「single microscope」に関連した英語例文の一覧と使い方 - Weblio英語例文検索

SINGLE-LENS TYPE MICROSCOPE OBSERVATION DEVICE USING CCD CAMERA AND ITS ACCESSORY例文帳に追加

ＣＣＤカメラを使った単レンズ型の顕微鏡観察装置とその付属品 - 特許庁

METHOD FOR DETERMINING SPECIMEN SIZE THROUGH SINGLE MICROSCOPE AND SPECIMEN HOLDING INSTRUMENT APPLYING PREVIOUS TREATMENT例文帳に追加

単式顕微鏡における試料サイズの決定方法と前処理をした試料保持器具 - 特許庁

To obtain a fluorescent microscope by which stray light inside a microscope is extremely reduced and by which a single fluorescent molecule can be easily observed.例文帳に追加

顕微鏡内の迷光を極力少なくして、単一蛍光分子の観察が容易に行えるような蛍光顕微鏡を提供する。 - 特許庁

To perform both observation by a scanning electron microscope and observation by a photo-electron microscope by using a single device without moving a sample.例文帳に追加

試料を移動することなく、一つの装置で走査型電子顕微鏡による観察と光電子顕微鏡による観察とを可能にする。 - 特許庁

To provide a multi-focus scanning multi-photon microscope capable of realizing a scanning speed far exceeding the limit of a single focus scanning multi-photon microscope.例文帳に追加

単一焦点走査方式の多光子顕微鏡の限界を遙かに越える高い走査速度を実現し得る、多焦点走査方式の多光子顕微鏡を提供する。 - 特許庁

Light from a light source section 1 is introduced in a primary microscope body 3 through a single-fiber unit 2 having a single fiber and an image at an exit end of the fiber unit 2 is projected on the pupil of an objective 33 through a projection lens 31 in the primary microscope body 3.例文帳に追加

光源部１からの光を単芯のコアを有するファイバ単芯２により顕微鏡本体３に導入し、顕微鏡本体３内の投影レンズ３１によりファイバ２の出射端の像を対物レンズ３３の瞳に投影する。 - 特許庁

To provide a control program capable of running as a single application program to control a plurality of microscope photographing apparatuses having different specifications.例文帳に追加

仕様の異なる複数の顕微鏡撮影装置を単一のアプリケーションプログラムとして制御できる制御プログラムを提供する。 - 特許庁

Consequently, a contrast transfer function of the TEM according to the present invention is considered to be equal to that of a single-sideband microscope at low frequencies and that of a normal microscope at high frequencies.例文帳に追加

結果として、この発明に従ったＴＥＭのコントラスト伝達関数は、低い周波数でシングルサイドバンドの顕微鏡のもの及び高い周波数については正常な顕微鏡のものに等しいことになる。 - 特許庁

To provide a device for mating the face azimuth of a single crystal material which does not use a microscope, improves working efficiency, and can accurately obtain a crystal azimuth face in a cutting surface and a method for slicing the single crystal material.例文帳に追加

顕微鏡を使用せず、作業効率を向上させ、かつ、高精度で切断面に結晶方位面を得ることができる単結晶材料の面方位合わせ装置および単結晶材料のスライス方法を提供する。 - 特許庁

To provide a video microscope by which a cuticle can be more clearly observed by performing operation for the change of magnification and focusing by a single hand without interrupting the observation of hair.例文帳に追加

髪の毛の観察を中断せずに倍率の変更とピント合わせを片手で操作できるようにし、さらに鮮明にキューティクルの観察ができるビデオマイクロスコープを提供する。 - 特許庁

To install a micromachining function of an FIB (focused-ion beam) system and a non-destructive and excellent image forming function of an SEM (scanning electron microscope) into a single apparatus suitable for mass production of high-precision nanodevices.例文帳に追加

ＦＩＢシステムのマイクロマシニング機能と、ＳＥＭの非破壊かつ優れた像形成機能とを、高精度なナノデバイスの大量生産に適した１台の装置に組み込む。 - 特許庁

To provide a microscope device capable of altering an observation position at high speed in a single or plurality of incubation containers, with a reflux tube or potential measurement patch attached thereto.例文帳に追加

環流用チューブや電位測定用パッチを付けた状態で、単一または複数の培養容器において高速に観察位置を変更できる顕微鏡装置の提供。 - 特許庁

The laser microscope has a laser unit 1, a scanner unit 8 connected to the laser unit 1 through a single mode fiber 7 and the spectroscope unit 24 positioned in the scanner unit 8.例文帳に追加

