「testing frequency」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an environmental testing device capable of uniformly irradiating an entire sample with electromagnetic wave in a prescribed frequency range while suppressing heat generation of an electromagnetic wave source.例文帳に追加

電磁波の発生源の発熱量を抑制しつつサンプルの全体に所定の周波数領域の電磁波を均一に照射することが可能な環境試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a simple, low-cost, and precise signal generator which can generate various test signals over a high-frequency region for testing the signal receiving performance of an array antenna or the like.例文帳に追加

アレイアンテナの受信性能などを試験するために高周波領域にわたって多様な試験信号を発生できる簡易・安価・高精度の信号発生装置を提供する。 - 特許庁

As a result, even if a conventional testing device 12 for digital and analog circuit is used instead of an expensive testing device which can output a high frequency signal, the high frequency signal characteristics in a wafer stage is tested, to reduce the generation of defective products in the examination after a package assembly, and to suppress and lower the inspection cost occupied in the manufacturing cost.例文帳に追加

その結果、高周波信号を出力可能な高価な試験装置を用いずに従来のデジタルおよびアナログ回路用の試験装置１２を用いたとしても、ウエハ段階での高周波信号特性の試験を行うことが可能となり、パッケージ組み立て後の試験における不合格品の発生を減らすことが可能となり、製造コストに占める検査のコストを低く抑えることができる。 - 特許庁

A data recording section 11, in advance, allows each advance level obtained from the level detection section 7 by switching and emitting a plurality of high-frequency signals to the object to be measured for testing to correspond to each kind of object to be measured and high-frequency signal for storing.例文帳に追加

データ記録部１１は、事前に、テスト用被測定物に対して複数の高周波信号を切り換え発射してそのレベル検出部７から得られた個々の事前検出レベルを、被測定物の種類とその高周波信号毎に対応させて格納する。 - 特許庁

The flexible board circuit wires are provided up to the projected areas 31A, 31B from the circuit structure for propagating low-frequency signals, and these are connected with contact electrodes 27A, 27B for testing at the projected areas 31A, 31B.例文帳に追加

低周波信号が伝搬する回路構成部から突出部３１Ａ，３１Ｂまでフレキシブル基板回路配線を設け、突出部３１Ａ、３１Ｂで検査用のコンタクト電極２７Ａ、２７Ｂと接続する。 - 特許庁

To provide a semiconductor evaluation device capable of selecting automatically an input terminal, a testing object, on the semiconductor device side connected to a tester outputting high-frequency noise.例文帳に追加

試験対象であって、高周波ノイズを出力する試験器と接続される半導体装置側の入力端子の選択を自動的に行うことが可能な半導体評価装置を提供する。 - 特許庁

To improve the reproducibility of a target waveform signal by compensating for the reactive force of a specific frequency component received from a sample, in a vibration-testing apparatus that conducts shaking test on a structure.例文帳に追加

構造物の加振実験を行う振動試験装置において、供試体から受ける特定の周波数成分の反力を補償することで、目標波形信号の再現性を向上させる。 - 特許庁

To provide a low cost testing arrangement for Doppler radar systems capable of reducing interference caused by disturbance, reducing its circuit scale, and moreover generating a signal of a frequency whose Doppler shift has been carried out with high precision.例文帳に追加

外乱による干渉を低減し、かつ回路規模を小さくすると同時に精度の良いドップラシフトした周波数の信号を生成する低コストのドップラレーダ装置の試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a rate fraction type timing signal generator capable of synchronizing with a frequency and a phase of a clock signal fed from another signal generator having different frequency resolution and to provide a semiconductor integrated circuit testing device having the timing signal generator.例文帳に追加

異なる周波数分解能を有する他の信号発生装置から供給されるクロック信号の周波数や位相に同期可能な、レート端数方式のタイミング信号発生装置、及び当該タイミング信号発生装置を備えた半導体集積回路試験装置を提供する。 - 特許庁

This testing device comprises a timing generation part 3 for generating a timing of outputting a chap signal and a Doppler generation part 4 for changing the frequency on the basis of the Doppler frequency change, so that a signal is imitated as a relative movement is generated between a platform 12 and a target 13.例文帳に追加

チャープ信号を出力するタイミングを生成するタイミング生成部３及びドップラ周波数変化にもとづき周波数を変化させるドップラ生成部４を設けることにより、プラットフォーム１２と目標１３との間に相対運動が生じているように信号を模擬する。 - 特許庁

