「phase microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a microscope sample which makes it efficient and accurate to evaluate the performance of a microscope using a differential interference contract method and a phase difference contrast method and also measure the size of the microstructure of a transparent living body sample as an object to be observed, and its manufacturing method.例文帳に追加

微分干渉コントラスト法や位相差コントラスト法を用いた顕微鏡の性能の評価や、観察対象である透明な生物標本の微細構造の大きさ測定を効率良くかつ正確に行うことができる顕微鏡標本、およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

The cross section of chemically treated hair, which is obtained by twice treating hair with a commercial high bleaching agent, and that of treated hair obtained by treating hair with a 2% amino acid aqueous solution are respectively measured by an atomic force microscope to obtain an amplitude image shown in Fig.1 and a phase image shown in Fig.2.例文帳に追加

毛髪を市販のハイブリーチ剤で２回ブリーチ処理を行った化学処理毛と、更に２％アミノ酸水溶液で処理したトリートメント処理毛との断面を、それぞれ、原子間力顕微鏡で測定し、図１に示すamplitude像と、図２に示すphase像とを得た。 - 特許庁

The resin structure is constituted by a resin composition substantially comprising (a) a polyester resin and (b) a polyphenylene sulfide resin(PPS resin) at a specific ratio and, simultaneously, the PPS resin layer being allowed to have a special structure such as a continuous phase and a belt-shaped dispersion phase as the resin phase separation structure to be observed in the resin composition by an electron microscope.例文帳に追加

特定比の実質的に（ａ）ポリエステル樹脂及び（ｂ）ポリフェニレンスルフィド樹脂（ＰＰＳ樹脂）からなる樹脂組成物で構成され、かつ、該樹脂組成物中に電子顕微鏡で観察される樹脂相分離構造としてＰＰＳ樹脂層が連続相や帯状分散相等の特殊な構造を持った樹脂構造体とする。 - 特許庁

This composition has an initiation temperature of phase difference increase (Ts) measured using a scanning viscoelasticity microscope of not lower than 25°C, and this sheet having an easily formable surface is prepared by processing the resin composition into a sheet form.例文帳に追加

走査粘弾性顕微鏡を用いて、測定される位相差増大開始温度Ｔｓが２５℃以上である組成物、及び該樹脂組成物をシート状に加工してなる易表面賦形性シート。 - 特許庁

To detect the information of a phase delay even if a plurality of kinds of polymers are in rubber states, when analyzing a composite material including the plurality of kinds of polymers by using an atomic force microscope.例文帳に追加

複数種類のポリマーを含む複合材料を、原子間力顕微鏡を用いて解析する際、複数種類のポリマーがゴム状態にある場合でも位相遅れの情報を検出する。 - 特許庁

In morphological observation of the membrane cross-section by an electron microscope, the width of the lamella structure composed of the polymer segment (B) to form the micro-phase separation structure shows that it is in the range of 5-200 nm.例文帳に追加

膜断面の電子顕微鏡によるモルフォロジー観察において、ミクロ相分離構造を形成するポリマーセグメント（Ｂ）からなるラメラ構造の幅が、５〜２００ｎｍの範囲にあることを示す。 - 特許庁

To provide an observation technology by a phase retrieval type electron microscope, making the intensity distribution of a parallel electron beam with a microscopic diameter in measuring a real image and an electron diffraction pattern bright and uniform.例文帳に追加

実像と電子回折像を測定する際の微小径かつ平行な電子線を、明るくかつ均一な強度分布にする位相回復方式の電子顕微鏡による観察技術を提供する。 - 特許庁

To provide an observation method for a microstructure of a polymeric material capable of analyzing a phase separation structure, a lamellar structure and an oriented state of a crystal of the polymeric material by a scanning electron microscope.例文帳に追加

走査型電子顕微鏡により高分子材料の相分離構造、ラメラ構造および結晶の配向状態を解析することが可能な高分子材料の微細構造の観察方法を提供する。 - 特許庁

To provide a microscope by which a phase object or the ruggedness of a surface can be observed at comparatively low image formation power ≤4 times in a wide observation range and in a comparatively narrow range of spatial frequency distribution.例文帳に追加