レーザ顕微鏡は、レーザユニット１と、シングルモードファイバ７を介してレーザユニット１と接続されたスキャナユニット８と、スキャナユニット８内に位置する分光ユニット２４を有している。 - 特許庁

To provide a method for a nano-imprint superior in space contorollability using a single polymeric material as a transfer material and a specimen for conditioning the electron-microscope using it.例文帳に追加

単一の高分子材料を転写材として、厚さ制御性に優れたナノインプリント法及びこれを用いた電子顕微鏡調整用試料を提供することにある。 - 特許庁

To provide a microscope by which all of the multiple photon excitation fluorescence observation, second higher harmonic observation and coherent Raman scattering light observation concurrently with each other or one of them selectively can be performed corresponding to an observation purpose to a sample by using a single microscope.例文帳に追加

一台の顕微鏡でもって、一つの標本に対し、観察する目的に応じて、多光子励起蛍光観察、第二高調波観察、コヒーレントラマン散乱光観察の全てを並行して或いは選択的に行うことができる顕微鏡を提供する。 - 特許庁

The perovskite type compound oxide particle consists of a single crystal particle of a perovskite type compound oxide, has 5-50 nm average particle size, which is calculated by using the results measured by using a transmission electron microscope, and contains a noble metal in a crystal lattice of the single crystal particle.例文帳に追加

ペロブスカイト型複合酸化物の単結晶粒子からなり、透過型電子顕微鏡の観測結果から求めた平均粒子径が５ｎｍ以上５０ｎｍ以下であり、その結晶格子中に貴金属元素が含まれている構成とする。 - 特許庁

To provide a microscope apparatus capable of changing observation positions of a single or a plurality of culture vessels at a high speed in the state of attaching a tube for reflux and a patch for potential measurement.例文帳に追加

環流用チューブや電位測定用パッチを付けた状態で、単一または複数の培養容器において高速に観察位置を変更できる顕微鏡装置の提供。 - 特許庁

To provide an apparatus for and a method of fully automatically and rapidly scanning and digitizing an entire microscope sample, using a computer controlled microscope slide scanner for composing image strips obtained by continuous scanning of the sample into a single continuous digital image.例文帳に追加

試料の連続的スキャンから得られた画像ストリップを単一の連続したデジタル画像を構成するためにコンピュータ制御された顕微鏡スライドスキャナを用いて、顕微鏡試料全体を全自動で迅速なスキャンおよびデジタル化するための装置及び方法を提供する。 - 特許庁

A cantilever 4 having a lever 10 with diamond abrasive grains 5 at its end is strongly abutted against a single crystal silicon material 3 with use of such a mechanism of a frictional-force microscope as shown in Fig. 1.例文帳に追加

図１に示すような摩擦力顕微鏡の機構を用い、単結晶シリコン材料３に対して端部にダイヤモンド砥粒５を備えたレバー１０を有するカンチレバー４を強く当接させる。 - 特許庁

To perform the simultaneous beam transmission of a plurality of ultrashort pulse laser beams having different single wavelengths while suppressing an extension of time width, thereby making it possible to perform a high-speed observation on a microscope.例文帳に追加

複数の異なる単一波長の超短パルスレーザ光を、時間幅の拡がりを最小限に抑えつつ同時に光伝送して顕微鏡による観察等を高速に行えるようにすること。 - 特許庁

To provide a method for fabricating a probe for a scanning probe microscope (SPM), particularly a method for fabricating the probe using (111) single crystal silicon.例文帳に追加

本発明は、走査探針顕微鏡（ＳＰＭ：Ｓｃａｎｎｉｇ Ｐｒｏｂｅ Ｍｉｃｒｏｓｃｏｐｅ）のための探針の製造方法に関し、特に（１１１）単結晶シリコンを用いた探針の製造方法に関する。 - 特許庁

The carbon fiber material has 0.83-0.94 ratio A1/A2 of the measured value A1 of π*/σ* on the outermost surface and the maximum value A2 in a single fiber obtained by measurement of the cross section of the single fiber according to an electron energy loss spectroscopy using a field emission type electron microscope.例文帳に追加

本発明の炭素繊維材料の単繊維断面を電界放出型電子顕微鏡を用いて、電子エネルギー損失分光法で測定して得られるπ＊／σ＊の最表面測定値Ａ１と単繊維内部最高値Ａ２との比Ａ１／Ａ２が０．８３〜０．９４である。 - 特許庁

