「reference ray」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

Further, the intensity of diffracted X rays, which are diffracted by a reference specimen when X rays are applied to the reference specimen with its crystal completeness assured, is detected on a wide opening angle condition and on a narrow opening angle condition, with a relative ratio between the two taken as "a diffracted X-ray intensity ratio of the reference specimen".例文帳に追加

また結晶の完全性が保証された参照試料にＸ線を照射したときに参照試料にて回折した回折Ｘ線の強度を、広い開口角条件と狭い開口角条件にて検出して、両者の相対比を「参照試料の回折Ｘ線強度比」とする。 - 特許庁

The image of a reference mark 50 formed on a core substrate 51 of a substrate 5 is formed on a fluorescent plate 12 by irradiation of X-rays from an X-ray generator 11 and this image is picked up by a visible light CCD camera 13, by which the position of the reference mark 50 is detected.例文帳に追加

基板５のコア基板５１に形成された基準マーク５０をＸ線発生器１１からのＸ線照射により蛍光板１２上に像を結び、これを可視光ＣＣＤカメラ１３で撮像して基準マーク５０の位置を検出する。 - 特許庁

An X-ray image recognizing and automatic position measuring system, connected with the X-ray imaging equipment and the NC control X-Y table is then operated, and an inner layer reference hole mark 4, as shown in Fig. 1 (a) and Fig. 1 (b) of the working board of printed wiring board is read by X-rays.例文帳に追加

次いで、Ｘ線画像装置とＮＣ制御Ｘ−Ｙテーブルとに接続されたＸ線像認識ならびに位置自動計測システムを稼動し、前記プリント配線板作業ボードの図１（ａ）、図１（ｂ）に示す内層基準孔マーク４をＸ線で読取る。 - 特許庁

To provide an especially simple, time saving, and simultaneously precise method of calculating X-ray attenuation of an object based on reference X-ray attenuation measured in a process before CT photography.例文帳に追加

ＣＴ撮影の前段階で測定された基準Ｘ線減弱に基づいて対象の直交方向Ｘ線減弱を算出する、特に簡単な、とりわけ時間節約可能な、同時に正確な対象の直交方向Ｘ線減弱の算出方法を提供する。 - 特許庁

To provide an X-ray fluorescence analyzer easily and properly selecting a drift correction sample serving as a reference for correcting a change with the lapse of time in measurement intensity.例文帳に追加

測定強度の経時変化を補正するための基準となるドリフト補正試料の選択を簡単かつ適切に行うことができる蛍光Ｘ線分析装置を提供する。 - 特許庁

In this case, the processing required to display the radiant ray can be simplified by deciding a radiant angle or the like at a refracted point on the basis of a radiant angle between preceding refracted points as a reference.例文帳に追加

この場合、折曲点における放射角等を前の折曲点間の放射角を基準として定めることにより、放射光線を表示するのに要する処理を簡略化できる。 - 特許庁

A surface mounted infrared ray detector 205 and a temperature sensor element 206 detecting the temperature of the substrate 201 as the reference temperature are mounted on the upper face of the substrate 201.例文帳に追加

基板２０１の上面には、表面実装型の赤外線検出器２０５と、基準温度として基板２０１の温度を検出する温度センサ素子２０６とが搭載されている。 - 特許庁

To intensify the contrast of only a part of an irradiation field confirmation image serving as a reference necessary for comparison with an X-ray CT image captured in a treatment plan.例文帳に追加

本発明は、照射野確認画像において、治療計画で撮影したＸ線ＣＴによる画像との比較に必要な基準となる部位のみのコントラストを高めることを目的とする。 - 特許庁

The X-ray CT device 1 is provided with: reference image collecting means 2, 3, 16, 17, 20, 21, and 22; bed moving means 11, 12, 18, and 19; and CT image collecting means 2, 3, 16, 17, and 20.例文帳に追加

X線CT装置１は参照画像収集手段２、３、１６、１７、２０、２１、２２、寝台移動手段１１、１２、１８、１９およびCT画像収集手段２、３、１６、１７、２０を備える。 - 特許庁

To provide a structure analysis method of a crystal applicable even to a case where a peak usable as a reference peak cannot be observed near an analysis object peak in an X-ray diffraction method.例文帳に追加

Ｘ線回折法において、基準ピークとなるようなピークが解析対象ピークの近傍に観測できないような場合にも適用できる結晶の構造解析方法を提供する。 - 特許庁

The casing is provided with a light shielding plate formed integrally with the casing, and for preventing the infrared ray from a subject from getting incident into a reference picture element that is one of the picture elements.例文帳に追加

