「reference axis」に関連した英語例文の一覧と使い方(15ページ目) - Weblio英語例文検索

Then, the lens member 20 is relatively shifted in a direction along the center axis M with reference to the object housing 12, then, a distance T between an object to be photographed B and the center O of a lens 22A is varied.例文帳に追加

これにより、レンズ部材２０が対物筐体１２に対して、中心軸Ｍに沿った方向へ相対移動され、撮影対象物Ｂとレンズ２２Ａの中心Ｏとの距離Ｔが変化する。 - 特許庁

An inking unit body 1 having a section 2 for emitting linear laser light at one end 1a along the longitudinal axis X-X and a laser emission on/off switch 3 at the other end 1b is provided, on the outer circumferential surface thereof, at least with a first reference face 4a and a second reference face 4b perpendicular thereto and a magnet 5 is arranged on each reference face.例文帳に追加

長手方向の軸線Ｘ−Ｘに沿う一端部１ａにライン状のレーザー光を出射するレーザー光出射部２を有し、他端部１ｂにレーザー光出射のオン／オフ用スイッチ３を有する墨出し器本体１の外周面に、少なくとも第１の基準面４ａと、これと直角をなす第２の基準面４ｂが形成されるとともに各基準面に、マグネット５が配される。 - 特許庁

Length of width (heater lamp heating width) which becomes equal to or more than predetermined reference temperature with width of a fixing roller in the axis direction on the surface of the fixing roller by heating of a heater lamp is longer than length of the width (maximum paper feed width) of a medium with the maximum width of the fixing roller in the axis direction among media used for the fixing device.例文帳に追加

ヒータランプの加熱により定着ローラ表面の当該定着ローラの軸方向の幅で所定の基準温度以上となる幅の長さ（ヒータランプ発熱幅）は、着装置で用いる媒体のうち定着ローラの軸方向の幅が最大のものの当該幅の長さ（最大通紙幅）より長い。 - 特許庁

The working machine 8 makes the optical axis of the lens 1 coincident with the spindle 11 based on the eccentricity data from the eccentricity measuring means 13, and the fitting surfaces 2b and 2c of both end faces of the lens frame 2 are worked with the position data of the lens 1 in the direction of the optical axis and the wall thickness data of the lens as a reference.例文帳に追加

加工機８は、偏心測定手段１３からの偏心データに基づいてレンズ１の光軸を主軸１１に一致させ、この状態で、光軸方向におけるレンズ１の位置データ及びレンズの肉厚データを基準としてレンズ枠２の両端面の当て付け面２ｂ、２ｃを加工する。 - 特許庁

The variation of a charge quantity stored in the capacity forming means is measured by a charge quantity meter 11, the positions for a chargedischarge pin 51 and a measuring pin 12 of the meter 11 to coincide with the reference point are found from thereby detected coordinate values of boundaries in the X-axis and Y-axis directions of a conductor pattern on the setup jig 20.例文帳に追加

該容量形成手段に蓄積される電荷量の変化を電荷量計１１で測定し、これより検出されるセットアップ治具２０上の導体パターンのＸ軸・Ｙ軸方向の境界の座標値から、充放電ピン５１・電荷量計１１の測定ピン１２が該基準点に一致する位置を求める。 - 特許庁

For an imaging unit for assembling, a chart with an alignment mark irradiated from a light source is imaged by an imaging device through a reference lens adjusted to a required optical axis position and then, the attitude of the imaging unit is controlled so as to perform alignment to the optical axis position, based on the mark position information of the imaged image.例文帳に追加

組立て用の撮像ユニットに対し、光源により照射されたアライメントマーク付チャートを、所要の光軸位置に調整された基準レンズを介して当該撮像素子で撮像させた後、その撮像画像のマーク位置情報に基づいて、上記の光軸位置に合わせるように当該撮像ユニットの姿勢制御を行う。 - 特許庁

The screen is constituted by using a directive light diffusion layer or a directive diffusion sheet having a fine layered lens in the plane, and making the orientation direction of the layered lens nearly align with the optical axis direction of an optical image projected from the projector or a direction symmetrical to the optical axis direction with reference to a vertical line on the screen surface.例文帳に追加

