「試料の大きさ」に関連した英語例文の一覧と使い方(3ページ目) - Weblio英語例文検索

このとき、試料上の異物から生じる散乱光の強弱によって異物の存在やその大きさを検出し、これと同期的に試料裏面のミラーにより反射されて試料上から射出される赤外光を検出して赤外反射吸収分析を行うことによってその異物の成分を特定することができる。例文帳に追加

At the same time, the presence and the size of a foreign matter are detected from the intensity of a scattered light generated by the foreign matter on the sample and the constituent of the foreign matter can be specified by detecting infrared light emitted from the sample which is reflected by the mirror on the back face of the testpiece executing infrared reflection absorption spectroscopy in a synchronizing manner. - 特許庁

試料液の採取以降の操作を完全自動化し、試料中の粒子の粒子量や粒子の大きさを迅速に測定でき、また、溶剤による希釈や洗浄などの作業を人手によることなく行うことができ、作業環境の悪化を招く恐れのない油中の粒子測定用試料調整装置を提供する。例文帳に追加

To provide a sample conditioner for measuring particles in oil, in which operations subsequent to the sampling of sample liquid is fully automated, quantity of particles in a sample and the size thereof can be measured quickly, and the work of diluting with solution or the cleaning work can be performed without requiring manpower, while eliminating the possibility of making worse the work environment. - 特許庁

上記目的を達成するための一態様として、試料に第１の電子ビームを走査して、試料上を帯電させた後に、第２の電子ビームを走査して試料の観察，検査、或いは測定を行う方法、及び装置において、第１の電子ビームのビーム径を、第２の電子ビームのビーム径より大きくする方法、及び装置を提案する。例文帳に追加

As one embodiment for achieving above purposes, in the method and the device for observing, inspecting, or measuring a sample by scanning a second electron beam after scanning a first electron beam to the sample to charge the sample, a beam diameter of the first electron beam is made larger than that of the second electron beam. - 特許庁

定量すべき結晶試料を粉砕処理し、ラマンスペクトルを測定し、得られたラマンスペクトル中の各結晶に固有のピークの大きさまたは特徴的なスペクトル領域のピーク強度と、作成した検量線とから、定量すべき結晶試料中の各結晶形の含有量または該結晶試料の結晶化度を算出する。例文帳に追加

The quantified crystal sample is powdered, the Raman spectral is measured, and a content of each crystalline shape in the quantified crystalline sample or the degree of crystallization of the crystalline sample is calculated on the basis of the peak magnitude unique to each crystal in the obtained Raman spectral or the peak strength of the characteristic spectral region, and the created analytical curve. - 特許庁

本発明では、従来のオージェ電子分光装置の機能に加え、試料表面に試料のバンドギャップより大きくかつ試料の仕事関数より小さいエネルギーを持つ光を照射する機能１１と、その光強度を変調しそれと同期したオージェ電子強度の変動成分を検出する機能１２，１３を付加した構成を有している。例文帳に追加

A constitution, where a function 11 for irradiating a sample surface with a light having energy larger than the band gap of a sample and smaller than the work function of the sample and functions 12 and 13 modulating light intensity and detecting the fluctuation components of Auger electron intensity synchronized with light intensity added in addition to the function of a conventional Auger electron spectral device are added, is arranged. - 特許庁

有限の大きさをもつＸ線源を用い、高い空間分解能で微細な構造を撮影可能にするＸ線画像撮影方法であって、Ｘ線源１１０から試料５００までの距離をＬ、試料５００から検出器１３０までの距離をｄとするとき、ｄ／Ｌが１より十分に小さい。例文帳に追加

The X-ray image photographing method enables photographing a fine structure with high space resolution while using an X-ray source having a finite size, and d/L is sufficiently smaller than 1, when L is a distance from an X-ray source 110 to a specimen 500 and d is a distance from the specimen 500 to a detector 130. - 特許庁

上記課題を解決するために、歪み計測用パターンは、歪み計測方法にて試料の歪みを可視化する為に試料表面に形成され、異なるスケールレベルの歪みに適合した複数のパターンを同一試料面に重ねて形成してあること、また、前記各パターンは、相互にその規則性、形状又は大きさが異ならせてあることを特徴とする手段を用いた。例文帳に追加