筐体は、その筐体と一体に成形され、画素の一部である参照画素に被写体からの赤外線が入射しないように赤外線を妨げる遮光板を備える。 - 特許庁

By this constitution, accuracy of the position of an X-ray image of the reference scale 10 with respect to the metallic layer 13 is higher than the conventional one, and the position can be accurately determined.例文帳に追加

この構成により、基準スケール１０を撮影したＸ線画像の金属層１３に対応する位置の精度は従来より高くなり、正確な位置の判別を可能にする。 - 特許庁

As a result, variable adjustment of height of the stage is stopped when the ultraviolet-ray illuminance measuring value E obtained from the illuminance measuring circuit 128 matches the reference standard Es.例文帳に追加

これにより、照度測定回路１２８より得られる紫外線照度測定値Ｅが基準照度Ｅsに一致したところで、ステージ高さ位置の可変調整が停止するようになっている。 - 特許庁

Reference marks 50, 51 formed on a core substrate 60 of a substrate 5 are image-formed on a fluorescent plate 12 by being irradiated with X rays from an X-ray generator 11, and this is imaged by a visible light CCD camera 13 to simultaneously detect positions of the reference marks 50, 51.例文帳に追加

基板５のコア基板６０に形成された基準マーク５０、５１をＸ線発生器１１からのＸ線照射により蛍光板１２上に像を結び、これを可視光ＣＣＤカメラ１３で撮像して基準マーク５０、５１の位置を同時に検出する。 - 特許庁

A method and device for stabilizing the light-emitting wavelength of a laser light source stabilize the light-emitting wavelength of a light source 1 which emits a radiant ray having a first wavelength, by locking the wavelength to the light-emitting wavelength of a reference light source 2 which emits a radiant ray having a second wavelength, substantially different from the first wavelength.例文帳に追加

第１の波長の放射線を発する光源(1)の発光波長を、該第１の波長と実質的に異なる第２の波長の放射線を発する基準光源(2)の発光波長にロックさせることにより安定化させる方法及び装置が提供される。 - 特許庁

When the scanning gantry 103 is rotated in a condition the X-ray tube 104 is de-energized and the light from the LED 130 checks a detection signal form the photodetector group 136, whether or not an affection exists in between the reference channel and X-ray tube 104 can be optically detected.例文帳に追加

Ｘ線管１０４を消勢した状態で走査ガントリ１０３を回転させ、ＬＥＤ１３０からの光がフォトデテクタ群１３６の検出信号をチェックすると、リファレンスチャネルとＸ線管１０４との間に障害が存在するか否かを光学的に検出できる。 - 特許庁

To establish a reference and a method for determining conformity between an X-ray optical axis and the rotation center of a rotation axis from a laminogram so as to simplify regulation for matching the X-ray optical axis and the rotation center of the rotation axis with each other and to eliminate a personal unstable factor by a regulation operator.例文帳に追加

断層画像から、Ｘ線の光軸と回転軸の回転中心の一致度を判断する基準と方法を確立して、Ｘ線の光軸と回転軸の回転中心を一致させる調整の簡素化と調整者による人的な不安定要素を排除すること - 特許庁

The oxidizing agent (alkaline potassium peroxodisulfate) added by being measured by a measuring part 5 for reference sample water supplied to the inside of the oxidation decomposition of an oxidation decomposition part 1, and nitrogen oxide in the reference sample water by ultraviolet ray irradiation by a low pressure mercury lamp 3 are oxidized and decomposed into nitrate ion.例文帳に追加

酸化分解部１の酸化分解槽２内に供給さた基準試料水への計量部５で計測されて添加された酸化剤（アルカリ性ペルオキソ二硫酸カリウム）と、低圧水銀灯３よりの紫外線照射で、基準試料水内の窒素酸化物を硝酸イオンに酸化分解する。 - 特許庁

To reduce probability of causing molding failures such as a deviation of flatness and dimension of a positioning reference part by suppressing deterioration of glass temperature balance in a positioning reference part forming portion and its periphery when molding a glass funnel for a cathode ray tube wherein a thick-wall part is formed.例文帳に追加

厚肉部が形成された陰極線管用ガラスファンネルの成型時における位置決め基準部の形成箇所とその周辺とのガラス温度バランスの悪化を抑制して、位置決め基準部の平面性や寸法の狂い等の成型不良の発生確率を低減させる。 - 特許庁

