「半解析」に関連した英語例文の一覧と使い方(12ページ目) - Weblio英語例文検索

配線間のカップリング容量の影響を正確に反映することができる高速で高精度な半導体集積回路のタイミング解析方法を提供する。例文帳に追加

To provide a high-speed and high-precise semiconductor integrated circuit timing analysis method capable of accurately reflecting the influence of coupling capacity between wirings. - 特許庁

ジッタ解析分解能を高めるとともに、入力信号のＬ／Ｈを判定するための閾値設定に柔軟に対応できる半導体試験装置を実現すること。例文帳に追加

To attain a semiconductor test device capable of enhancing resolution of jitter analysis and flexibly corresponding to set a threshold value to determine L/H of an input signal. - 特許庁

半導体基板の製造工程において、検査装置によって検出された欠陥データに基づいて欠陥分布状態解析を行い、装置あるいはプロセス起因の不良原因の特定を容易にする。例文帳に追加

To facilitate specification of a trouble caused by an inspection equipment or process by performing defect distribution state analysis based on defect data detected by the inspection equipment in the production process of a semiconductor substrate. - 特許庁

測定時のノイズの影響を低減し、測定に光源を必要とする半導体試料の場合でも取り扱いや操作性の良い解析用マニュアルプローバを提供する。例文帳に追加

To provide a manual prober for analyzing a semiconductor reducing the effect of noise at the time of measurement and good in handleability or operability even in the case of a semiconductor sample requiring a light source in measurement. - 特許庁

そして、これらのピン対応情報およびグルーピング情報から、半導体集積回路とその試験装置のすべてのピンに関する対応情報を含む情報を解析情報として編集し、出力する。例文帳に追加

Then, information including the corresponding information related with all the pins of the semiconductor integrated circuit and the testing device is edited and outputted as analytic information from the pin corresponding information and the grouping information. - 特許庁

本発明は、デバッグ解析に必要な複数のモジュールのステータス信号を高精度に取得する半導体集積回路及び検査方法に関する。例文帳に追加

To provide a semiconductor integrated circuit and an inspection method for highly precisely acquiring the status signals of a plurality of modules necessary for debugging analysis. - 特許庁

マクロ領域を通過する配線経路を設け、下位レイヤであるマクロ領域の内部のタイミング解析を上位レイヤと独立して行うことができる半導体装置設計方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method for designing a semiconductor device, by which timing analysis of interior of a macro region as a lower layer can be carried out independently of an upper layer, by providing a wiring path passed through the macro region. - 特許庁

低エネルギーイオン注入により非晶質膜を通じて半導体基板中に形成された不純物濃度プロファイルを解析モデルを用いて高精度に予測する。例文帳に追加

To accurately predict an impurity concentration profile formed in a semiconductor substrate, by implanting impurities into the substrate through an amorphous film in a low-energy ion implantation method using an analytical model. - 特許庁

機密情報を有する半導体集積回路に対する不正解析を防止することができる配線基板の機密情報漏洩防止構造を提供する。例文帳に追加

To provide a confidential information leakage preventing structure of a wiring board which can prevent a semiconductor integrated circuit having confidential information from being unjustively analyzed. - 特許庁

不純物分布を計算すべき半導体基板内の領域である解析領域の全体を、不純物イオンの入射方向に沿った短冊状の補助バンドに分割する（図１（ａ），（ｂ））。例文帳に追加

The entire analytic region in a semiconductor substrate for calculating the impurity distribution is split into auxiliary stripe bands along the incident direction of impurity ions (Figs. (a), (b)). - 特許庁

ツインメモリセルへのリード動作を解析することで、コントロールゲート線選択スイッチング素子への制御電圧を低電圧化した不揮発性半導体記憶装置を提供する。例文帳に追加

To provide a non-volatile semiconductor memory in which control voltage for a control gate line selection switching element is made low voltage by analyzing read-operation for a twin memory cell. - 特許庁

そして、発光スペクトル解析が必要な場合に、半導体デバイスＳからの発光像を分光位置に挿入した分光器２によって分光して、生成された発光スペクトル像を撮像カメラ３で取得する。例文帳に追加

