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Defectを含む例文一覧と使い方

該当件数 : 18303



例文

To suppress the shape change of an electrode even if a defect is generated in a portion relating to operation for suppressing the shape change of the electrode after the shutdown of power generation and continue the use of a fuel cell.例文帳に追加

発電停止後の電極の形態変化を抑制するための動作に係る部位に不具合が発生したとしても、電極の形態変化を抑制しつつ燃料電池の使用を継続可能にする。 - 特許庁

An image defect of the image to be discriminated or the difference on the image between the reference image and the image to be discriminated is extracted as the difference between the image to be discriminated and the reference image by the inverse Fourier transform image.例文帳に追加

逆フーリエ変換像により、被識別画像の画像欠陥または参照画像と被識別画像との画像上の差異を、被識別画像と参照画像の差分として抽出する。 - 特許庁

To maintain adhesion and to improve wear resistance of a small-diameter member by avoiding defect and damage of a coating hard material at an edge due to plasma generated in a formation process of the coating hard material.例文帳に追加

被覆硬質材の形成プロセスで発生するプラズマによるエッジ部での被覆硬質材の欠陥やダメージを回避し、密着性を維持し、小径部材の耐摩耗性を改善することである。 - 特許庁

To improve the yield of a manifold by assuring a sufficient connecting margin by suppressing a thickness reduction of a branch tube and reducing the possible position of a welding defect by suppressing the welding positions to a minimum limit.例文帳に追加

枝管部の減肉を抑制して充分な接続代を確保し、かつ、溶接箇所を最小限に抑えて溶接欠陥が発生する可能性のある箇所を減らし、製品の歩留まりを向上させる。 - 特許庁

例文

To provide a mold for continuous casting and its continuous casting method capable of preventing the surface defect and the restrictive breakout of a solidified shell caused by ununiform cooling of a cast slab at the initial stage of solidification.例文帳に追加

凝固の初期段階における鋳片の不均一冷却に起因する表面欠陥や凝固シェルの拘束性ブレークアウトを防止する連続鋳造用鋳型および連続鋳造方法を提供する。 - 特許庁


例文

To provide a conductive roller that will not have the occurrence of runout due to distortion of a shaft, when it is manufactured by a tight-fitting method, and causing no problem on an image defect resulting from the runout thereof.例文帳に追加

締めばめの手法により製造するに際し、軸の歪による振れの発生を抑制することができ、これに起因する画像不良の問題を生ずることのない導電性ローラを提供する。 - 特許庁

To provide a treating method and device which eliminates the defect when COD-containing water is treated with photocatalysts and is capable of practically performing waste water treatment by using the powdery photocatalysts.例文帳に追加

COD含有水を光触媒で処理する際の欠点を解消し、粉末状光触媒を用いて廃水処理を実用的に行うことができる処理方法及び装置を提供する。 - 特許庁

To provide a silicon wafer wherein no crystal defect is present in a surface layer part of the wafer, and an oxygen precipitate and other crystal defects are reduced in the wafer as well, and to provide a method of manufacturing the same.例文帳に追加

ウェーハの表層部に結晶欠陥が存在せず、ウェーハ内部においても酸素析出物やその他の結晶欠陥が低減されたシリコンウェーハ、およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an improved method of defect detection and reporting technique for detecting and differentiating defects of interest that are difficult to detect accurately, using current inspection techniques, while minimizing the reporting of non-defective areas reported as being defective.例文帳に追加

非欠陥の範囲を欠陥として報告することを最小にしながら、現在の検査技術を用いて、正確に検出するのが困難である関心の欠陥を検出し且つ見分ける。 - 特許庁

例文

To provide an image forming device equipped with a developing unit structure capable of respectively deciding the presence or absence of the image defect with regard to a shipping unit one by one without damaging a developing unit.例文帳に追加