結像倍率４倍以下の比較的低倍率で広い観察範囲で、空間周波数分布が比較的狭い範囲で、位相物体や表面の凹凸の観察を可能にする顕微鏡。 - 特許庁

A Hilbert phase microscope is used to obtain parameters such as shape and volume for each frame, from high-resolution phase information relating to a transparent object, and quantify dynamical changes at a nanometer order resolution on the basis of a lot of images obtained on the millisecond time scale.例文帳に追加

ヒルベルト位相顕微鏡を使用し、透光性物体に関連した高解像度位相情報から、一フレーム毎の形状、体積のようなパラメータを得、ミリ秒の時間スケールで取得した多数の画像をもとに、ダイナミックな変動をナノメートルオーダーの分解能で定量化する。 - 特許庁

To perform wave front correction for preventing an obtained image from becoming unclear by phase fluctuation such as the fluctuation of a medium in an optical path in video equipment such as a microscope, a telescope and a camera in real time by an optical write type liquid crystal space phase modulation element.例文帳に追加

顕微鏡、望遠鏡、カメラ等の映像機器において、光路中の媒質のゆらぎ等の位相変動により、得られた像が不鮮明となることを防止する波面補正において、光書き込み型液晶空間位相変調素子により実時間で行うようにする。 - 特許庁

The method of evaluating the vapor deposition film measures a phase change by scanning vibratingly a probe of an atomic force microscope on a vapor deposition film surface of an optical member having the vapor deposition film on a base material, and evaluates the vapor deposition film, based on the measured phase change.例文帳に追加

基材上に蒸着膜を有する光学部材の該蒸着膜表面上で、原子間力顕微鏡の探針を振動させながら走査して位相変化を測定し、測定された位相変化に基づいて前記蒸着膜を評価する蒸着膜評価方法。 - 特許庁

To provide ionic fine particles having characteristics of both of water-insoluble ionic particles and a water-soluble crosslinked polymer, invisible by an ordinary optical microscope and visible by a phase contrast microscope and having ionic character of cationic or amphoteric character, and to provide application of the same.例文帳に追加

水不溶性のイオン性粒子と水溶性架橋ポリマーの双方の特徴を兼ね備え、通常の光学顕微鏡では確認できず位相差顕微鏡ではじめて確認できる粒子であって、カチオン性あるいは両性のイオン性を持つことを特徴とするイオン性微粒子とその用途を提供することである。 - 特許庁

In the electron microscope applying a phase retrieval method, an image size decided by a pixel size p of a diffraction image, a camera length L, and a wavelength λ of irradiation beams and a sample irradiation area are set to have a constant relation.例文帳に追加

位相回復法を適用した電子顕微鏡等において、回折像の画素サイズｐ、カメラ長L、照射ビームの波長λにより決まる画像サイズと試料照射領域が一定関係になるようにする。 - 特許庁

To provide a microscope control device that can suppress a computation load required for distortion correction processing in a defocus detection processing using a phase-difference optical system, and an optical distortion correction method thereof.例文帳に追加

位相差光学系を用いたデフォーカス検出処理において、ディストーション補正処理に要する演算負荷を抑制することが可能な顕微鏡制御装置及び光学的歪み補正方法を提供すること。 - 特許庁

The microscope control device includes: an evaluation value calculation unit for calculating an evaluation value for evaluating the presence or absence of a sample for each local area constituting one of a pair of phase difference images of the sample imaged by a microscope; and an area determination unit for determining an area in which the sample is imaged in the one of the phase difference images based on the calculated evaluation value.例文帳に追加

本発明に係る顕微鏡制御装置は、顕微鏡により撮像されたサンプルの一組の位相差像の一方について、当該位相差像の一方を構成する局所的な領域毎に、前記サンプルの有無を評価するための評価値を算出する評価値算出部と、算出された評価値に基づいて、前記位相差像の一方において前記サンプルが撮像されている領域を判定する領域判定部と、を備える。 - 特許庁