When emission spectrum analysis is required, spectroscopic operation is conducted, by the spectroscope 2 inserting a light emitting image from the semiconductor device S into the spectral position, to obtain the generated emission spectrum image by the imaging camera 3. - 特許庁

半導体集積回路のシミュレーションにおいて、各セルでタイミングエラーが発生した場合に、容易に回路のバックトレースによる解析を行うことができる論理シミュレート方法を提供すること。例文帳に追加

To provide a logically simulating method which enables an easy analysis by the back trace of a circuit when a timing error occurs in each cell in simulation of a semiconductor integrated circuit. - 特許庁

レイアウトＣＡＤデータ上で半導体製造工程で生ずるアライメントずれを擬似的に再現し、配線層間を接続するビアの面積値からアライメントズレによる歩留まり不良を解析する。例文帳に追加

The deviation of alignment occurring in a semiconductor manufacture process is spuriously reproduced on layout CAD data, and the yield fail by the deviation of alignment is analyzed from the area value of a via for connecting wiring layers. - 特許庁

評価・解析において、特性の劣化、不良等が周波数同期回路に因るのか否か等、不良原因の特定を容易化する半導体装置の提供。例文帳に追加

To provide a semiconductor device facilitating identification of cause of defects, such as whether deterioration of characteristics, defects, etc., at evaluation and analysis are caused by a frequency synchronizing circuit. - 特許庁

本発明は、通常配線と配線ダミーとの容量を低減して、シミュレーションの解析精度を向上可能な半導体集積回路を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a semiconductor integrated circuit where accuracy of simulation analysis can be improved by reducing capacitance of normal wiring and a wiring dummy. - 特許庁

長波長の光を用いながら、微細な半導体デバイス内部の電気的性質・物理的性質の計測・観察が可能な解像度の高い解析技術を提供することである。例文帳に追加

To provide an analyzing technique having high resolving power which enables measurement and observation of electrical or physical properties inside a fine semiconductor device while using light having a long wavelength. - 特許庁

チップ位置解析装置42は、この冗長アドレスの組み合わせから、不良となった半導体装置のロット番号，ウエハ番号及びチップ番号を推定する。例文帳に追加

A chip position analyzing device 42 estimates a log number, wafer number, and a chip number of the semiconductor device being defective from combination of this redundant address. - 特許庁

分類データファイル作成部１３は、複数の試験項目に対する試験結果を所定の論理演算によって解析し、半導体デバイスを分類する。例文帳に追加

The classified data file forming part 13 analyzes the test result on plural test items by a prescribed logic operation, to classify the semiconductor device. - 特許庁

高いエネルギー分解能と検出感度を有し、放射線のエネルギースペクトル解析やガンマカメラなどの画像検出器に好適な半導体放射線検出器を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor radiation detector that has high energy resolution and detection sensitivity and is suited for the energy spectrum analysis of radiation and an image detector such as a gamma camera. - 特許庁

オンチップインバータは孤立電磁波を励起すると見なすと考える孤立電磁波コンセプトにより、半導体集積回路内の金属配線を設計し解析する。例文帳に追加

With the isolated electromagnetic wave concept that an on-chip inverter is considered to generate an isolated electromagnetic wave, metal wiring in the semiconductor integrated circuit is designed and analyzed. - 特許庁

半導体装置のチップ内温度を正確に制御して、最適なバーンイン加速試験を行うとともに、不良ＩＣの解析を行うことを可能とすること。例文帳に追加

To accurately control a temperature inside a chip of a semiconductor device to conduct the optimum burn-in acceleration test, and to analyze a defective IC. - 特許庁

エッジ信号の発生エラーの原因を短時間且つ容易に解析することができるタイミング信号生成装置、及び当該装置を備える半導体試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide a timing signal generator capable of easily analyzing the cause of an edge signal generation error in a short time, and a semiconductor testing apparatus including the generator. - 特許庁

