フォーカス位置とした。 - 特許庁

To obtain an observation image having higher image quality, when an optical element capable of controlling the amplitude and phase of light independently is used for a scanning microscope.例文帳に追加

光の振幅と位相を独立して制御可能な光学素子を走査型顕微鏡に用いる場合に、より画質のよい観察画像を得ることができるようにする。 - 特許庁

In a microscope device 1, the beam diameter of a laser beam emitted from a titanium sapphire laser 2 is varied by a beam diameter varying optical system 3 to irradiate a phase modulation type SLM5.例文帳に追加

顕微鏡装置１は、チタンサファイアレーザ２から射出されたレーザ光のビーム径をビーム径可変光学系３で可変して、位相変調型ＳＬＭ５に照射する。 - 特許庁

To provide a sample holder of a transmission electron microscope capable of correcting astigmatism without requiring a standard sample even if the sample is that of a crystal phase only.例文帳に追加

結晶相のみの試料であっても標準試料を要することなく非点収差の補正が可能な、透過型電子顕微鏡の試料ホルダーを提供する。 - 特許庁

To control electrification of a thin film phase plate, minimize the influence even when it is electrified, enhance the contrast in electron microscope image, and remove the distortion of an image.例文帳に追加

薄膜位相板において帯電を制御し、また帯電してもその影響を最小化して電子顕微鏡像のコントラストを高めかつ像の歪をとり除く。 - 特許庁

The electron microscope performs adjustment and deletion of phase differences due to differences of electron beam paths, generated at focusing or image formation of the electron beams by a lens.例文帳に追加

本発明は、電子線をレンズにより収束もしくは結像する際に生じる、電子線経路の差により生じる位相差を調整し、その差をなくすことに関する。 - 特許庁

To provide an interference microscope which makes it possible to obtain a phase state of light to be subjected to interference in an object region and makes it possible to easily adjust (or control) the interference microscope at a low cost in accordance therewith and a method of operation for the same.例文帳に追加

物体領域において干渉を行う光の位相状態を求めることを可能にし、それに基づいて干渉顕微鏡の容易かつ低コストの調節（ないし制御）が可能となる干渉顕微鏡及びその作動方法を提供すること。 - 特許庁

To solve a problem that, in a charged particle beam microscope applying a phase retrieval method, a restructured image size to be restructured by phase retrieval and a sample area size contained in a diffraction image used do not conform by observation condition and it takes time for calculation.例文帳に追加

位相回復法を適用した荷電粒子顕微鏡では、観察条件により、位相回復で再構成される再構成像サイズと、用いた回折像に含まれる試料領域サイズとが一致しなくなる、また、計算に時間が掛かる。 - 特許庁

To provide a polariscopic phase microscope that precisely observes a specimen, and more specifically, observes a structure and change of a physiological cell by using a phase contrast of light passing through components of the physiological cell.例文帳に追加

本発明は、標本を精密に観察するための偏光位相顕微鏡に関し、より詳くは、生体細胞の構成要素を通過する光の位相差を用いて生体細胞の構造および変化を観察することが可能な偏光位相顕微鏡に関する。 - 特許庁

A system and method of generating a phase contrast microscope images without interfering with the intensity and optical quality of other microscopy modalities employ wavelength-specific illumination and attenuation strategies for phase microscopy applications.例文帳に追加

強度および他の顕微鏡検査様式の光学的な質を阻害することなく位相差顕微鏡画像を生成するシステムおよび方法は、位相顕微鏡検査適用のための波長特異的な照明ストラテジーおよび減衰ストラテジーを用いる。 - 特許庁

From the observation of the structure under a scanning electron microscope, a target material for deposition of an optical recording medium protective layer has a structure which consists of, in the ratio to the whole, 4-20 mass % SiO2 constituting a network continuous phase and the balance essentially ZnS distributed as a disperse phase filling the meshes of the continuous phase.例文帳に追加

光記録媒体保護層形成用ターゲット材が、走査型電子顕微鏡による組織観察で、全体に占める割合で４〜２０質量％のＳｉＯ_2が網目状連続相を構成し、残りが実質的に前記連続相の網目を埋めた分散相として分布するＺｎＳからなる組織を有する。 - 特許庁

The resinous structure comprises a resin composition consisting of 5-80% by volume of a polyketone resin and 95-20% by volume of a polyolefin resin and has a phase structure, as a resin phase-separating structure observed with an electron microscope, in which structure the polyolefin resin is of a continuous phase and the polyketone resin is of a beltlike dispersed structure.例文帳に追加

（ａ）ポリケトン樹脂５〜８０容量％及び（ｂ）ポリオレフィン樹脂９５〜２０容量％からなる樹脂組成物であり、電子顕微鏡で観察される樹脂相分離構造として、ポリオレフィン樹脂が連続相、ポリケトン樹脂が帯状分散相である相構造を有する樹脂構造体とする。 - 特許庁