To provide an illumination optical system for enabling bright phase difference observation and dark field observation by obtaining annular illumination without losing light intensity from a light source, and to provide an illumination optical system for an exposure device and a microscope lighting system using it.例文帳に追加

光源からの光量を損失することなく輪帯照明を得られ、明るい位相差観察や暗視野観察が可能な照明光学系、露光装置用の照明光学系とそれを用いた顕微鏡照明装置。 - 特許庁

This device has a scanning microscope type scanning optical system provided with a laser 1, a light deflector 2 and a condenser lens 3, and a lens 5 Fourier-transforms a phase defect transmission image of a photomask (reticle) 4 formed of scanning micro condensing spots, in the device.例文帳に追加

レーザ１、光偏向器２、集光レンズ３を備えた走査型顕微鏡方式の走査光学系を有し、レンズ５が走査微小集光スポットの作るフォトマスク（レチクル）４の位相欠陥透過像をフーリエ変換像に変換する。 - 特許庁

The electrochemical microscope is provided with a microelectrode 1 which is installed on a microstage 15, an electrode positioning device 16, a very small current measuring device 8, a temperature controller 10 and a culture gas-phase condition (oxygen, carbon dioxe) controller.例文帳に追加

上記電気化学顕微鏡は、顕微鏡ステージ１５上に設置した微小電極１、電極位置決め装置６、微小電流計測装置８、温度制御装置１０、培養気相条件（酸素、二酸化炭素）制御装置を有する。 - 特許庁

The refractory steel has a composition containing 0.005 to 0.050% C, 0.50 to 2.00% Mn, 0.50 to 2.00% Cr, 0.10 to 0.50% V and 0.005 to 0.030% Ti, and has an optical microscope structure in which, by area fraction, ≥80% is composed of a bainitic phase or a martensitic phase.例文帳に追加

Ｃ：０．００５％以上０．０５０％以下、Ｍｎ：０．５０％以上２．００％以下、Ｃｒ：０．５０％以上２．００％以下、Ｖ：０．１０％以上０．５０％以下、Ｔｉ：０．００５％以上０．０３０％以下であり、光学顕微鏡組織が、面積分率で８０％以上がベイナイト相またはマルテンサイト相である耐火鋼材。 - 特許庁

To provide a microscope device capable of obtaining a good image with less aberration, even when the position of a pupil conjugate surface is fluctuated in the case of observing a phase object by relaying a pupil of an object lens and arranging a pupil modulation element on the pupil conjugate surface.例文帳に追加

対物レンズの瞳をリレーして、瞳共役面に瞳変調素子を配置して位相物体を観察する際に、瞳共役面の位置が変動しても、収差の発生が少ない良好な像が得られる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁

To solve a problem that, in a conventional cover glass used for counting asbestos and other fiber particles with a phase-contrast microscope, a counting visual field varies, resulting in an error, even if multiple analysts use the same counting specimen.例文帳に追加

従来のカバーグラスでは、位相差顕微鏡によるアスベストやその他の繊維状粒子等の計数に用いるカバーグラスにおいて、複数の分析者によって同じ計数用標本を用いても計数する視野が異なり誤差が生じてしまう。 - 特許庁

When coating osmium on a metal plate 16, such as an iris plate of an electron microscope as a metal plate in which micropores are made, hydrogen gas is added in addition to sublimation gas, consisting of osmium oxide using the plasma excitation chemical vapor phase deposition method.例文帳に追加

例えば微小な孔を空けた金属板である電子顕微鏡の絞りプレート等の金属板１６にオスミウムのコーティングを施す際に、プラズマ励起化学気相堆積法において、酸化オスミウムからなる昇華ガスに加えて水素ガスを添加する。 - 特許庁

To provide a microscope control device and a method for determining a processing range capable of disposing an observation object within a detectable range of a defocus amount at a high speed in a defocus amount detecting process using a phase difference optical system.例文帳に追加