現像ユニットを破壊すること無しに出荷するユニット一点一点に対して画像不良の有無を判定することが可能な現像ユニット構造を有する画像形成装置を提供する。 - 特許庁

例文

When the human and the animal approaches the slot waveguide 12, a radio wave which is matched by an impedance of the atmosphere and is emitted into a space generates a matching defect and returns to a radar installation point (the monitoring place) 11 as a reflected wave.例文帳に追加

人畜がスロット導波管12に近接すると、大気のインピーダンスで整合され空間に放射されている電波が整合不良を生じ、反射波として、レーダ設置点(監視所)11に戻る。 - 特許庁

To provide an optical pickup and a phase modulation apparatus in which defect of a converged spot caused by existence of an injection opening of liquid crystal of a liquid crystal element for phase modulation can be suppressed to the minimum.例文帳に追加

位相変調用液晶素子の液晶注入口の存在に起因する集光スポット不良を最小限に抑えることができる光ピックアップ及び位相変調装置を提供すること。 - 特許庁

A threshold for detecting a defect is changed in accordance with a degree of risk on a process depending on a relative position relation of patterns formed in a plurality of layers adjacent in a vertical direction.例文帳に追加

上下方向に互いに隣接する複数層にそれぞれ形成されたパターン同士の相対的位置関係に依存するプロセス上の危険度に応じて欠陥検出のための閾値を変える。 - 特許庁

To provide an ingot cutter capable of preventing the occurrence of a defect part in the peripheral part of an ingot even if the ingot axially non-uniform in its outer diameter is cut, and a cutting method using the cutter.例文帳に追加

外径が軸方向に不均一なインゴットを切断する場合においても、インゴットの外周部に欠損が生じるのを防止することができるインゴットの切断装置および切断方法を提供する。 - 特許庁

To provide a carrier for electrostatic charge image development capable of reducing a defect in picture quality caused by deposition of an isolated resin powder included in a resin coated carrier onto a charging member or the like.例文帳に追加

樹脂被覆キャリア中に含まれる遊離樹脂粉が帯電部材等へ付着することにより発生する画質欠陥を低減することができる静電荷像現像用キャリアを提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor crystal defect testing method, etc. which uses cathode luminescence (CL) that enables checking of the measurement position at a high spacial resolution, and a sample analysis at a high spacial resolution.例文帳に追加

高空間分解能で測定位置の確認ができ、且つ高空間分解能で試料分析ができるカソードルミネッセンス(CL)を用いた半導体結晶欠陥検出方法等を提供する。 - 特許庁

Namely, the semiconductor chip mounted circuit 1 scarcely causes a defect in conduction, because the semiconductor chip 20 and the mounted circuit 10 are bonded with both the devices that have passed the conduction inspection as it stands.例文帳に追加

つまり、半導体チップ20および実装回路10が導通検査に合格した状態のままで接合するので、半導体チップ搭載回路1が導通不良を起こすことが極めて少なくなる。 - 特許庁

To provide a false-twisting machine, without being influenced by mechanical disturbance and capable of accurately detecting a defect when dispersion exists in the elongation of feed yarn and swell exists in tension.例文帳に追加

メカ的外乱の影響を受けることなく、給糸の伸度にバラツキがあり、その張力にうねりがある場合等の不良を正確に検出することができる仮撚機を提供することにある。 - 特許庁

The solid electrolytic capacitor 1, therefor, prevents the conductive adhesive portion 13 from sticking out excessively from an end of the capacitor element 2, thus effectively suppresses a defect in the appearance.例文帳に追加

これにより、固体電解コンデンサ1では、コンデンサ素子2の端から導電性接着部13が必要以上にはみ出すことを抑えることができ、外観不良の発生を効果的に抑制できる。 - 特許庁

To provide a glide head that reduces imbalance in flying level between left and right rails or pads, and has high detection accuracy of a projection defect.例文帳に追加