Following means are used, wherein this pattern for strain measurement is formed on a sample surface for visualizing strain of the sample by a strain-measuring method, and a plurality of patterns fit to each strain having each different scale level are formed in piles, on the same sample surface, and each pattern has each different regularity, shape or size mutually. - 特許庁

本発明は、相転移する試料は厚さ１μｍ程度、大きさ１ｍｍ角程度でも十分であり、さらには複数個の試料を同時に測定することもできる、相転移温度等の相転移条件の測定方法ならびにそのための測定装置を提供する。例文帳に追加

To provide a method for measuring phase transition conditions such as a phase transition temperature and a measuring apparatus therefor, by which a measurement can be carried out with a sample having a thickness of around 1 μm and a size of around 1 mm, and even with a plurality of samples simultaneously. - 特許庁

独立に駆動可能な試料採取機構を複数設け、複数の試料採取位置からの採取、または、反応ディスク上の複数の位置への吐出を可能とすることにより、装置サイズを大きくすることなく処理能力が高い自動分析装置が実現可能である。例文帳に追加

By this constitution, the automatic analyzer having a high treatment throughput capacity is realized, without increasing the size of the analyzer. - 特許庁

標準偏差比較判定部１６は、標準偏差の値σｘと標準偏差記憶部１８に記憶された閾値σｏとを比較し、標準偏差の値σｘが閾値σｏよりも大きいときに試料台に対する試料体の位置ずれが有ると判定しその判定結果を出力する。例文帳に追加

A standard deviation comparison determining part 16 compares the value σx of the standard deviation with the threshold σo stored in a standard deviation storage part 18; and when the value σx of the standard deviation is larger than the threshold σo, it is determined that positional deviation of the sample body to the sample stand exists, and the determined result is output. - 特許庁

生体試料の臨床検査を行なう自動分析装置において、装置全体を大きくすることなく、検査対象の試料数や各検査項目の測定数の変動、検査内容の多様性に柔軟に対応可能な自動分析装置を提供すること。例文帳に追加

To provide an automatic analyzer capable of flexibly coping with variations in the number of samples to be inspected and the number of inspection items and diversity in inspection contents without upsizing the entire device in automatic analyzers for performing clinical inspection of biological samples. - 特許庁

携帯および移動が可能であり、試料の大きさを問わずに適用可能であるうえ、試料の表面だけでなくビアホールの底面の成分を効果的に採取して分析することが可能な移動型成分採集分析装置を提供する。例文帳に追加

To provide a mobile type component sampling analyzer allowed to be carried and moved, allowed to be applied independently of the size of a sample and capable of effectively sampling and analyzing components existing not only on the surface of the sample but also the bottom of a via hole. - 特許庁

試料表面で結露を生じさせる冷却機構４８と、冷却機構４８によって試料表面に発生した露の成長度合いを導出するとともに、この導出された成長度合いに基づいて、付着物の大きさを導出する導出処理部と、が含まれている。例文帳に追加

This condensation core measuring device includes: a cooling mechanism 48 for generating condensation on the sample surface; and a derivation processing part for deriving a growing degree of dew generated on the sample surface by the cooling mechanism 48, and deriving the adhesive size based on the derived growing degree. - 特許庁

試料暗部の光検出信号および高さデータのＳ／Ｎを劣化させずに光検出ダイナミックレンジを拡大し、輝度差が大きい試料であっても良質の画像データを取得することが可能な光検出回路および該光検出回路を備えたレーザー顕微鏡を提供する。例文帳に追加

To provide an optical detecting circuit capable of expanding an optical detection dynamic range without making the SN of an optical detection signal and height data of a sample dark part worse and acquiring image data of good quality even if a sample has a large luminance difference, and a laser microscope equipped with the optical detecting circuit. - 特許庁

透明容器内に比較的小さな生検試料を収納する透明な固定支持用ケース２を掛止するための支持部１３と、比較的大きな生検試料を収納するスペース１０を形成し、その透明容器５の上端の開口部に蓋１４を嵌合する。例文帳に追加

A support part 13 for fastening a transparent case 2 for fixing and supporting to house a relatively small biopsy sample and a space 10 to house a relatively large biopsy sample are formed in a transparent container 5, and a lid 14 is fitted over the opening part at the upper end of the transparent container 5. - 特許庁