To allow a testing apparatus to perform measurement easily and quickly even if there are a plurality of signals for measuring a frequency by applying to the testing apparatus of an integrated circuit that is operated by the signal of each kind of operation reference obtained by dividing for example a reference signal by each kind of dividing ratio.例文帳に追加

本発明は、試験装置に関し、例えば基準信号を各種分周比で分周して得られる各種動作基準の信号で動作する集積回路の試験装置に適用して、周波数を測定する信号が複数存在する場合でも、簡易かつ短い時間で測定することができるようにする。 - 特許庁

To provide a testing device, a method and a test piece capable of preventing deformations or cracks caused by a local high-gradient temperature distribution, even if it is subjected to high-frequency induction heating, and properly evaluating thermal fatigue strength.例文帳に追加

高周波誘導加熱されても、局所的な急勾配の温度分布による変形や亀裂を防止することができ、適正に熱疲労強度評価できる試験装置、方法およびテストピースを提供する。 - 特許庁

In the scratch testing method, an acceleration sensor for preventing sensitivity from degrading is used for detecting variations in a load even when a signal generated in the breakdown of the thin film has a high frequency.例文帳に追加

薄膜が破壊する時に発生する信号が高い周波数を持つ場合にも感度が落ちにくい加速度センサを荷重変動の検出に使用することによって課題を解決して発明を完成するに至った。 - 特許庁

To provide an IC tester and an IC testing method which make it possible to perform frequency analysis only by current variation by the use of a test pattern signal more easily, without changing a pattern signal to be inputted.例文帳に追加

入力するパターン信号を変更することなく、より容易に試験パターン信号による電流変動のみの周波数分析を行なうことを可能とするＩＣテスタ、及びＩＣ試験方法を提供する。 - 特許庁

The testing circuit also comprises a flip-flop 6 inputting at its data input terminal the output signal from the gate 5 and inputting at its clock signal input terminal the signal frequency divided by 1/n by the divider 2.例文帳に追加

更に、ＡＮＤ回路５からの出力信号がデータ入力端子に入力され分周器２により１／ｎ分周された信号がクロック入力端子に入力されるフリップフロップ６が設けられている。 - 特許庁

To provide a testing device for tire vibrational characteristic with which the user can measure the vibrational characteristic of a tire to be tested from low-frequency vibrations to 100-500 Hz road noise in the same test by only using the device.例文帳に追加

一つの試験装置を用いて、低周波振動から１００〜５００Ｈｚのロードノイズにいたる試験タイヤの振動特性を同一の試験で計測することのできるタイヤ振動特性試験装置を提供する。 - 特許庁

In order to shorten the time required for testing overcharge detecting operation of an IC 1 for protecting a secondary battery test by shortening the delay time for overcharge detection by increasing the frequency of an oscillation circuit 7, a test control circuit 20 for increasing the level of a constant current determining the oscillation frequency of the oscillation circuit 7 is provided.例文帳に追加

２次電池保護用ＩＣ１の過充電検出動作のテスト時に、発振回路７の周波数を高くして過充電検出のための遅延時間を短縮し、テストに要する時間を短縮するために、発振回路７の発振周波数を決めている定電流の値を増加させるテスト用制御回路２０を設ける。 - 特許庁

This method finds preliminarily frequency distributions of respective accelerations along a lateral direction and a longitudinal direction in test course travel, and an external condition generated under a specified travel condition as to the tire attached to a specified wheel of a testing vehicle.例文帳に追加

試験コース走行時の横方向及び前後方向のそれぞれの加速度の頻度分布と、試験車両の特定車輪に装着されたタイヤについての特定の走行状態で生じる外的条件とを求めておく。 - 特許庁

To provide a magnetic head slider testing apparatus in which a current output circuit of a DC magnetic field and a high frequency magnetic field can be shared, a magnetic field leaked to the periphery from a core is suppressed, and which can be miniaturized.例文帳に追加

ＤＣ磁界と高周波磁界の電流出力回路を共通化することができ、コアから周辺へ漏洩する磁界を抑え、装置の小型化を図ることができる磁気ヘッドスライダ検査装置を提供することにある。 - 特許庁

This instrument of the present invention comprises an oscillation type liquid testing deive U for viscosity measurement and visco-elasticity measurement, a frequency detecting circuit 7, an amplitude detectting circuit 8, an impedance computing circuit 9 and circuits 10a, 10b for computing the respective values herein.例文帳に追加

