「unit testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(6ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an AD converter measuring circuit capable of using an LSI tester that does not need a DC measuring unit to perform a test in short period of time in testing an AD converter.例文帳に追加

ＡＤコンバータのテストを行う際、ＤＣ測定ユニットを必要としないＬＳＩテスタを用いて短時間でテストを行うことを可能にするＡＤコンバータ測定回路を提供する。 - 特許庁

The BIST unit receives the selection commanding signal and outputs the enable signal, and at the same time, regulates the output voltage of the testing voltage source to a predetermined level, on the basis of the compared result.例文帳に追加

ＢＩＳＴ装置は選択指示信号を受信してイネーブル信号を出力にすると共に、比較結果に基づいてテスト電圧源の出力電圧を所定の電圧に調整する。 - 特許庁

This automatic diagnostic system 1 is provided with a fault detection unit 10 for detecting an individual fault and a test unit 13 for testing the cause of the individual fault concerning a network element 3N where the individual fault occurs.例文帳に追加

自動診断システム１は、個別的障害を検出するための障害検出ユニット１０と、個別的障害が発生したネットワーク・エレメント３−Ｎに関して個別的障害の原因を試験するための試験ユニット１３とを備えている。 - 特許庁

The testing device, for example, measures pressure fluctuation generated when the model mobile unit 1 passes through the model structure 2 or measures air flow generated from the opening 2e when the model mobile unit 1 passes through the model structure 2.例文帳に追加

試験装置は、例えば、模型構造物２内を模型移動体１が通過するときに発生する圧力変動を測定したり、模型構造物２内を模型移動体１が通過するときに開口部２ｅから発生する気流を測定したりする。 - 特許庁

This device is made up of an inspecting cup ring unit A that is structured by mounting an annular outer magnet member 3 on the inside circumferential side of a cup-shape portion 1, a motor 4 that rotates the inspecting coupling unit A in the circumferential direction, a testing base 10, and a measuring means B.例文帳に追加

カップ状部１の内周側にリング状のアウターマグネット部材３が装着されてなる検査用カップリング体Ａと、該検査用カップリング体Ａを円周方向に回転させるモータ４と、テスト台１０と、計測手段Ｂとからなること。 - 特許庁

In the testing device for the safety evaluation testing method, a nail penetration test for an Li ion battery unit 3 is carried out within a container 2 for nail penetration, the container being filled with Ar gas, the gas generated in the Li ion battery unit 3 during this nail penetration test is accumulated within the container 2 for nail penetration, and the gas is moved from the container 2 for nail penetration to a buffer tank 80 through piping 70.例文帳に追加

Ａｒガスを満たした釘刺し用容器２内でＬｉイオン電池ユニット３の釘刺し試験を行ない、この釘刺し試験中にＬｉイオン電池ユニット３から発生したガスが釘刺し用容器２内に蓄積されるとともに、釘刺し用容器２から配管７０を通ってバッファタンク８０にも移動されるように構成されていることを特徴とする。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus is configured such that measurement data of a large number of objects to be measured are taken in the control unit 12 through a large number of pin electronics cards 11 which are controlled by the control unit 12, wherein each pin electronics card 11 is configured to directly write corresponding measurement data in the control unit 12.例文帳に追加

制御ユニット１２により制御される多数のピンエレクトロニクスカード１１を介して、多数の被測定対象の測定データを前記制御ユニット１２に取り込むように構成された半導体試験装置において、前記各ピンエレクトロニクスカード１１は、それぞれの測定データを前記制御ユニット１２に直接書き込む。 - 特許庁

In this automatic testing device (ATE) 200 having a tester architecture classified by terminals provided with plural dispersed testing units 700 classified by the terminals, the each testing unit 700i issues a stimulation response signal to each DUT terminal di of a tested device (DUT) 600, and/or receives a stimulation signal from the each DUT terminal, to test the each DUT terminal.例文帳に追加

分散した複数の端子別試験ユニット（７００）を設けた端子別テスタアーキテクチャを持つ自動試験装置（ＡＴＥ）（２００）であって、各端子別試験ユニット（７００ｉ）が、被験デバイス（ＤＵＴ）（６００）のそれぞれのＤＵＴ端子（ｄｉ）へと刺激応答信号を発し、および／又は前記それぞれのＤＵＴ端子から刺激応答信号を受信することにより、前記それぞれのＤＵＴ端子を試験する。 - 特許庁