突起との接触で発生する衝撃波が左右のレールからピエゾ素子に到達するまでに減衰し、左右のレールの浮上量が同じであったとしてもその出力が異なり、検出精度が低い。 - 特許庁

To provide a nonvolatile semiconductor memory device in which defect of bits caused by the variations in the processed shape is suppressed, while malfunction of a memory cell and leak are hard to occur, resistance to the outside noise is high, and which is inexpensive.例文帳に追加

加工形状バラツキによるビット不良が抑制されると共に、メモリセルの誤動作やリークが起き難く、外部ノイズに対する耐量が高い、安価な不揮発性半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To keep an actual operation stage through a corresponding pressure regulator, so that the defect can be surely diagnosed by a transmission electronic controller before an emergency speed stage is operated.例文帳に追加

欠陥の確実な診断が、非常速度段が稼動される前に、変速機電子制御装置によって実施されるように、実運転段階が、相応した圧力調整装置を介して維持されるようにする。 - 特許庁

To provide an ultrasonic inspection device for surely comprehending the situation of internal defect occurrence, and making adequate manufacturing conditions for plate-shaped molded items and round bar-shaped molded items.例文帳に追加

内部欠陥の発生状況を確実に把握できるとともに、板状成形品や丸棒状成形品における製造条件の適正化も行うことができる超音波検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a surface inspecting method capable of detecting, with high precision, fine unevenness due to a defect, foreign matter, etc., present on a surface of a silicon wafer or a surface of an SOI wafer.例文帳に追加

シリコンウェーハの表面、またはSOIウェーハの表面に存在する欠陥や異物等に起因する微細な凹凸を高精度に検出することが可能な表面検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a shell pack which does not generate a defect such as a predetermined display item is not confirmed at the time of display owing to the rotation of a content stored in the shell pack during transportation, etc.例文帳に追加

輸送等において、シェルパックに収納した内容物が回転することにより、所定の表示事項が展示時に確認できない等の問題点が発生しないシェルパックの提供である。 - 特許庁

To provide an image display that is excellent in various characteristics such as resolution, quality of image, and emission efficiency, easily enlarges a screen, can also realize the reduction of a manufacturing cost, and can solve problems such as wiring defect.例文帳に追加

解像度や画質、発光効率などの諸特性に優れ、且つ大画面化が容易で、製造コストの低減も実現でき、また配線不良などの問題も解決できる画像表示装置を提供する。 - 特許庁

Since the elastic member 13 and the load supporting member 14 are integrally deformed even if relative displacement occurs between the floor slabs 21 and 31, it is possible to prevent the occurrence of defect such as a clearance in a boundary between the members.例文帳に追加

床版21,31間に相対変位が生じても、弾性部材13と荷重支持部材14が一体となって変形するので、部材の境界に隙間が生じる不都合を防止できる。 - 特許庁

To provide a semi-transmission type phase shift reticle that can suppress a pseudo defect caused in the oblique boundary line of a chamfered portion partitioning a circuit pattern region from a peripheral region, and to provide an inspection method for the reticle.例文帳に追加

回路パターン領域と周辺部領域とを区画する面取り部の斜め境界線で生じる疑似欠陥を抑制できる半透光方式の位相シフトレチクルとその検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a storage medium capable of eliminating the defect that the detection accuracy of a wobbling signal can not be secured due to an increase in density, and a method and a device for recording using the same.例文帳に追加

本発明は高密度化に伴いウォブル信号の検出精度が確保できないという欠点を克服できる記憶媒体、及びそれを用いる記録方法,記録装置を提供することである。 - 特許庁

To provide a cutting tool formed of a surface-coated cubic boron nitride base ultra high-pressure sintered material, that exhibits excellent chipping resistance, defect resistance and finished face accuracy in the high-speed cutting of high-hardness materials.例文帳に追加