微細な層状レンズが面内に設けられた指向性光拡散層または指向性拡散シートを用い、層状レンズの配向方向をプロジェクタからの光画像の光軸方向、またはこの光軸方向とスクリーン面上の垂線に対して対称な方向に略一致しているように構成した。 - 特許庁

The controller 9 when detecting the focusing position of the projection optical system 3 moves the original plate stage 10 along the optical axis AXM of the measurement light, and also moves the substrate stage 12 nearly at right angles to the optical axis AXW of the projection optical system 3 so that the measurement light is incident on the reference member 13.例文帳に追加

制御器９は、投影光学系３の合焦位置を検出する際に、原板ステージ１０を計測光の光軸ＡＸＭに沿って移動させるとともに計測光が基準部材１３に入射するように基板ステージ１２を投影光学系３の光軸ＡＸＷとほぼ垂直な方向に移動させる。 - 特許庁

The photodetector 32 and the laser emitter 34 constitute a measuring means for measuring positional deviation for a Y-axis, and they are provided so that the optical axis of a laser beam to be emitted from the laser emitter 34 may match the movement direction (Y-direction) of the Y-stage 12 when the Y-stage 12 is at a reference position.例文帳に追加

光検出器３２とレーザ発光器３４とは、Ｙ軸に対する位置ずれを計測する計測手段を構成しており、Ｙステージ１２が基準位置にあるときレーザ発光器３４から出射されるレーザ光の光軸がＹステージ１２の移動方向（Ｙ方向）と一致するように設けられている。 - 特許庁

By moving an inspection target image P in each of x axis direction, y axis direction and θ rotation direction, the degree of coincidence relative to the reference image R and the inspection target image P is calculated using a pixel value at the sparse point position, so that a positioning parameter (x, y, θ) producing the maximum degree of coincidence is obtained.例文帳に追加

検査対象画像Ｐをｘ軸方向、ｙ軸方向、θ回転方向にそれぞれ移動させながら、基準画像Ｒ及び検査対象画像Ｐに対し上記スパース点の位置における画素値を用いて一致度を算出し、一致度が最大となる位置合わせパラメータ（ｘ，ｙ，θ）を求める。 - 特許庁

To provide a light wave interference measuring device and light wave interference measuring method that can accurately, automatically regulate the misalignment between the optical axis of a reference spherical surface and the optical axis even of a lens to be inspected that cannot observe an optical mark by reflected light from the surface of the lens section, and can provide a stable result of measurement.例文帳に追加

レンズ部表面からの反射光による光マークを観察し得ない被検レンズに対しても、該被検レンズの光軸と基準球面の光軸とのずれを高精度に自動調整することができ、安定した測定結果を得ることが可能な光波干渉測定装置および光波干渉測定方法を得る。 - 特許庁

When the torque acting on the axis J of the lamp tool body 14 is over a predetermined value, reference ribs 42, 44 and mounting stays 58, 60 are broken, and the lamp device body 14 is rotated bout the axis J, which surely prevents the lamp device body from being collided with the car body and being damaged.例文帳に追加

灯具本体１４の軸線Ｊ周りに作用する回転力が所定値を超えると、基準リブ４２，４４及び取付ステー５８、６０が破損され、灯具本体１４は軸線Ｊ周りに回転するので、車体に当たってしまうことが確実に防止され、灯具本体１４の損傷が防止される。 - 特許庁

A device for adjusting a knife axis attachment member 113 on a knife axis 112 for the folding machine includes a measurement reference body 110 magnetized as a length scale to detect a position of an indicator 116 functioning as a jig and a detection member 114 of a magnetic field detector relatively movable to the same.例文帳に追加

折り機用のナイフ軸１１２上のナイフ軸装着部材１１３を調整する装置は、ジグとして機能する指針１１６の位置を検出するために、長さスケールとしての、磁気を帯びた測定基準体１１０と、それに対して相対的に可動な磁場検出器である検出部材１１４を有している。 - 特許庁

To provide a rotary table or a measuring tool capable of measuring three-dimensional positions of a working reference point of a rotation axis in an inclined state in a machine tool for working in which the rotation axis is fixed in an inclined state by an arbitrary angle larger than 0 degree and smaller than 90 degrees during the working, and a measurement method.例文帳に追加

