「reference surface」に関連した英語例文の一覧と使い方(28ページ目) - Weblio英語例文検索

A side wall part 4b of the first tip installation seat 4 is composed of receiving surfaces 11a, 11b to receive a reference flat surface 20 formed by a slide surface 18 of the throwaway tip 5, and thinning parts 12a, 12b.例文帳に追加

第一のチップ取付座４の側壁部４ｂを、丸型スローアウェイチップ５の側面１８に形成される基準平面２０を受ける受け面１１ａ、１１ｂと、ぬすみ部１２ａ、１２ｂとによって構成する。 - 特許庁

Each projection part 2408 for biasing the outer surface of the pipe material 12 in the pressing direction onto the reference plane 2402 by abutment on the outer surface of the pipe material 12 is provided on each tip of the two arm parts 2404, respectively.例文帳に追加

２つのアーム部２４０４の先端にはパイプ材１２の外面に当接することでパイプ材１２の外面を基準面２４０２に押し付ける方向に付勢する凸部２４０８がそれぞれ設けられている。 - 特許庁

Further, when the back surface side door 3 performs opening action, it is turned from the reference attitude to second attitude by the camera drive part 5 so as to photograph the user M2 riding while passing through the back surface side door 3.例文帳に追加

また、背面側ドア３が戸開動作するときは、背面側ドア３を通って乗り込んでくる利用者Ｍ２を撮影できるように、カメラ駆動部５により基準姿勢から第２の姿勢まで回動される。 - 特許庁

To improve measurement accuracy of a wavefront by reducing measurement errors, due to the positioning precision of the relative movement of a surface to be measured and the reference surface, in a wavefront measurement method and a wavefront measuring device.例文帳に追加

波面測定方法および装置において、被測定面および参照面の相対移動の位置決め精度による測定誤差を低減して、波面測定の測定精度を向上することができるようにする。 - 特許庁

To provide a side plate holder installation tool of a passenger conveyor, which is simply installed so that a reference surface becomes parallel to the upper surface of an upper beam, when installing a side plate holder on the upper beam of a truss.例文帳に追加

側板保持具をトラスの上梁に取付ける際に、基準面が上梁の上面に対して簡単に平行になるように取付けることを可能にした乗客コンベアの側板保持具据付治具を得る。 - 特許庁

The substrate for the information recording medium of 2 to 7 nm in height at a contact ratio of 0.4% of surface ruggedness when the case of 50% in the contact ratio of the surface ruggedness is defined as a reference height is manufactured.例文帳に追加

表面凹凸の接触比率が５０％の場合を基準高さとしたとき、その表面凹凸の接触比率０．４％における高さが２〜７nmである情報記録媒体用基板を製造する。 - 特許庁

Concerning each of a reference lens and a test lens, displacement caused by refraction of each beam when a plurality of beams entering from the lens surface side on the object side are output from a lens surface on the eyeball side is mapped.例文帳に追加

リファレンスレンズと被験レンズのそれぞれについて物体側のレンズ面側から入射した複数の光線がそれぞれ眼球側のレンズ面から出射された際の同各光線毎の屈折による変位をマッピングする。 - 特許庁

A primary surface 13a tilts from a surface orthogonal to a reference axis that extends in a direction from one crystal axis of the m-axis and the a-axis of GaN toward the other crystal axis.例文帳に追加

主面１３ａは、ＧａＮのｍ軸及びａ軸のうちの一方の結晶軸の方向に延びる基準軸に直交する面からＧａＮのｍ軸及びａ軸のうちの他方の結晶軸の方向に傾斜する。 - 特許庁

To solve the following problem; it is impossible to accurately measure a distance between an irradiated surface and an objective lens, provided that the center of the optical axis on the irradiated surface machined with laser beams is used as a ranging reference position for automatic-focusing.例文帳に追加

レーザ光による加工が行われている被照射面の光軸の中心を自動焦点の測距の基準位置とすると、正確な被照射面と対物レンズとの間の測距を行うことができない。 - 特許庁

To provide an apparatus for measuring aspheric surface eccentricity allowing precise determination of an origin point of a probe without applying specific processing on a portion for holding an object to be inspected, without requiring a reference object having high surface precision.例文帳に追加

被検物を保持する部分に特別な加工を行うことなく、面精度の高い基準物を必要とせずに、プローブの原点位置を高精度に決定できる非球面偏心測定装置を提供する。 - 特許庁