Each infrared detection sensor constituting an infrared two-dimensional sensor array is provided with a reference capacitor, and an infrared detection capacitor connected in series to couple its one end to one end of the reference capacitor, of which the capacity value varies in response to an incident infrared ray.例文帳に追加

赤外線２次元センサアレイを構成する各赤外線検出センサは、参照キャパシタと、参照キャパシタの一方端とその一方端が結合するように直列に接続され、入射する赤外線に応じて容量値が変化する赤外線検出キャパシタとを備えている。 - 特許庁

When the guide hole is bored, images of reference position marks 15a and 15b formed on the subplate 14 are picked up by X-ray image pickup devices 4a and 4b are processed to compute the distance between the two reference position marks 15a and 15b.例文帳に追加

ガイド穴を穿孔する際には、Ｘ線撮像装置４ａ，４ｂを用いて、サブプレート１４に形成されている基準位置マーク１５ａ，１５ｂを撮像し、この撮像された基準位置マーク１５ａ，１５ｂを画像処理することにより、２つの基準位置マーク１５ａ，１５ｂ間の距離を演算する。 - 特許庁

To reduce the generation probability of poor forming of flatness, size deviation or the like of the positioning reference part by suppressing deterioration of the balance of the glass temperature between formation part of the positioning reference part and its periphery in molding a glass funnel for an cathode-ray tube were a thick wall part is formed.例文帳に追加

厚肉部が形成された陰極線管用ガラスファンネルの成型時における位置決め基準部の形成箇所とその周辺とのガラス温度バランスの悪化を抑制して、位置決め基準部の平面性や寸法の狂い等の成型不良の発生確率を低減させる。 - 特許庁

Thus, even when dust or the like is deposited on the light source 21 resulting in causing a steep luminous quantity unevenness, the reference distribution including scattered component of light by the reference films F1, F2 can be used, so that production of artifact can be suppressed and an excellent image from an X-ray film can be obtained.例文帳に追加

これにより、光源２１に塵埃等が付着し、急峻な光量むらが生じた場合でも、基準フィルムＦ１、Ｆ２での光の散乱成分を含んだ基準分布を用いることが可能となるため、アーチファクトの発生を抑え、良好なＸ線フィルムＦによる画像を得ることができる。 - 特許庁

Since the image receiving tube 22 is automatically fed with the high voltage just before stopping high voltage supply from the X-ray protect circuit 30, a long time is not required for raising the reference voltage being fed to the image receiving tube 22 up to a level just before operating the X-ray protect circuit 30, and the work for measuring a maximum X-ray radiation can be facilitated.例文帳に追加

受像管２２にはＸ線プロテクト回路３０が供給を停止させる直前の高電圧が自動的に供給されるので、Ｘ線プロテクト回路３０が作動する直前の電圧まで受像管２２に供給する高電圧を上昇させる作業に手間がかからなくなり、最大Ｘ線放射量を測定する作業を容易にさせることが可能となる。 - 特許庁

A positioning tool 1 is equipped with a tool body 11 having a reference surface 14 in a shape conforming with the outer shape of a funnel of the cathode ray tube, and a movable part 12 to slide on the tool body 11.例文帳に追加

位置決め治具１は、陰極線管のファンネル部の外形に合致した形状の基準面１４を有する本体部１１と、本体部１１に対してスライド移動する可動部１２を備える。 - 特許庁

The X-ray fluoroscopic apparatus further has an image processing changing means for changing image processing so that image processing can be individually changed in making the instant display and reference display of images and transferring the images.例文帳に追加

さらに、Ｘ線透視撮影装置は画像処理を変更する画像処理変更手段を有し、画像の即時表示、参照表示、転送の際に、個別に画像処理を変更することができる。 - 特許庁

In the section 23, a digital data signal S3 for decreasing the deviation between the power supply voltage and a reference voltage is formed, and an infrared ray is emitted from a light emitting element d2 based on the signal S3.例文帳に追加

リモート部２３は、電源電圧と基準電圧との偏差を小さくするデジタルデータ信号Ｓ３を形成し、このデジタルデータ信号Ｓ３に基づき発光素子ｄ２から赤外線を発光する。 - 特許庁

To provide an X-ray analyzing device capable of visually and easily discriminating the ranks of measured values of respective measurement points regardless of the installation location of the device or a measurer without using a reference material.例文帳に追加

標準物質を使用せず、装置の設置場所や測定者の如何にかかわらず、各測定点の測定値のランクを視覚的に容易に判別することができるＸ線分析装置を提供する。 - 特許庁

Data that indicate the relation between the detection value of the flat panel detector 4 and thickness of a soft tissue and a bone part when the high voltage and low voltage are imparted to the X-ray tube 3 are recorded in the reference table 18.例文帳に追加