試料室の内方全域に至る大きさを有するワイヤブラシ２０Ｂを主体とする清掃用治具２０を備え、ロータを取り外した後清掃用治具２０をその軸部２０Ｓがロータの回転系に係結するよう取り付け、試料室内に清掃用治具２０を実現させる。例文帳に追加

The viscosity-measuring instrument has a tool 20 for cleaning that mainly consists of a wire brush 20B having a size being extended to the inner entire region of a sample chamber. - 特許庁

台板を突き棒３０で叩いて振動を与え、台板上のコンクリート試料の一部がバリア装置の檻状壁部１８を通過してバリア装置の外部へ流動するようにして、台板上のコンクリート試料のスランプフローをバリア装置の径より大きい所定の径まで拡げる。例文帳に追加

The base plate is struck by a rammer 30 to apply vibration so that a part of the concrete sample on the base plate flows past a cage like wall part 18 of the barrier device and outside the barrier device, and a slump flow of the concrete sample on the base plate is spread until it is a predetermined diameter larger than a diameter of the barrier device. - 特許庁

試料の大きさがマイクロスケール程度に小さく、磁気力が有効に作用しないような場でも、試料配向制御を境界面における磁化率勾配を用いて制御することができる反応方法を提供することを目的とする。例文帳に追加

To provide a reaction method capable of performing an orientation control of a sample by using the grade of a magnetic susceptibility on a boundary surface even in a field where the size of a sample is as small as a micro-scale and where magnetic force does not act efficiently. - 特許庁

霧化ノズルと対向電極の間の飛行空間を大きく取らなくても、試料液滴と乾燥ガスが容易に混じり合い、その結果、霧化した試料液滴を効率良く乾燥（脱溶媒化）させることのできるエレクトロスプレー・イオン源を提供する。例文帳に追加

To provide an electrospray ion source by which sample droplets and dry gas are easily mixed with each other even when a flying space between a spray nozzle and a counter electrode is not widened, and consequently the sample droplets sprayed can be dried (solvent removal) with good efficiency. - 特許庁

Ｎa ，Ｋ等の経時変化の大きい元素が存在している試料においても、定性分析で得られるスペクトル強度に基づく簡易的な定量分析の精度を向上させることの可能な試料分析装置における定量分析方法を提供する。例文帳に追加

To provide a quantitative analysis method for a sample analyzing device capable of improving accuracy in simplified quantitative analysis based on spectrum intensity obtained in qualitative analysis even on a sample in which elements such as Na, K, etc., with large changes with time are present. - 特許庁

試料を均等に押圧しつつ突固めを行う際に、既存の装置に適用することができ、汎用性が大きく、しかも、試料の飛散を防止できて安定して供試体を成形することができる突固め試験用治具及び突固め試験用供試体作成方法を提供する。例文帳に追加

To provide a jig for a tamping test adaptable to an existing apparatus when a sample is tamped while equally pressed, having high general-purpose properties, capable of preventing the scattering of the sample and capable of stably molding a sample, and to provide a method of preparing the sample for the tamping test. - 特許庁

非理想的条件、例えば流体表面の気泡あるいは流体中のクロットにより、気泡の場合には試料流体量が予想よりも非常に小さくなり、クロットの場合には試料流体量が予想よりも非常に大きい結果となる。例文帳に追加

The non-ideal condition, for example the foams on a fluid surface or clots in a fluid, results in the sample fluid volume much smaller than anticipated in the foams, and much greater than anticipated in clots. - 特許庁

その付加的な特性周波数成分の大きさは実時間でモニターされ、ニア・グレイジング状態にてＡＦＭシステムを操作する最適値にモニターされた大きさを保つように、プローブ２２−試料２６間分離が調節される。例文帳に追加

The magnitude of the additional characteristic frequency component is monitored in real time, and separation between the probe 22 and the sample 26 is adjusted to maintain the monitored magnitude at an optimal value to operate the AFM system in near-grazing conditions. - 特許庁

金属試料中に存在する析出物等（特に、大きさ1μm以下）を損失並びに凝集させること無く抽出し、析出物等の大きさ別の、さらには、形態ごとの分析を精度良く行う分析方法を提供する。例文帳に追加

To provide an analyzing method for precisely analyzing a precipitate or the like (especially 1 μm or below in size) by size, further by form by extracting the precipitate or the like present in a metal sample without losing and flocculating the same. - 特許庁