Position adjustment of a camera body 2 is performed by a position adjustment mechanism 4 with reference to a position relationship of a mark given to a bottom surface part 2a of the camera body 2 and a slit formed on a bottom surface part 3a of a bracket 3.例文帳に追加

カメラ本体２の底面部２ａに付与されたマークとブラケット３の底面部３ａに形成されたスリットの位置関係を参照して、位置調整機構４によりカメラ本体２の位置調整を行う。 - 特許庁

Since a reference base 16 abutting on the lower end 20a of the upper trim 20 is formed on a base trim 6, a position of the lower end 20a of the upper trim 20 becomes constant and the surface accuracy of the upper trim 20 is enhanced by forming the reference base 16.例文帳に追加

ベーストリム６にアッパトリム２０の下端部２０ａと当接する基準台座１６を形成したため、この基準台座１６を形成したことにより、アッパトリム２０の下端部２０ａの位置が一定になり、アッパトリム２０の面精度が向上する。 - 特許庁

Both side surface parts 12, 13 of a pre-manufactured truss are mounted on an assembling tool 20 including a plurality of reference posts 22, 23 erecting with an interval meeting width direction dimension of the truss 11 with abutting on the reference posts 22, 23.例文帳に追加

トラス１１の幅方向の寸法に合わせた間隔を空けて立設された複数の基準柱２２、２３を有する組立治具２０に対し、あらかじめ作製されたトラスの両側面部１２、１３をこれらの基準柱２２、２３に当接させて取り付ける。 - 特許庁

When a detection part 13 including a touch panel detects a detection object which gets close to a touch panel surface, a control part 11 determines a reference point on the basis of proximity position information and sensor strength, and a display part 12 performs enlarged display with the reference point as a center.例文帳に追加

タッチパネルを備えた検出部１３がタッチパネル面に近接した検出物を検出すると、制御部１１は近接位置情報とセンサー強度を元に基準点を決定し、表示部１２は基準点を中心に拡大表示を行う。 - 特許庁

A flake 301 which is processed into a strip shape from the straight grain surface 215 of the reference wood piece 201 through a belt-like flake 217 has a wood material cross section structure which has been colored evenly to each other, and the characteristics are peculiar to the reference wood piece 201.例文帳に追加

基準木片２０１の柾目面２１５から、帯状薄片２１７を経て、短冊状に加工された薄片３０１は、互いに均一の着色された木材断面組織を持つが、その特徴は、基準木片２０１に固有のものである。 - 特許庁

To provide a cassette that is equipped with a reference hole and a reference surface for positioning suitable for the improvement of positioning accuracy and that has such interchangeability with a different thickness as to be loaded in a recording and reproducing device.例文帳に追加

本発明の目的は、位置決め精度の向上に好適な位置決め用の基準穴および基準面を備えたカセットであって、異なる厚さであっても、互換性を有して記録再生装置に装着されるカセットを提供することである。 - 特許庁

Reference surfaces 20 and 22 formed at a CCD package 10 are abutted on three projections 62 projectingly provided on the reference surface 60 of the optical unit 40 to support the package 10 to the unit 40 with three points.例文帳に追加

本発明によれば、ＣＣＤパッケージ１０に形成された基準面２０、２２を、光学ユニット４０の基準面６０に突設された三本の突部６２、６２、６２に当接させることにより、ＣＣＤパッケージ１０を光学ユニット４０に対して三点支持する。 - 特許庁

In a manufacturing method of a semiconductor device, in which a wafer is plated, the plating is performed by providing a reference electrode in the vicinity of the wafer and controlling applied voltage based on the surface potential of the wafer, which is obtained by the reference electrode.例文帳に追加

ウェハにメッキ処理を行う半導体装置の製造方法において、前記ウェハの近傍に参照電極を設け、この参照電極によって得られるウェハの表面電位に基づいて印加電圧を制御してメッキ処理を行う。 - 特許庁

The method further comprises the steps of calculating the height of the object from the relationship between the slit light reflected image of each image and the slit light reflected reference image formed on the reference surface to be measured, and processing the three-dimensional image to recognize the height side of the object.例文帳に追加

各画像におけるスリット光反射像とスリット光が測定基準面上につくるスリット光反射基準像との関係から物体の高さが算出され、物体の高さ寸法を認識する３次元画像処理が行なわれる。 - 特許庁

A reference satellite 20 having selected shape and surface material is used separately from a main satellite 10 so that the orbit of the reference satellite 20, when tracked only by a tracking station on the earth, can be determined with higher precision than that of the main satellite 10.例文帳に追加