高硬度材の高速切削加工で、すぐれた耐チッピング性、耐欠損性と仕上げ面精度を発揮する表面被覆立方晶窒化ほう素基超高圧焼結材料製切削工具を提供する。 - 特許庁

To provide a reader/writer for non-contact IC card that there is no read error or mechanical operation defect even in a severe environment, a structure is simplified and no machine trouble occurs even after long-term use.例文帳に追加

過酷な環境下でも読み取りエラーや機械的な作動不良がなく、構造が簡単で長期間にわたる使用にも機械トラブルが発生しない無接点ICカードのリーダ・ライタを提供せんとする。 - 特許庁

Consequently, since it is possible to form the protection membrane continuously with the cathode without coming into contact with external air, this device according to this invention has an advantage that reduces a dark spot by covering the cathode with the protection membrane, even if a defect occurs in the cathode.例文帳に追加

これにより、陰極と連続して外気に触れずに保護膜を形成できるので、陰極に欠陥が生じていても、保護膜で覆うことで、ダークスポットが低減できる利点を有する。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus where, in the case the paper to be printed and a printing mode in printing indication are different, the defect in fixing such as offset caused by the overquantity/underquantity of heat in a fixing device can be reduced.例文帳に追加

印刷する用紙と印刷指示した印刷モードが異なる場合に、定着装置での熱量過多/過少によるオフセットなどの定着不良を軽減できる画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To measure influence caused by imparting a change in an optical characteristic given to a disk for inspection by separating the influence from an optical influence caused by a defect existing before the change in the optical characteristic.例文帳に追加

ディスクに検査のために与えた光学的特性の変化の付与による影響を、光学的特性の変化前から存在する欠陥による光学的な影響から分離して計測する。 - 特許庁

To provide a test having a function for finding out an instruction which is a factor, and an object function when an expected value and an executed result value are not matched and avoiding the occurrence of a defect caused by the same factor.例文帳に追加

期待値と実行結果値とが不一致の場合、要因となった命令及び対象機能を見つけ出し、同一要因による不良の発生を回避する機能を有する試験を提供する。 - 特許庁

To efficiently provide a medium carbon steel slab excellent in surface quality without developing the surface defect caused by the longitudinal crack and deoxidation generated material, etc., even in the case of such high speed continuous casting as to exceed 20 m/min.例文帳に追加

2.0 m/min超という高速連続鋳造においても、縦割れや脱酸生成物等に起因した表面欠陥の発生のない、表面品質に優れた中炭素鋼スラブを効率良く提供する。 - 特許庁

A pattern collation part 18 compares the model of the source code object storage part 15 with defective pattern information of a defective pattern information storage part 16, and outputs a corresponding object as defect detection information 9.例文帳に追加

パターン照合部18は,ソースコードオブジェクト記憶部15のモデルを不良パターン情報記憶部16の不良パターン情報と比較し,該当するオブジェクトを不良性検出情報9として出力する。 - 特許庁

To correct only the defect of a film which is located below upper layer films, such as a protection film and an insulating film, without damaging those upper layer films present over the film to be corrected.例文帳に追加

修正すべき膜の上層に保護膜や絶縁膜などが存在する場合にも、これら上層膜には損傷を与えず、その下層にある当該修正すべき膜の欠陥のみを修正する。 - 特許庁

This defect inspection device 21 is used in a stage before fixing a sealing film 4 for blocking a pocket part, after storing a tablet in the pocket part formed on a container film 3 to be conveyed.例文帳に追加

不良検査装置21は、搬送される容器フィルム3に形成されたポケット部に錠剤が収容された後、ポケット部を塞ぐ密封用フィルム4が取着される前段階において用いられる。 - 特許庁

More particularly, in the case that the presence of scanning wiring 130A within the effective range of the critical defect 181 is discriminated, the reading out of at least the connection procedures as the correction procedure A1 is preferable.例文帳に追加