A continuity inspection display unit 33 is arranged and a person in charge confirms that the prize winning sensor is connected by displaying the number of prize winning balls (1, 2, etc.), which enter prize winning ports in the unit 33 for testing in a test mode.例文帳に追加

導通検査用表示器３３を配置し、テストモードのときは、導通検査用表示器３３にテストのために入賞口に入れた球の入賞球数を表示（例えば、１、２・・・）することで、係員は該当の入賞センサが導通していることを確認する。 - 特許庁

When testing the console 2, a computer unit 28 of the control device 3 reads a test display command DT from a database 24 to transmit the same to the console 2 via a conversion unit 30, and also reads an exact test video signal DTE to supply the same to a comparison means 40.例文帳に追加

制御装置３のコンピュータ・ユニット２８は、コンソール２の検査時に、データベース２４から検査表示コマンドＤＴを読み出し、変換ユニット３０を介してコンソール２に送信し、また的確検査ビデオ信号ＤＴＥを読み出して、比較手段４０に供給する。 - 特許庁

This device is produced by improving a debugging device for an IC tester, capable of debugging a test program for testing a target device with a plurality of display tool means displaying the respective screens on a display unit.例文帳に追加

本発明は、複数の表示ツール手段が画面を表示部に表示させ、被試験対象の試験に用いるテストプログラムのデバックを行うＩＣテスタのデバック装置に改良を加えたものである。 - 特許庁

To realize a testing system for radios capable of generating interfering waves and a signal for inspecting a television reception function, or the like incorporated into a communication terminal additionally by a single unit of inspection apparatus.例文帳に追加

妨害波、および、通信端末に付加的に組み込まれたテレビ受信機能等の検査用信号の発生を１台の検査装置で行うことが可能な無線機用テストシステムを実現する。 - 特許庁

The generator 20 transmits the testing frame to the POS channel N synchronously with a trigger signal showing a starting time point and an ending time point of the sampling period to be output from the POS probe unit 10.例文帳に追加

フレーム発生装置２０は、ＰＯＳプローブ装置１０から出力される、サンプリング期間の開始時点及び終了時点を示すトリガ信号に同期してＰＯＳ回線Ｎに試験フレームを送信する。 - 特許庁

To provide a culture unit capable of conducting the classified collection of target microorganisms and their culture simultaneously, leading to dispensing with multistep culture operations for testing microorganisms and thereby cutting the test time.例文帳に追加

対象とする微生物の分別収集とその培養を同時に行うことが可能で、微生物の検査において多段階の培養が不要となり、検査時間を短縮できる培養装置を提供する。 - 特許庁

An allotment processing unit 13 allots the frame to either of the virtual ONUs 12-1 to 12-31 according to an identifier included in a testing frame received from Ethernet (R) frame generator/tester.例文帳に追加

振分け処理部１３は、イーサネット（Ｒ）フレームジェネレータ／テスタから受けた試験のためのフレームに含まれる識別子に応じて、このフレームを仮想ＯＮＵ１２−１〜１２−３１のいずれかに振分ける。 - 特許庁

This materials testing machine, during a test, controls the movement of a projector 71 for dimensional measurements and a light-receiving unit 72 following a detection arm 52, and makes a detector 70S of a dimension measuring device 70 follow the movement of the detection arm 52.例文帳に追加

試験中、検出腕５２に追従して測寸用投光器７１と受光器７２を移動制御して測寸装置７０の検出器７０Ｓを検出腕５２の移動に追従させる。 - 特許庁

To provide a refrigerator condensation unit capable of reducing manufacturing cost required for manufacturing units with different refrigerator capacities and development cost and development periods required for design and testing.例文帳に追加

冷凍機容量の異なるユニットを製造する際の製造コスト、設計や試験にかかる開発コストおよび開発期間を低減化することのできる冷凍機凝縮ユニットが要求されている。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device which can accurately correct skew at a DUT end, enabling complete skew for calibrating an input signal/output signal to all pins to be skew calibrated of a DUT and further confirm the timing accuracy of the input signal from a semiconductor testing unit, in a state in which the integrated circuit device is actually tested by the testing unit.例文帳に追加

ＤＵＴ端でのスキューを正確に補正可能とし、ＤＵＴのスキュー・キャリブレーション実施対象となる全ピンに対して入力信号／出力信号ともに完全なスキュー・キャリブレーションを可能とし、更に実際に半導体試験装置でテストをしている状態で半導体試験装置からの入力信号のタイミング精度の確認も可能とする半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