主衛星10とは別個に、地球上の追跡局からのみその衛星を追尾しても当該主衛星10よりは高い精度でその軌道決定を行えるように、形状及び表面材質を選択した基準衛星20を用いる。 - 特許庁

In particular, formation of a film on the surface of a collector is minimized by coating the collector of the reference electrode 110 with conductive carbon coating material, and accurate evaluation can be ensured even if the active carbon electrode is used as the reference electrode 110.例文帳に追加

特に、参照極１１０の集電体に導電性カーボン塗料を塗布することで、集電体表面上の被膜形成が抑制され、活性炭電極を参照極１１０として使用しても正確な評価が可能となった。 - 特許庁

In the lock reference position where lock reference setting surfaces 2f of the vertical pieces 2e are in contact with an outer peripheral surface of a container body, press-down operation of the cover cap is prevented by contact between lower end surfaces 2a of the cover cap and an edge part 1b of the container body.例文帳に追加

縦方向片部２ｅのロック基準設定面２ｆが容器本体外周面に当接したロック基準位置では、カバーキャップ下端面２ａと容器本体縁部分１ｂとの当接作用でカバーキャップ押下げ操作が阻止される。 - 特許庁

Since the mechanical origin is fixed and set at a nozzle 5, and the three- dimensional expression is described by the nozzle-fixed coordinate system fixed at the nozzle 5, the angle of a jet is resultantly measured with respect to the reference line or the reference surface of the nozzle.例文帳に追加

機械的原点がノズル５に固定されて設定され、その３次元表現はノズル５に固定されているノズル固定座標系で記述されるので、噴流の角度がノズルの基準線又は基準面に対して計測されたことになる。 - 特許庁

The calibration jig for three dimensional measuring machine comprises: a block gauge of length standard; three reference spheres having respective prescribed diameters; a biasing means for abutting each reference ball to the end surface of the block gauge with a certain force.例文帳に追加

３次元測定機の校正治具であって、長さ標準器であるブロックゲージと、それぞれ所定の基準径をもつ少なくとも３つの基準球と、上記ブロックゲージの側端面に一定の力で上記各基準球を当接させる付勢手段とを備える。 - 特許庁

When the side edge of the sheet is aligned to a predetermined direction by the inclination roller 42 and the side reference correction part 50, the sheet is guided by the side reference correction part 50 and the inside guide surface 90 and is conveyed by the inclination roller 42.例文帳に追加

また、シートの側縁が傾斜コロ４２及び側方基準修正部５０によって所定の方向に揃えられると、シートは側方基準修正部５０及び内側案内面９０によって案内され、傾斜コロ４２によって搬送される。 - 特許庁

The material can be removed from the bearing surface to the extent that the feature of the monitoring device and that of the reference device become substantially equal, and then, the stripe heights of the monitoring device and the magnetoresistive device become substantially equal to that of the reference device.例文帳に追加

材料は、監視素子の特徴と基準素子の特徴とが実質的に等しくなるまで軸受面から磁気され得るが、このときに、監視素子および磁気抵抗素子のストライプ高さは基準素子のストライプ高さと実質的に等しくなる。 - 特許庁

A motion detector 400 detects the relative motion of the inclined smear 204 to be generated on the imaging surface 200 of a solid-state imaging device against a reference line, and a smear position detector 500 detects the smear position in the reference line.例文帳に追加

固体撮像装置の撮像面２００において生じる傾斜したスミア２０４の、基準ラインに対する相対的な動きを、動き検出部４００にて検出し、基準ラインにおけるスミア位置をスミア位置検出部５００にて検出する。 - 特許庁

Rails 5, 5 as an installation reference are arranged on a tank wall 80, and a top place of basin bottom rails 3, 3 and a placed mortar surface are uniformed by traveling by suspending a basin bottom rail adjusting machine and mortar adjusting machine with these reference rails as the basis.例文帳に追加

槽壁８０に据付の基準となるレール５，５を設け、この基準レールを基にして、池底レール調整機兼モルタル調整機を懸架して走行させることによって、池底レール３，３の天場及び打設されたモルタルの面を均一にする。 - 特許庁

An optical axis evaluation device A of the optical system 1 is equipped with a display device 8 having a display area and a projected image capture device 3 for always displaying the image which is projected on a reference surface from the optical system 1, at a reference position on the display area.例文帳に追加

光学系１の光軸評価装置Ａは、表示領域を有する表示器８と、光学系１から基準面上に投影された像を、表示領域上の基準位置に常に表示させる投影像捕捉装置３とを備える。 - 特許庁