To provide a microscope for operation by which image information is given an operator according to operating situations, through a single or combined display of image information concerning endoscopic examination, microscope by a navigation device, position of endoscopic examination, or direction of endoscopic examination.例文帳に追加

内視鏡観察画像、ナビゲーション装置による顕微鏡、内視鏡観察位置の画像情報、さらには内視鏡観察方向等の画像情報を各々単独または任意に組み合わせて表示し、術者が手術状況に応じて画像情報が得られる手術用顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁

The condenser lens for the microscope is constituted, by arranging a cemented negative meniscus lens (L1) which is concave to a light source side and three single-body positive lenses (L2, L3, and L4), in this order, from the light source side to an observed body side.例文帳に追加

この顕微鏡用コンデンサレンズは、光源側から被観察物側へ向かって順に、光源側に凹面を向けた接合負メニスカスレンズ（Ｌ１）と、３枚の単体正レンズ（Ｌ２，Ｌ３，Ｌ４）とを配置してなる。 - 特許庁

The problem to be solved is solved by this fiber illumination-type microscope system which is provided with a light source part, a microscope body having an objective lens, a single-core fiber for transmitting a light from the light source part, a mode scrambler for mode-scrambling the light incident into the fiber, and an illumination optical system for illuminating a sample with the emitted light from the fiber.例文帳に追加

光源部と、対物レンズを有する顕微鏡本体と、前記光源部からの光を伝達する単芯コアのファイバと、前記ファイバに入射した光に対してモードスクランブルをかけるモードスクランブラと、前記ファイバの出射光を標本に照明する照明光学系と、を備えるファイバ照明型顕微鏡システムにより、上記課題の解決を図る。 - 特許庁

The microscope includes a means for changing an aperture angle of an optical system by varying diameters of a plurality of convergence lenses and diaphragms to change the aperture angle α of an electron beam in accordance with a virtual field corresponding to a single pixel, which is called as a pixel size.例文帳に追加

複数の収束レンズ及び絞りの穴径を変化させることにより光学系の開き角を変化させる手段をもち、１画素に相当する視野範囲、いわゆる画素サイズに応じて電子ビーム開き角αを変化させる。 - 特許庁

Further, by performing cooling at a cooling rate equal to or higher than water cooling from the temperature range of from a β transformation point -100°C to a β single phase region upper limit, an optical microscope structure has 45% or less of pro-eutectoid α phase.例文帳に追加

さらに、β変態点−１００℃からβ単相域上限の温度範囲より水冷以上の冷却速度で冷却することにより、光学顕微鏡組織の初析α相が４５％以下であることを特徴とする。 - 特許庁

To obtain a microscope objective lens which can be used not only for the light of wavelength 248 nm but also for the ultraviolet rays of short wavelength 193 nm to 157 nm by making each of all the lens components constituting 1st and 2nd lens groups a single lens arranged separated with air spacing with each other and making the objective lens satisfy specified conditions.例文帳に追加

倍率が１００倍程度で、開口数が０．９程度の大口径で、２４８ｎｍの波長光のみならず、１９３ｎｍや１５７ｎｍの短波長の紫外光でも利用することのできる顕微鏡対物レンズ。 - 特許庁

Reflectance of the particle in the minute flow field is reflected by the first and the second reflection surfaces and makes incidence on the optical path of the microscope and a plurality of images for the same particle obtained from different viewpoints are imaged on a single imaging surface of the imaging apparatus.例文帳に追加

微小流動場の粒子の反射光が第１及び第２反射面によって反射して顕微鏡内の光路に入射し、異なる視点から得られた同一粒子の複数の像が撮像装置の単一の結像面に結像する。 - 特許庁

In another example of the visual inspecting method and apparatus, images are acquired by a confocal microscope having two corresponding pinhole arrays provided in its illumination and light receiving sides and a single TDI camera.例文帳に追加

本発明の他の態様によれば、対応する２つのピンホールアレイ（３７，３８）を顕微鏡の照明側と受光側に設けた共焦点顕微鏡と１つのＴＤＩカメラ（４０）により画像を取得する外観検査方法及び装置が提供される。 - 特許庁

To provide a diamond electron source and its manufacturing method wherein one sharp-pointed section as an electron emission point for use in an electron beam device such as an electron microscope is formed at one end of a columnar diamond single crystal having a size where resist coating is difficult in a microfabrication process.例文帳に追加