内部回路の解析や不揮発性メモリに格納された重要データの暴露及び改ざんを防ぐための対策が施された半導体装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor device in which such measure is performed that analysis of an internal circuit, exposure and alteration of important data stored in a nonvolatile memory are prevented. - 特許庁

本発明により、入力間の増幅率の差を含むことなく鮮明な吸収電流像を取得でき、半導体試料の不良解析の測定効率を向上できる。例文帳に追加

The clear specimen current image can be obtained without including a difference in amplification rate between inputs, and thus measurement efficiency in analyzing defects of semiconductor specimens is improved. - 特許庁

機密データを格納するメモリに対して、メモリに格納されるデータの機密性を確保しつつ、メモリ不良時の解析を容易にする半導体集積回路およびその検査方法を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor integrated circuit and its inspection method in which analysis in a memory failure is facilitated for a memory storing secret data while securing secret of data stored in the memory. - 特許庁

システムを正常に動作させるための設定や条件の解析を非常に困難にすることが可能な機密保護回路と半導体集積回路装置並びに情報処理システムの提供。例文帳に追加

To provide a security circuit, a semiconductor integrated circuit device, and an information processing system making it extremely difficult to set the normal operation of the system normally and to analyze conditions. - 特許庁

３次高調波演算・検出部４１は、ｒ−θ変換部５０から出力されるリサージュ波形の半径ｒの変化に基づいてフーリエ解析等により３次高調波の振幅ａ_３及び位相φ_３を算出する。例文帳に追加

A tertiary harmonic calculation/detection part 41 calculates the amplitude a_3 and the phase ψ_3 of tertiary harmonics by means of Fourier analysis, etc. based on a change in the radius r of a Lissajours waveform output from an r-θ conversion part 50. - 特許庁

溶液にてパッケージ、保護膜及び金属配線間の絶縁膜等をエッチングすることによる配線構造の解析を、簡便に防止することができる半導体装置を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a semiconductor device, with which a wiring structure can be easily prevented from being analyzed by etching a package, a protecting film and an insulating film between metal wirings or the like with a solution. - 特許庁

解析段階２０，３０は、複数種類のモデルを得て、モデルごとに化合物半導体の組成比率、混合比、膜厚、分散式等について前記測定スペクトルとのフィッティングを行い、最良のモデルを決定する。例文帳に追加

Analyzing steps 20, 30 obtain a plurality of types of models, fitting with the spectra of the composition ratio, the mixing ratio, the film thickness, the dispersion formula and the like of the compound semiconductor of each model, and decide the best model. - 特許庁

半導体製造方法では、各フォトリソグラフィ・レベルについて３次元でトポグラフィのばらつきを解析し、クリティカルな寸法（ＣＤ）バイアスの補償をマスク・レイアウト作成に対する入力として決定する。例文帳に追加

In a method for manufacturing semiconductors, the variations of the topography are three-dimensionally analyzed relating to respective photolithography levels and the compensation of the bias of critical dimensions (CD) is determined as the input to mask layout formation. - 特許庁

ＲＳＦによる解析手法を利用しつつ，半導体装置の電気特性や回路遅延特性のバラツキを正確に前もって見積もるためのモニタリング方法を提供する。例文帳に追加

To provide a monitoring method for accurately estimating in advance the dispersion of electrical characteristics or circuit delay characteristics of the semiconductor device while utilizing RSF-based analysis. - 特許庁

半導体装置の電気的性質と構造的特徴および電子状態とを、それぞれＸ線を用いて高い精度で測定および解析して評価して、その関係を明らかにする。例文帳に追加

To clarify relations among the electrical property, the structural feature and the electronic state of a semiconductor device by evaluating them by measuring and analyzing them precisely by using X-rays, respectively. - 特許庁

データバスの物理的な故障の他、データ転送における論理的な障害が発生した箇所を特定する機構を備えた半導体集積回路装置及びそのデータ転送障害解析方法を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor integrated circuit device that has a mechanism for locating a physical failure in a data bus and also a logical failure in data transfer, and a data transfer failure analysis method therefor. - 特許庁