The semiconductor device is formed of a zinc oxide semiconductor having a hexagonal crystal structure and comprises a substrate 1 where four side surfaces orthogonal to a first main surface 111 being a polar surface are adjoined to the first main surface 111 at an angle 40-50° with respect to a reference non-polar surface orthogonal to the first main surface 111, and a semiconductor layer 2 arranged on the first main surface 111.例文帳に追加

六方晶構造の酸化亜鉛系半導体からなり、極性面である第１の主面１１１、及びその第１の主面１１１に対し直交する基準の非極性面と４０度乃至５０度の角をなして第１の主面１１１と直交する４つの側面を第１の主面１１１に隣接させた基板１と、第１の主面１１１上に配置された半導体層２とを備える。 - 特許庁

The optical element (optical lens 10) includes optical functional surfaces 12a and 14a for refracting or reflecting incident light, and a reference surface formed as a flat reflection mirror surface 18 on the more outside than the optical functional surface in order to show the direction of the optical axis P1.例文帳に追加

入射した光を屈折または反射させるための光学機能面１２ａ、１４ａと、光軸Ｐ１の方向を示すために光学機能面より外側に平坦な反射鏡面１８として形成された基準面と、を備えること特徴とする光学素子（光学レンズ１０）が提供される。 - 特許庁

The complexity is solved by providing an axicon mirror 406, which is defined by an object surface 402, an inner diameter and an outer diameter and a tilt angle being defined by a reference plane 500 and the surface, and a lens structure 400 which includes an image surface 404 within the inner diameter of the axicon mirror 406.例文帳に追加

対物表面４０２と、内径および外径と、その基準平面５００および表面により規定される傾き角とによって定まるアキシコンミラー４０６と、アキシコンミラー４０６の内径内にある像表面４０４とを含んでなるレンズ構造体４００を提供する。 - 特許庁

The stem 1 and the block 3 are such that, when the block 3 is fitted with a fitting part 12 of an external heat dissipation body 11, the reference surface 1a of the stem 1 and the majority of the curved surface of the block 3 come into direct contact with a specified surface and the fitting part 12 of the external heat dissipation body 11.例文帳に追加

ステム１およびブロック３は、ブロック３が外部放熱体１１の嵌合部１２に嵌合されたときに、ステム１の基準面１ａおよびブロック３の前記湾曲面の大部分が外部放熱体１１の特定の面および嵌合部１２に直接接触する。 - 特許庁

A part of the sliding surface 11A (the smooth surface 20), which is expressed with oblique lines surrounded by points C, O and D forming an angle within a range of ±45 degrees, for example, based on top dead center points (TDC) of a piston 8 as a reference, is provided with a fine irregular surface part 21 by performing short-peening.例文帳に追加

摺動面１１Ａ（平滑面２０）のうちピストン８の上死点位置（Ｔ．Ｄ．Ｃ）を基準として、例えば±４５度の角度範囲となる点Ｃ、点Ｏ、点Ｄで囲まれた斜線で示す部分には、ショットピーニング加工を施すことにより微細な凹凸面部２１を形成する。 - 特許庁

A shape of the target surface 71 is measured and analyzed on the basis of respective interference fringe images imaged per wavelength of the interference light and an optical distance, on the optical path, of the measurement light from a reference base surface 31a to the target surface 71 at the time when the respective interference fringe images have been imaged.例文帳に追加

干渉光の波長別に撮像された各干渉縞画像および該各干渉縞画像の撮像時点における、参照基準面３１ａから被検面７１までの測定光の光路上における光学距離に基づき、被検面７１の形状が測定解析される。 - 特許庁

The molten steel surface rising speed is calculated based on the variation of the molten steel surface level with a casting control device 23 and the deviation between this molten steel surface rising speed and a reference speed, is obtd., and while applying the limitation to the max. value of this deviation, a control signal based on this deviation is outputted to a servo-amplifier 24.例文帳に追加

鋳造制御装置２３はその湯面レベルの変化に基づいて湯面上昇速度を算出し、その湯面上昇速度と基準速度との偏差を求め、その偏差の最大値に制限を加えつつ、その偏差に基づいた制御信号をサーボアンプ２４に出力する。 - 特許庁

The medium transferred in an oblique direction by the direction correcting roller 600 has its side edge making contact with a side guide surface 403a of the side wall member 400 and simultaneously with correction of the skew, positioning in the direction of width is effected based on the side guide surface 403a forming a reference surface.例文帳に追加