加工時に回転軸を０度より大きく９０度より小さい任意の角度に傾斜して固定した状態で加工する工作機械において、回転軸が傾斜した状態で加工基準点の３次元位置を測定可能な回転テーブル又は測定治具、及び測定方法を提供すること。 - 特許庁

When the servo-controlled system 15a that is the object of various operations is designated by inputting the name "horizontal X-axis", the servo-controlled system 15a of station No. 1 conformed to the input name "horizontal X-axis" is designated as the communication object in reference to the name table file 26.例文帳に追加

そして、各種操作の対象とされるサーボ制御装置１５ａが名称「水平Ｘ軸」の入力によって指定された際に、名称テーブルファイル２６を参照して入力された名称「水平Ｘ軸」に対応付けられた局番０１のサーボ制御装置１５ａを通信対象として指定するようにした。 - 特許庁

To provide a center axis calibrating fixture having a structure easy to mount a fine wire straightly without bending the same so as to exactly cross a reference surface at a right angle, and a calibration method for precisely estimating the projecting position of the center-of-rotation axis of the turntable of X-ray CT equipment using the fixture.例文帳に追加

細いワイヤを曲がりなく真直に、しかも基準面に対して正しく直交して装着することが容易な構造を持つ中心軸較正治具と、その治具を用いてＸ線ＣＴ装置のターンテーブルの回転中心軸の投影位置を正確に推定することのできる較正方法を提供する。 - 特許庁

The supporting body 25 is linked to the dividing frame 16 so as to turn about the axis Y in the longitudinal direction of the machine body and impelled turnably by a coil spring 60 at a reference turning position where the ground contact sensor 21 is to make a vertical swinging motion about the axis X relative to the dividing frame 16.例文帳に追加

支持体２５は、分草フレーム１６に対して機体前後向き軸芯Ｙまわりで回動するように連結しており、かつ、接地センサー２１が軸芯Ｘまわりで分草フレーム１６に対して上下揺動することとなる基準回動位置に巻きばね６０によって回動付勢されている。 - 特許庁

This lighting system is provided with abnormality detecting means 203, 433 for detecting the abnormality in an AFS of the lighting system for the vehicle, and lamp vertical optical axis adjusting means 5, 6 receiving an abnormality detecting signal of the abnormality detecting means and determining a vertical optical axis angle of the lamp 30 on an angular position lower than a reference angle.例文帳に追加

車両用照明装置のＡＦＳにおける異常を検出する異常検出手段２０３，４３３と、異常検出手段の異常検出信号を受けてランプ３０の垂直方向の光軸角度を基準角度よりも下方角度位置に設定するランプ垂直方向光軸調整手段５，６を備える。 - 特許庁

The lens block further includes, in an area inside the outer peripheral part and adjacent to a boundary between the first positioning surface in the outer peripheral part and the first projected part in an optical axis direction, second projected parts 305L and 305R as wall parts projecting more in the optical axis direction than the lens reference surface.例文帳に追加

さらに、レンズブロックは、外周部よりも内側の領域であって、光軸方向視において外周部における第１の位置決め面と第１の突出部との境界に隣接する領域に、レンズ基準面よりも光軸方向に突出する駄肉部としての第２の突出部３０５Ｌ，３０５Ｒを有する。 - 特許庁

In a galvanometer mirror device 11X, the predetermined turning reference axis M is inclined by a predetermined deviation angle θoff with respect to the axis L of a convergent lens 15 in the turning direction of an X galvanometer mirror 12X, and the maximum irradiation area is deviated with respect to the convergent lens 15.例文帳に追加

ガルバノミラー装置１１Ｘは、所定の回動基準軸ＭがＸガルバノミラー１２Ｘの回動方向に沿って収束レンズ１５の中心軸Ｌに対して所定のずらし角度θｏｆｆ分だけ傾けて配置されているから最大照射領域が収束レンズ１５に対して偏って形成されることとなる。 - 特許庁

A moving mechanism 108 moves the mount board 107 to replace the high variable magnification lens 130 with the low variable magnification lens 152 and the low temperature reference heater 162 and the high temperature reference heater 163 are sequentially located on the optical axis OA in the process of replacement.例文帳に追加