溝の幅Ｗはレーザビームの幅よりも大きくし、溝の高さは測定試料群に含まれる最大粒子の大きさとほぼ同じ程度とする。例文帳に追加

The width W of the groove is set larger than the width of laser beam, and the height of the groove is set almost equal to the size of the largest particle contained in a measurement sample group. - 特許庁

磁気テープの耐食性評価方法において、所定の大きさに切り出した磁気テープと該磁気テープと略同等の大きさに切り出した両面テープとを貼り合わせることにより作製した評価用試料を用いる。例文帳に追加

Sample for evaluation, produced by sticking the magnetic tape, cut in designated size, with two-sided adhesive tape cut in approximately equivalent size, is used in a corrosion resistance evaluation method for the magnetic tape. - 特許庁

本発明は、予め欠陥の大きさと位置をプログラムして作製した標準試料を用いて所望の大きさの欠陥を検出するように欠陥検出感度を調整する工程を備えている。例文帳に追加

This method is provided with a process for adjusting defect detection sensitivity so as to detect the defect in the desired size while using a standard sample prepared by programming the size and position of the defect beforehand. - 特許庁

金属試料中に存在する析出物等（特に、大きさ1μm以下）を損失並びに凝集させること無く抽出し、析出物等の大きさ別の分析を精度良く行う分析方法を提供する。例文帳に追加

To provide an analytical method for extracting deposits etc. (especially, of a size of 1 μm or smaller) present in a metallic sample without loss or causing agglomeration and performing accurate analyses for every size of the deposits. - 特許庁

金属試料中に存在する析出物等（特に、大きさ1μm以下）を損失させること無く分離し、析出物等の大きさ別の分析を精度良く行う分析方法を提供する。例文帳に追加

To provide an analytical method capable of separating deposits etc. (especially of a size of 1 μm or below) present in a metal sample without any loss and accurately analyzing the deposits etc. for every size. - 特許庁

、収差の小さい対物レンズを用いて、大きい開口角の動作点で大きなビーム電流により高スループットで試料の評価を行うことが可能な電子線装置を提供すること。例文帳に追加

To provide an electron beam device capable of evaluating a sample with high throughput by a large beam current at an operating point of a large opening angle by using an object lens having a small aberration. - 特許庁

金属試料中に存在する析出物等（特に、大きさ1μm以下）を損失すること無く分離し、析出物等の大きさ別の分析を精度良く行う分析方法を提供する。例文帳に追加

To provide a method of analyzing a precipitate and/or inclusion in a metal material for precisely performing the analysis by size of the precipitate or the like by separating the precipitate or the like (especially ≤1 μm in size) present in the metal sample without losing the same. - 特許庁

このような接続のスキャナは、分解能は低いが最大変位量は大きく、凹凸の大きい試料を広範囲にわたって観察する場合には非常に適している。例文帳に追加

The scanner of such connection shows low resolution but large maximum displacement, and it is very suitable for the case of observing a sample with large irregularity extending for a wide range. - 特許庁

微小領域走査装置は、下段には共振周波数が低く、最大変位量の大きな粗動用円筒型圧電素子１が組み込まれ、試料台４を大きくＸＹＺ方向に駆動することが可能となる。例文帳に追加

In this micro-area scanning device, a cylindrical piezoelectric element 1 for coarse movement with a low resonance frequency and a large maximum displacement is built in the lower stage, so that a sample base 4 can be driven greatly in the X-, Y-, Z-directions. - 特許庁

中心に小孔が設けられている軸対称電子銃から放出された電子線を細く集束し、一軸方向に走査してアスペクト比の大きい長方形スリット１３を通して低真空又は大気圧中の試料１５に照射するので、比較的大きな口径の試料において一様な強度の電子照射が可能となる。例文帳に追加

Since an electron beam discharged from an axially symmetric electron gun provided with a small hole in the center is narrowed for focusing and is irradiated by scanning in one axial direction, on a sample 15 in low vacuum or in the air through rectangular slit 13 with a large aspect ratio, electron irradiation with uniform intensity is possible on a sample having a relatively large diameter. - 特許庁

試料境界面が高さ方向にΔｚ変化すると、反射光は試料境界面内で横方向にΔｘ＝ ２Δｚ×ｔａｎθで与えられるΔｘずれた位置から出てくると見なされ、入射角θを大きくすることにより、Δｚの変化量に対しても、より大きなΔｘの変化量を得ることができる。例文帳に追加