位相差光学系を用いたデフォーカス量検出処理において、デフォーカス量の検出可能範囲内に観察対象をより高速に配置することが可能な顕微鏡制御装置及び処理範囲決定方法を提供すること。 - 特許庁

The polyamide resin composition for vehicle body mechanical parts is composed of (a) 30-60 wt.% polyamide resin, (b) 10-30 wt.% polyester resin and (c) 20-60 wt.% glass fiber wherein the polyamide resin (a) forms a continuous phase and the polyester resin (b) forms a disperse phase in the phase-separated resin structure in the resin composition observed by an electron microscope.例文帳に追加

ポリアミド樹脂（ａ）３０〜６０重量％、ポリエステル樹脂（ｂ）１０〜３０重量％、およびガラス繊維（ｃ）２０〜６０重量％から構成される樹脂組成物であって、該樹脂組成物中に電子顕微鏡で観察される樹脂相分離構造において、ポリアミド樹脂（ａ）が連続相、ポリエステル樹脂（ｂ）が分散相を形成する樹脂相分離構造を有することを特徴とする車体機構部品用ポリアミド樹脂組成物。 - 特許庁

To provide a phase plate for an electron microscope which can further effectively prevent an electron beam loss, can be applied to an acceleration voltage over a wide range from low to high voltages, can be put into practical use without being accompanied by difficulty in its manufacture, and can attain an image of a high contrast.例文帳に追加

電子線損失をより効果的に防止し、低圧から高圧まで広範囲の加速電圧に適用可能で、製造上の困難性を伴わず、実用化が可能で高コントラストの像を得ることを可能とする電子顕微鏡用位相板を提供する。 - 特許庁

In this method, the creep damage is estimated accurately by observing the metallographic structure of a sample tube extracted from an actual machine by a transmission electron microscope, and by measuring the density of black spots on a strain field generated by deposition of a Cu-enriched phase by the following methods.例文帳に追加

実機から抜管したサンプル管の金属組織を透過型電子顕微鏡で観察し、Ｃｕ富化相の析出によって生じる歪場の黒点の密度を次のような方法で計測することにより、クリープ損傷を精度よく推定する方法。 - 特許庁

To provide a microscope capable of promptly shaping second light of any wavelength to a desired beam shape and of superposing the beam on first light with simple and inexpensive constitution without using a phase plate and without forcing vexatious work to a user.例文帳に追加

位相板を用いることなく、簡単かつ安価な構成で、しかもユーザーに煩雑な作業を強いることなく、第２の光をいかなる波長でも即座に所望のビーム形状に整形して第１の光と重ね合わせることができる顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A plurality of frame images extracted from a dynamic image taken from a phase-contrast microscope are subjected as pre-processing to differential processing for background deletion, binarization processing for converting a density image into a binary image, and reducing and enlarging processing of an image for noise removal.例文帳に追加

位相差顕微鏡から取り込まれる動画像中から抽出した複数のフレーム画像は、背景消去用の差分処理、濃淡画像を二値画像に変換する二値化処理、ノイズ除去のための画像の収縮膨張処理が、前処理としてなされる。 - 特許庁

The method for manufacturing the concentrated composition containing the α-sulfofatty acid alkyl ester salt comprises concentrating the composition containing the α-sulfofatty acid alkyl ester salt to a water content of 13% or lower by a simple concentration operation so that the phase state of the composition has been converted, after concentrated, into a hexagonal phase state at 70°C as confirmed by observation by a polarization microscope.例文帳に追加

α−スルホ脂肪酸アルキルエステル塩を含有する組成物を簡易濃縮操作により水分量を１３％以下に濃縮するにあたり、濃縮後の組成物の相状態が偏光顕微鏡観察で確認した際に７０℃の温度でヘキサゴナル相状態となっていることを特徴とするα−スルホ脂肪酸アルキルエステル塩含有濃縮組成物の製造方法。 - 特許庁

In the microscope, sample light is detected, and at least one combination of a means SM influencing spatial phase circularly and a means RM influencing it in a radial direction is arranged in the exciting light beam and/or the deexciting light beam and/or the switching light beam.例文帳に追加