移動機構１０８が搭載板１０７を移動させ、光軸ＯＡ上の低倍系変倍レンズ１３０が高倍系変倍レンズ１５２で置き換えられると共に、この置き換えの過程で、低温側基準熱板１６２と高温側基準熱板１６３とが光軸ＯＡ上に順次に位置するようにされる。 - 特許庁

Supporting sections 11 located at both ends of a scanning lens 4 abut on a reference member 10 along an X axis direction arranged on the bottom surface of the optical scanner and a leaf spring 13 having an L shaped main body section is inserted between the supporting section 11 and a standing section 12, so that the scanning lens 4 is pressed to the reference member 10 by a first abutting section 13d.例文帳に追加

走査レンズ４の両端の支持部１１を、光学走査装置の底面に設けられたＸ軸方向の基準部材１０に当接し、支持部１１と立設部１２の間にレ型の本体部を有する板バネ１３を挿入して第１の当接部１３ｄにより走査レンズ４を基準部材１０に押圧する。 - 特許庁

These three patterns are composed of one reference pattern (a pattern by contact areas 13b to 17b), and, with this being a reference (axis of symmetry), pattern pairs having a mutually symmetrical (line symmetry) relation, that is, patterns by contact areas 13a to 17a and 13c to 17c.例文帳に追加

これら３つの同一パターンは、１つの基準パターン（コンタクト領域１３ｂ〜１７ｂによるパターン）と、これを基準（対称軸）にして互いに対称（線対称）な関係をもつパターン対、すなわちコンタクト領域１３ａ〜１７ａによるパターンとコンタクト領域１３ｃ〜１７ｃによるパターンとによって構成されている。 - 特許庁

A chucking device 1 is provided with a stopper 13 formed in an innermost circumferential side of the sheave surface 2a and contacted on a reference surface 2e orthogonal to an central axis of the sheave 2 to position the sheave 2 in an axial direction, and a pin arbor 11 fixing the sheave 2 in a state of putting the stopper 13 in contact with the reference surface 2e.例文帳に追加

チャック装置１は、シーブ面２ａの最内周側に形成されシーブ２の中心軸に対して直角な基準面２ｅに当接してシーブ２の軸方向の位置決めを行うストッパ１３と、基準面２ｅにストッパ１３を当接させた状態でシーブ２を固定するピンアーバー１１を備える。 - 特許庁

The second incident part 18 is formed in a tilted surface tilted at a prescribed angle relative to the incident reference plane so that the incident optical axis 20 of a light entering from the LED 6 into the light guide plate 4 can be deflected in a direction different from that in a case where light is entered into the incident reference surface as an incident surface.例文帳に追加

第２入光部１８は、ＬＥＤ６から導光板４内へ入射する光の入射光軸２０が、入射基準面を入射面として光を入射させた場合とは異なる方向に偏向されるように、入射基準面に対して所定の角度をもって傾斜した傾斜面である。 - 特許庁

An optical power meter and detector D loads both a first reflection probe light due to the reflection of the first probe light by the semiconductor substrate, and a second reflection probe light due to the reflection of the second probe light by the first reference sample having an internal state for reference, into the same optical axis.例文帳に追加

光測定器Ｄは、第１プローブ光が半導体基板により反射されることにより得られる第１反射プローブ光と、第２プローブ光が参照用の内部状態を有する第１参照サンプルにより反射されることにより得られる第２反射プローブ光と、を同じ光軸上で取り込む。 - 特許庁

A hologram 1 which is mainly composed of plural concentric circles by a reference beam made incident perpendicularly on the one surface of the disk and is reconstitutable to patterns 3 around the reference beam 2 as a center axis is formed in the central part or at the intersected points of two intersecting symmetrical lines on at least the one surface of the disk.例文帳に追加

ディスクの少なくとも片面の中心部又は２本の交差する対称線の交点には、上記片面に直角に入射する参照ビーム２によって主に複数の同心円から構成され、且つ上記参照ビーム２を中心軸とするパターン３に再生可能なホログラム１を形成している。 - 特許庁

The printing squeegee for the printed circuit board is composed including, at the end for applying pressure to the printed circuit board, a first chamfer formed at a first angle with reference to the longitudinal direction axis of the squeegee and a second chamfer formed at a second angle with reference to an extension line of the first chamfer.例文帳に追加