電子顕微鏡などの電子線機器に用いられる電子放射点として、微細加工プロセスにおいてレジスト塗布が困難なサイズの柱状ダイヤモンド単結晶の片端に、一ヶ所の先鋭部を形成したダイヤモンド電子源及びその方法を提供する。 - 特許庁

This system is equipped with a light source which has two UV narrow bands of 360 to 370 nm and 398 to 407 nm and a single visual narrow band of 427 to 434 through broadband and individualband filtering, an optical microscope characterized by a broadband objective system, a lighting path, and a tube lens, a camera, and a data processor.例文帳に追加

ブロードバンドと個別バンドフィルタリングにより、360-370nmと398-407nm の２つのUVナロウバンドと427-434nm の単一の可視ナロウバンドを有する光源と、ブロードバンド対物システムと照明経路とチューブレンズを特徴とする光学顕微鏡と、カメラと、データ処理装置とを備える。 - 特許庁

To provide a light scanning microscope which having; an at least single-dimensional light distribution apparatus for grid-shaped illumination of a sample in a locally limited grid field; a detector for capturing sample light; and a sample table capable of moving in at least one direction.例文帳に追加

大きさの制限されたラスタフィールド内で試料をラスタ状に照明するための少なくとも１次元の光分布装置、試料光捕捉のための検出装置および少なくとも１方向に移動できる試料ボードを有する光走査型顕微鏡 - 特許庁

The silica-titania composite oxide particle produced by a vapor deposition method has a titania content of 50 wt.% or more, a BET specific surface area of 100 m^2/g or less, a containing rate of a silica single particle and a titania single particle by electron microscope observation of 10% or less, favorably 5% or less, and a hydrophobic surface.例文帳に追加

気相法によって製造されたシリカ・チタニア複合酸化物粒子であって、チタニアの含有量が５０重量％以上、ＢＥＴ比表面積が１００ｍ^2／ｇ以下、電子顕微鏡観察下においてシリカ単独粒子およびチタニア単独粒子の割合が１０％以下、好ましくは５％以下であり、表面が疎水化されているシリカ・チタニア複合酸化物粒子。 - 特許庁

The lighting device for lighting an object to be observed with a microscope is provided with: a plurality of single wavelength light sources different from one another in wavelength; a contrast detecting part which detects a level of contrast of the observation image made by observing the lighted object; and an intensity ratio setting part which sets an intensity ratio of the plurality of single wavelength light sources depending on the contrast detected by the contrast detecting part.例文帳に追加

顕微鏡で観察する被観察物を照明する照明装置であって、互いに波長の異なる複数の単波長光源と、照明された被観察物を観察した観察像のコントラストの大きさを検出するコントラスト検出部と、コントラスト検出部により検出されたコントラストに応じて、複数の単波長光源の強度比を設定する強度比設定部とを備える。 - 特許庁

Of the electron source used for an electron-optical equipment, such as, electron microscope and electron-beam lithographic apparatus, an electron-emitting section part consists of a surface-layer part and a base material part, of which the surface-layer part is of transition metal carbide, and the base material part is made of diamond single crystal.例文帳に追加

電子顕微鏡、電子ビーム描画装置等の電子光学機器に使用される電子源であって、電子放出部分は表層部と基材部からなり、該表層部は遷移金属炭化物であり、該基材部はダイヤモンド単結晶であることを特徴とする電子源により解決される。 - 特許庁

To provide a cassette for medical examination which can improve the productivity and the reliability in preparing a microscope specimen, in which a lid of the cassette can be easily and stably taken away with a single action, and in which the lid can be taken away while confirming the recording contents of a recording part.例文帳に追加

カセットの蓋をワンタッチで容易且つ安定的に取り去ることができるとともに、記録部の記録内容を確認しながら蓋を取り去ることができるので、顕微鏡標本作成の生産性及び信頼性を向上させる医療検査用カセットを提供する。 - 特許庁

To provide an objective lens for a microscope constituted only of a single lens not using a doublet, excellent in the performance of aberration correction and effectiveness to eccentric tolerance, having high magnification (≥ about 40) and such numerical aperture as about 0.9 and used in a deep ultraviolet wavelength region.例文帳に追加

接合レンズを用いない単レンズのみの構成で、収差補正の性能と偏心公差への効きが良好な、高倍率（４０倍程度以上）で開口数が０．９程度の、深紫外波長領域で使用することを目的とした顕微鏡用対物レンズを提供する。 - 特許庁

To provide a light deflector and a scanning optical microscope using the light deflector in which a high speed scan driven by resonance and a low speed scan in which a lower speed region and an arbitrary frequency are selected are realized with a single light deflector and various kinds of useful microscopic actions are realized.例文帳に追加