並びにこれら粘性測定と粘弾性測定を行うための振動形検液装置Ｕと周波数・振幅検出回路７，８と、インピーダンス演算回路９と上記各値を演算する回路１０ａ，１０ｂとから成る装置。 - 特許庁

The receiver 3b receives the digital-analog signal wave transmitted to the track circuit 2T, separates the digital modulation components, and improves the noise resistance by testing the period and the order of the frequency of the digital modulation components that are separated.例文帳に追加

受信器３ｂは軌道回路２Ｔに送信されているデジアナ信号波を受信してデジタル変調成分を分離し、分離したデジタル変調成分の周波数の周期と順番を検定して耐雑音性を向上させる。 - 特許庁

The test voltage 32 for testing the reliability of defect recognition at a predetermined level, duration, and frequency is applied to a fixed spark gap, and the pulse driving test voltages are generated by the high voltage generator 30 of the discharge tester.例文帳に追加

所定のレベルと持続時間と周波数での欠陥認識の信頼性を試験する試験電圧３２を固定スパークギャップに印加し、これらのパルス駆動試験電圧を放電試験器の高電圧発生器３０により生成する。 - 特許庁

To provide a semiconductor-testing apparatus for generating a pulse (application waveform or the like) at a different period without using a number of timing memories for storing a timing set to a DUT having a plurality of ports of a different period (frequency).例文帳に追加

周期（周波数）の異なる複数ポートを持つＤＵＴに対して、タイミングセットを格納するタイミングメモリを多数使用することなく、異なる周期のパルス（印加波形等）が発生可能な半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a vibration-testing system for allowing continuous vibration from low frequency to high one by using a cylindrical coil being incorporated between vibration and grounding-part bodies as an electromagnetic damper.例文帳に追加

本発明の課題は、加振部本体２３と接地部本体２４の間に組み込んだ円筒状コイルを電磁ダンパーとして使用することにより、低周波から高周波までの連続加振を可能にした振動試験装置を提供することである。 - 特許庁

To provide a power supply capable of discharging charges stored in the power supply during testing and maintenance without using large components, and a high-frequency circuit system equipped with the power supply.例文帳に追加

大型の部品を用いることなく、試験や保守時に電源装置に蓄積された電荷の放電を可能にして、作業の安全性を向上させることができる電源装置及びそれを備えた高周波回路システムを提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus for testing semiconductor integrated circuits capable of measuring the frequency characteristics of the power current of an object to be measured at any timing regardless of whether a test pattern is impressed onto the object to be measured or not.例文帳に追加

被測定対象に対して試験パターンを印加しているか否かに拘わらず、任意のタイミングで被測定対象の電源電流の周波数特性を測定することができる半導体集積回路試験装置を提供する。 - 特許庁

To execute fault determination of a receiving antenna without using a testing transmitter in a system in which a transmitting antenna is connected with a transmitter, the receiving antenna is connected with a receiver, and a frequency of the transmitter and that of the receiver are different.例文帳に追加

送信アンテナが送信機、受信アンテナが受信機と接続されており、送信機と受信機の周波数が異なるシステムにおいて、受信アンテナの故障判定を実施するのにわざわざ試験用送信機から電波を送信している。 - 特許庁

In this vibration control device for controlling vibration of this vibration testing machine by outputting a vibration control signal, a vibration analog signal of the vibration testing machine is converted digitally, and then a signal having the same frequency as the vibration control signal is extracted from the digital vibration signal by using a digital filter, and the second vibration control signal is generated based on the extracted digital vibration signal.例文帳に追加

振動制御信号を出力して振動試験機の振動を制御する振動制御装置において、振動試験機の振動アナログ信号をデジタル変換した後、当該デジタル振動信号から前記振動制御信号と同一の周波数の信号をデジタルフィルタを用いて抽出し、抽出したデジタル振動信号にもとづいて第２の振動制御信号を生成する。 - 特許庁

To provide a highly reliable testing method of cans and a device realizing it by analyzing echo vibration having a vibration waveform which becomes gradually complicated because of the increase in noise constituents along with the lapse of time in hammering test of a two-piece can, providing a precise frequency spectrum, and accurately grasping the frequency which matches a can internal pressure.例文帳に追加

本発明の課題は、時間と共にノイズ成分が多くなり複雑な振動波形となっている２ピース缶の打検における反響振動を解析して、精度のよい周波数スペクトルを得て缶内圧力に対応する周波数を正確に把握し、信頼性が高い缶の検査法並びにそれを実現する検査装置を提供することにある。 - 特許庁