参照テーブル１８には、Ｘ線管３に高電圧と低電圧とを付与したときのフラットパネルディテクタ４の検出値と軟部組織および骨部の厚さとの関係を示すデータが記録されている。 - 特許庁

The determining part 8 determines whether the heat ray sensor 2 detects accurately the human body or not, irrespective of the area situation, by changing a determination reference in response to the condition signal D3.例文帳に追加

判断部８は、条件信号Ｄ３に応じて判断基準を変更することによって、エリア状況の変化に関わらず正確に熱線センサ２が人体を検出したか否かを判断することができる。 - 特許庁

A value obtained by dividing "the intensity ratio of the object specimen" by "the intensity ratio of the reference specimen" is taken as "a standardized diffracted X-ray intensity ratio" to analyze a crystalline state from this value.例文帳に追加

そして、「対象試料の回折Ｘ線強度比」を、「参照試料の回折Ｘ線強度比」で除算した値を、「規格化された回折Ｘ線強度比」としこの値から結晶状態を解析する。 - 特許庁

A high voltage fed to an image receiving tube 22 is generated variably, a DC reference voltage E2 varying in correspondence with the high voltage is detected, the reference voltage just before stopping high voltage supply from an X-ray protect circuit 30 to the image receiving tube 22 is detected with reference to a case of raising the high voltage, and a high voltage corresponding to the detected reference voltage is generated.例文帳に追加

受像管２２に供給する高電圧を変更可能に生成し、高電圧に対応して変化する直流の基準電圧Ｅ２を検出し、高電圧を上昇させる場合を基準としてＸ線プロテクト回路３０が受像管２２に対する高電圧の供給を停止させる直前の基準電圧を検出し、検出した同直前の基準電圧に対応する高電圧を生成させる制御を行うようにした。 - 特許庁

When a photography condition is set by an operator, a photography plan setting screen control section 204 determines whether or not an exposure dose that the subject receives when X ray is radiated from the photography condition exceeds the reference dose correlated with the attribute information of a photography object or the subject by referring to the reference dose information stored in the reference dose memory section 203.例文帳に追加

また、撮影計画設定画面制御部２０４が、操作者によって撮影条件が設定された場合に、リファレンス線量記憶部２０３により記憶されたリファレンス線量情報を参照して、当該撮影条件でＸ線が照射された場合の被ばく線量が撮影対象の被検体の属性情報に対応するリファレンス線量を超えているか否かを判定する。 - 特許庁

In respect to an area when a solar ray source object to become a reference form is located within a prescribed distance from the virtual camera 202, the ratio of the area of a rendering image in the light source object 200 and the solar ray source object is found and on the basis of this ratio, the transparency or color information of the halation object is changed.例文帳に追加

仮想カメラ２０２から所与の距離に基準形状となる太陽光源オブジェクトが配置されたときの面積に対して、光源オブジェクト２００太陽光源オブジェクトのレンダリング画像の面積の比率を求め、この比率に基づいて、ハレーションオブジェクトの透明度若しくは色情報を変化させる。 - 特許庁

The reflected X-ray measuring means 6 is moved along the track obtained by setting an emitted X-ray vector in the same direction as the incident vector of incident X-rays to a reference point (zero point) to rotate the same centering around the normal line T from the center of the surface of the measuring sample to detect the diffracted light from the surface of the sample.例文帳に追加

入射Ｘ線の入射ベクトルと同方向の射出Ｘ線ベクトルを基準点（０点）として、前記測定試料表面の中心からの法線Ｔの周りに前記射出ベクトルを回転して得た軌跡に沿って、前記反射Ｘ線測定手段６を移動し、試料表面からの回折光を検出する。 - 特許庁

By comparing a reference data base in which two-dimensional X-ray diffraction line data of an equatorial direction (2θ direction) and a Debye ring direction (β direction) on a plurality of substances is stored with two-dimensional X-ray diffraction line data of the equatorial direction and the Debye ring direction on substance to be measured, the substance to be measured is identified.例文帳に追加

複数の物質に関する赤道方向（２θ方向）およびデバイリング方向（β方向）の２次元Ｘ線回折線データを記憶した標準データベースと、被測定物質の赤道方向およびデバイリング方向の２次元Ｘ線回折線データとを比較することにより、被測定物質の同定を行う。 - 特許庁