本発明の顕微鏡では、試料光が検出され、励起光線および／または脱励起光線および／またはスイッチング光線中に、空間位相に円形に影響を及ぼす手段ＳＭおよび径方向に影響を及ぼす手段ＲＭの少なくとも１つの組合せが配置されている。 - 特許庁

An ellipsometry microscope includes: an oblique illumination system that includes a light source, a polarizer and a phase compensator and emits an illumination light L4 obliquely to a sample surface SP; an imaging system; an analyzer 23; and an imaging element 24 for detecting an image by the imaging system on the detection surface 25.例文帳に追加

エリプソメトリー顕微鏡は、光源と偏光子と位相補償子とを備えると共に試料面ＳＰに対して照明光Ｌ４を斜めに照射する斜め照明系と、結像系と、検光子２３と、結像系による像を検出面２５で検出する撮像素子２４とを備える。 - 特許庁

To provide a device for detecting the concrete physical quantity of an observed object such as the inclination of the observed object, the minute planer part, the edge part, the level difference and the phase variation, etc., in a short time from the differential interference image of the observed object obtained through a differential interference microscope.例文帳に追加

観察物体の勾配，微小平面部，エッジ部，段差，位相変化量等の具体的な物理量を微分干渉顕微鏡によって得られる観察物体の微分干渉画像から短時間で検出するための装置とこれを用いた検出方法を提供する。 - 特許庁

A measuring mode is set to a tapping mode, when observing the semi-solid substance in the semi-solid state with the solid substance existing by an atomic force microscope, and a shape and a state of the solid substance existing in the semi-solid substance are evaluated based on phase information obtained by the tapping mode.例文帳に追加

固体物質が存在する半固体状態のままの半固体状物質を原子間力顕微鏡にて観察する場合、測定モードをタッピングモードに設定し、半固体状物質中に存在する固体物質の形状および状態をタッピングモードにより得られる位相情報で評価する。 - 特許庁

To produce steel in which the generation of the change of the structure in which the size of crystal grains different from a mother phase whitely shown by an optical microscope is refined to several tens nm is suppressed in case hardening steel and having an excellent life, particularly, an excellent rolling life even under high vibration and high loads and to provide a method for producing it.例文帳に追加

肌焼鋼において光学顕微鏡で白く見える母相と異なった結晶粒の大きさが数１０ｎｍに微細化した組織変化の発生を抑制し、高振動・高荷重下でも優れた寿命、特に転動寿命を有する鋼およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

This information acquiring method acquires information about material in the solvent and comprises processes to hold the material in the solvent, to make the solvent as an amorphous solid phase, and to acquire information about the material held by the amorphous solvent by using an electron microscope.例文帳に追加

溶媒中における物質に関する情報の取得方法であって、前記物質を溶媒中で保持する工程と、前記溶媒を非晶質な固相状態にする工程と、前記非晶質の溶媒に保持された物質に関する情報を電子顕微鏡を用いて取得する工程とを有する情報取得方法。 - 特許庁

The colloidal silica is produced by using an active silicic acid as a raw material in the presence of triazole, and contains triazole in the liquid phase and a group of non-spherical heteromorphic silica particles which has a major axis/minor axis ratio by a transmission electron microscope in the range of 1.0-5 and an average value of the major axis/minor axis ratio of 1.2-3.例文帳に追加

トリアゾールの存在下で活性珪酸を原料として製造されるコロイダルシリカであって、液相にトリアゾールを含有し、透過型電子顕微鏡による長径／短径比が１．０〜５の範囲にありかつ長径／短径比の平均値が１．２〜３である非球状の異形シリカ粒子群を含有するコロイダルシリカである。 - 特許庁

This curable resin composition contains an epoxy resin, a solid polymer having a functional group reacting with the epoxy group and a curing agent for the epoxy resin, and when the cured material is dyed with a heavy metal and observed by using a transmission electron microscope, a phase separated structure is not observed in a matrix consisting of the resin.例文帳に追加