When the boundary surface of the sample changes in the height direction by Δz, the reflecting light is regarded to appear from a position shifted by Δx to be provided by Δx=2Δz×tanθ in the horizontal direction in the boundary surface of the sample and larger variation of Δx is obtained even to variation of Δz by increasing an angle of incidence θ. - 特許庁

従来困難とされていた凹凸の大きく激しい表面構造や試料内部に埋設された特定構造物と、この特定構造物とは深さの異なる深さに埋設された構造物との距離を測定し得るようにする。例文帳に追加

To measure distance which has been considered difficult between a specified structure, such as a structure with a surface structure, having large and hard unevenness and a structure embedded inside a testpiece, and a structure embedded at a depth different from that of the specified structure. - 特許庁

そして、検査対象の試料の判定像の大きさまたは形状に基づいて算出されたしきい値に基づいて免疫反応の有無が判定部２５で判定される。例文帳に追加

Then, the presence of immunoreaction is judged on the basis of the size or shape of the judge image of the specimen to be inspected in a judge part 25. - 特許庁

２つの探針４により電気的に接続された試料２側の配線区間のうち不良箇所に電子線が照射された場合、その抵抗値の変化は、正常な配線区間に電子線が照射された場合より大きくなる。例文帳に追加

When the electron beam is irradiated to a failure spot of wiring sections on the side of a sample 2 electrically connected by the two probes 4, the change in the resistance value is bigger than when the electron beam is irradiated on normal wiring sections. - 特許庁

よって、試料表面からの反射サブビームを合成することにより、この合成ビームには欠陥の高さに相当する位相差が含まれ、この位相差を検出することにより欠陥の大きさを判別することができる。例文帳に追加

The reflected sub-beams from the surface of the sample are synthesized to form synthesized beam containing the phase difference corresponding to the height of the flaw and the size of the flaw can be discriminated by detecting this phase difference. - 特許庁

試料が混合チャンバで予備希釈され、その後、第２の混合チャンバでさらに希釈されるさらに別の実施形態では、大きな希釈ファクタが得られる。例文帳に追加

Larger dilution factors are obtainable in a further embodiment, in which the sample is prediluted in a mixing chamber and then further diluted in a second mixing chamber. - 特許庁

探針側スキャナ１０として最大走査範囲の小さいスキャナ、試料側スキャナ１１として最大走査範囲の大きいスキャナを使用し、観察対象や観察目的に応じて両者を切り替えて使用する。例文帳に追加

A scanner small in the maximum scanning range is used as the scanner 10 on the probe side while a scanner large in the maximum scanning range is used as the scanner 11 on the sample side and both scanners are changed over corresponding to the observation target or the observation purpose to be used. - 特許庁

共焦点顕微鏡への入射レーザ光のビーム径をビーム径可変光学系１２によって変化させることによって、試料のレーザ照射領域の大きさを変化させる。例文帳に追加

By changing the beam diameter of incident laser light to a confocal microscope by a variable beam diameter optical system 12, the size of the laser irradiated area of a sample is changed. - 特許庁

分画ピークを決定する検出信号の大きさのレベルをＬ１とし、フラクションコレクタで目的試料成分を採取するための試験管に採取する分画容量は、ピーク高さのレベルに応じて設定しておく。例文帳に追加

The level of the magnitude of the detection signals for determining the fraction peak is set at L1, and a fraction capacity to be collected in a test tube for collecting a target sample component by this fraction collector is set according to the level of the peak height. - 特許庁

別途に調製されたｃＤＮＡや蛋白質の試料を対象として、数十μｍから数μｍの大きさのスポットから成る高密度マイクロアレイの作製装置の提供。例文帳に追加

To provide a device for creating a high-density micro array consisting of spots ranging from several tens of μm to several μm with the samples of cDNA and protein that are prepared separately as a target. - 特許庁

第１オリフィス１２の先端から排気室１５へ噴出されたガスのうち、Ｈｅガスは拡散速度が大きいので、Ｈｅガスの殆どは第２オリフィス１３の試料ガス導入孔１３ａを通過しない。例文帳に追加

Since an He gas of gases injected from a distal end of a first orifice 12 into an exhaust chamber 15 has a large diffusing speed, the most He gas does not pass through a sample gas introducing hole 13a of a second orifice 13. - 特許庁