特に、致命欠陥181の有効範囲Z内に走査配線130Aが存在すると判別された場合には、修正手順A1として少なくとも結線手順を読み出すことが好ましい。 - 特許庁

The bonding defect detector 1 includes a constant temperature means 3 capable of maintaining the substrate S in a constant temperature state, and a component heating means 5 capable of locally heating the package p2 of the electronic component P.例文帳に追加

接合不良検知装置1は、基板Sを恒温状態に維持可能な恒温手段3と、電子部品Pのパッケージ部p2を局所的に加熱可能な部品加熱手段5とを備えている。 - 特許庁

To prevent the occurrence of a display defect due to coagulation of particles by using a mask having such a structure that the mask does not contact with particles placed on a partition of a substrate when being put on the partition.例文帳に追加

基板の隔壁上に重ねたときに隔壁上に乗っている粒子と接触しない構造のマスクを用いることにより、粒子の凝集による表示欠陥の発生を防止する。 - 特許庁

Even when a defective printing occurs during printing in a preceding step (during printing a fixed data), the paper sheet is fed to printing in a post step (printing of a variable data) instead of discarding if the defect is lower than a specified level.例文帳に追加

前工程の印刷時(固定データの印刷時)に印刷不良が発生した場合であっても、規定以下の不良であればその用紙を廃棄せずに後工程の印刷(可変データの印刷)へまわす。 - 特許庁

In this case, the first heating member is arranged at the fixing member, so the temperature of the fixing member is prevented from suddenly becoming high to prevent a defect in fixation from being caused.例文帳に追加

この場合、定着部材に第1の加熱部材が配設されるので、定着部材の温度が急激に低くなるのを防止することができ、定着不良が発生するのを防止することができる。 - 特許庁

To provide a method for forming the gate of a semiconductor element capable of obtaining the gate electrode having no defect by reducing the generation of an alien substance at the upper part of the surface of a doped silicon film.例文帳に追加

ドープトポリシリコン膜の表面上部に異常異物が発生することを抑制し、欠点のないゲート電極を実現することが可能な半導体素子のゲート形成方法を提供すること。 - 特許庁

Also, for example, when a reproduced RF signal is inputted to the AGC circuit, particularly the transient response of the AGC generated before and after the defect detection (before and after the period of D) can be suppressed.例文帳に追加

また、例えばAGC回路に、再生されたRF信号が入力される場合、特に、ディフェクト検出の前後(Dの期間の前後)で発生するAGCの過渡応答を抑制することができる。 - 特許庁

To provide a sheet for ink jet recording which compensates for insufficiency of printing quality due to a blur that is a defect of a usual sheet for ink jet recording and besides which causes no problem as to other qualities/strength.例文帳に追加

従来のインクジェット記録用シートの欠点であった印字部分の滲みによる印字品質の不足を補い、なおかつ、他の品質・強度についても問題ないインクジェット記録用シートを提供する。 - 特許庁

To provide a method for inspecting a container or its precursor capable of positively detecting even defects hard to detect visually such as an ungelled defect in an inspection of the container or its precursor.例文帳に追加

容器又はこの前駆体の検査において、上記した未ゲル欠陥のような目視では検知しにくい欠陥も確実に検知することができる容器又はこの前駆体の検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a magnetic recording medium, by which the magnetic recording medium wherein a magnetic layer has no application defect, and an error rate is improved by reliably preventing generation of an application stripe, can be efficiently manufactured.例文帳に追加

スレスジの発生を確実に防止して、磁性層に塗布欠陥がなく、エラーレートの改善された磁気記録媒体を効率よく製造することのできる磁気記録媒体の製造方法を提供する。 - 特許庁

例文

After completing charging, charges accumulated in the pixel capacitors included in the all pixel forming parts in the display unit are sequentially read out, and whether a pixel defect is present or not is discriminated based on the above differential voltage.例文帳に追加

充電終了後、表示部内のすべての画素形成部に含まれる画素容量に蓄積された電荷を順次に読み出し、上述の差異電圧に基づいて、画素欠陥の有無を判別する。 - 特許庁




  
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