共振で駆動する高速スキャンと、高速スキャンよりも低速領域で且つ任意の周波数を選べる低速スキャンを一つの光偏向器で実現し、各種の有用な顕微鏡動作を実現できる光偏向器およびこの光偏向器を用いた走査型光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁

A sample 2 is cut from a semiconductor chip to be made thin by mechanical polishing and the thin sample is attached to a single-ported mesh 6 for transmission type electron microscope observation and a Pt film 7 is formed to the part with specific depth of an end surface and irradiated with gallium ion beam 8 parallel to the main surface of the sample to make the part other than a principal part thin by etching.例文帳に追加

半導体チップから試料２を切り出し、機械的研磨により薄くした後、透過型電子顕微鏡観察用の単孔メッシュ６に取付け、端面の特定深さの部分にＰｔ膜７を形成し、試料の主面に平行なガリウムイオンビーム８を照射して要部以外の部分をエッチングして薄膜化する。 - 特許庁

In the inspection method of the nonmetal inclusion in steel, the surface of steel subjected to mirror surface polishing is observed using an optical microscope using a single wavelength laser beam source as an illumination light source and the nonmetal inclusion is discriminated on the basis of the brightness difference between steel and the nonmetal inclusion in the observed variable density image.例文帳に追加

本発明に係る鋼中非金属介在物検査方法は、照明光源として単波長レーザ光源を使用した光学顕微鏡を用いて鏡面研磨した鋼の表面を観察し、観察した濃淡画像における鋼と非金属介在物との輝度差に基づいて、非金属介在物を識別することを特徴とする。 - 特許庁

The microscope condenser lens LCon includes, in order from the light source side to the specimen side: a first lens group G1 having a cemented negative meniscus lens L1 whose concave face is oriented on the light source side; a second lens group G2 having a single positive lens L2; and a third lens group G3 having a positive lens L31 and a negative lens L32.例文帳に追加

本発明の顕微鏡用コンデンサレンズＬＣｏｎは、光源側から標本側に向かって順に並んだ、光源側に凹面を向けた接合負メニスカスレンズＬ１を有する第１レンズ群Ｇ１と、単体正レンズＬ２を有する第２レンズ群Ｇ２と、正レンズＬ３１と負レンズＬ３２とを有する第３レンズ群Ｇ３とから構成される。 - 特許庁

In the probe 10 for the magnetic force microscope having a magnetic region at its pointed end part 12 and detecting the magnetic force caused by allowing the magnetic region to approach the surface of a sample, the magnetic region of the pointed end part 12 of the probe 10 is formed of a dia-ferromagnetic single crystal to micronize the self-magnetic field leaked from the magnetic region.例文帳に追加

尖端部１２に磁性体領域を有し、この磁性体領域を試料表面に接近させることにより生じる磁気力を検出する磁気力顕微鏡用プローブ１０であって、プローブ尖端部１２の磁性体領域が反強磁性単結晶で形成されるようにして、磁性体領域から漏れ出る自己磁場を微小にする。 - 特許庁

This confocal laser scanning microscope having at least one detector 4 to detect detecting light 3 coming from at least one laser beam source 1 for irradiating a sample 2 is provided with additional light source 5 and 8 which are not single mode (TEM00) laser beam sources in order to extend the use of the CLSM while using the light source which is inexpensively acquired and operated.例文帳に追加

試料（２）を照射するための少なくとも１つのレーザ光源（１）および試料からくる検出光（３）を検出するための少なくとも１つの検出器（４）を有する共焦点レーザ走査顕微鏡は、獲得および運転が低コストである光源の使用に関して、ＣＬＳＭ用途を拡張するために、単一モード（ＴＥＭ００）レーザ光源ではない追加光源（５，８）が設けられる。 - 特許庁

To provide a scanning electron microscope that can concurrently perform SEM observation and sample processing in a single instrument, automatically return the specimen holder to its home position after the processing, and rapidly introduce it into the sample chamber.例文帳に追加

本発明は走査電子顕微鏡に関し、更に詳しくは試料加工室を持つ走査電子顕微鏡に関し、一つの装置でＳＥＭ観察と試料加工を同時進行で行なうことができ、かつ処理後の試料ホルダの位置を自動的にホームポジションに戻すことができ、試料室への導入を速やかに行なうことができる走査電子顕微鏡を提供することを目的としている。 - 特許庁