A method and system for testing sugar contents irradiates the measured object with a generated electromagnetic wave to obtain a transmission or reflection intensity thereof, using an electromagnetic wave generation source having 10GHz-10THz of oscillation frequency constituted of a terahertz generator, and using a suitable frequency of oscillation element, and obtains thereby the sugar content in the measured object and a distribution situation thereof.例文帳に追加

テラヘルツ発生装置によって構成される１０ＧＨｚから１０ＴＨｚの発振周波数を持つ電磁波発生源を用い、適した周波数の発振素子を用い、被測定物に前記発生電磁波を照射しその透過あるいは反射強度を得ることによって、被測定物中の糖度およびその分布状況を得ることを可能にした。 - 特許庁

The integrated circuit 11 is prepared preliminarily with voltage-frequency conversion circuits 15-17 for converting voltages of testing objective points in respective analog circuits 12-14 into alternating current signals of corresponding frequencies, and a mixing circuit 18 for mixing outputs from the respective voltage-frequency conversion circuits 15-17 to be output to a terminal 19, in an inside of the circuit 11.例文帳に追加

予め集積回路１１内に、各アナログ回路１２〜１４の試験対象点の電圧を対応する周波数の交流信号に変換する電圧−周波数変換回路１５〜１７と、各電圧−周波数変換回路１５〜１７の出力を混合して端子１９へ出力する混合回路１８とを作成しておく。 - 特許庁

By supplying the DC voltages to the first and second terminals, the signal for allowing the testing control circuit and the inner circuit to operate is generated so that it is possible to perform the burn-in of the plurality of semiconductor circuits that operate by receiving the high frequency signals.例文帳に追加

直流電圧を第１および第２端子に供給することで、テスト制御回路が内部回路を動作させる信号を生成するため、高周波信号を受けて動作する複数の半導体集積回路のバーンインを同時に実施できる。 - 特許庁

After recording the test data in each of the sectors, a value for a filter factor of an FIR filter arranged in a data reproduction system is changed from the optimal value, frequency gain is reduced, the testing data is reproduced, and the sector in which the reproduction failure occurs is registered as the defect.例文帳に追加

各セクタに試験データを記録したあと、データ再生系に設けたＦＩＲフィルタのフィルタ係数の値を最適な値から変更して周波数利得を低下させて試験データを再生し、再生エラーが発生したセクタを欠陥登録する。 - 特許庁

To provide a semiconductor IC contact structure suitable for testing a high frequency characteristic because its signal path is shorter than that of a conventional one, manufacturable at a low cost, and sufficiently applicable for a fine-pitch arrangement solder ball.例文帳に追加

従来よりも信号経路が短くて高周波特性の検査に適し、しかも安価に製作することができ、さらに、半田ボールの配列ピッチが微細なものでも十分に対応することができる半導体ＩＣのコンタクト構造を提供する。 - 特許庁

This testing apparatus A generates change in a load corresponding to body motion obtained by respiration of a sleeping person, and discriminates the respiratory standstill condition or the low respiratory condition of the sleeping person on the basis of the change in a frequency of this respiratory signal.例文帳に追加

検査装置Ａは、就寝者の呼吸による体動に応じた、荷重変化を呼吸信号として生成し、この呼吸信号の周波数の変化に基づいて、就寝者の無呼吸状態もしくは低呼吸状態を判定する。 - 特許庁

To remove scale adhering on the inner wall of piping and to prevent the adhesion of scale on the inner wall of the piping by letting the optimum Lorentz force act on a liquid to be treated passing through the piping without requiring a laboratory testing and continuously changing the frequency of a current for exciting a solenoid coil.例文帳に追加

ラボテストを必要とせず、ソレノイドコイルに励磁する電流の周波数を連続的に変化させずに、配管内を通流する被処理液体に対し最適なローレンツ力を作用させ、配管の内壁に付着したスケールの除去および付着の防止する。 - 特許庁

To provide a test instrument for an optical element package which enable easy, efficient test operation and can perform high-precision testing, evaluation, or measurement by transmitting a high-frequency signal from a test signal generator as it is to an optical element package to be tested.例文帳に追加

試験操作を簡単かつ能率的に行え、試験信号発生器からの高周波試験信号を、そっくりそのまま、試験対象の光素子パッケージに伝送して、高精度の試験評価又は測定ができる、光素子パッケージの試験器具を提供すること。 - 特許庁

This evaluation device for the closing material for the molten metal tapping hole comprises a high-frequency induction furnace 1 for forming and storing the molten metal 11, and a closing material pushing-out device 2 for pushing out the testing closing material 7 into the molten metal 11 through an immersion tube 9.例文帳に追加