To provide an operation testing device for a microprocessor accurately judging whether or not the prescribed processing of a test object can be operated within unit time during the operation of a real time processor for the real time processor performing the prescribed processing by a microprogram within the unit time by using the microprocessor.例文帳に追加

マイクロプロセッサを用いて単位時間内にマイクロプログラムによる所定処理を行なう実時間処理装置に対し、実時間処理装置の稼動中に試験対象の所定処理が単位時間内で動作可能かどうか正確に判断するマイクロプロセッサの動作試験装置を提供すること。 - 特許庁

The inspection device for ISPs is provided with a placing unit for placing an ISP on for testing, an inspection portion which performs an electric and image test of the ISP, with a lens and a light source arranged above the ISP, and a controlling and processing unit, having a tester module for performing the electric and image test of the ISP.例文帳に追加

ＩＳＰの検査装置は、ＩＳＰがテストのために載置される載置ユニットと、ＩＳＰの上部にレンズ及び光源を設けて前記ISPを電気及びイメージテストする検査部と、ＩＳＰの電気及びイメージテストを行うテスターモジュールを有する制御及び処理ユニットと、を備える。 - 特許庁

The composite deterioration testing apparatus 1 for performing the deterioration test of a test target is equipped with an expansion and contraction control unit 3 for imparting expansion and contraction force to the test target 2 and a weather factor control unit for imparting the deterioration factor caused by the weather to the test target 2.例文帳に追加

試験対象物の劣化試験を行う複合劣化試験装置において、試験対象物に伸縮力を付与する伸縮制御装置と、試験対象物に天候に起因する劣化因子を付与する天候因子制御装置と、を備えている、複合劣化試験装置 - 特許庁

To provide a testing method by which the deterioration state of the sealing part of a double-glazing unit may be recognized with a smaller number of test specimens for a durability test for investigating such deterioration of the double-glazing unit with lapse of time that a desiccant gradually absorbs moisture and dew condensation is liable to occur in a hollow layer.例文帳に追加

乾燥剤が徐々に吸湿して、中空層が結露しやすくなるという複層ガラスの経年劣化を調べるための耐久性試験について、少ない試験体数で、耐久性試験による複層ガラスの封着部の劣化状態が把握できる試験方法を提供する。 - 特許庁

Thus, it uses subdivided reference values to determine the unit actually fault-sensed as defective due to non-defective foreign material to be acceptable, not the actual defective unit, preventing fault sensing to enhance inspection efficiency in the testing processes.例文帳に追加

したがって、本発明によると、細分化された基準値を利用して実際に不良ユニットではなく、良品性異物による不良として過検出されたユニットを良品として判別することによって、過検出を防止して検査工程での検査効率を向上させることができる。 - 特許庁

The remote maintenance system of dental chair unit is constituted such that the dental chair unit of a user, the testing device and the maintenance test conducting device of the remote maintenance center are connected to each other by computer network, and the maintenance test conducting device of the remote maintenance center and a maintenance technical expert conduct or support maintaining work of the chair unit to be maintained of the user site through the network.例文帳に追加

ユーザーの歯科用チェアユニット及びテスト装置と、遠隔保守センタの保守テスト処理装置との間をコンピュータネットワークで結び、ユーザサイトの保守対象チェアユニットの保守作業を、遠隔保守センタの保守テスト処理装置及び保守専門技術者が、ネットワークを介して実施あるいは支援する歯科用チェアユニットの遠隔保守システム。 - 特許庁

Thus, the environmental test of the circuit board 20 is conducted by energizing the circuit board 20, using an energizing unit 9, while the temperature inside the testing chamber forming housing 25 is made to change in this manner by low dew-point air.例文帳に追加

このように低露点エアーによって試験室形成用ハウジング２５内の温度を変化させながら回路基板２０へ通電装置９を用いて通電することによって回路基板２０の環境試験を行う。 - 特許庁

After the completion of a lens-fitted photo film unit, the pin-shaped tool 14 of the operation testing machine is inserted in the pit 8c and the tool 14 performs the same straight line slide and the same rotation slide as those of the operating member 8.例文帳に追加

レンズ付きフイルムユニットの完成後には、穴８ｃに動作検査機のピン形状をした治具１４が挿入され、この治具１４が操作部材８と同様の直線スライドと回動スライドとを行う。 - 特許庁

A traction testing device can highly accurately determine an applying load by supporting a stand 14 by being floated from a base 50 by an air bearing 15 by placing a spindle unit 12 and a torque meter 70 on a common stand 14.例文帳に追加