方向修正ローラ６００によって斜め送り方向へ移送された媒体は、その側端縁が側壁部材４００の側部ガイド面４０３ａに当接して、傾きが修正されると同時に、側部ガイド面４０３ａを基準面として幅方向の位置決めがなされる。 - 特許庁

A jaundice meter as an optical internal information measuring device emits light from LED's 21 and 22 in a measurement head Hd in the direction inclined with respect to a normal NL to a measuring window WM whose surface to be brought into contact in parallel with the body surface of the subject to be measured is formed on a measurement reference surface FP.例文帳に追加

光学的内部情報計測装置としての黄疸計は、測定ヘッドＨｄにおいて、被測定者の体表に平行に接触させる面を計測基準面ＦＰに形成した計測窓ＷＭの法線ＮＬから傾斜した方向に、ＬＥＤ２１，２２から投光を行う。 - 特許庁

A road surface region is clipped by recognizing a white line (e.g. the center line painted on the road surface) in an input image picked up by means of a camera, and a region other than a road is specified from the road surface region in the input image based on reference data corresponding to the road.例文帳に追加

カメラで撮影された入力画像内の白線（例えば、路面にペイントされた中央線など）を認識して、路面領域の切出しを行うとともに、道路に対応する基準データに基づいて、入力画像内の路面領域の中から道路外の領域を特定する。 - 特許庁

In the surface defect evaluation, the surface area defined by a mismatching measurement point group as the surface defect, on the basis of a distribution density of the mismatching measurement point group, including a plurality of measurement points that do not properly correspond to the reference point and adjacent to one another.例文帳に追加

表面欠陥評価において、基準点と適正に対応せず互いに隣接する複数の測定点からなる誤対応測定点群の分布密度に基づいて当該誤対応測定点群によって規定される表面領域を表面欠陥と判定する。 - 特許庁

The marking device uses an imager to image an area to be marked on a surface of the tire side, and puts a mark on the area when the height of a convex surface with respect to a reference surface in the imaged area to be marked is below a predetermined threshold.例文帳に追加

タイヤサイド部の表面におけるマーク打点予定領域を撮像手段により撮像し、当該撮像されたマーク打点予定領域における基準面に対する凸部表面の高さが予め規定された閾値を下回るときにマーク打点予定領域にマークを打点する。 - 特許庁

In a light emitting device in which a plurality of light emitting elements are arranged, LED chips as the light emitting element are installed, each of the chips is tilted at a fixed angle for mounting with respect to an angle reference surface, respectively, and arranged on a level surface, the direction normal to each tilted surface being changed to a desired direction, respectively.例文帳に追加

複数の発光素子を配置して成る発光装置において、発光素子であるＬＥＤチップを角度基準面に対して所定の角度で傾斜させてそれぞれ実装し、且つ各々の傾斜面の法線方向をそれぞれ所望の方向に変えて平面状に配置する。 - 特許庁

In this process, the yaw rate comparing road surface μ estimation unit 14 estimates the road surface μ only in a yaw rate rising time, so that an accurate road surface μ estimation value can be provided without any influence of a time lag difference between the yaw rate actual value on driver operation and the yaw rate reference value.例文帳に追加

ここで、ヨーレート比較路面μ推定部１４は、ヨーレートの立ち上がり時にのみ路面μの推定を行うようになっているので、ドライバ操作に対するヨーレートの実際値と基準値の時間遅れの差の影響を受けずに精度の良い路面μ推定値を得ることができる。 - 特許庁

In exciting electrodes formed on a principal surface of a piezoelectric substrate, the exciting electrodes formed at least on one principal surface of the piezoelectric substrate are shaped asymmetrical by using a center axis bisecting a longer side on the principal surface of the piezoelectric substrate and a center axis bisecting the short side for a reference.例文帳に追加

圧電基板主面上に形成する励振電極において、該圧電基板の主面上の長辺を二等分する中心軸と短辺を二等分する中心軸とを基準として、前記圧電基板の少なくとも一方の主面上に形成する励振電極の形状を非対称とした。 - 特許庁

A bump structure unit 25 projected from a reference surface molding surface 23a is formed in the flange molding unit 23 of a body mold 13 for molding the flange part, etc. of a plastic lens, and a mark molding unit 27 for molding a mark for distinguishing the mold is formed on the upper surface of this bump structure unit 25.例文帳に追加

プラスチックレンズのフランジ部等を成形する本体型１３のフランジ成形部２３に、基準面成形面２３ａから突出される段差部２５を形成し、この段差部２５の上面の刻印面２６に、金型識別用のマークを成形するマーク成形部２７を形成する。 - 特許庁