これにより、入力間の増幅率の差を含むことなく鮮明な吸収電流像７を取得でき、半導体試料２の不良解析の測定効率を向上できる。例文帳に追加

Thereby, The clear absorption current image 7 can be obtained without including difference in amplification rate in input, and measurement efficiency in failure analysis of the semiconductor sample 2 can be improved. - 特許庁

不良モード，故障モードの特定、解析さらには市場不良予測が可能な半導体装置の検査装置およびバーンイン試験装置を提供する。例文帳に追加

To provide an inspection device and a burn-in testing device for a semiconductor device capable of specifying a defective mode and a fault mode, performing analysis and predicting market defects further. - 特許庁

観察画像を取得情報と合せてコンピュータに取り込むことで、観察画像の管理、及び、観察画像を用いた半導体基板の欠陥解析の効率の良い運用を可能とする。例文帳に追加

To manage an observation image, and to efficiently operate a defect analysis in a semiconductor substrate using the observation image by capturing the observation image together with acquisition information. - 特許庁

半導体製造設備１００における異常予測制御装置２００は、第一振動検出器２２０と振動スペクトル解析装置２４０との間に接合される多重チャンネル伝送器２１０とを有する。例文帳に追加

An abnormality prediction control device 200 for a semiconductor manufacturing facility 100 has a multichannel transmitter 210 connected between a first vibration detector 220 and a vibration spectrum analysis device 240. - 特許庁

また半導体解析装置は、絶縁物１２にビアホールを形成する手段と、絶縁物１２の上に導電性のパッドを形成し、かつ、取り出し電極２６とパッドとを接続する手段と、を含む。例文帳に追加

The semiconductor analyzer also includes a means for forming a via hole in the insulating material 12, and a means for forming a conductive pad on the insulating material 12 and connecting the extraction electrode 26 to the pad. - 特許庁

半導体集積回路のデータエラー発生時におけるデータパターン及び電源ノイズ、並びにデータパターンと電源ノイズとの相関関係を解析可能にする。例文帳に追加

To analyze a data pattern, power supply noise, and a correlation between the data pattern and the power supply noise when a data error occurs to a semiconductor integrated circuit. - 特許庁

大規模システムＬＳＩの評価・解析手段や通常動作モード時での外部接続機器との転送速度向上手段として有用な半導体集積回路を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a semiconductor integrated circuit useful as an evaluation/analysis means of a large-scale system LSI or a transfer speed improvement means to external connection equipment in a normal operation mode. - 特許庁

ロギングデータを記録する記録装置の限られた容量を有効に使用し、異常が発生したときに、その時間帯の前後のデータを詳しく見ることができ、データの解析に役立つ半導体製造装置を提供する。例文帳に追加

To provide a semiconductor manufacturing apparatus which effectively uses a limited capacity of a recorder for recording logging data and allows the data before and after the failures to be seen in detail, serving for analyzing the data in the event of a failure. - 特許庁

集積度の向上により端子数の非常に増えた半導体集積回路装置において、静電ノイズ耐性解析、および設計最適化の時間短縮を図る。例文帳に追加

To shorten time required for analyzing electrostatic noise tolerance and optimizing design in a semiconductor integrated circuit device having an increased number of terminals due to improvement of integration. - 特許庁

半導体集積回路などの電子デバイスを形成するワークの異物やパターン欠陥の検査において、電気的に不良になる可能性の欠陥を優先的に解析する方法とシステムを提供する。例文帳に追加

To provide a method and a system for preferentially analyzing a defect with the possibility of becoming an electrical failure in the inspection of the foreign matter and pattern defect of a work forming an electronic device such as a semiconductor integrated circuit. - 特許庁

半導体チップの故障を解析する際に、外部との端子接続を不要とし、サブミクロンの空間分解能で電流経路と欠陥の可視化を可能にすること。例文帳に追加

To dispense with terminal connection to the outside, and to visualize a current path and a defect with submicron space resolution, when analyzing a failure of a semiconductor chip. - 特許庁