A correction operation device 25 outputs correction time information (τ-Δτ) as a precise γ-ray absorption time, and high precision address information (N*N') in which the absorption position N' of the γ-ray inside the semiconductor detectors 1a-1n is added, respectively to a simultaneous counting device 26, with reference to the time correction value Δτ.例文帳に追加

そして、補正用演算装置２５は、時刻補正値Δτを参照することにより、正確なγ線吸収時刻である補正時刻情報（τ−Δτ）と、半導体検出器１ａ、１ｂ・・・１ｎ内部でのγ線の吸収位置Ｎ′を付加した高精度アドレス情報（Ｎ＊Ｎ′）とを、同時計数装置２６にそれぞれ出力する。 - 特許庁

A correction operation device 25 outputs correction time information (τ-Δτ) as the precise γ-ray absorption time and high precision address information (N*N') in which the absorption position N' of the γ-ray inside the semiconductor detectors 1a, and 1b-1n is added, to a simultaneous counting device 26, with reference to the time correction value Δτ.例文帳に追加

そして、補正用演算装置２５は、時刻補正値Δτを参照することにより、正確なγ線吸収時刻である補正時刻情報（τ−Δτ）と、半導体検出器１ａ、１ｂ・・・１ｎ内部でのγ線の吸収位置Ｎ′を付加した高精度アドレス情報（Ｎ＊Ｎ′）とを、同時計数装置２６にそれぞれ出力する。 - 特許庁

The X-ray CT apparatus 1 measures the gain difference between a reference amplifier 33A and the other amplifier 33B and calculates a correction value Acorr (a gain correction table 72).例文帳に追加

このようなＸ線ＣＴ装置１において、空気計測データに基づき、基準とする増幅器３３Ａとその他の増幅器３３Ｂとのゲイン差を算出し、補正値Ａｃｏｒｒ（ゲイン補正テーブル７２）を算出する。 - 特許庁

A photographing control part 20a controls a top plate driving part 24 based on this information to move the top plate 10 so as to match the target position with the reference point, and afterwards photographs the X-ray fluoroscopic image for target collation.例文帳に追加

撮影制御部２０ａはこの情報を基に天板駆動部２４を制御し、目的位置が基準点に一致するように天板１０を移動させ、その後、照準照合用のＸ線透視画像を撮影する。 - 特許庁

Similarly a two-way infrared ray communication controller is provided with a detection section to extract only a particular signal from signals subjected to gain control, and a resistor R for the reference voltage is connected to the detection section.例文帳に追加

双方向赤外通信コントローラも同様には、ゲインコントロールされた信号から、特定の信号のみを抽出する為の検出部が設けられ、検出部にはリファレンス電圧のための抵抗Ｒが接続されている。 - 特許庁

A noise separation circuit 14, an integral circuit 15 for outputting an integral value of the noise, and a comparison circuit 16 for comparing the integral value with a reference voltage (prescribed level) are connected to the infrared ray receiving section 13.例文帳に追加

前記赤外線受光部１３には、ノイズ分離回路１４、ノイズの積分値を出力する積分回路１５、及び前記積分値と基準電圧（所定レベル）とを比較する比較回路１６が接続されている。 - 特許庁

The rotation angle position of the ingot is set in a third angle position which forms 90° with reference to the first and second angle positions, the ingot is swiveled, and a third swivel angle X until the reflected X-ray amount becomes maximum is measure.例文帳に追加

インゴットの回転角度位置を前記第１及び第２の角度位置に対して９０゜をなす第３の角度位置に設定してインゴットを旋回させ、反射Ｘ線量が最大となるまでの第３の旋回角度Ｘを測定する。 - 特許庁

The X-ray fluoroscopic apparatus carries out image processing of the instructed raw image out of the stored raw images and makes a reference display, and carries out image processing of the instructed raw image out of the stored raw images and transfers it to a transfer destination.例文帳に追加

Ｘ線透視撮影装置は、保存された生画像のうち指示された生画像を画像処理して参照表示するとともに、保存された生画像のうち指示された生画像を画像処理して転送先に転送する。 - 特許庁

The bolometers 11-14 each include a bolometer element 112 which is connected to a reference resistor 111 in series, and varies in a resistance value with intensity of infrared ray, and a differential circuit 113 which differentiates a sensor signal to obtain a differential signal.例文帳に追加

各ボロメータ１１〜１４は、基準抵抗器１１１と直列に接続され、赤外線の強度に応じて抵抗値が変化するボロメータ素子１１２と、センサ信号を微分して微分信号を取得する微分回路１１３とを備える。 - 特許庁