本発明による印刷回路基板の印刷用スキージは、回路基板に圧力を加える端部に、前記スキージの長さ方向軸を基準に第１角度に形成された第１面取り部；及び前記第１面取り部の延長線を基準に第２角度に形成された第２面取り部；を含んで構成される。 - 特許庁

Based on the positions of the three points with reference to the working robot origin coordinates system RefR, the positions of the three points are converted to the positions with reference to the working robot origin coordinates system RefR to calculate the offset quantity of each axis of the working robot, and the offset quantity is introduced in the off-line teaching program for calibration.例文帳に追加

そして、ワーク原点座標系ＲｅｆＷを基準とする３点の位置に基づいて、前記３点の位置を作業ロボット原点座標系ＲｅｆＲを基準とする位置に変換して作業ロボット各軸のオフセット量を算出し、このオフセット量をオフラインティーチングプログラムに導入して校正する。 - 特許庁

During path table operation, date and time information 30 at the time of sampling, a value 31 of a reference signal of which value varies, a position 32 of an axis controlled in synchronization with the reference signal, and information 33 on the state of the numerical controller are stored in a buffer 34 as operating history information for a predetermined time for each predetermined sampling cycle.例文帳に追加

パステーブル運転中、所定サンプリング周期毎に該サンプリング時の日時情報３０、値が変化する基準信号の値３１、該基準信号に同期して制御する軸の位置３２、数値制御装置の状態情報３３を運転履歴情報として所定時間分バッファ３４に蓄える。 - 特許庁

To estimate an accurate time constant in which an error due to a vibration such as a waveform current ripple or the like is removed from a response waveform of a torque axis voltage reference when an exciting current reference is changed stepwise in a constant speed state without necessity of a measuring instrument for tuning and to set the time constant as a secondary time constant to a motor controller.例文帳に追加

チューニングのための測定器を必要とせず、速度一定状熊で励磁電流基準をステップ変化させたときのトルク軸電圧基準の応答波形から、波形の電流リプルなどの振動による誤差を除去した正確な時定数を推定し、これを二次時定数として装置に設定する。 - 特許庁

While a pre-motor 12A and a post-motor 12B of an arm mechanism 10 are driven to bring a free end 122 close to a reference line 17 without passing through a base axis 16, a hand motor 22A is driven to cause a holding end 212A holding a substrate 4A to be transported to move over the reference line 17.例文帳に追加

自由端１２２が基軸１６を通過することなく基準線１７に接近するようにアーム機構１０の前段用モータ１２Ａ及び後段用モータ１２Ｂを駆動しつつ、搬出される基板４Ａを保持した保持端２１２Ａが基準線１７上を移動するようにハンド用モータ２２Ａを駆動する。 - 特許庁

Adjustment of the indicator 116, consequently the knife axis adjustment member 113 is supported by automatically detecting a position of the indicator 116 along the measurement reference body 110 with the detection member 114.例文帳に追加

検出部材１１４によって、指針１１６の測定基準体１１０に沿った位置を自動的に検出することによって、指針１１６を、したがってナイフ軸装着部材１１３を調節するのを補助する。 - 特許庁

The reference holes 31 are formed on four or more spots near the end of the outer circumference of the rotary table 21 in axisymmetrical arrangement as a view from the upper surface of the rotary table 21 with respect to a tilt axis L2 of the rotary table 21.例文帳に追加

基準穴３１は、回転テーブル２１の傾斜軸Ｌ２に対し、回転テーブル２１の上面から見て線対称となる配置で、回転テーブル２１の外周の端部近傍の４箇所以上に形成されている。 - 特許庁

The propagation speed (v) of the wave is found from the structural distance (b) between the reference positions A and B and the wave transmitting time (s), and the two-dimensional coordinate (x, y) is found by multiplying the time axis coordinate and the propagation speed (v) together.例文帳に追加

また、基準位置Ａ，Ｂ相互間の構造的距離ｂと波動伝達時間ｓから波動の伝播速度ｖを求め、前記時間軸座標に波動の伝播速度ｖを乗じて二次元座標(ｘ，ｙ)を求める。 - 特許庁

The second driving part excites a second reference oscillation 152, which generates a second Coriolis force 154 in a direction of the one-dimensional degree of freedom to angular velocity 156 on a second axis, in the whole or part of the structure for detection.例文帳に追加