溶融金属出湯口用閉塞材の評価装置は、溶融金属１１を形成・収容する高周波誘導炉１と、該溶融金属１１中に試験用閉塞材７を浸漬管９を通して押し出す閉塞材押し出し装置２とからなる。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit which can be suitably used for a measurement device, such as a semiconductor integrated circuit testing set and the like, in which junction temperature and jitters hardly fluctuate, even if the frequency of an inputted clock fluctuates, and high accuracy is demanded on time.例文帳に追加

入力されるクロックの周波数が変動してもジャンクション温度及びジッタが殆ど変動せず、時間的に高い精度が要求される半導体集積回路試験装置等の測定装置で用いて好適な半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

The synchronous semiconductor integrated circuit device receiving an external clock signal ext.CLK in a testing operation mode executes a writing operation and a reading operation under the control of an internal clock regulator 200 for generating an internal clock signal int.CLK having a high frequency.例文帳に追加

同期型半導体記憶装置１０００は、テスト動作モードにおいて、外部クロック信号ｅｘｔ．ＣＬＫを受けて、周波数の高い内部クロック信号ｉｎｔ．ＣＬＫを生成する内部クロック調整回路２００に制御されて、書込み動作および読出動作を行う。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a probe card which has a high probe density, a high contact stability with an electric circuit during testing, which can test a wafer, which can execute a large deformation of the probe, and which can rapidly test in a high frequency and to provide the probe card.例文帳に追加

プローブ密度が高く、ウェーハのテストが可能で、プローブの大幅変形を実施可能で、試験中電気回路の間との接触安定性が高く、プローブで高周波テストおよび高速テストが可能なプローブカードの製造方法およびプローブカードを提供する。 - 特許庁

This testing machine is constituted of a tool for holding the test piece, the vibration rod for applying vibration pressure to the held test piece to generate strain, and a ceramic piezoelectric element actuator provided in the vibration rod for imparting the high-frequency vibration to the rest piece.例文帳に追加

試験片の保持具、保持された試験片に振動圧力を加えて歪を発生させるための駆動棒、試験片に高周波振動を付与するための駆動棒に設けられたセラミック圧電素子アクチュエータから構成されるセラミック圧電素子駆動型材料試験機。 - 特許庁

Communication which is established based on data communication between a mobile terminal and a mobile electric communication network is audited passively, so that precisely accurate correction can be realized, and an information signal being the base of the communication is at least partially sampled and evaluated by a testing device, and it is proposed that a reference frequency unit integrated into the testing device should be corrected based on this evaluation.例文帳に追加

きわめて正確な較正を実現するために、本発明は、移動端末と移動電気通信網との間のデータ通信に基づいて確立された通信を受動的に聴取し、通信の基礎となる情報信号を、試験装置によって少なくとも部分的にサンプリングして評価し、この評価に基づいて、試験装置に組み込まれた基準周波数ユニットを較正することを提案する。 - 特許庁

To provide a semiconductor module and its tester facilitating high-density mounting of electronic components, structural designing, testing, and failure analysis of semiconductor modules and to provide a small semiconductor module having a high frequency circuit capable of preventing or reducing deterioration of high frequency characteristics due to influence of internal wiring and excelling in test convenience.例文帳に追加

電子部品の高密度実装や半導体モジュールの構造設計、検査および故障解析などが容易である半導体モジュールとその検査装置を提供し、さらには、高周波回路を有する小型の半導体モジュールにおいて、内部配線の影響による高周波特性の劣化が防止あるいはより低減され且つ検査の利便性に優れた半導体モジュールを提供すること。 - 特許庁

An ESD testing apparatus 1 includes an ESD generator 11 for generating electrostatic discharge for a resistance test, ESD waveform measuring device 21, 22 for measuring waveform characteristics of the electrostatic discharge, a counter 23 for counting generation frequency of the electrostatic discharge, and a controller 16 for measuring the waveform characteristics of the electrostatic discharge when the generation frequency reaches a threshold.例文帳に追加

本発明に係るＥＳＤ試験装置１は、耐性試験用の静電気放電を発生させるＥＳＤ発生手段１１と、静電気放電の波形特性を測定するＥＳＤ波形測定手段２１，２２と、静電気放電の発生回数をカウントするカウンタ２３と、該発生回数が閾値に達した場合に静電気放電の波形特性の測定を行う制御手段１６とを備える。 - 特許庁