スピンドルユニット１２とトルク計７０を共通の架台１４に載せ、架台１４をエアベアリング１５にてベース５０から浮き上がらせて支持し、高精度に負荷荷重を求めることができるようにしたトラクション試験装置。 - 特許庁

To provide a method and a device for testing a relationship between an axial load applied on a rotary shaft such as a main spindle 2 after the start of use and the output signal of a sensor unit 7 disposed to obtain the axial load.例文帳に追加

使用開始後に、主軸２等の回転軸に加わるアキシアル荷重と、このアキシアル荷重を求める為に設けたセンサユニット７の出力信号との関係を検定する方法及び装置を実現する。 - 特許庁

A sensor 16, a sensor driving means 19, and a controlling means 35 for controlling the sensor driving means 19 are included in a housing unit 31 so that integration and downsizing of the urine testing device can be achieved.例文帳に追加

センサ１６とセンサ駆動手段１９と、このセンサ駆動手段１９を制御する制御手段３５を収納ユニット３１に備えることにより、尿検査装置の一元化とともに小形化を図ることができる。 - 特許庁

A governor 60 to be controlled and an ECU 10 are connected by connecting the ECU 10 and a first cable unit 56, and a reception test is performed by giving a simulation signal by program processing of a testing device 34.例文帳に追加

ＥＣＵ１０と第１ケーブルユニット５６とを接続することにより、模擬制御対象のガバナ６０とＥＣＵ１０とを接続し、検査装置３４のプログラム処理により模擬信号を与えて受入検査を行う。 - 特許庁

To relieve an operator from constantly having to walk back and forth placing electrodes in different positions, and also obviate the need to return to the main unit of the testing device to refer to a display and/or change parameters or settings.例文帳に追加

電極を異なる位置に設置しながら常に歩いて往来する必要がなく、また、試験用機器のメインユニットまで戻ってディスプレイを参照しおよび／またはパラメータもしくは設定を変更する必要がない。 - 特許庁

Also, the solderability- testing device is provided with a temperature measuring unit with a temperature measuring member 5 for measuring the temperature of solder paste 1 and a temperature display part for displaying temperature being measured by the temperature measuring member 5.例文帳に追加

また、はんだペースト１の温度を測定する温度測定部材５と、温度測定部材５により測定された温度を表示させる温度表示部とを有する温度測定ユニットを具備することも特徴とする。 - 特許庁

Each is the de facto standard unit testing framework for its respective language.PyUnit supports test automation, sharing of setup and shutdown code for tests, aggregation of tests into collections, and independence of the tests from the reporting framework.例文帳に追加

PyUnitでは、テストの自動化・初期設定と終了処理の共有・テストの分類・テスト実行と結果レポートの分離などの機能を提供しており、unittestのクラスを使って簡単にたくさんのテストを開発できるようになっています。 - Python

To provide a testing unit and a testing apparatus of conduction machine, capable of implementing correctly position adjusting of the output side for a conduction machine without misalignment to axial direction and also intercepting vibrations and noises from driving source and load by establishing a sound insulation wall between a driving source and a load and the conduction machine.例文帳に追加

伝導機に対して出力側の位置調整を軸方向に位置ずれしてしまうことなく正確に行うことが可能であるとともに駆動源及び負荷と伝導機との間に遮音壁を設けることで駆動源及び負荷からの振動及び騒音を遮断することが可能な伝導機の試験ユニット及び試験装置を提供する。 - 特許庁

In signal output processing for testing, a CPU (central processing unit) outputs a game machine error state signal as a signal for testing when a prize ball delivery monitoring timer is in time-out, the value of an over delivery number storage counter exceeds a specified value, the value stored in a total prize ball count storage buffer exceeds a specified value or a delivery halt flag is set.例文帳に追加

試験用信号出力処理にて、ＣＰＵは、賞球払出監視タイマがタイムアウトしている場合、過剰払出数記憶カウンタの値が所定値を超えている場合、総賞球数格納バッファの格納値が所定値を超えている場合、あるいは払出停止フラグがセットされている場合に、遊技機エラー状態信号を試験用信号として出力する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device provided with a timing generator capable of reducing remarkably a circuit scale for realizing generation functions for both a tester channel required to generate a test pattern by a unit of a test rate, and a tester channel required to generate a test pattern having a unit of prescribed integral-times of the test rate.例文帳に追加

テストレート単位に試験パターンを発生することが求められるテスタチャンネルと、前記テストレートの所定整数倍単位の試験パターンを発生することが求められるテスタチャンネルとの両方の発生機能を実現するための回路規模を大幅に低減可能とするタイミング発生器を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