エポキシ樹脂と、エポキシ基と反応する官能基を有する固形ポリマーと、エポキシ樹脂用硬化剤とを含有する硬化性樹脂組成物であって、硬化物を重金属により染色し、透過型電子顕微鏡により観察したときに、樹脂からなるマトリクス中に相分離構造が観察されない硬化性樹脂組成物。 - 特許庁

To provide a quantitative phase microscope A designed so that light use efficiency is high, disturbance is highly resisted, a quantity of light can be easily adjusted, the need for a space filter 43 specially provided to match a wavelength is eliminated, and quantitative measurement of the thickness of a specimen S or the like can be performed with high measurement precision.例文帳に追加

光利用効率が高く、外乱に対して強く、光量調節を容易に行え、波長に応じて専用の空間フィルタ４３を用いる必要がなく、測定試料Ｓの厚みなどの定量的な測定を高い測定精度で行うことが可能な定量位相顕微鏡Ａを提供する。 - 特許庁

The thermoplastic resin composition is prepared by blending a thermoplastic resin comprising a styrene-based resin and a polyamide resin with a specific maleimide-based resin and has a structure in which the polyamide resin (B) forms ≥5 volume% continuous phase as a phase structure observed by an electron microscope in a region of 40-60% depth from the surface based on the whole depth perpendicular to the surface of a molded body.例文帳に追加

スチレン系樹脂とポリアミド樹脂とからなる熱可塑性樹脂組成物に対して、特定のマレイミド系重合体を配合してなる熱可塑性樹脂組成物であって、かつ成形体の表面に垂直な方向を厚みとした時、表面から全厚みに対し４０〜６０％の深さの領域で、電子顕微鏡で観察される相構造として、ポリアミド樹脂（Ｂ）が連続相となる部分が５容量％以上形成された構造を有する熱可塑性樹脂組成物。 - 特許庁

The colloidal silica is produced by using an active silicic acid as a raw material in the presence of benzotriazole, and contains benzotriazole in the liquid phase and a group of non-spherical heteromorphic silica particles which has a major axis/minor axis ratio by a transmission electron microscope in the range of 1.2-15 and an average value of the major axis/minor axis ratio of 1.5-10.例文帳に追加

ベンゾトリアゾールの存在下で活性珪酸を原料として製造されるコロイダルシリカであって、液相にベンゾトリアゾールを含有し、透過型電子顕微鏡観察による長径／短径比が１．２〜１５の範囲にありかつ長径／短径比の平均値が１．５〜１０である非球状の異形シリカ粒子群を含有するコロイダルシリカである。 - 特許庁

To prevent reattachment of chips produced during modification by removal to a substrate in a step of removing defective portions remaining so as to be different from a state expected by design against a design in a light shielding film Cr, an absorbing film TaN, a phase film MoSi left without being removed in the process and the substrate Qz by using a probe of an atomic force microscope.例文帳に追加

プロセス工程で除去されず残ってしまった遮光膜Ｃｒ、吸収膜ＴａＮ、位相膜ＭｏＳｉ、や基板Ｑｚの設計とは異なり残留した欠陥部分を原子間力顕微鏡の探針を用いて除去する工程において、除去修正時に発生する削り屑の基板への再付着を防止する。 - 特許庁

Quantitative, dynamic, and configurational abnormal situations of a micro-vibrating matter contained in water by extracting from, or aqueous solution containing components of, base materials, materials of things, raw materials of things, the very products, the very merchandise, the very substance, which constitute sites and environments that are related to techniques and business in which how the natural providence is disturbed are verified using a phase-contrast microscope.例文帳に追加

自然摂理の阻害状況を確認したい、技術や事業に関する場所や環境を構成する素材、ものの材料、ものの原料、製品そのもの、商品そのもの、物質そのものの、それぞれの持つ水分を取り出すか、もしくは成分を水溶液状にし、その水分中に含まれる微振動する物体の、量的・動的・形状に関しての異常状況を位相差顕微鏡で確認する。 - 特許庁