第2の駆動部は、第2の軸回りの角速度156に対して、一次元の自由度の方向へ第2のコリオリ力154を発生せしめる第2の参照振動152を、検出用構造体の全体または一部分に励起する。 - 特許庁

To effectively and accurately calculate the paraxial amount and the aberration amount of an optical system developed around a reference axis as which the optical path of an optional light beam leading to an image surface from an object side through the optical system is set.例文帳に追加

物体側から光学系を介して像面に至る任意の光線の光路を基準軸として、その軸のまわりに展開した光学系の近軸量・収差量を効果的に正確に計算することができる。 - 特許庁

At this time, by moving a floating lens 3 placed on the near side of the beam splitter 5 in the optical axis direction, the incident angles of light beams incident on the reference lens R and the lens to be inspected S, respectively, are adjusted.例文帳に追加

この際に、ビームスプリッタ５の手前側に配置されたフローティングレンズ３を光軸方向に移動させることで基準レンズＲ及び被検レンズＳのそれぞれに入射される光束の入射角度を調整する。 - 特許庁

After adjusting a reference parameter in a parameter adjusting part 37 so as to parallelly move the graph along a voltage axis for a desired amount, the simulation by a circuit simulator 38 is executed on the basis of the adjusted parameter.例文帳に追加

グラフが電圧軸に沿って所望量だけ平行移動するように、パラメータ調整部３７で基準パラメータを調整した後、調整後のパラメータに基づいて、回路シミュレータ３８によるシミュレーションを行う。 - 特許庁

Although the effective reflection light emitted from the TIR prism 8 is inclined with reference to a projection optical axis 11a, the light is efficiently projected through the projecting lens 11 by correcting the inclination of the effective reflection light by the Fresnel prism plate 10.例文帳に追加

ＴＩＲプリズム８から出射される有効反射光は、投影光軸１１ａに対して傾くが、フレネルプリズム板１０でこれを修正することで投影レンズ１１から効率よく投射される。 - 特許庁

A camera 1a is composed rotatably around a center axis 9a to the body of the communication device, and an image pickup lens 31 is moved according to the image pickup direction of the camera 1a with the direction of the body as a reference.例文帳に追加

カメラ部１ａが通信装置の本体部に対して中心軸９ａ回りに回動自在に構成され、本体部の方向を基準としたカメラ部１ａの撮影方向に応じて、撮像レンズ３１を移動させる。 - 特許庁

The first driving part excites a first reference oscillation 151, which generates a first Coriolis force 153 in a direction of the one-dimensional degree of freedom to angular velocity 155 on a first axis, in the whole or part of the structure for detection.例文帳に追加

第1の駆動部は、第1の軸回りの角速度155に対して、一次元の自由度の方向へ第1のコリオリ力153を発生せしめる第1の参照振動151を、検出用構造体の全体または一部分に励起する。 - 特許庁

Inclined angles θ2 and θ3 on both end sides of the inclined cam groove 25a are constituted to be increased in relation to a basic inclined angle θ1 of the inclined cam groove 25a with an oscillating axis X of the cam groove 25 as a reference.例文帳に追加

カム機構２５の揺動軸線Ｘを基準とする傾斜カム溝２５ａの基本傾斜角θ１に対し、当該傾斜カム溝２５ａの両端側の傾斜角度θ２, θ３が大きくなるように構成した。 - 特許庁

A plurality of the carbon fiber materials are disposed such that hypothetical projection lines of the plurality of the carbon fiber materials to the first surface 10A extend radially around a reference axis A1 extending in the direction Z of the thickness.例文帳に追加

第１面１０Ａに対する複数の炭素繊維材の仮想投影線が、厚さの方向Ｚに延びる基準軸Ａ１を中心として放射状に延びるように、複数の炭素繊維材は配置されている。 - 特許庁

Drills 34, 64 for drilling positioning reference holes for a multilayer printed circuit board are loaded on the Y-axis movement bases 30, 60, and the positions of the drills 34, 64 are adjusted by ball screws 13, 23 and a drill movement base.例文帳に追加

Ｙ軸移動架台３０，６０には、多層プリント配線板の位置決め用基準孔を開けるためのドリル３４，６４が搭載され、ドリル３４，６４の位置は、ボールねじ１３，２３及びドリル移動架台によって調整される。 - 特許庁