The tensile testing machine 1 comprises a measuring mechanism 6 for measuring the state of the test strip 2 held by the holding jig 322; a holding unit 32 for housing the test strip 2, along with the holding jig 322; and a moving mechanism 12 for moving the holding unit 32 in a plane perpendicular to the direction, inside which the irradiation with the electromagnetic wave M is carried out.例文帳に追加

引張試験装置１は、把持治具３２２に保持された試験片２の状態を測定する測定機構６と、把持治具３２２とともに試験片２を収容する保持ユニット３２と、保持ユニット３２を電磁波Ｍの照射方向に垂直な面内で移動する移動機構１２とを備えている。 - 特許庁

CATHODE PANEL UNIT FOR COLD-CATHODE FIELD ELECTRON EMITTING DISPLAY DEVICE, CATHODE PANEL THEREFOR AND ITS MANUFACTURE, COLD-CATHODE FIELD ELECTRON EMITTING DISPLAY DEVICE, TEST DEVICE, AND TESTING METHOD OF ITS UNIT USING TEST DEVICE THEREOF例文帳に追加

冷陰極電界電子放出表示装置用カソード・パネル・ユニット、冷陰極電界電子放出表示装置用カソード・パネル及びその製造方法、冷陰極電界電子放出表示装置、試験装置、並びに、かかる試験装置を用いた冷陰極電界電子放出表示装置用カソード・パネル・ユニットの試験方法 - 特許庁

To provide an automatic unit testing system capable of handling an interruption processing and bit data and provided with functions for setting an initial value to a variable, perfing a type definition independent of a processor, coping with an alias variable and outputting performance information, etc.例文帳に追加

割込み処理やビットデータを扱うことができ、変数への初期値設定やプロセッサ非依存の型定義、別名変数への対応、性能情報の出力等の機能を備えた自動単体試験システムを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device where increase of the number of terminals for testing a memory unit can be suppressed in the semiconductor device composed by integrating a plurality of chips containing at least a memory chip and a logic chip for controlling the memory chip into one package.例文帳に追加

メモリチップと該メモリチップを制御するロジックチップを少なくとも含む複数のチップを１パッケージ化した半導体装置において、メモリ単体検査のための端子数増加を抑制できる半導体装置を提供する。 - 特許庁

The write-once type recording medium having the linking (a run-in area and a guard area) in a unit block of recording/reproducing, and being constituted so that the overlapping takes place and recording is performed at the linking, is tested by the following testing method after manufacture.例文帳に追加

記録再生の単位となるブロックにリンキング（ランインエリアとガードエリア）を有し、そのリンキングでオーバーラップして記録するようにしたライトワンス型の記録媒体に対して、製造後に次のような検査方法で検査を行う。 - 特許庁

To provide a novel aging board capable of supporting semiconductor lasers of various standards, having superior heat dissipation efficiencies during the testing time, and capable of obtaining an accurate test result, without producing variations in a reference level relative to a laser receiving unit.例文帳に追加

各種規格の半導体レーザに対応可能で、試験時の放熱効率にも優れ、レーザ受光ユニットに対する基準面にばらつきが生じることなく正確な試験結果が得られる新規なエージングボードを提供する。 - 特許庁

To provide a digital data arithmetic unit that enables minimum testing terminals and a test on a peripheral circuit as an external interface with the same normal signal transmission path and timing by a simple structure.例文帳に追加

テスト用に設ける端子を最小限にするとともに、簡単な構成で外部とのインターフェイスを司る周辺回路のテストを通常時と同じ信号伝達経路及びタイミングで行うことができるデジタルデータ演算装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus capable of reducing a processing time for collecting measurement data of all pin electronics cards into a control unit, without increasing the memory area in which the measurement data of the pin electronics cards are stored.例文帳に追加

ピンエレクトロニクスカードの測定データを格納するメモリ領域を増大させることなく制御ユニットに全ピンエレクトロニクスカードの測定データを収集するための処理時間を短縮できる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

To improve an assembled unit comprising a cap and a resealable container that stores and packages some moisture-sensitive products including by edible halitosis refreshment strips, dosing strips, diagnosis testing strips and sparkling tablets but not limited by them.例文帳に追加

食用口臭清涼ストリップ、投薬用ストリップ、診断検査用ストリップ、及び発泡性錠剤を含むがそれらに制限されない、感湿性製品を貯蔵し包装する再封可能な容器とキャップの組立体を改良する。 - 特許庁